SU537549A1 - Способ измерени дозы ионизирующего излучени - Google Patents

Способ измерени дозы ионизирующего излучени Download PDF

Info

Publication number
SU537549A1
SU537549A1 SU752184719A SU2184719A SU537549A1 SU 537549 A1 SU537549 A1 SU 537549A1 SU 752184719 A SU752184719 A SU 752184719A SU 2184719 A SU2184719 A SU 2184719A SU 537549 A1 SU537549 A1 SU 537549A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ionizing radiation
sensitive element
measuring
electret
light
Prior art date
Application number
SU752184719A
Other languages
English (en)
Inventor
Ю.С. Мухачев
В.С. Татаринов
И.А. Парфианович
Original Assignee
Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им.А.А.Жданова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им.А.А.Жданова filed Critical Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им.А.А.Жданова
Priority to SU752184719A priority Critical patent/SU537549A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU537549A1 publication Critical patent/SU537549A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДОЗЫ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ, основанный на разр де электрета под действиемионизирующего излучени  и измерении остаточного зар да, отличающийс  тем, что, с целью упрощени  процесса измерени , электрет- ное состо ние создают в чувствительном элементе из материала с широкой запрещенной зоной, глубокими уровн ми захвата и высокой подвижностью носителей зар да, помеща  чувствительный элемент в посто нное электрическое поле и освеща  светом, генерирующим носители зар да, а дл  измерени  остаточного зар да после облучени  чувствительного элемента измер емым ионизирующим излучением чувствительный элемент освещают зондирующим светом с интенсивностью в 10- 1000 раз меньшей, чем при создании электретного состо ни , и измер ют изменение тока во кнсшпей цепи.(Л<;о<^f/2.f>&

Description

Изобретение относится к технической физике, к измерению дозы ионизирующего излучения, и может использоваться в медицине, а также для контроля облучения при выполнении работ, 5 связанных с рентгеновскими лучами и радиоактивными веществами.
Известно применение электретов для целей дозиметрии, основанное на том, что поверхностная плотност-ь за- 10 ряда в процессе облучения изменяется. Скорость восстановления поверхностной плотности заряда мала.. Это значит, что величина зарегистрированной дозы запоминается с достаточной для целей 15 йрактики точностью [J ].
Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ измерения дозы, основанный на разряде электрета под действием ионизиру- J0 ющего излучения и измерении остаточного заряда С2 ]. Недостаток этого способа - сложность процесса измерения.
Цель изобретения - упрощение про- 25 цесса измерения.
Это достигается тем, что по предлагаемому способу электретное состояние создают в чувствительном элементе из материала с широкой запрещенной зоной, глубокими уровнями захвата и высокой подвижностью носителей заряда, помещая чувствительный элемент в постоянное электрическое поле и освещая светом, генерирующим носители заряда. Для измерения остаточно-3^ to заряда после облучения чувствительного элемента измеряемым ионизиру.ющим излучением чувствительный эле чувствительный элемент освещают светом от источника света 4, после этого выключается источник света и после него источник постоянного электрического поля, электроды 2 убираются.
Подготовленный чувствительный элемент подвергают воздействию йонизирующего излучения.
Для измерения поглощенной дозы (фиг. 2) к чувствительному элементу 1 прикладывают электроды 2, к которым подключают измеритель Тока 5, ослабляют интенсивность источника света в 10-1000 раз и освещают чувствительный элемент 1, измеряют отклонение измерителя тока 5, полученное значение сравнивают с предварительно, полученной градуировочной кривой.
Интенсивность зондирующего света выбирается так, чтобы он не разрушал электретного состояния в процессе измерения остаточного заряда, но в то же время обеспечивал необходимую величину измеряемого тока.
Точность измерения остаточного заряда может быть значительно повышена, если его измерять компенсационным методом, а именно последовательно с чувствительным элементом и из♦ мерителем тока включить источник компенсирующего напряжения и установить величину этого напряжения так, чтобы при включении зондирующего света отклонение измерителя тока было наименьшим по абсолютной величине .
. Для реализации предлагаемого способа в качестве материала для чув- & мент освещают зондирующим светом с интенсивностью в 10-1000 раз мень- . шей, чем при создании электретного состояния, и измеряют изменение тока во внешней цепи.
На фиг. 1 и 2 показаны устройства реализующие предлагаемый способ.
ствительного элемента можно исполь40 зовать алмаз. Применение алмаза возможно благодаря широкой запрещенной зоне в 5,5 эв, наличию центров захвата глубиной 0,6-1,4 эв, подвижностью электронов 1800 см2 в-1 с ’и дырок 1200 см2 в'1 с-1. В этом случае источДля создания электретного состояния (фиг. 1) к чувствительному элементу 1 прикладывают электроды 2, к которым подключен источник 3 посто£ янного электрического поля. Затем ник света должен быть выбран с-длиной волны в пределах 600-230 нм, так как в этой области свет генерирует носители заряда, захватываемые на глубине ловушки.
ВНИИЛИ Заказ 7025/1
Тираж 710 Подписное
Филиал ППП лПатент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Claims (1)

