SU678283A1 - Device for investigating inclination meter characteristics - Google Patents

Device for investigating inclination meter characteristics

Info

Publication number
SU678283A1
SU678283A1 SU772497573A SU2497573A SU678283A1 SU 678283 A1 SU678283 A1 SU 678283A1 SU 772497573 A SU772497573 A SU 772497573A SU 2497573 A SU2497573 A SU 2497573A SU 678283 A1 SU678283 A1 SU 678283A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
platform
movable
screw
voltage
source
Prior art date
Application number
SU772497573A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Рамуальдас Ромуальдо Каупелис
Повилас Антано Варанаускас
Original Assignee
Каунасский Политехнический Институт Им. Антанаса Снечкуса
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Каунасский Политехнический Институт Им. Антанаса Снечкуса filed Critical Каунасский Политехнический Институт Им. Антанаса Снечкуса
Priority to SU772497573A priority Critical patent/SU678283A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU678283A1 publication Critical patent/SU678283A1/en

Links

Description

ЭКЗАМЕНАТОР ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК EXAMINER FOR RESEARCH OF CHARACTERISTICS

(54) ИЗМЕРИТЕЛЕЙ НАКЛОНА(54) TILT MEASURES

Изобретение относитс  к устройствам дл  исследовани  амплитудных и фазово-частотных характеристик измерительных устройств, -например наклономеров.The invention relates to devices for studying the amplitude and phase-frequency characteristics of measuring devices, such as tilt meters.

Известны экзаменаторы дл  решени  анало1Ичнь1Х задач, содержащие установочную базу в виде платформы, расположенной на шарнирах н винта регулировани  1.Examiners are known for solving analogous tasks, containing an installation base in the form of a platform located on hinges and an adjustment screw 1.

Ближайишм к изобретению по технической сушности и достигаемому результату  вл етс  экзаменатор дл  исследовани  характеристик измерителей наклона, который содержит две шшты, между которыми установлен гиарнир, имеритель перемещени , упор и винт регулировани  (2. Исследуемые приборы устанавливают на верхней плите. Вращение винта вызывает поворот подвижной плиты относительно неподвижной вокруг иврнира. Недостаток известных устройств дл  исследовани  характеристик измерителей наклона состоит в том, что они не позвол ют определ ть частотные (амплитудные и фазовые) характеристики, а также получатьмалые }тловые. перемещени  ОЛЯ измерени  статических характеристик.The closest to the invention on technical dryness and the achieved result is an examiner for studying the characteristics of inclination gauges, which contains two pins, between which a hinge is installed, a displacement gauge, a stop and an adjustment screw (2. The instruments under study are mounted on the top plate. Rotation of the screw causes rotation of the movable relatively stationary around ivrnir. A disadvantage of the known devices for studying the characteristics of tilt gauges is that they do not allow to determine 100% (amplitude and phase) characteristics, as well as to receive small body displacements. OLYA measurements of static characteristics.

Целью изобретени   вл етс  получение возможности определе ш  частотных характеристик Измерителей наклона и расширение диапазона УГЛОВЫХ перемещений в сторону получени  малых угловых перемещений. Цель достигаетс  тем, что известный зкзаменатор дл  исследовани  характеристик измерителей наклона, содержащий подвижную н неподвижную платформы , между которыми установлен щарнир, измеритель перемещени  с подп тником и винт, например, дифференциальный с подп тником, снабжен пьезоэлектрическим преобразователем перемещени , подключенным к источнику управл ющего напр жени , расположенным в подп тнике микрометрического винта.The aim of the invention is to obtain the possibility of determining the frequency characteristics of the slope meters and expanding the range of the ANGULAR movements in the direction of obtaining small angular movements. The goal is achieved by the fact that a known examiner for studying the characteristics of tilt gauges, containing a movable and fixed platform, between which a hinge is installed, a displacement meter with a bolster, and a screw, for example, a differential with a binder, is equipped with a piezoelectric displacement transducer located in a micrometric screw bushing.

На фиг. 1 приведена пршщшшапьна  схема устройства; на фиг. 2 - схема микрометрического винта с подп тником и пьезодатчИком.FIG. 1 shows the scheme of the device; in fig. 2 is a diagram of a micrometric screw with a tipper and piezo sensor.

