SU657327A1 - Токовихревой дефектоскоп - Google Patents

Токовихревой дефектоскоп

Info

Publication number
SU657327A1
SU657327A1 SU762375991A SU2375991A SU657327A1 SU 657327 A1 SU657327 A1 SU 657327A1 SU 762375991 A SU762375991 A SU 762375991A SU 2375991 A SU2375991 A SU 2375991A SU 657327 A1 SU657327 A1 SU 657327A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
eddy
flaw detector
current flaw
output
unit
Prior art date
Application number
SU762375991A
Other languages
English (en)
Inventor
Олег Анатольевич Вохомский
Борис Михайлович Готлиб
Original Assignee
Уральский электромеханический институт инженеров железнодорожного транспорта
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Уральский электромеханический институт инженеров железнодорожного транспорта filed Critical Уральский электромеханический институт инженеров железнодорожного транспорта
Priority to SU762375991A priority Critical patent/SU657327A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU657327A1 publication Critical patent/SU657327A1/ru

Links

Description

Изобретение относитс  к области неразрушающего контрол  материалов и изделий и может быть использовано при дефектоскопии металлов. Оно может быть также использовано и в сочетании с другими физическими метод ми контрол  - ультразвуковым, магни ным, электромагнитно-акустическим и т.д. Известны токовихревой дефектоско дл  обнаружени  дефектов в металлических издели х, содержащий частотный генератор, преобразователь с ра бочим и эталонными датчиками, резонансный усилитель, фазовый детектор и индикатор fl. В этом дефектоскопе обнаружение дефектов производитс  путем сравнени  сигнала от образца с эталонными дефектами в фазовом детекторе. Однако калибровка дефектоскопа производитс  вручную, что приводит к субъективным ошибкам, и, кроме того, процесс калибровки  вл етс  трудоемким. Известен также токовихревой дефектоскоп , содержащий частотный генератор , преобразователь с возбужда щей и измерительной катушками, резонансный усилитель, усилительнопреобразовательный блок и вьссодной индикатор/ а дл  автоматической калибровки введен анализирующий блок. Анализируимций блок состоит из схемы совпадени , схемы пусковых сигналов, амплитудного анализатора/ элемента пам ти и узла сравнени  2. В этом дефектоскопе выходной сигнал анализируетс  посредством амплитудного анализатора/ результаты анализа запоминаютс  в виде дискретньк электрических сигналов элементов пам ти, эти сигналы сравниваютс  с эталонными в узле сравнени , и по результатам сравнени  автоматически регулируетс  коэффициент усилени  усилителей усилительно-преобразовательного блока. Этот дефектоскоп позвол ет автоматически определ ть параметрм дефектов , однако требует сложных схемHfcix решений, например включени  сложного анализирующего блока. Наиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретению  вл етс  прибор дл  обнаружени  дефектов , использующий вихревые токи, которьлй содержит последовательно соединенные генератор импульсов, преобразователь , выполненный в виде возбуждающей и измерительной катушек, резонансный усилитель, усилительнопреобразовательный блок, выходной и дикатор . Прибор содержит также анализирую щий блок, который первым входом через схему пусковых сигналов подключ к выходу резонансного усилител , вторым входом - через схему совпадени  к выходу усилительно-преобразовательного блока, а выходом - через узел сравнени  ко входам усилителей усилительно-преобразовательно го блока 3. Недостатком этого токовихревого прибора  вл етс  невысока  точность контрол , так как анализ выходного сигнала, а следовательно, и параметров дефекта, производитс  только по одному заложенному в него параметру-амплитуде , а другие параметры как фаза и частота, остаютс  неиспользованными . Малоинформативный анализ порождает и другой весьма существенный недостаток - воздействие на прибор различного вида помех . Кроме того, амплитудный анализ Выходных сигналов позвол ет смоделировать на выходе анализирующего блока ограниченное число эталонных малоинформативных сигналов, вследствие чего многие дефекты вообще оказываютс  необнаруженными. Целью изобретени   вл етс  повышение точности контрол . Цель достигаетс  тем, что предла гаемый токовихревой дефектоскоп сна жен одноканальным оптико-электронны блоком, выполненным в виде последовательно расположенных источника мо хроматического света, .коллиматорной линзы, ультразвукового модул тора света с пьезопреобразователем, соединенным с выходом усилител , маски фильтров, интегрирующей линзы и фотодиода , выход которого соединен с индикатором. На чертеже представлена функциональна  схема описываемого токовихревого дефектоскопа. Токовихревой дефектоскоп содержит генератор 1 импульсов, подключенный к возбуждающей катушке 2 пре образовател  3. К измерительной катушке 4 преобразовател  3 подключен резонансный усилитель 5; в выходную цепь резонансного усилител  5 включен через пьезопреобразователь б одноканальный оптико-электронный блок 7, выполненный в виде последовательно расположенных источника 8 монохроматического света коллиматор ной линзы 9, ультразвукового модул тора 10 света с пьезопреобразователем 6, маски 11 фильтров с записью этгшонных сигналов, интегрирующей линзы 12 и фотодиода 13, выход которого соединен с индикатором 14. Токовихревой дефектоскоп работает следующим образом. Генератор 1 импульсов вырабатыва-i ет последовательность импульсов с частотным заполнением, которые поступают на возбуждающую катушку 2 преобразовател  3. Под воздействием пол  возбуждающей катушки в провод щем образце за счет электромагнитной индукции возникают вихревые токи. Вихревые токи, индуцируемые в металле , в свою очередь создают свое«магнитное поле, противоположное по отношению к исходному магнитному полю. Возникающее результирующее поле вызыет по вление напр жени  на измерительной катушке 4 преобразовател  3. Это напр жение усиливаетс  резонансным усилителем 5 и поступает ко входу одноканального оптико-электронного блока 7. Дефектоскопические сигналы вместе с помехами подаютс  на пьезопреобразователь 6 ультразвукового модул тора 10 света и возбуждают его оптически прозрачную среду, вызыва  в ней периодические сжати  и разрежени . Ультразвуковой модул тор 10 света освещаетс  плоско-параллельным пучком света, созданным монохроматическим источником 8 света и сформированным коллиматорной линзой 9. Непосредственно за ультразвуковым модул тором света помещаетс  маска 11 фильтров, представл юща  собой оптический транспорант (например, фотопленку или фотопластинку) с записью сигналов от образца с эталонными дефектами. На одном транспоранте записываетс  заранее большое количество сведений о различных типах дефектов , а также о структуре металла и других контролируемых параметрах. При освещении ультразвукового модул тора 10 света плоско-параллельным светом световой поток модулируетс  входным сигналом, а при прохождении оптического транспоранта он дополнительно модулируетс  э.ч алонным сигналом. Результирующа  модул ци  определ етс  произведением двух функций - входного и эталонного сигналов. Полученные световые распределени  при помощи интегрирующей линзы 12 фокусируютс  на некоторую поверхность фотодиода 13. Произведение двух функций и интегрирование результата перемножени  соответствует коррел ционному или оптимальному методу обработки входных дефектоскопических сигналов. Электрические информационные сигналы , возникающие на выходе фотодиода 13, Отображаютс  на индикаторе 14 в виде автокоррел ционной и взаимнокоррел ционной функций. По виду коррел ционной функции суд т о типе, размерах и ориентации дефектов, а также и о структуре металла.
Использование новых элементов - одноканального оптико-электронного блока - выгодно отличает предлагаемы токовихревой дефектоскоп от известного , так как благодар  коррел ционной обработке входного сигнала заметно повышаетс  точность контрол  и вы вл емость дефектов.
Кроме того, одноканальный оптикоэлектронный блок производит идеальную обработку входного дефектоскопического сигнала по каждому из канапов (по каждому дефекту), что позвол ет просто и надежно отделить полезный сигнал от помех.
Возможность предварительной записи на маске фильтров большого коли ества сведений о различных типах 5цефектов и структуре металла позвол ет расширить функциональные возможности предлагаемого токовихревого дефектоскопа, а возможность использовани  оптико-электронного блока в других физических методах контрол  позвол ет увеличить область применени  предлагаемого технического решени .