  1. СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДОЗЫ ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ, основанный на разряде электрета под действием ионизирующего излучения и измерении остаточного заряда, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерения, электретное состояние создают в чувствительном элементе из материала с широкой запрещенной зоной, глубокими уровнями захвата и высокой подвижностью носителей заряда, помещая чувствительный элемент в постоянное электрическое поле и освещая светом, генерирующим носители заряда, а для измерения остаточного заряда после облучения чувствительного элемента измеряемым ионизирующим излучением чувствительный элемент освещают зондиру- § ющим светом с интенсивностью в ΙΟΙ 000 раз меньшей, чем при создании электретного состояния, и измеряют изменение тока во внешней цепи.
    е
SU752184719A 1975-10-28 1975-10-28 Способ измерени дозы ионизирующего излучени SU537549A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752184719A SU537549A1 (ru) 1975-10-28 1975-10-28 Способ измерени дозы ионизирующего излучени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752184719A SU537549A1 (ru) 1975-10-28 1975-10-28 Способ измерени дозы ионизирующего излучени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU537549A1 true SU537549A1 (ru) 1984-10-07

Family

ID=20635746

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU752184719A SU537549A1 (ru) 1975-10-28 1975-10-28 Способ измерени дозы ионизирующего излучени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU537549A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2706807C1 (ru) * 2019-04-05 2019-11-21 Михаил Викторович Яковлев Способ определения электрических сигналов в конструкциях диэлектрик-металл при действии высокоинтенсивного импульсного ионизирующего излучения по результатам измерений на статических источниках излучения низкой интенсивности

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
1. М здриков О.А., Манойлов В.Е. Электреты. М.-Л., 1962, с. 23.2. М здриков О.А. Интегрирующий детектор проникающей радиации. Атомна энерги , том. 8, "вып. 1, 1960, с. 64 (прототип).(54') *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2706807C1 (ru) * 2019-04-05 2019-11-21 Михаил Викторович Яковлев Способ определения электрических сигналов в конструкциях диэлектрик-металл при действии высокоинтенсивного импульсного ионизирующего излучения по результатам измерений на статических источниках излучения низкой интенсивности

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4286215A (en) Method and apparatus for the contactless monitoring carrier lifetime in semiconductor materials
Trucchi et al. Very fast and primingless single-crystal-diamond X-ray dosimeters
US4195641A (en) Spectroscopic analysis of chemical substances
Andrews et al. Gel dosimeter for depth‐dose measurements
EP0239239B1 (en) Diamond radiation detector and detection method
Gibbons et al. Transient space-charge perturbed currents in orthorhombic sulphur
US4833328A (en) Forming contacts on diamonds
Buttar et al. CVD diamond detectors as dosimeters for radiotherapy
IE812669L (en) Detection of ionizing radiation with diamond detectors
SU537549A1 (ru) Способ измерени дозы ионизирующего излучени
Saunders et al. Displacement of Photoelectrons and Positive Holes in Sheet Crystals of Silver Bromide as Shown by Development Techniques
Jones The application of some direct current properties of silicon junction detectors to γ-ray dosimetry
Bruzzi et al. Characterization of CVD diamond films as radiation detectors for dosimetric applications
Uzorka Photoconductivity on K-feldspar
Borders et al. Apparatus for Measurement of Transport Properties of Photocarriers in Insulating Crystals
SU834629A1 (ru) Способ измерени индукции магнит-НОгО пОл
AU3703289A (en) Detection of nuclear radiation
Pettinato et al. A Detection System Based on Diamond Photoconductors for Single-Pulse Dosimetry of Intense Electron Beams in FLASH Technology
Nascimento et al. A short-time fading study of Al2O3: C
US4147934A (en) Device for measuring high-level ionizing radiation dose
Botilǎ et al. Thermally and photon‐stimulated depolarization currents in KRS‐5 crystals polarized by light
Bruzzi et al. Deep Levels in CVD Diamond and Their Influence on the Electronic Properties of Diamond‐Based Radiation Sensors
Bath et al. Measurement of surface recombination velocity in silicon by steady-state photoconductance
KR890017790A (ko) 이온 주입량의 측정 방법 및 장치
Manfredotti et al. The primed state of CVD diamond under blue light illumination