SU590652A1 - Неразрушающий способ измерени толщины диэлектрических материалов - Google Patents
Неразрушающий способ измерени толщины диэлектрических материаловInfo
- Publication number
- SU590652A1 SU590652A1 SU762398906A SU2398906A SU590652A1 SU 590652 A1 SU590652 A1 SU 590652A1 SU 762398906 A SU762398906 A SU 762398906A SU 2398906 A SU2398906 A SU 2398906A SU 590652 A1 SU590652 A1 SU 590652A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- dielectric
- thickness
- parameters
- measured
- ice
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к радиотехнике и может использоватьс дл измерени геометрических размеров диэлектрических материалов .
Известен неразруп1ающий способ измерени толщины диэлектрических материалов, заключающийс в определении приращени частот облучающих сверхвысокочастотиых колебаний между двум соседними экстремальными значени ми коэффициента отражени от диэлектрического материала 1.
Однако способ не позвол ет получить абсолютного значени толщины диэлектрического материала, так как результат измерени зависит от диэлектрических параметров материала .
Цель изобретени - исключение вли ни диэлектрических параметров материала на результат измерени .
Дл этого при использовании неразрущающего способа измерени толщины диэлектрических материалов, заключающегос в определении приращени частот облучающих сверхвысокочастотных колебаний между двум соседними экстремальными значени ми коэффициента отражени от диэлектрического материала, производ т два измерени приращени частот - одно через две установленные на поверхности диэлектрика диэлектрические пластины, другое - через одну из них.
и по разности приращений частот определ ют толщину диэлектрического материала.
Дл измерени толщины диэлектрического материала по предложенному способу обычным способом измер ют общую толщину диэлектрического материала с двум диэлектрическими пластинами, распо тоженными на его поверхности, при этом обща толщина материала с пластинами составл ет
СС,,.
h, - „,/-...--../-.. (1)
4|/-cp(/2-/i)4у срД/1
/I
матетолщина диэлектрического
где риала с пластинами; С - скорость распространени электромагнитных колебаний в свободном пространстве;
ССР - средн диэлектрическа проницаемость пластин и измер емого материала;
и fa - частоты, соответствующие соседним экстремальным значени м коэффициента отражени суммарного сло .
Claims (1)
- Затем снимают верхнюю диэлектрическую пластину Н измер ют приращение частот при облучении поверхности материала с одной диэлектрической пластиной А/2 /з-/4, где /3 и /4 - частоты, соответствующие соседМИМ экстремальным значени м коэффициента отражени . При этом толщина диэлектрического материала с одной диэлектрической пластиной составл ет Л, А - Д/Z 4/еср(/з-Л) 41/ЕсрА/2 где А/1 - толщина одной диэлектрической пластины. Реща уравнени 1 и 2 относительно AecpI наход т толщину диэлектрика с двум нластинами ДМЛ АЛ-Д/1 Из выражени 3 видно, что расположение на поверхности материала двух диэлектрических пластин с одинаковыми диэлектрическими параметрами и размерами и измерение частоты между двум соседними экстремальными значени ми коэффициента отражени через две диэлектрические пластины и через одну из них исключает вли ние диэлектрических параметров материала на результат измерени . При известной толщине диэлектрической пластины толщина диэлектрического материала , измеренного по предложенному способу , будет равна H hi-2А/г. Такой способ измерени толщины диэлектрических материалов позвол ет исключить вли ние диэлектрических параметров материала на результат измерени . Формула изобретени Неразрущающий способ измерени толщины диэлектрических материалов, заключающийс в определении приращени частот облучающих сверхвысокочастотных колебаний между двум соседними экстремальными значени ми коэффициента отражени от диэлектрического материала, отличающийс тем, что, с целью исключени вли ни диэлектрических параметров материала на результат измерени , производ т два измерени приращени частот - одно через две установленные на поверхности диэлектрика диэлектрические пластины, другое - через одну из них, и по разности приращений частот определ ют толщину диэлектрического материала . Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Зубкович С. Г. Вли ние щероховатости границ воздух-лед и лед-вода на эффективность радиотехнических интерференционных методов определени толщины льда. - «Труды ДАНИИ. (Радиофизические методы в исследовани х Северного Ледовитого океана и Антарктики), т. 284, 1968, с. 89.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU762398906A SU590652A1 (ru) | 1976-08-20 | 1976-08-20 | Неразрушающий способ измерени толщины диэлектрических материалов |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU762398906A SU590652A1 (ru) | 1976-08-20 | 1976-08-20 | Неразрушающий способ измерени толщины диэлектрических материалов |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU590652A1 true SU590652A1 (ru) | 1978-01-30 |
Family
ID=20675006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU762398906A SU590652A1 (ru) | 1976-08-20 | 1976-08-20 | Неразрушающий способ измерени толщины диэлектрических материалов |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU590652A1 (ru) |
-
1976
- 1976-08-20 SU SU762398906A patent/SU590652A1/ru active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3975948A (en) | Method of measuring axial force on a body utilizing two vibration modes of ultrasonic waves | |
| EP0372992A3 (en) | Measurement apparatus and method utilizing microwave energy | |
| FR2447641A1 (fr) | Oscillateur accordable hyperfrequence a ondes magnetostatiques | |
| US4033182A (en) | Method for measuring biaxial stress in a body subjected to stress inducing loads | |
| SU590652A1 (ru) | Неразрушающий способ измерени толщины диэлектрических материалов | |
| SE8403761L (sv) | Sett och anordning for metning av banspenning | |
| MINAKUCHI et al. | Contact pressure measurements by means of ultrasonic waves: On a method of quantitative measurement | |
| GB1351964A (en) | Providing a measure of cross-sectional area of an object | |
| JPS55143417A (en) | Measuring method for impedance distribution | |
| SU1193462A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины металлического листа | |
| SU766748A1 (ru) | Способ определени одного из элементов системы "станок-приспособление-инструмент-деталь", наход щегос в резонансе | |
| SU896412A1 (ru) | Способ определени толщины изделий | |
| SU432936A1 (ru) | ||
| SU1626136A1 (ru) | Устройство дл измерени комплексной диэлектрической проницаемости материалов на СВЧ | |
| JPS56154899A (en) | Array type ultrasonic probe | |
| SU1104408A1 (ru) | Способ определени координат источника акустической эмиссии | |
| SU1569530A1 (ru) | Способ измерени толщины тонких диэлектрических пленок | |
| VELCEANU | Observations on some acoustic methods used in studying the elastic properties of metals(resonant frequency measurements on metal beams) | |
| JPH0373832A (ja) | 木材水分量測定器 | |
| SU1056099A1 (ru) | Способ определени сейсмической опасности | |
| SU605170A1 (ru) | Способ определени механической структуры изделий | |
| Bakanowski et al. | A Crystal Pick‐Up for Measuring Ultrasonic Wave Velocity and Dispersion in Solid Rods | |
| SU985752A1 (ru) | Устройство дл измерени коэффициента отражени листовых материалов | |
| SU970207A1 (ru) | Способ определени в зких и упругих свойств жидких кристаллов | |
| SU785656A1 (ru) | Способ определени скорости распространени акустических колебаний |