SU668020A1 - Измерительный конденсатор - Google Patents
Измерительный конденсаторInfo
- Publication number
- SU668020A1 SU668020A1 SU762363247A SU2363247A SU668020A1 SU 668020 A1 SU668020 A1 SU 668020A1 SU 762363247 A SU762363247 A SU 762363247A SU 2363247 A SU2363247 A SU 2363247A SU 668020 A1 SU668020 A1 SU 668020A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electrodes
- measuring
- electrode
- capacitor
- distance
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
(54) ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КОНДЕНСАТОР
I
Изобретение относитс к области электроизмерительной техники. Перекрестна система электродов дл определени параметров твердых диэлектриков (относительной диэлектрической проницаемости , тангенса угла диэлектрических потерь tg б,, удельного объемного сопротивлени Р,) может примен тьс в метрологии, измерительной технике и в других област х науки и техники, св занных с точными измерени ми указанных параметров диэлектриков.
Известен перекрестный конденсатор, предназначенный дл применени в качестве образцовой меры емкости 1.
Недостатком конденсатора вл етс то, что расположение электродов не позвол ет поместить в межэлектродное пространство образец твердого диэлектрика и, следовательно , произвести измерение его параметров .
Наиболее близким но технической сущности к изобретению вл етс измерительный конденсатор нреимушественно дл измерени электрофизических параметров диэлектриков , содержаний размещенные зеркально симметрично относительно друг дру
га два электродных узла, каждый из которых содержит группу компланарных электродов , установленных с зазором 2. Недостатком этого конденсатора вл етс низка точность измерений.
Цель изобретени - повышение точности измерений - достигаетс благодар тому , что в измерительном конденсаторе преимущественно дл измерени электрофизических параметров диэлектриков компланарные электроды вынолнены замкнутыми по
контуру, а электродные узлы установлены е возможностью изменени рассто ни между ними.
На чертеже представлен измерительн)|й конденсатор, который содержит основание 1, соединенное с корпусом 2, в цилиндрической выточке которого перемещаетс П1ток 3, вл ющийс элементом устройства 4 дл изменени и измерени рассто ни . На нижнем конце щтока через изол тор 5 закренлен верхний электронный узел, состо щий из наружного электрода 6, изол тора 7 и внутреннего электрода 8. Внутренний элекгрод О, изол тор 10 и наружный электрод 11 образуют 1Ц1Ж11ИЙ электродный узел, который через изол тор 12 укреплен на основании i. Электроды 6, 8. 9 и И снабжены электрическими выводами.
Устройство работает следующим образом .
С помощью устройства 4 дл изменени рассто ни вер.хний электродный узел перемещаетс относительно нижнего так, что зазоры вер.хнего и нижнего узлов наход тс один над другим, а поверхности электродов 6, 8 и 9, II остаютс параллельными друг другу во всем диапазоне перемещений.
При определении параметров диэлектриков образец размещают между рабочими поверхност ми электродных узлов, опускают верхний узел до соприкосновени поверхностей электродов и образца и отмечают отсчет по шкале устройства дл изменени рассто ни .
Измер ют соответствующий параметр (Cix, G( X или tg 6ix) между наружным электродом нижнего узла и внутренним электродом верхнего при заземленных остальных электродах. Затем измерени провод т между другой парой накрест лежащих электродов при зазе.мленных остальных электродах. Получают соответствующее значение параметров УгдССгх. GZX или tg62x)- После изъ ти образца из межэлектродного пространства восстанавливают рассто ние между электродами , соответствующее полученному ранее отсчету по н;кале устройства дл измерени рассто ний, и измер ют те же параметры Yto и УЮ между накрест лежащими электродами обоих узлов.
Параметры твердого диэлектрика определ ют по формулам:
относительную диэлектрическую проницаемость
Cix + Cix
жCc (t)
где Со (t) - величир1а, характезирующа перекрестную емкость в вакууме в зависимости от рассто ни t между э.чектродами;
CIQ -I- С го
Co(t)
SH
1ме с, - относительна диэлектрическа проницаемость среды, заполн ющей межэлектродное пространство при изъ тии образца. Удельное объемное сопротивление
р -
где о - электрическа посто нна , тангене угла диэлектрических потерь
tgS;( (tgSlx + tgSis)
Увеличение числа электродов в каждом
из электродных узлов ведет к увеличению
емкости электродов и, следовательно, содействует дальнейшему повышению точности и
упрощению процесса измерени .
Погрешность измерени конденсатора оцениваетс значением (3-5) 10.
Claims (2)
1.Патент США № 3626258, кл. Н 01 g 1/02, 1974.
2.Авторское свидетельство № 226717, кл. G 01 R 27/26, 1971.
12
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762363247A SU668020A1 (ru) | 1976-05-11 | 1976-05-11 | Измерительный конденсатор |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762363247A SU668020A1 (ru) | 1976-05-11 | 1976-05-11 | Измерительный конденсатор |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU668020A1 true SU668020A1 (ru) | 1979-06-15 |
Family
ID=20662400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762363247A SU668020A1 (ru) | 1976-05-11 | 1976-05-11 | Измерительный конденсатор |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU668020A1 (ru) |
-
1976
- 1976-05-11 SU SU762363247A patent/SU668020A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4641434A (en) | Inclination measuring device | |
US4555661A (en) | Method and apparatus for determining dielectric constant | |
US3471780A (en) | Moisture and temperature compensating capacitive film thickness gauge | |
US3440372A (en) | Aluminum oxide humidity sensor | |
Broadhurst et al. | Two-terminal dielectric measurements up to 6× 108 Hz | |
FR2309833A1 (fr) | Jauge capacitive pour le controle d'une dimension interieure d'un tube | |
Moon et al. | Standards for low values of direct capacitance | |
SU668020A1 (ru) | Измерительный конденсатор | |
SU1195286A1 (ru) | Способ определени диэлектрической проницаемости | |
US3479588A (en) | Displacement measuring device including a spaced four-corner electrode array | |
SU1515122A1 (ru) | Способ определени диэлектрической проницаемости материалов | |
SU578603A1 (ru) | Трехэлектронный датчик | |
GB1517364A (en) | Apparatus for measuring a linear quantity | |
JPS5833523Y2 (ja) | チヨツカクド マタハ エンチヨクドハンベツソウチ | |
Scott et al. | Residual losses in a guard-ring micrometer-electrode holder for solid-disk dielectric specimens | |
SU927018A1 (ru) | Способ измерени диаметра проволоки | |
SU972377A1 (ru) | Накладной конденсатор | |
SU1109677A1 (ru) | Способ измерени напр женности электрического пол | |
SU1227944A1 (ru) | Емкостный датчик | |
SU904420A1 (ru) | Устройство дл измерени диаметра проволоки | |
SU419992A1 (ru) | Емкостной датчик | |
SU853513A1 (ru) | Способ определени диэлектрическихСВОйСТВ МАТЕРиАлА | |
SU1474452A1 (ru) | Способ контрол поверхности электропровод щих изделий и устройство дл его осуществлени | |
SU1573436A1 (ru) | Способ измерени потенциала поверхности электрета | |
SU932379A1 (ru) | Устройство дл определени электрической прочности и электропроводности смазочных сред |