SU699404A1 - Method of measuring reflection coefficient - Google Patents

Method of measuring reflection coefficient

Info

Publication number
SU699404A1
SU699404A1 SU782601284A SU2601284A SU699404A1 SU 699404 A1 SU699404 A1 SU 699404A1 SU 782601284 A SU782601284 A SU 782601284A SU 2601284 A SU2601284 A SU 2601284A SU 699404 A1 SU699404 A1 SU 699404A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
reflection coefficient
mirror
measuring reflection
measuring
monitored
Prior art date
Application number
SU782601284A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Олег Николаевич Лазуткин
Валерий Андреевич Цветков
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1857
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1857 filed Critical Предприятие П/Я А-1857
Priority to SU782601284A priority Critical patent/SU699404A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU699404A1 publication Critical patent/SU699404A1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/55Specular reflectivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к приклсщн оптике и может быть кспользовано дл контрол  зеркал с высоким коэффицие том отражени . Известар устройство, реализующее способ измерени  коэффициента отражени  зеркал, создающее систему многократных отражений излучени  между контролируемым зеркалом и сис темой уголковых отражателей,измер ю щее мощность падающего и отраженного излучений и определ ющее коэффициент отражени  контролируемого зеркала по результатам измерений 1. Недостатком зтого способа  вл етс  низка  надежность измерений и сложность автоматизации из-за необходимости юстировки при переходе к различным точкам контролируемого зеркала, а также невысока  точность измерений. Наиболее близким по технической сущности к предложенному способу  вл етс  способ измерени  коэффициента отражени , заключающийс  в том, что излучение направл ют в пространство между контролируемыми зеркалами дл  образовани  системы много кратных отражений, измер ют мощность падгиощего и отраженного излучений и суд т- о коэффир,иенте отражени  по их отношению 2. Недостатком способа  вл етс  низка  надежнрсть автоматизации измерений. Невысока  надежность св зана с тем, что в. известном способе определ етс  среднее геометрическое значение коэ,ффициента отражени  по точкам отражени  зеркала. При этом, так как с целью повышени  точности число отражений берут большим, то чувствительность измерени  к отклонени м в отдельных точках мала. Вследствие этого полученное значение коэффициента отражени  в известном способе может значительно отличатьс  от действительных значений коэффициента отражени  в отдельных точкахзеркала. При измерени х величин со случайным разбросом несмещенной , состо тельной и эффективной оценкой истинного значени  измер е-. мой величины  вл етс  среднее арифметическое значение, которое близко к среднему геометрическому, если отклонени  малы. Таким образом, необходим контроль отклонений коэффициента отражени  в отдельных точках зеркала. При производственнo 1 контроле зеркал известнымThe invention relates to optical applications and can be used to control mirrors with a high reflectance. A known device that implements a method for measuring the reflection coefficient of mirrors, creates a system of multiple reflections of radiation between a monitored mirror and a system of corner reflectors, measures the power of incident and reflected radiation and determines the reflectance of the monitored mirror from measurement results 1. The disadvantage of this method is low measurement reliability and automation complexity due to the need for adjustment during the transition to various points of the monitored mirror, as well as low accuracy. The closest in technical essence to the proposed method is the method of measuring the reflection coefficient, which consists in directing radiation into the space between the monitored mirrors to form a system of multiple reflections, measure the power of the incident and reflected radiation and the court coefficient. reflections by their ratio 2. The disadvantage of the method is the low reliability of measurement automation. Low reliability due to c. The known method is used to determine the geometric mean value of the coeff, the reflection coefficient by the reflection points of the mirror. In this case, since in order to increase the accuracy, the number of reflections is taken large, the sensitivity of the measurement to deviations at certain points is small. As a result, the obtained value of the reflection coefficient in a known method may significantly differ from the actual values of the reflection coefficient at individual points of the mirror. When measuring values with a random variation of an unbiased, consistent and effective estimate of the true value of e. My value is an arithmetic average that is close to the geometric mean if the deviations are small. Thus, control of the deviations of the reflection coefficient at individual points of the mirror is necessary. With the production of 1 mirror control known

SU782601284A 1978-03-30 1978-03-30 Method of measuring reflection coefficient SU699404A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782601284A SU699404A1 (en) 1978-03-30 1978-03-30 Method of measuring reflection coefficient

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782601284A SU699404A1 (en) 1978-03-30 1978-03-30 Method of measuring reflection coefficient

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU699404A1 true SU699404A1 (en) 1979-11-25

Family

ID=20758306

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782601284A SU699404A1 (en) 1978-03-30 1978-03-30 Method of measuring reflection coefficient

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU699404A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2467309C1 (en) * 2011-07-22 2012-11-20 Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") Method to measure coefficients of mirror reflection
RU2665594C1 (en) * 2017-07-11 2018-08-31 Открытое акционерное общество "Завод им. В.А. Дегтярева" Stand for checking the specular reflection coefficient

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2467309C1 (en) * 2011-07-22 2012-11-20 Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") Method to measure coefficients of mirror reflection
RU2665594C1 (en) * 2017-07-11 2018-08-31 Открытое акционерное общество "Завод им. В.А. Дегтярева" Stand for checking the specular reflection coefficient

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1297702C (en) Fiber-optic sensor and method of use
JP2621430B2 (en) Light sensor
GB2033079A (en) Infrared interference type film thickness measuring method and instrument
JPS6466565A (en) Voltage detection
CN108956534B (en) Refractive index measurement method based on open cavity Fabry-Perot interferometer
GB1471685A (en) Apparatus for measuring liquid density
US4222667A (en) Fizeau fringe light evaluator and method
SU699404A1 (en) Method of measuring reflection coefficient
US4425041A (en) Measuring apparatus
US4865443A (en) Optical inverse-square displacement sensor
US4776669A (en) Optical path sensor including a filter
JPS55142220A (en) Device for measuring wavelength
JPS5548993A (en) Semiconductor laser device
SU151063A1 (en) Reflexometric measurement method
EP0736766B1 (en) Method of and device for measuring the refractive index of wafers of vitreous material
SU1500822A1 (en) Method of measuring plane angle of an object
CN110954144B (en) Full-spectrum signal fitting demodulation method and device of optical fiber FP sensor
SU372510A1 (en) ALL-UNION
JPS5660306A (en) Laser interferometer and its measuring method
JP2888766B2 (en) How to determine light / dark boundaries
SU1052856A1 (en) Interference device for gauging dimensions of part
SU916975A1 (en) Device for measuring object angular position
SU942500A2 (en) Pondermotive energy measuring device
SU808835A1 (en) Interferential transducer for measuring rotation angle of an object
SU133613A1 (en) Method for measuring parameters of sea waves