SU645223A1 - Charged particle energy analyzer - Google Patents

Charged particle energy analyzer

Info

Publication number
SU645223A1
SU645223A1 SU742061307A SU2061307A SU645223A1 SU 645223 A1 SU645223 A1 SU 645223A1 SU 742061307 A SU742061307 A SU 742061307A SU 2061307 A SU2061307 A SU 2061307A SU 645223 A1 SU645223 A1 SU 645223A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plates
electrodes
pairs
dispersing
analyzer
Prior art date
Application number
SU742061307A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Борис Васильевич Бобыкин
Ростислав Николаевич Галль
Светлана Петровна Карецкая
Вениамин Моисеевич Кельман
Юрий Александрович Невинный
Владимир Антонович Павленко
Валерий Алексеевич Расторгуев
Николай Алексеевич Холин
Михаил Дмитриевич Шутов
Original Assignee
Ордена Трудового Красного Знамени Специальное Конструкторское Бюро Ан Ссср
Институт Ядерной Физики Ан Казахской Сср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Трудового Красного Знамени Специальное Конструкторское Бюро Ан Ссср, Институт Ядерной Физики Ан Казахской Сср filed Critical Ордена Трудового Красного Знамени Специальное Конструкторское Бюро Ан Ссср
Priority to SU742061307A priority Critical patent/SU645223A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU645223A1 publication Critical patent/SU645223A1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

(54) АНАЛИЗАТОР ЭНЕРГИИ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ(54) ENERGY ANALYZER OF CHARGED PARTICLES

щих, коллимирующих и фокусирующих электродов расположены общие пары пластин так, ЧТО электронно-оптическа  ось системы проходит через центр кривизны коллимирующих и фокусирующих электродов, источник и соответственно приемник частиц образует с боковыми поверхност ми диспергирующих электродов угол больше нул , но меньще 90°.Common, collimating and focusing electrodes arrange common pairs of plates so that the electron-optical axis of the system passes through the center of curvature of the collimating and focusing electrodes, the source and, accordingly, the particle receiver form an angle greater than zero but less than 90 ° with the side surfaces of the dispersing electrodes.

На чертеже схематически изображен анализатор зар женных частиц.The drawing shows schematically the analyzer of charged particles.

Он состоит из входной коллимнрующей линзы, образованной электродами, выполненными из входной нары пластин 1, пары в виде согласующих пластин 2 и общей пары пластин 3, деспергирующей системы электродов, включающей общую пару пластин 3, центральную пару пластин 4 с примыкающими к ней с обеих сторон нарами пластин 5 и 6, общей пары пластин 7, фокусирующей линзы, образованной электродами , выполненными в виде общей пары пластин 7, согласующей пары пластин 8, выходной пары пластин 9, источника 10 частиц и приемника 11.It consists of an input collimation lens formed by electrodes made from the input bunk of plates 1, a pair in the form of matching plates 2 and a common pair of plates 3, a desparing electrode system comprising a common pair of plates 3, a central pair of plates 4 with adjacent to it on both sides bunches of plates 5 and 6, a common pair of plates 7, a focusing lens formed by electrodes made in the form of a common pair of plates 7, a matching pair of plates 8, an output pair of plates 9, a source of 10 particles and a receiver 11.

Все электроды имеют свой потенциал, пластины расположены на одинаковом рассто нии от средней продольной плоскости. Пары пластин разделены между собой щелевыми зазорами. Пары нластин 3, 4, 5, 6 и 7 разделены пр молинейными щелевыми зазорами, а пары пластин 1, 2, 3, и 7, 8, 9 - щелевыми зазорами, образованными цилиндрическими новерхност ми.All electrodes have their potential, the plates are located at the same distance from the median longitudinal plane. The pairs of plates are separated by slit gaps. The pairs of nlastins 3, 4, 5, 6, and 7 are separated by straight slit gaps, while the pairs of plates 1, 2, 3, and 7, 8, 9 are divided by slot gaps formed by cylindrical surfaces.

Источник 10 зар женных частиц и приемник 11 размещень вне электростатического пол  и могут находитьс  как нод различными , так и под одинаковыми потенциалами .The source 10 of charged particles and the receiver 11 are placed outside the electrostatic field and can be either different or at equal potentials.

