SU598157A1 - Источник рентгеновского излучени - Google Patents

Источник рентгеновского излучени

Info

Publication number
SU598157A1
SU598157A1 SU762321635A SU2321635A SU598157A1 SU 598157 A1 SU598157 A1 SU 598157A1 SU 762321635 A SU762321635 A SU 762321635A SU 2321635 A SU2321635 A SU 2321635A SU 598157 A1 SU598157 A1 SU 598157A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ray
anode
substrate
source
ray lamp
Prior art date
Application number
SU762321635A
Other languages
English (en)
Inventor
Марк Венедиктович Быков
Николай Николаевич Седов
Валентин Георгиевич Дюков
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6670
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6670 filed Critical Предприятие П/Я Р-6670
Priority to SU762321635A priority Critical patent/SU598157A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU598157A1 publication Critical patent/SU598157A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

(54) источник РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
1
Изобретение относитс  к рентгенотехнике и предназначено дл  получени  изображений внутренней структуры непрозрачных объектов В электронных микроскопах.
Известно устройство - источник рентгеновского излучени , состо щее из источника электронов и анода плоской формы l. Его недостатком  вл етс  размытость получае1иых изображейий вследствие существенного неупругого рассе ни  электронов в материале анода.
Ближайшим техническим решением к предлагаемому изобретению  вл етс  источник рентгеновского излучени , содержащий источник электронов и анод выполненный в виде иглы 2,он обеспечивает размеры пучка около 0,1 мкм.
Недостатком этого устройства  вл ютс  все еще большие размеры пучка, что не позвол ет исследовать внутреннюю структуру непрозрачных объектов В злектронньаХ микроскопах.
Целью изобретени   вл етс  уменьшение размеров пучка рентгеновского излучени  и рассе ни  рентгеновских
лучей.
Это достигаетс  тем, что предлагаемый источник содержит подложку,
анод выполнен из частицы металлического порошка диаметром от 0,002 до 0,1 мкм и расположен на указанной подложке, а подложка изготовлена из материала, длина волны .характеристического рентгеновского излучени  которого больше, чем у материала анода.
На чертеже показано предлагаемое устройства и прин ты следуюаше обозначени : 1.- камера микроскопа, 2 подложка , 3 - частица.мелкодисперсного порошка - анод, 4 - бериллиевое окно, 5 - исследуеьвй объект и 6 - ситема регистрации.
Устройство работает следующим образом .
Сфокусированный пучок электронов от электронной пушки микроскопа возбуждает В частице 3 характеристическое рен Г€ййвское излучение. Это излучение ВЫВОДИТСЯ через бериллиеЬое окно 4, иепропускающее рентгеновское излучение от подложки 2, длина волнц, которого больше, чем у частицы 3. На пути рентгеновского излучени , вышедшего из камеры 1, установлен исследуемый непрозрачный объект 5, изобр 1жение внутренией структуры которого получают с помощью системы 6 регистрации излучени .

Claims (2)

  1. Формула изобретени 
    Источник рентгеновского излучени  состо щий КЗ источника электронов и анода, отличающийс  тем, что, с -целью уменьшени  размеров пучка рентгеновского излучени  и рассе ни  рентгеновских лучей,он содержит подложку из материала, длина волны характеристического рентгеновского излучени  которого больше, чем у материала анода, а последний выполнен .из час1ицы металличе.жого порошка диаметром 0,002-0,1 мкм и расположен на указанной подложке.
    Источники информации, прин тые в внимание при экспертизе:
    i. Авторское свидетельство СССР № 449395, кл. Н 01 J 35/08, 1972.
  2. 2. Мюллер Э, Цонь Т. Автоионна  микроскопи , изд. Металлурги , М., 1972, с, 211
    Пучок 3flfHmpano8
SU762321635A 1976-02-06 1976-02-06 Источник рентгеновского излучени SU598157A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762321635A SU598157A1 (ru) 1976-02-06 1976-02-06 Источник рентгеновского излучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762321635A SU598157A1 (ru) 1976-02-06 1976-02-06 Источник рентгеновского излучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU598157A1 true SU598157A1 (ru) 1978-03-15

Family

ID=20648009

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762321635A SU598157A1 (ru) 1976-02-06 1976-02-06 Источник рентгеновского излучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU598157A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Duncumb Enhanced X-ray emission from extinction contours in a single-crystal gold film
Cosslett et al. X-ray Microscopy
EP0815582B1 (de) Mikrofocus-röntgeneinrichtung
JP2003521096A (ja) 帯電粒子ビームデバイスのための対物レンズ
US10955365B1 (en) Neutron source with beam shaping apparatus for radiography
KR102675627B1 (ko) 수렴형 엑스레이 이미지 장치 및 방법
Hall Dark‐field electron microscopy. I. Studies of crystalline substances in dark‐field
US3982127A (en) Method and apparatus for displaying the internal structure of an object
SU598157A1 (ru) Источник рентгеновского излучени
Makin et al. An introduction to high-voltage electron microscopy
JPH1167129A (ja) 偏向励起放射線を利用するx線蛍光測定システムおよびx線管
Ullrich et al. Excitation of Kossel patterns by synchrotron radiation
US3502925A (en) High intensity x-ray source
Jaklevic et al. Recent results using synchrotron radiation for energy‐dispersive x‐ray fluorescence analysis
Goetze et al. Direct Viewing and Rapid Photographic Recording of X‐Ray Diffraction Patterns
Kishin et al. Generation of parametric X-ray radiation from ultrafine powder of burnt magnesia
US5289005A (en) Electron microscope
Semat et al. Physics, Chapter 43: X-Rays
Nikitin X-ray imaging systems with micron resolution based on Kumakhov optics
Olde et al. Three‐Dimensional Scintillation Dosimeter
Zworykin Image formation by electrons
Nohtomi et al. Optical observation of self-quenching streamers by/spl alpha/-and/spl beta/-rays
Avitabile et al. How to look deep inside matter: scanning electron microscopy
Płochocki et al. Beta spectrometer with a Si (Li) detector in a homogeneous magnetic field
Bender et al. Energy dispersion X-ray analysis with the transmission electron microscope