SU572230A3 - Сканирующа система микроскопа - Google Patents
Сканирующа система микроскопаInfo
- Publication number
- SU572230A3 SU572230A3 SU7402048236A SU2048236A SU572230A3 SU 572230 A3 SU572230 A3 SU 572230A3 SU 7402048236 A SU7402048236 A SU 7402048236A SU 2048236 A SU2048236 A SU 2048236A SU 572230 A3 SU572230 A3 SU 572230A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- scanning
- sweep
- deflecting
- scanning system
- Prior art date
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/09—Diaphragms; Shields associated with electron or ion-optical arrangements; Compensation of disturbing fields
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/24—Circuit arrangements not adapted to a particular application of the tube and not otherwise provided for
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
(54) СКАНИРУЮЩАЯ СИСТЕМА МИКРОСКОПА
ные частицы. Он образует световой сигнал, преобразуемый фотоэлектрошпзШ умножителем 8 в электрический сигнал, который используетс затем дл модулировани интенсивности воспроизвод щего устройства, формирующего изображение образца, электронно-лучевой трубки 9.
Воспроизвод щее устройсхво и система отклонени пучка 6 включан с пофедством генератора развертки в устройстве управлени синхронизацией и разверткой 10, имен цем секции развертки по вертикали 11 и горизонтали 12. Благодар этому обеспечиваетс синхронизаци движени пучка по« образцу и воспроизведени изображени образца на экране электронно-лучевой трубки 9. Система отклонени пучка 6 содержит отклон ющие катущки, которые отклон ют пучок в двух взаимно перпендикул рных направлени х по поверхности образца. Описанна система примен етс дл коррекции искажений частоты 50 гц и устранени помех, создаваемых силовой системой микроскопа. Коррекци искажений посто нной частоты достигаетс с помощью генераторов сигналов коррекции 13 и 14, соединенных с устройством управлени синхронизацией и разверткой 10. При необходимости коррекции искажений на другой частоте дл генераторов сигналов коррекции требуетс отдельный источник.
На фиг. 2 показано действие коррекции; на фиг. 3 - пршщипиальна схема генераторов сигналов когрекции.
Линии 15 на экране электронно-лучевой трубки представл ют собой обышые строки развертки по горизонтали. Вли ние внещних полей (электрических или магнитных) на пучок во врем работы заключаетс в том, что они заставл ют его отклон тьс в горизонтальном или вертикальном направлении (чаще одновременно в обоих). Когда пучок отклон етс , его положеьше и положение полученного с помощью развертки изофажени не соответствуют друг другу. Показанна на фиг. 2 волниста лини вл етс результатом отклонени пучка в горизонтальном направлении из-за вли ни внешЧ них полей. В этом случае развертка пучка по вертакали невозможна. Развертка по горизотали заставл ет пучок повторно следовать через одну и ту же ЛИ1ШЮ на образце в горизонтальном направлe п1и , а электронно-лучева трубка 9 дает полную картину; информаци о том, что развертка пучка по вертикали невозможна, в ней отсутствует. Таким образом, электронно-лучева трубка 9 показывает одну вертикальную линию 16, представл ющую собой сигнал, обнаруженный во врем развертки стационарной строки. Если допустить, что искажени по горизонтали нет, то строка 16 будет пр мой, поскольку при отсутствии такого искажени пучок должен следовать по одному пр мому пути слева направо на образце и образовывать повтор ющийс сигнал в одном относительном положении по горизонтали . Этот сигнал воспроизводитс в виде вертиетс вертикально на экране электронно-лучевой трубки.
В предложенной системе смещение пучка корректируетс интерферирующим внещним полем посредством создани сщ-нала вьшр млени пучка, который передаетс соответствующим отклон ющим катушкам. При этом не об зательно создавать сигнал коррекции дл каждой развертки пучка по горизонтали в полном вертикальном растре. Удобно разбить растр из 1200 строк на 24 группы развертки 17 на электронно-лучевой трубке 9. Соответственно , дл каждой группы развертки с целью коррекции отклонени по горизонтали образуетс функци смещени пучка влево или вправо. Образование функции смещени пучка во врем его пересечени соответствующей группы развертки заставл ет вьшр митьс искаженную строку 16.