Анализатор предлагаемого типа может иметь варианты с ускорением или замедлением зар женных частиц в области центральной нары пластин 4. Электродна  система анализатора может быть выполнена геометрически симметричной относительно взаимно перпендикул рных плоскостей системы или симметричной относительно продольной плоскости и несимметричной относительно поперечной плоскости.The analyzer of the proposed type can have variants with acceleration or deceleration of charged particles in the region of the central bunk of the plates 4. The electrode system of the analyzer can be made geometrically symmetrical with respect to mutually perpendicular planes of the system or symmetrical with respect to the longitudinal plane and asymmetrical with respect to the transverse plane.

Работает анализатор следующим образом .The analyzer works as follows.

Кажда  точка источника 10 испускает расход щийс  пучок зар женных частиц. Коллимирующа  линза, образованна  парами пластин 1, 2, 3, коллимирует этот пучок , дела  его параллельным. Затем пучок поступает в диспергирующую систему электродов, котора  отклон ет частицы в плоскости параллельной средней плоскости на тот или иной угол, в зависимости от их энергии.Each point of source 10 emits a diverging beam of charged particles. A collimating lens formed by pairs of plates 1, 2, 3 collimates this beam, making it parallel. The beam then enters the dispersing system of electrodes, which deflects particles in a plane parallel to the mid-plane at a given angle, depending on their energy.

В плоскости, перпендикул рной к средней , диспергирующа  система также сохран ет параллельность падающего на него пучка.In a plane perpendicular to the average, the dispersing system also maintains the parallelism of the beam incident on it.

Изображени  источника, соответствующие различным энерги м частиц, наход тс  в фокальной плоскости фокусирующей линзы, образованной парами пластин 7, 8, 9. В этой плоскости расположена щель приемника 11 зар женных частиц.Source images corresponding to different particle energies are located in the focal plane of the focusing lens formed by pairs of plates 7, 8, 9. In this plane there is a slot of the receiver 11 of charged particles.

Предлагаемый анализатор обеспечивает получение высокой разрешающей способности при большой светимости за счет егоThe proposed analyzer provides high resolution at high luminosity due to its

следующих свойств. Коллимирующа  и фокусирующа  линзы без существенного сокращени  их фокусных рассто ний в плоскости дисперсии позвол ют уменьшить энергию вход щих в призму частиц, чтоthe following properties. The collimating and focusing lenses, without significantly reducing their focal lengths in the plane of dispersion, reduce the energy of the particles entering the prism, which

приводит к возрастанию дисперсии анализатора и, следовательно, повышению его разрешени . В то же врем  фокусные рассто ни  в перпендикул рной плоскости значительно сокращаютс , что дает возможность хорошо фокусировать пучки с большими углами расходимости в этой плоскости , т. е. существенно увеличить светосилу анализатора. Вследствие малых величин аберраций линз возможно использованиеleads to an increase in the dispersion of the analyzer and, consequently, increase its resolution. At the same time, the focal distances in the perpendicular plane are significantly reduced, which makes it possible to focus beams with large divergence angles in this plane well, i.e., significantly increase the analyzer luminosity. Due to the small magnitudes of lens aberrations, it is possible to use

пучков с большими углами расходимости также и в плоскости дисперсии, что дополнительно увелнчивает светосилу анализатора . Площадь источника может быть большой. В случае применени  длинногоbeams with large divergence angles are also in the plane of dispersion, which additionally increases the luminosity of the analyzer. The source area can be large. In the case of a long

источника в примен емом анализаторе возможно устранение искривлени  его изображени .The source in the analyzer used can eliminate the distortion of its image.

Высока  светимость призменного энергоанализатора обеспечивает возможность егоThe high luminosity of the prism energy analyzer makes it possible

использовани  не только дл  ожеспектрометров , но особенно дл  комбинированных рентгено-, фото- и оже- электронных снекгрометров .use not only for Auger spectrometers, but especially for combined X-ray, photo and Auger electron snacrometers.

