SU572230A3 - Сканирующа система микроскопа - Google Patents

Сканирующа система микроскопа

Info

Publication number
SU572230A3
SU572230A3 SU7402048236A SU2048236A SU572230A3 SU 572230 A3 SU572230 A3 SU 572230A3 SU 7402048236 A SU7402048236 A SU 7402048236A SU 2048236 A SU2048236 A SU 2048236A SU 572230 A3 SU572230 A3 SU 572230A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
scanning
sweep
deflecting
scanning system
Prior art date
Application number
SU7402048236A
Other languages
English (en)
Inventor
Джон Коутис Винчент
Мелвин Вельтер Леонард
Джей Гольд Джеймс
Original Assignee
Американ Оптикал Корпорейшн (Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Американ Оптикал Корпорейшн (Фирма) filed Critical Американ Оптикал Корпорейшн (Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU572230A3 publication Critical patent/SU572230A3/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
    • H01J37/09Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/24Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Description

(54) СКАНИРУЮЩАЯ СИСТЕМА МИКРОСКОПА
ные частицы. Он образует световой сигнал, преобразуемый фотоэлектрошпзШ умножителем 8 в электрический сигнал, который используетс  затем дл  модулировани  интенсивности воспроизвод щего устройства, формирующего изображение образца, электронно-лучевой трубки 9.
Воспроизвод щее устройсхво и система отклонени  пучка 6 включан с  пофедством генератора развертки в устройстве управлени  синхронизацией и разверткой 10, имен цем секции развертки по вертикали 11 и горизонтали 12. Благодар  этому обеспечиваетс  синхронизаци  движени  пучка по« образцу и воспроизведени  изображени  образца на экране электронно-лучевой трубки 9. Система отклонени  пучка 6 содержит отклон ющие катущки, которые отклон ют пучок в двух взаимно перпендикул рных направлени х по поверхности образца. Описанна  система примен етс  дл  коррекции искажений частоты 50 гц и устранени  помех, создаваемых силовой системой микроскопа. Коррекци  искажений посто нной частоты достигаетс  с помощью генераторов сигналов коррекции 13 и 14, соединенных с устройством управлени  синхронизацией и разверткой 10. При необходимости коррекции искажений на другой частоте дл  генераторов сигналов коррекции требуетс  отдельный источник.
На фиг. 2 показано действие коррекции; на фиг. 3 - пршщипиальна  схема генераторов сигналов когрекции.
Линии 15 на экране электронно-лучевой трубки представл ют собой обышые строки развертки по горизонтали. Вли ние внещних полей (электрических или магнитных) на пучок во врем  работы заключаетс  в том, что они заставл ют его отклон тьс  в горизонтальном или вертикальном направлении (чаще одновременно в обоих). Когда пучок отклон етс , его положеьше и положение полученного с помощью развертки изофажени  не соответствуют друг другу. Показанна  на фиг. 2 волниста  лини   вл етс  результатом отклонени  пучка в горизонтальном направлении из-за вли ни  внешЧ них полей. В этом случае развертка пучка по вертакали невозможна. Развертка по горизотали заставл ет пучок повторно следовать через одну и ту же ЛИ1ШЮ на образце в горизонтальном направлe п1и , а электронно-лучева  трубка 9 дает полную картину; информаци  о том, что развертка пучка по вертикали невозможна, в ней отсутствует. Таким образом, электронно-лучева  трубка 9 показывает одну вертикальную линию 16, представл ющую собой сигнал, обнаруженный во врем  развертки стационарной строки. Если допустить, что искажени  по горизонтали нет, то строка 16 будет пр мой, поскольку при отсутствии такого искажени  пучок должен следовать по одному пр мому пути слева направо на образце и образовывать повтор ющийс  сигнал в одном относительном положении по горизонтали . Этот сигнал воспроизводитс  в виде вертиетс  вертикально на экране электронно-лучевой трубки.
В предложенной системе смещение пучка корректируетс  интерферирующим внещним полем посредством создани  сщ-нала вьшр млени  пучка, который передаетс  соответствующим отклон ющим катушкам. При этом не об зательно создавать сигнал коррекции дл  каждой развертки пучка по горизонтали в полном вертикальном растре. Удобно разбить растр из 1200 строк на 24 группы развертки 17 на электронно-лучевой трубке 9. Соответственно , дл  каждой группы развертки с целью коррекции отклонени  по горизонтали образуетс  функци  смещени  пучка влево или вправо. Образование функции смещени  пучка во врем  его пересечени  соответствующей группы развертки заставл ет вьшр митьс  искаженную строку 16.
Генераторы сигналов коррекщт (фиг. 3) по горизонтали 13 и вертикали 14 соответственно содержат регулируемые источники напр жени  18 и 19 соответственно. Эти источники - потенциометры , питаемые от источников, тока 20 и 21, подключены к катущкам отклонени  по вертикали и горизо1пали отклон нщей системы 6 через переключатели 22 и 23 и фильтры 24 и 25.
Переключатели 22 и 23 управл ютс  с помощью след щих систем 26 и 27, реагирующих на работу устройства 10 управлени  сишфонизацией и раз верткой. След щие системы 26 и 27 заставл ют переключатели 22 и 23 повторно срабатьшать в соответствии с частотой искажени , которое необходимо корректировать. Таким образом, дл  каждого цикла частоты пол  помех дл  развертки пучка может примен тьс  бесконечна  коррекци , причем кажда  отдельна  бесконечна  коррекци  производитс  в течение периода 1/Т общего цикла искажающей частоты.