Claims (2)

Устройство содержит (см. фиг. 1) неподвижную 1 и подвижную 2 платформы, которые соединены при помощи шарнира 3, На противоположном крае платформы установлен измеритель 4 перемещени ,упирающийс  в подп тник 5. На подвижной платформе 2 установлен микрометрический вихт 6, который упираетс  в подп тник 7 установленный на непокви юй платформе 1. Оси измерител  4, винта 6 и 1ЮДПЯТНИКОВ 5 и 7 расположены в плоскости, перпендикул рной к платформам 2 и 1 и оси поворота ишрнира 3. Подп тник 7 содержит пьезоэлектрический преобразователь, к электродам которого подключен источник 8 управл ющего напр же}{и . Микрометрический винт 6 (см. фиг. 2) выполнен дифферен1шальным и содержит головку и стержень, подвижный в осевом направлении . Он соединен с установленным в подвижной платформе 2 стаканом 9 при помощи направл ющей призматической ишонки 10. Стержень винта 6 упираетс  в сухарь 11 подп тника 7, подключенного к источнику 8 управл юiuero напр жени . Подп тник 7 содержит сухарь 11 и пластинку 12, между которыми установлен блок колец 13 из пьезокерамического материала с нанесенными электродами на торцах в виде металлического наплава. Этот блок представл ет пьезоэлектрический преобразователь , подключенный к источнику 8. Блок колец 13 закрыт экраном 14. При исследовании измерительные устройства например наклономеры устанавливают на подви ной платформе j2, к отора  поворачиваетс  вокруг шарнира 3 по отношению к неподвижной платформе 1 при помощи винта 6, который упираетс  в подп тник 7. Измеритель 4 перемещени , упирающийс  в подп тник 5, регистрирует угол поворота. Больщие углы поворо та платформы 2 осуществл ютс  при помоиди винта 6, а точные малые углы поворота (до 0,001 угловых с) и угловые колебани  платформы осуществл ютс  при помощи подп тника 7, на блок пьезокерамических колец 13 ко ixiporo подаетс  напр жение необходимой чаичбTfii н амплитуды. Кольца 13 под воздействием 1впр жени  деформируютс  и этим осущсствл юг малые угло ые перемещени  платформы 2. Дл  исследовани  частотных характеристик измерительных устройств нео бходимо ocyuiecTвить угловые колебани  платформы 2. Дл  этого от источника 8 управл ющего напр жени  подаетс  напр жение необходимой частоты и амплитуды. Так получаетс  возможность произвести исследовани  частотных характеристик (фазовых и амплитудных) измерителей наклона . Формула изобретени  Экзаменатор дл  исследовани  характеристик измерителей наклона, содержащий подвижную и неподвижную платформы, соединенные посредством щарнира, измеритель перемещени  и микрометрический винт, установленные на подвижной части и упирающиес  каждый в сврй( подп тник, укрепленный на не: подвижной части платформы, отличающийс  тем, что, с целью определени  истртных характеристик и расширени  рабочего диапазона, он снабжен пьезоэлектрическим преобразователем перемещени  с подключенным к нему источником управл ющего напр жени , причем указанный прео.бразователь расположен в подп тнике микрометрического винта. -Источники информации, прин тые во при экспертизе 1.Патент США № 3954244, кл. 248-349, 1976. . The device contains (see Fig. 1) a fixed 1 and a movable 2 platform, which are connected by means of a hinge 3. A displacement gauge 4 is installed at the opposite edge of the platform, resting against the tip 5. A movable platform 2 has a micrometric viht 6 which abuts a follower 7 mounted on a non-platform platform 1. The axes of the gauge 4, screws 6 and 1UPRUPERS 5 and 7 are located in a plane perpendicular to the platforms 2 and 1 and the axis of rotation of the shield 3. The pointer 7 contains a piezoelectric transducer, to which electrodes A source 8 is connected to the control unit} {and. The micrometer screw 6 (see fig. 2) is made differential and contains a head and a rod movable in the axial direction. It is connected to a cup 9 installed in the movable platform 2 with the help of a prismatic small arm 10. The screw shaft 6 rests on the crumbs 11 of the submix 7 connected to the source 8 of the control voltage. The caplet 7 contains a cracker 11 and a plate 12, between which a block of rings 13 of piezoceramic material is installed with deposited electrodes at the ends in the form of a metal overlay. This unit represents a piezoelectric transducer connected to the source 8. The ring 13 unit is closed by the screen 14. When examining measuring devices, for example, tiltmeters are mounted on a mobile platform j2, it rotates around the hinge 3 relative to the fixed platform 1 by means of a screw 6, which rests on the follower 7. The movement meter 4, abutting on the follower 5, registers the angle of rotation. Large angles of rotation of platform 2 are carried out with the help of screw 6, and precise small angles of rotation (up to 0.001 angular seconds) and angular oscillations of the platform are carried out with the help of pad 7, the voltage of the required part of the amplitude is applied to the block of piezoceramic rings 13 . The rings 13 under the influence of the voltage are deformed and thereby realize small angular displacements of the platform 2. In order to study the frequency characteristics of the measuring devices, it is necessary to take the angular oscillations of the platform 2. To do this, the voltage of the required frequency and amplitude is applied from the source of the control voltage 8. Thus, it is possible to carry out studies of the frequency characteristics (phase and amplitude) of the slope meters. Claims An examiner for examining the characteristics of inclination gauges, comprising a movable and fixed platform, connected by means of a hinge, a displacement meter and a micrometer screw, mounted on the movable part and abutting each other (the stand mounted on the non-movable part of the platform, characterized in , in order to determine the friction characteristics and expand the operating range, it is equipped with a piezoelectric displacement transducer with a control source connected to it voltage, and the specified instructor is located in a submeter of the micrometric screw. - Sources of information accepted during examination 1. US Patent No. 3954244, cl. 248-349, 1976. 2.Патент Великобритании № 1436330, кл. G 2 JJ976.2. The UK patent number 1436330, cl. G 2 JJ976. // уУ / /У/////ЛУ/У // UU / / U ///// LU / U
SU772497573A 1977-06-20 1977-06-20 Device for investigating inclination meter characteristics SU678283A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772497573A SU678283A1 (en) 1977-06-20 1977-06-20 Device for investigating inclination meter characteristics

