SU537549A1 - Способ измерени дозы ионизирующего излучени - Google Patents
Способ измерени дозы ионизирующего излучени Download PDFInfo
- Publication number
- SU537549A1 SU537549A1 SU752184719A SU2184719A SU537549A1 SU 537549 A1 SU537549 A1 SU 537549A1 SU 752184719 A SU752184719 A SU 752184719A SU 2184719 A SU2184719 A SU 2184719A SU 537549 A1 SU537549 A1 SU 537549A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ionizing radiation
- sensitive element
- measuring
- electret
- light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДОЗЫ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ, основанный на разр де электрета под действиемионизирующего излучени и измерении остаточного зар да, отличающийс тем, что, с целью упрощени процесса измерени , электрет- ное состо ние создают в чувствительном элементе из материала с широкой запрещенной зоной, глубокими уровн ми захвата и высокой подвижностью носителей зар да, помеща чувствительный элемент в посто нное электрическое поле и освеща светом, генерирующим носители зар да, а дл измерени остаточного зар да после облучени чувствительного элемента измер емым ионизирующим излучением чувствительный элемент освещают зондирующим светом с интенсивностью в 10- 1000 раз меньшей, чем при создании электретного состо ни , и измер ют изменение тока во кнсшпей цепи.(Л<;о<^f/2.f>&
Description
Изобретение относится к технической физике, к измерению дозы ионизирующего излучения, и может использоваться в медицине, а также для контроля облучения при выполнении работ, 5 связанных с рентгеновскими лучами и радиоактивными веществами.
Известно применение электретов для целей дозиметрии, основанное на том, что поверхностная плотност-ь за- 10 ряда в процессе облучения изменяется. Скорость восстановления поверхностной плотности заряда мала.. Это значит, что величина зарегистрированной дозы запоминается с достаточной для целей 15 йрактики точностью [J ].
Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ измерения дозы, основанный на разряде электрета под действием ионизиру- J0 ющего излучения и измерении остаточного заряда С2 ]. Недостаток этого способа - сложность процесса измерения.
Цель изобретения - упрощение про- 25 цесса измерения.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу электретное состояние создают в чувствительном элементе из материала с широкой запрещенной зоной, глубокими уровнями захвата и высокой подвижностью носителей заряда, помещая чувствительный элемент в постоянное электрическое поле и освещая светом, генерирующим носители заряда. Для измерения остаточно-3^ to заряда после облучения чувствительного элемента измеряемым ионизиру.ющим излучением чувствительный эле чувствительный элемент освещают светом от источника света 4, после этого выключается источник света и после него источник постоянного электрического поля, электроды 2 убираются.
Подготовленный чувствительный элемент подвергают воздействию йонизирующего излучения.
Для измерения поглощенной дозы (фиг. 2) к чувствительному элементу 1 прикладывают электроды 2, к которым подключают измеритель Тока 5, ослабляют интенсивность источника света в 10-1000 раз и освещают чувствительный элемент 1, измеряют отклонение измерителя тока 5, полученное значение сравнивают с предварительно, полученной градуировочной кривой.
Интенсивность зондирующего света выбирается так, чтобы он не разрушал электретного состояния в процессе измерения остаточного заряда, но в то же время обеспечивал необходимую величину измеряемого тока.
Точность измерения остаточного заряда может быть значительно повышена, если его измерять компенсационным методом, а именно последовательно с чувствительным элементом и из♦ мерителем тока включить источник компенсирующего напряжения и установить величину этого напряжения так, чтобы при включении зондирующего света отклонение измерителя тока было наименьшим по абсолютной величине .
. Для реализации предлагаемого способа в качестве материала для чув- & мент освещают зондирующим светом с интенсивностью в 10-1000 раз мень- . шей, чем при создании электретного состояния, и измеряют изменение тока во внешней цепи.
На фиг. 1 и 2 показаны устройства реализующие предлагаемый способ.
ствительного элемента можно исполь40 зовать алмаз. Применение алмаза возможно благодаря широкой запрещенной зоне в 5,5 эв, наличию центров захвата глубиной 0,6-1,4 эв, подвижностью электронов 1800 см2 в-1 с ’и дырок 1200 см2 в'1 с-1. В этом случае источДля создания электретного состояния (фиг. 1) к чувствительному элементу 1 прикладывают электроды 2, к которым подключен источник 3 посто£ янного электрического поля. Затем ник света должен быть выбран с-длиной волны в пределах 600-230 нм, так как в этой области свет генерирует носители заряда, захватываемые на глубине ловушки.