Claims (2)

  1. Формула изобретени  Сканирующа  система микроскопа, содержаща  средство генерировани  пучка зар женных частиц , систему отклонени  пучка в двух направлени х , детектор частиц, эмиттированных образцом, и воспроизвод щее устройство дл  формировани  изображени  образца, отличающа с  тем, что, с целью коррекщш искажени  растра при сканировании, обусловлеьшого вли нием внещних электрических полей, устройство содержит генераторы сигналов коррекции, каждьп из которых соединен с помощью синхронизирующего устрой-, ства с одной из отклон ющих систем и включает в себ  след щую систему и устройство переключени , отбирающее сигналы коррекции.
    информации, прин тые во внимание при экспертизе:
    l.Ph ncipPeS techrtic ues of scanning ePeciroH Micf oScopy, voE. i, ed. M.A.Haycxt, Van Nostrand ReinhoW Company,/Vew-Yohk, i974.
  2. 2. Патент США, кл. 315-31, N 3678333 от
    9иг.
    17
SU7402048236A 1973-07-24 1974-07-24 Сканирующа система микроскопа SU572230A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US00382230A US3842272A (en) 1973-07-24 1973-07-24 Scanning charged particle microprobe with external spurious electric field effect correction

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU572230A3 true SU572230A3 (ru) 1977-09-05

Family

ID=23508051

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU7402048236A SU572230A3 (ru) 1973-07-24 1974-07-24 Сканирующа система микроскопа

Country Status (11)

Country Link
US (1) US3842272A (ru)
JP (1) JPS5822854B2 (ru)
CA (1) CA1013483A (ru)
DD (1) DD113661A1 (ru)
DE (1) DE2433999C2 (ru)
FR (1) FR2239013B1 (ru)
GB (1) GB1465518A (ru)
IT (1) IT1016963B (ru)
NL (1) NL178923C (ru)
SE (1) SE389762B (ru)
SU (1) SU572230A3 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2678504C1 (ru) * 2018-01-09 2019-01-29 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" Устройство получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца методом электронной микроскопии в радиационно-защитной камере

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5243058B2 (ru) * 1974-04-22 1977-10-28
JPH06105601B2 (ja) * 1986-10-08 1994-12-21 株式会社日立製作所 走査電子顕微鏡
US5463268A (en) * 1994-05-23 1995-10-31 National Electrostatics Corp. Magnetically shielded high voltage electron accelerator
US6714892B2 (en) * 2001-03-12 2004-03-30 Agere Systems, Inc. Three dimensional reconstruction metrology
JP6821822B2 (ja) 2017-02-03 2021-01-27 ガタン インコーポレイテッドGatan,Inc. 電子エネルギー損失分光器のための高調波ラインノイズ補正関連出願の相互参照
WO2024068547A1 (en) 2022-09-26 2024-04-04 Carl Zeiss Multisem Gmbh Disturbance compensation for charged particle beam devices

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE911056C (de) * 1938-02-10 1954-05-10 Siemens Ag Elektronenmikroskop
US3588586A (en) * 1968-04-26 1971-06-28 Jeol Ltd Apparatus for correcting electron beam deflection
US3549883A (en) * 1968-10-07 1970-12-22 Gen Electric Scanning electron microscope wherein an image is formed as a function of specimen current
US3678333A (en) * 1970-06-15 1972-07-18 American Optical Corp Field emission electron gun utilizing means for protecting the field emission tip from high voltage discharges

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2678504C1 (ru) * 2018-01-09 2019-01-29 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" Устройство получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца методом электронной микроскопии в радиационно-защитной камере

Also Published As

Publication number Publication date
GB1465518A (en) 1977-02-23
JPS5822854B2 (ja) 1983-05-11
DD113661A1 (ru) 1975-06-12
FR2239013A1 (ru) 1975-02-21
SE389762B (sv) 1976-11-15
NL178923C (nl) 1988-09-16
IT1016963B (it) 1977-06-20
US3842272A (en) 1974-10-15
NL178923B (nl) 1986-01-02
JPS5044769A (ru) 1975-04-22
AU7148674A (en) 1976-01-22
DE2433999A1 (de) 1975-02-13
NL7409951A (nl) 1975-01-28
DE2433999C2 (de) 1986-06-19
SE7409441L (ru) 1975-01-27
CA1013483A (en) 1977-07-05
FR2239013B1 (ru) 1978-01-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2107464A (en) Television system
US2604534A (en) Apparatus for controlling scanning accuracy of cathode-ray tubes
US4091374A (en) Method for pictorially displaying output information generated by an object imaging apparatus
US2682571A (en) Television
US3833811A (en) Scanning electron microscope with improved means for focusing
US3705328A (en) Electronic zooming in video cameras by control of the deflection system
US2851521A (en) Electrical system for keeping a scanning light beam centered on a line
US2623190A (en) Color television system
SU572230A3 (ru) Сканирующа система микроскопа
US2385563A (en) Deflection control system
US4988927A (en) Deflection circuit for a television picture tube
US3657593A (en) Electron microscopy
US3829691A (en) Image signal enhancement system for a scanning electron microscope
US3457365A (en) High resolution television projection system
US3986027A (en) Stereo scanning microprobe
US3221099A (en) Electronic display system for use with photographic transparencies
US5017829A (en) Framing camera
JPH04262213A (ja) 光サンプリング・システム
US3389294A (en) Imaging system in which the size and centering of the raster are kept constant
US2933555A (en) System for modulating a magnetic field for electrical reproduction
US3447026A (en) Crt scan stabilizer
US3445588A (en) Optical image scanning system
JPH0360297A (ja) 撮像装置及びその動作方法
US2775644A (en) Picture analysis and recording devices
JPS62198043A (ja) 立体観察装置