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772497573A SU678283A1 (en) 1977-06-20 1977-06-20 Device for investigating inclination meter characteristics

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU678283A1 true SU678283A1 (en) 1979-08-05

Family

ID=20713824

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772497573A SU678283A1 (en) 1977-06-20 1977-06-20 Device for investigating inclination meter characteristics

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU678283A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4013082B2 (en) Rotational viscometer
US3969930A (en) Testing viscoelastic solids
US4841226A (en) Capacitive extensometer with curved target surface
Halkon et al. Establishing correction solutions for scanning laser Doppler vibrometer measurements affected by sensor head vibration
SU678283A1 (en) Device for investigating inclination meter characteristics
US4939445A (en) Pivoted arm capacitive extensometer
US3706221A (en) Parallel-plate viscometer with double-diaphragm suspension
GB2186092A (en) Rheometer
AU2003202409A1 (en) Method and device for defining elastic deformations and integral angle of a gyratory compactor
JPS62245131A (en) Scratch testing machine
SU1718050A1 (en) Device for determining friction coefficient of flat specimens of materials
SU720302A1 (en) Two-axis examiner for studying characteristics of inclinometers
Haitjema et al. Dynamic probe calibration up to 10 kHz using laser interferometry
RU2061405C1 (en) Device for determining mechanical properties of biological tissues
US2948147A (en) Apparatus for measuring and recording the dynamic modulus of elasticity
US2922632A (en) Accelerometer
SU805100A1 (en) Device for measuring lubrication layer thickness in plain bearing
RU2314509C1 (en) Device for determination of static moment of aircraft engine compressor blades
SU1657993A1 (en) Balancer
SU1375995A1 (en) Method and apparatus for determining rock hardness
Blacic et al. Wide‐band optical–mechanical system for measuring acoustic emissions at high temperature and pressure
SU1392398A1 (en) Dynamometer for measuring cutting force
SU720346A1 (en) Pressure measuring device
SU1283526A1 (en) Curvature meter
SU1448196A1 (en) Strain gauge transducer