Claims (3)

Формула изобретени Invention Formula Анализатор энергии зар женных частйц, состо щий из источника частиц, электростатической электронно-оптической системы с центральными диспергирующими электродами, входными коллимирующнми и выходными фокусирующими электродами , и приемника частиц, отличающийс   тем, что, с целью увеличени  светимости и упрощени  конструкции, электроды электронно-оптической системы выполнены в виде параллельных последовательно расположенных пар плоских пластин, симметричных относительно продольной плоскости анализатора, равноудаленных и изолированных одна от другой, -при этом диспергирующие электроды выполнены в виде центральной пары пластин с примыкающей кAn analyzer of energy of charged particles consisting of a source of particles, an electrostatic electron-optical system with central dispersing electrodes, input collimating and output focusing electrodes, and a particle receiver, characterized in that, in order to increase luminosity and simplify the design, electrodes of an electron-optical the systems are made in the form of parallel successive pairs of flat plates that are symmetrical with respect to the longitudinal plane of the analyzer, equidistant and insulated OF DATA from each other, -with this dispersing electrodes are in the form of a central pair of plates adjoining the ней с обеих сторон по крайней мере нарой согласующих пластин, разделенных пр молинейными щелевыми зазорами, коллимирующие и фокусирующие электроды выполнены в виде входной и соответственно выходной пары пластин и примыкающей к йим по крайней мере пары согласующих пластин, разделенных криволинейными щелевыми зазорами, а между соответствующими согласующими парами диспергирующих , коллимирующих и фокусирующих электродов расположены общие пары пластин так, что электронно-оптическа  ось системы проходит через центр кривизны коллимирующих и фокусирующих электродов, источник и соответственно приемник частиц образует с боковыми поверхност ми диспергирующих электродов угол больще нул , по меньше 90°. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Явор С. Я. и др., ЖТФ, 41, 1839, 1971. On both sides of it, at least on the edge of matching plates, separated by straight slit gaps, the collimating and focusing electrodes are made in the form of input and, respectively, output pairs of plates and adjacent to it at least a pair of matching plates, separated by curvilinear slit gaps, and between corresponding matching pairs of dispersing, collimating and focusing electrodes are arranged in common pairs of plates so that the electron-optical axis of the system passes through the center of curvature of the collimated the source and the particle receiver form an angle with the side surfaces of the dispersing electrodes greater than zero, less than 90 °. Sources of information taken into account in the examination 1.Yavor S. Ya. Et al., GTP, 41, 1839, 1971. 2.Денисов Е. П. и др., ЖТФ, 41, 450, 1971. 2.Denisov, E.P., et al., ZhTF, 41, 450, 1971. 3.Кельман В. М. и др., ПТЭ, 1973, № 3, с. 38.3. Kelman, V.M. et al., PTE, 1973, No. 3, p. 38
SU742061307A 1974-09-17 1974-09-17 Charged particle energy analyzer SU645223A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU742061307A SU645223A1 (en) 1974-09-17 1974-09-17 Charged particle energy analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU742061307A SU645223A1 (en) 1974-09-17 1974-09-17 Charged particle energy analyzer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU645223A1 true SU645223A1 (en) 1979-01-30

Family

ID=20596446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU742061307A SU645223A1 (en) 1974-09-17 1974-09-17 Charged particle energy analyzer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU645223A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1725289A1 (en) Time-of-flight mass spectrometer with multiple reflection
US4740704A (en) Omega-type electron energy filter
SU645223A1 (en) Charged particle energy analyzer
US4418280A (en) Double focusing mass spectrometer
US3774026A (en) Ion-optical system for mass separation
CN111148986B (en) Compact sensing device
US2585798A (en) Beam deflection tube amplifier
SU522690A1 (en) Prizm mass-spestrometer
SU920892A1 (en) Optronic device with corrected spheric aberration
SU1436148A2 (en) Power analyzer with electrostatic mirror
SU671582A1 (en) Plasma mass-spectrometer
SU1081705A1 (en) Prismatic energy-focusing spectrometer
GB846898A (en) Improvements in or relating to electrion lenses
SU721869A1 (en) Prizm-type mass-spectrometer with energywise focussing
JPS5812705B2 (en) Shitsuryoubun Sekikei
SU591107A1 (en) Energy analyzer with electrostatic mirror
EP0295253B1 (en) Electron spectrometer
US3686500A (en) Momentum spectrometer
RU2010385C1 (en) Cathode-ray device
JPH0812773B2 (en) Simultaneous detection mass spectrometer
US3609442A (en) Cathode-ray tube with increased deflection sensitivity
SU1471234A1 (en) Electrostatic energy analyser
GB1183310A (en) Improvements in Ionic Microanalysers
SU658623A1 (en) Focusing-deflecting system
SU600638A1 (en) Double-stage electrostatic energy analyzer