SU699404A1 - Method of measuring reflection coefficient - Google Patents
Method of measuring reflection coefficientInfo
- Publication number
- SU699404A1 SU699404A1 SU782601284A SU2601284A SU699404A1 SU 699404 A1 SU699404 A1 SU 699404A1 SU 782601284 A SU782601284 A SU 782601284A SU 2601284 A SU2601284 A SU 2601284A SU 699404 A1 SU699404 A1 SU 699404A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- reflection coefficient
- mirror
- measuring reflection
- measuring
- monitored
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к приклсщн оптике и может быть кспользовано дл контрол зеркал с высоким коэффицие том отражени . Известар устройство, реализующее способ измерени коэффициента отражени зеркал, создающее систему многократных отражений излучени между контролируемым зеркалом и сис темой уголковых отражателей,измер ю щее мощность падающего и отраженного излучений и определ ющее коэффициент отражени контролируемого зеркала по результатам измерений 1. Недостатком зтого способа вл етс низка надежность измерений и сложность автоматизации из-за необходимости юстировки при переходе к различным точкам контролируемого зеркала, а также невысока точность измерений. Наиболее близким по технической сущности к предложенному способу вл етс способ измерени коэффициента отражени , заключающийс в том, что излучение направл ют в пространство между контролируемыми зеркалами дл образовани системы много кратных отражений, измер ют мощность падгиощего и отраженного излучений и суд т- о коэффир,иенте отражени по их отношению 2. Недостатком способа вл етс низка надежнрсть автоматизации измерений. Невысока надежность св зана с тем, что в. известном способе определ етс среднее геометрическое значение коэ,ффициента отражени по точкам отражени зеркала. При этом, так как с целью повышени точности число отражений берут большим, то чувствительность измерени к отклонени м в отдельных точках мала. Вследствие этого полученное значение коэффициента отражени в известном способе может значительно отличатьс от действительных значений коэффициента отражени в отдельных точкахзеркала. При измерени х величин со случайным разбросом несмещенной , состо тельной и эффективной оценкой истинного значени измер е-. мой величины вл етс среднее арифметическое значение, которое близко к среднему геометрическому, если отклонени малы. Таким образом, необходим контроль отклонений коэффициента отражени в отдельных точках зеркала. При производственнo 1 контроле зеркал известнымThe invention relates to optical applications and can be used to control mirrors with a high reflectance. A known device that implements a method for measuring the reflection coefficient of mirrors, creates a system of multiple reflections of radiation between a monitored mirror and a system of corner reflectors, measures the power of incident and reflected radiation and determines the reflectance of the monitored mirror from measurement results 1. The disadvantage of this method is low measurement reliability and automation complexity due to the need for adjustment during the transition to various points of the monitored mirror, as well as low accuracy. The closest in technical essence to the proposed method is the method of measuring the reflection coefficient, which consists in directing radiation into the space between the monitored mirrors to form a system of multiple reflections, measure the power of the incident and reflected radiation and the court coefficient. reflections by their ratio 2. The disadvantage of the method is the low reliability of measurement automation. Low reliability due to c. The known method is used to determine the geometric mean value of the coeff, the reflection coefficient by the reflection points of the mirror. In this case, since in order to increase the accuracy, the number of reflections is taken large, the sensitivity of the measurement to deviations at certain points is small. As a result, the obtained value of the reflection coefficient in a known method may significantly differ from the actual values of the reflection coefficient at individual points of the mirror. When measuring values with a random variation of an unbiased, consistent and effective estimate of the true value of e. My value is an arithmetic average that is close to the geometric mean if the deviations are small. Thus, control of the deviations of the reflection coefficient at individual points of the mirror is necessary. With the production of 1 mirror control known
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782601284A SU699404A1 (en) | 1978-03-30 | 1978-03-30 | Method of measuring reflection coefficient |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782601284A SU699404A1 (en) | 1978-03-30 | 1978-03-30 | Method of measuring reflection coefficient |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU699404A1 true SU699404A1 (en) | 1979-11-25 |
Family
ID=20758306
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782601284A SU699404A1 (en) | 1978-03-30 | 1978-03-30 | Method of measuring reflection coefficient |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU699404A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2467309C1 (en) * | 2011-07-22 | 2012-11-20 | Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") | Method to measure coefficients of mirror reflection |
RU2665594C1 (en) * | 2017-07-11 | 2018-08-31 | Открытое акционерное общество "Завод им. В.А. Дегтярева" | Stand for checking the specular reflection coefficient |
-
1978
- 1978-03-30 SU SU782601284A patent/SU699404A1/en active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2467309C1 (en) * | 2011-07-22 | 2012-11-20 | Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") | Method to measure coefficients of mirror reflection |
RU2665594C1 (en) * | 2017-07-11 | 2018-08-31 | Открытое акционерное общество "Завод им. В.А. Дегтярева" | Stand for checking the specular reflection coefficient |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA1297702C (en) | Fiber-optic sensor and method of use | |
JP2621430B2 (en) | Light sensor | |
GB2033079A (en) | Infrared interference type film thickness measuring method and instrument | |
JPS6466565A (en) | Voltage detection | |
CN108956534B (en) | Refractive index measurement method based on open cavity Fabry-Perot interferometer | |
GB1471685A (en) | Apparatus for measuring liquid density | |
US4222667A (en) | Fizeau fringe light evaluator and method | |
SU699404A1 (en) | Method of measuring reflection coefficient | |
US4425041A (en) | Measuring apparatus | |
US4865443A (en) | Optical inverse-square displacement sensor | |
US4776669A (en) | Optical path sensor including a filter | |
JPS55142220A (en) | Device for measuring wavelength | |
JPS5548993A (en) | Semiconductor laser device | |
SU151063A1 (en) | Reflexometric measurement method | |
EP0736766B1 (en) | Method of and device for measuring the refractive index of wafers of vitreous material | |
SU1500822A1 (en) | Method of measuring plane angle of an object | |
CN110954144B (en) | Full-spectrum signal fitting demodulation method and device of optical fiber FP sensor | |
SU372510A1 (en) | ALL-UNION | |
JPS5660306A (en) | Laser interferometer and its measuring method | |
JP2888766B2 (en) | How to determine light / dark boundaries | |
SU1052856A1 (en) | Interference device for gauging dimensions of part | |
SU916975A1 (en) | Device for measuring object angular position | |
SU942500A2 (en) | Pondermotive energy measuring device | |
SU808835A1 (en) | Interferential transducer for measuring rotation angle of an object | |
SU133613A1 (en) | Method for measuring parameters of sea waves |