Генераторы сигналов коррекщт (фиг. 3) по горизонтали 13 и вертикали 14 соответственно содержат регулируемые источники напр жени 18 и 19 соответственно. Эти источники - потенциометры , питаемые от источников, тока 20 и 21, подключены к катущкам отклонени по вертикали и горизо1пали отклон нщей системы 6 через переключатели 22 и 23 и фильтры 24 и 25.
Переключатели 22 и 23 управл ютс с помощью след щих систем 26 и 27, реагирующих на работу устройства 10 управлени сишфонизацией и раз верткой. След щие системы 26 и 27 заставл ют переключатели 22 и 23 повторно срабатьшать в соответствии с частотой искажени , которое необходимо корректировать. Таким образом, дл каждого цикла частоты пол помех дл развертки пучка может примен тьс бесконечна коррекци , причем кажда отдельна бесконечна коррекци производитс в течение периода 1/Т общего цикла искажающей частоты.
Claims (2)
- Формула изобретени Сканирующа система микроскопа, содержаща средство генерировани пучка зар женных частиц , систему отклонени пучка в двух направлени х , детектор частиц, эмиттированных образцом, и воспроизвод щее устройство дл формировани изображени образца, отличающа с тем, что, с целью коррекщш искажени растра при сканировании, обусловлеьшого вли нием внещних электрических полей, устройство содержит генераторы сигналов коррекции, каждьп из которых соединен с помощью синхронизирующего устрой-, ства с одной из отклон ющих систем и включает в себ след щую систему и устройство переключени , отбирающее сигналы коррекции.информации, прин тые во внимание при экспертизе:l.Ph ncipPeS techrtic ues of scanning ePeciroH Micf oScopy, voE. i, ed. M.A.Haycxt, Van Nostrand ReinhoW Company,/Vew-Yohk, i974.
- 2. Патент США, кл. 315-31, N 3678333 от9иг.17
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US00382230A US3842272A (en) | 1973-07-24 | 1973-07-24 | Scanning charged particle microprobe with external spurious electric field effect correction |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU572230A3 true SU572230A3 (ru) | 1977-09-05 |
Family
ID=23508051
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU7402048236A SU572230A3 (ru) | 1973-07-24 | 1974-07-24 | Сканирующа система микроскопа |
Country Status (11)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3842272A (ru) |
JP (1) | JPS5822854B2 (ru) |
CA (1) | CA1013483A (ru) |
DD (1) | DD113661A1 (ru) |
DE (1) | DE2433999C2 (ru) |
FR (1) | FR2239013B1 (ru) |
GB (1) | GB1465518A (ru) |
IT (1) | IT1016963B (ru) |
NL (1) | NL178923C (ru) |
SE (1) | SE389762B (ru) |
SU (1) | SU572230A3 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2678504C1 (ru) * | 2018-01-09 | 2019-01-29 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" | Устройство получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца методом электронной микроскопии в радиационно-защитной камере |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5243058B2 (ru) * | 1974-04-22 | 1977-10-28 | ||
JPH06105601B2 (ja) * | 1986-10-08 | 1994-12-21 | 株式会社日立製作所 | 走査電子顕微鏡 |
US5463268A (en) * | 1994-05-23 | 1995-10-31 | National Electrostatics Corp. | Magnetically shielded high voltage electron accelerator |
US6714892B2 (en) * | 2001-03-12 | 2004-03-30 | Agere Systems, Inc. | Three dimensional reconstruction metrology |
JP6821822B2 (ja) | 2017-02-03 | 2021-01-27 | ガタン インコーポレイテッドGatan,Inc. | 電子エネルギー損失分光器のための高調波ラインノイズ補正関連出願の相互参照 |
WO2024068547A1 (en) | 2022-09-26 | 2024-04-04 | Carl Zeiss Multisem Gmbh | Disturbance compensation for charged particle beam devices |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE911056C (de) * | 1938-02-10 | 1954-05-10 | Siemens Ag | Elektronenmikroskop |
