SU668020A1 - Измерительный конденсатор - Google Patents

Измерительный конденсатор

Info

Publication number
SU668020A1
SU668020A1 SU762363247A SU2363247A SU668020A1 SU 668020 A1 SU668020 A1 SU 668020A1 SU 762363247 A SU762363247 A SU 762363247A SU 2363247 A SU2363247 A SU 2363247A SU 668020 A1 SU668020 A1 SU 668020A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrodes
measuring
electrode
capacitor
distance
Prior art date
Application number
SU762363247A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Петрович Семенов
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-1742
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-1742 filed Critical Предприятие П/Я Г-1742
Priority to SU762363247A priority Critical patent/SU668020A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU668020A1 publication Critical patent/SU668020A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

(54) ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ КОНДЕНСАТОР
I
Изобретение относитс  к области электроизмерительной техники. Перекрестна  система электродов дл  определени  параметров твердых диэлектриков (относительной диэлектрической проницаемости , тангенса угла диэлектрических потерь tg б,, удельного объемного сопротивлени  Р,) может примен тьс  в метрологии, измерительной технике и в других област х науки и техники, св занных с точными измерени ми указанных параметров диэлектриков.
Известен перекрестный конденсатор, предназначенный дл  применени  в качестве образцовой меры емкости 1.
Недостатком конденсатора  вл етс  то, что расположение электродов не позвол ет поместить в межэлектродное пространство образец твердого диэлектрика и, следовательно , произвести измерение его параметров .
Наиболее близким но технической сущности к изобретению  вл етс  измерительный конденсатор нреимушественно дл  измерени  электрофизических параметров диэлектриков , содержаний размещенные зеркально симметрично относительно друг дру
га два электродных узла, каждый из которых содержит группу компланарных электродов , установленных с зазором 2. Недостатком этого конденсатора  вл етс  низка  точность измерений.
Цель изобретени  - повышение точности измерений - достигаетс  благодар  тому , что в измерительном конденсаторе преимущественно дл  измерени  электрофизических параметров диэлектриков компланарные электроды вынолнены замкнутыми по
контуру, а электродные узлы установлены е возможностью изменени  рассто ни  между ними.
На чертеже представлен измерительн)|й конденсатор, который содержит основание 1, соединенное с корпусом 2, в цилиндрической выточке которого перемещаетс  П1ток 3,  вл ющийс  элементом устройства 4 дл  изменени  и измерени  рассто ни . На нижнем конце щтока через изол тор 5 закренлен верхний электронный узел, состо щий из наружного электрода 6, изол тора 7 и внутреннего электрода 8. Внутренний элекгрод О, изол тор 10 и наружный электрод 11 образуют 1Ц1Ж11ИЙ электродный узел, который через изол тор 12 укреплен на основании i. Электроды 6, 8. 9 и И снабжены электрическими выводами.
Устройство работает следующим образом .
С помощью устройства 4 дл  изменени  рассто ни  вер.хний электродный узел перемещаетс  относительно нижнего так, что зазоры вер.хнего и нижнего узлов наход тс  один над другим, а поверхности электродов 6, 8 и 9, II остаютс  параллельными друг другу во всем диапазоне перемещений.
При определении параметров диэлектриков образец размещают между рабочими поверхност ми электродных узлов, опускают верхний узел до соприкосновени  поверхностей электродов и образца и отмечают отсчет по шкале устройства дл  изменени  рассто ни .
Измер ют соответствующий параметр (Cix, G( X или tg 6ix) между наружным электродом нижнего узла и внутренним электродом верхнего при заземленных остальных электродах. Затем измерени  провод т между другой парой накрест лежащих электродов при зазе.мленных остальных электродах. Получают соответствующее значение параметров УгдССгх. GZX или tg62x)- После изъ ти  образца из межэлектродного пространства восстанавливают рассто ние между электродами , соответствующее полученному ранее отсчету по н;кале устройства дл  измерени  рассто ний, и измер ют те же параметры Yto и УЮ между накрест лежащими электродами обоих узлов.
Параметры твердого диэлектрика определ ют по формулам:
относительную диэлектрическую проницаемость
Cix + Cix
жCc (t)
где Со (t) - величир1а, характезирующа  перекрестную емкость в вакууме в зависимости от рассто ни  t между э.чектродами;
CIQ -I- С го
Co(t)
SH
1ме с, - относительна  диэлектрическа  проницаемость среды, заполн ющей межэлектродное пространство при изъ тии образца. Удельное объемное сопротивление
р -
где о - электрическа  посто нна , тангене угла диэлектрических потерь
tgS;( (tgSlx + tgSis)
Увеличение числа электродов в каждом
из электродных узлов ведет к увеличению
емкости электродов и, следовательно, содействует дальнейшему повышению точности и
упрощению процесса измерени .
Погрешность измерени  конденсатора оцениваетс  значением (3-5) 10.

Claims (2)

1.Патент США № 3626258, кл. Н 01 g 1/02, 1974.
2.Авторское свидетельство № 226717, кл. G 01 R 27/26, 1971.
12
SU762363247A 1976-05-11 1976-05-11 Измерительный конденсатор SU668020A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762363247A SU668020A1 (ru) 1976-05-11 1976-05-11 Измерительный конденсатор

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762363247A SU668020A1 (ru) 1976-05-11 1976-05-11 Измерительный конденсатор

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU668020A1 true SU668020A1 (ru) 1979-06-15

Family

ID=20662400

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762363247A SU668020A1 (ru) 1976-05-11 1976-05-11 Измерительный конденсатор

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU668020A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4641434A (en) Inclination measuring device
US4555661A (en) Method and apparatus for determining dielectric constant
US3471780A (en) Moisture and temperature compensating capacitive film thickness gauge
US3440372A (en) Aluminum oxide humidity sensor
Broadhurst et al. Two-terminal dielectric measurements up to 6× 108 Hz
FR2309833A1 (fr) Jauge capacitive pour le controle d'une dimension interieure d'un tube
Moon et al. Standards for low values of direct capacitance
SU668020A1 (ru) Измерительный конденсатор
SU1195286A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости
US3479588A (en) Displacement measuring device including a spaced four-corner electrode array
SU1515122A1 (ru) Способ определени диэлектрической проницаемости материалов
SU578603A1 (ru) Трехэлектронный датчик
GB1517364A (en) Apparatus for measuring a linear quantity
JPS5833523Y2 (ja) チヨツカクド マタハ エンチヨクドハンベツソウチ
Scott et al. Residual losses in a guard-ring micrometer-electrode holder for solid-disk dielectric specimens
SU927018A1 (ru) Способ измерени диаметра проволоки
SU972377A1 (ru) Накладной конденсатор
SU1109677A1 (ru) Способ измерени напр женности электрического пол
SU1227944A1 (ru) Емкостный датчик
SU904420A1 (ru) Устройство дл измерени диаметра проволоки
SU419992A1 (ru) Емкостной датчик
SU853513A1 (ru) Способ определени диэлектрическихСВОйСТВ МАТЕРиАлА
SU1474452A1 (ru) Способ контрол поверхности электропровод щих изделий и устройство дл его осуществлени
SU1573436A1 (ru) Способ измерени потенциала поверхности электрета
SU932379A1 (ru) Устройство дл определени электрической прочности и электропроводности смазочных сред