ВНИИЛИ Заказ 7025/1
Тираж 710 Подписное
Филиал ППП лПатент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Claims (1)
- СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДОЗЫ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ, основанный на разряде электрета под действием ионизирующего излучения и измерении остаточного заряда, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, электретное состояние создают в чувствительном элементе из материала с широкой запрещенной зоной, глубокими уровнями захвата и высокой подвижностью носителей заряда, помещая чувствительный элемент в постоянное электрическое поле и освещая светом, генерирующим носители заряда, а для измерения остаточного заряда после облучения чувствительного элемента измеряемым ионизирующим излучением чувствительный элемент освещают зондиру- § ющим светом с интенсивностью в ΙΟΙ 000 раз меньшей, чем при создании электретного состояния, и измеряют изменение тока во внешней цепи.е
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU752184719A SU537549A1 (ru) | 1975-10-28 | 1975-10-28 | Способ измерени дозы ионизирующего излучени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU752184719A SU537549A1 (ru) | 1975-10-28 | 1975-10-28 | Способ измерени дозы ионизирующего излучени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU537549A1 true SU537549A1 (ru) | 1984-10-07 |
Family
ID=20635746
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU752184719A SU537549A1 (ru) | 1975-10-28 | 1975-10-28 | Способ измерени дозы ионизирующего излучени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU537549A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2706807C1 (ru) * | 2019-04-05 | 2019-11-21 | Михаил Викторович Яковлев | Способ определения электрических сигналов в конструкциях диэлектрик-металл при действии высокоинтенсивного импульсного ионизирующего излучения по результатам измерений на статических источниках излучения низкой интенсивности |
-
1975
- 1975-10-28 SU SU752184719A patent/SU537549A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. М здриков О.А., Манойлов В.Е. Электреты. М.-Л., 1962, с. 23.2. М здриков О.А. Интегрирующий детектор проникающей радиации. Атомна энерги , том. 8, "вып. 1, 1960, с. 64 (прототип).(54') * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2706807C1 (ru) * | 2019-04-05 | 2019-11-21 | Михаил Викторович Яковлев | Способ определения электрических сигналов в конструкциях диэлектрик-металл при действии высокоинтенсивного импульсного ионизирующего излучения по результатам измерений на статических источниках излучения низкой интенсивности |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4286215A (en) | Method and apparatus for the contactless monitoring carrier lifetime in semiconductor materials | |
Trucchi et al. | Very fast and primingless single-crystal-diamond X-ray dosimeters | |
US4195641A (en) | Spectroscopic analysis of chemical substances | |
Andrews et al. | Gel dosimeter for depth‐dose measurements | |
EP0239239B1 (en) | Diamond radiation detector and detection method | |
Gibbons et al. | Transient space-charge perturbed currents in orthorhombic sulphur | |
US4833328A (en) | Forming contacts on diamonds | |
Buttar et al. | CVD diamond detectors as dosimeters for radiotherapy | |
IE812669L (en) | Detection of ionizing radiation with diamond detectors | |
SU537549A1 (ru) | Способ измерени дозы ионизирующего излучени | |
Saunders et al. | Displacement of Photoelectrons and Positive Holes in Sheet Crystals of Silver Bromide as Shown by Development Techniques | |
Jones | The application of some direct current properties of silicon junction detectors to γ-ray dosimetry | |
Bruzzi et al. | Characterization of CVD diamond films as radiation detectors for dosimetric applications | |
Uzorka | Photoconductivity on K-feldspar | |
Borders et al. | Apparatus for Measurement of Transport Properties of Photocarriers in Insulating Crystals | |
SU834629A1 (ru) | Способ измерени индукции магнит-НОгО пОл | |
AU3703289A (en) | Detection of nuclear radiation | |
Pettinato et al. | A Detection System Based on Diamond Photoconductors for Single-Pulse Dosimetry of Intense Electron Beams in FLASH Technology | |
Nascimento et al. | A short-time fading study of Al2O3: C | |
US4147934A (en) | Device for measuring high-level ionizing radiation dose | |
Botilǎ et al. | Thermally and photon‐stimulated depolarization currents in KRS‐5 crystals polarized by light | |
Bruzzi et al. | Deep Levels in CVD Diamond and Their Influence on the Electronic Properties of Diamond‐Based Radiation Sensors | |
Bath et al. | Measurement of surface recombination velocity in silicon by steady-state photoconductance | |
KR890017790A (ko) | 이온 주입량의 측정 방법 및 장치 | |
Manfredotti et al. | The primed state of CVD diamond under blue light illumination |