Claims (3)

1.Патент СССР 328605, кл. G 01 N 27/86, 1970.
2.Патент Великобритании 1255179 кл. G 1 Nr 1971.
3.Патент Великобритании 1329302, кл. G 1 N, 1973.
SU762375991A 1976-06-28 1976-06-28 Токовихревой дефектоскоп SU657327A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762375991A SU657327A1 (ru) 1976-06-28 1976-06-28 Токовихревой дефектоскоп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762375991A SU657327A1 (ru) 1976-06-28 1976-06-28 Токовихревой дефектоскоп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU657327A1 true SU657327A1 (ru) 1979-04-15

Family

ID=20666908

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762375991A SU657327A1 (ru) 1976-06-28 1976-06-28 Токовихревой дефектоскоп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU657327A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6234039A (ja) 免疫反応測定に用いる蛍光検出装置
ATE317115T1 (de) Gasdetektionsverfahren und gasdetektoreinrichtung
US3032654A (en) Emission spectrometer
JPH08178870A (ja) 材料サンプルの微小吸収量あるいは反射量を測定する分光学的方法および装置
US4843318A (en) Distance compensation in magnetic probe testing systems wherein object to probe spacing is employed as an exponent in excitings probes or processing probe outputs
SU657327A1 (ru) Токовихревой дефектоскоп
WO2023013235A1 (ja) 測定装置および測定方法
JP2636051B2 (ja) 粒子測定方法および装置
EP3394595B1 (en) System for determining the characteristics of a gas and related method for measuring such characteristics
US4171912A (en) Element analyzer exploiting a magneto-optic effect
JP3271994B2 (ja) 寸法測定方法
SU819709A2 (ru) Акустический способ дефектоскопии
JP3679887B2 (ja) 干渉縞計数法を用いた振動ピックアップの絶対校正法における自動化方法
SU479964A1 (ru) Способ измерени температуры
SU515985A2 (ru) Феррозондовый дефектоскоп
SU868563A1 (ru) Способ неразрушающего контрол ферромагнитных изделий
SU603891A1 (ru) Феррозондовый дефектоскоп
JP3679888B2 (ja) 干渉縞消失法を用いた振動ピックアップの絶対校正法における自動化方法
RU2143487C1 (ru) Детектор подвижных микроорганизмов
RU2193190C2 (ru) Магнитометр дефектоскопический
RU2030732C1 (ru) Устройство для оптической спектроскопии материалов
DE69226923D1 (de) Sensoren und Bestimmungsverfahren
RU2003998C1 (ru) Устройство дл измерени градиента магнитной индукции
SU940236A1 (ru) Устройство дл измерени коэрцитивной силы магнитоодноосных пленок
SU1186960A1 (ru) Абсорбционно-оптический способ измерени концентрации веществ и устройство дл его осуществлени