US3588586A (en) * | 1968-04-26 | 1971-06-28 | Jeol Ltd | Apparatus for correcting electron beam deflection |
US3549883A (en) * | 1968-10-07 | 1970-12-22 | Gen Electric | Scanning electron microscope wherein an image is formed as a function of specimen current |
US3678333A (en) * | 1970-06-15 | 1972-07-18 | American Optical Corp | Field emission electron gun utilizing means for protecting the field emission tip from high voltage discharges |
-
1973
- 1973-07-24 US US00382230A patent/US3842272A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-07-15 DE DE2433999A patent/DE2433999C2/de not_active Expired
- 1974-07-17 CA CA204,960A patent/CA1013483A/en not_active Expired
- 1974-07-19 FR FR7425154A patent/FR2239013B1/fr not_active Expired
- 1974-07-19 SE SE7409441A patent/SE389762B/xx unknown
- 1974-07-22 DD DD180055A patent/DD113661A1/xx unknown
- 1974-07-23 NL NLAANVRAGE7409951,A patent/NL178923C/xx not_active IP Right Cessation
- 1974-07-23 IT IT52237/74A patent/IT1016963B/it active
- 1974-07-23 JP JP49083859A patent/JPS5822854B2/ja not_active Expired
- 1974-07-24 SU SU7402048236A patent/SU572230A3/ru active
- 1974-07-24 GB GB3272574A patent/GB1465518A/en not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2678504C1 (ru) * | 2018-01-09 | 2019-01-29 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный университет" | Устройство получения электронно-микроскопического изображения и локального элементного анализа радиоактивного образца методом электронной микроскопии в радиационно-защитной камере |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1465518A (en) | 1977-02-23 |
JPS5822854B2 (ja) | 1983-05-11 |
DD113661A1 (ru) | 1975-06-12 |
FR2239013A1 (ru) | 1975-02-21 |
SE389762B (sv) | 1976-11-15 |
NL178923C (nl) | 1988-09-16 |
IT1016963B (it) | 1977-06-20 |
US3842272A (en) | 1974-10-15 |
NL178923B (nl) | 1986-01-02 |
JPS5044769A (ru) | 1975-04-22 |
AU7148674A (en) | 1976-01-22 |
DE2433999A1 (de) | 1975-02-13 |
NL7409951A (nl) | 1975-01-28 |
DE2433999C2 (de) | 1986-06-19 |
SE7409441L (ru) | 1975-01-27 |
CA1013483A (en) | 1977-07-05 |
FR2239013B1 (ru) | 1978-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2107464A (en) | Television system | |
US2604534A (en) | Apparatus for controlling scanning accuracy of cathode-ray tubes | |
US4091374A (en) | Method for pictorially displaying output information generated by an object imaging apparatus | |
US2682571A (en) | Television | |
US3833811A (en) | Scanning electron microscope with improved means for focusing | |
US3705328A (en) | Electronic zooming in video cameras by control of the deflection system | |
US2851521A (en) | Electrical system for keeping a scanning light beam centered on a line | |
US2623190A (en) | Color television system | |
SU572230A3 (ru) | Сканирующа система микроскопа | |
US2385563A (en) | Deflection control system | |
US4988927A (en) | Deflection circuit for a television picture tube | |
US3657593A (en) | Electron microscopy | |
US3829691A (en) | Image signal enhancement system for a scanning electron microscope | |
US3457365A (en) | High resolution television projection system | |
US3986027A (en) | Stereo scanning microprobe | |
US3221099A (en) | Electronic display system for use with photographic transparencies | |
US5017829A (en) | Framing camera | |
JPH04262213A (ja) | 光サンプリング・システム | |
US3389294A (en) | Imaging system in which the size and centering of the raster are kept constant | |
US2933555A (en) | System for modulating a magnetic field for electrical reproduction | |
US3447026A (en) | Crt scan stabilizer | |
US3445588A (en) | Optical image scanning system | |
JPH0360297A (ja) | 撮像装置及びその動作方法 | |
US2775644A (en) | Picture analysis and recording devices | |
JPS62198043A (ja) | 立体観察装置 |