Claims (2)
его сопротивлени , регистрируют индикатором . Направление электрической составл ющей сверхвысокочастотного пол определ етс по положению зонда в линии передачи при максимальном выходном сигнале, который наблюдаетс в случае, если направление продольной оси перемычки совладает с направлением электрической составл ющей сверхвысокочастотного пол . Возмущение, вносимое зондом в сверхвысокочастотное ноле, зависит от выбора удельного сопротивлени нолупроводниковой пластины и от ее геометрических размеров. С увеличением удельного сопротивлени полупроводниковой пластины и с уменьшением ее геометрических размеров степень возмущени сверхвысокочастотного пол уменьщаетс . Возмущение слабо зависит от глубины погружени зонда в линию передачи, поэтому предлагаемый зонд позвол ет производить измерени в любой точке поперечного сечени линии передачи. Геометрические размеры перемычки должны быть значительно меньще, чем длина рабочей волны в исследуемой линии передачи. Повышение сопротивлени в перемычке достигаетс либо путем понижени концентрации носителей тока, либо уменьщением поперечного сечени перемычки. Длина параллельных ветвей 2, используемых в качестве выводов, подбираетс в зависимости от геометрических размеров линии передачи. Предложенный зонд взаимодействует только с электрическим полем, что обеспечивает непосредственное определение его направлени . Выполнение петли 1 из полупроводниковой пластины лищь незначительно искажает структуру сверхвысокочастотного пол , что новышает точность измерени . Таким образом, предложенный зонд обеспечивает непосредственное определение направлени электрической составл ющей сверхвысокочастотного нол . Формула изобретени Зонд дл исследовани структуры сверхвысокочастотного пол , выполненный в виде симметричной петли, отличающийс тем, что, с целью обеспечени непосредственного определени направлени электрической составл ющей сверхвысокочастотного нол , петл выполнена из полупроводниковой пластины Побразной формы, образованной двум параллельнымИ ветв ми, одни концы которых соединены перемычкой, выполненной из материала с повыщенным сопротивлением без изменени подвижности носителей тока и длиной на один - два пор дка больще ее толщины, а на других концах параллельных ветвей расположены электрические контакты. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе: 1.Гинзтон Э. Л. Измерени на сантиметровых волнах, М., «Иностранна литература, I960 г., стр. 310-311 (аналог). its resistances are recorded with an indicator. The direction of the electric component of the microwave field is determined by the position of the probe in the transmission line with the maximum output signal, which is observed if the direction of the longitudinal axis of the jumper coincides with the direction of the electric component of the microwave field. The perturbation introduced by the probe in the microwave field depends on the choice of resistivity of the semiconductor plate and on its geometrical dimensions. With an increase in the resistivity of a semiconductor wafer and with a decrease in its geometric dimensions, the degree of perturbation of the microwave field decreases. The disturbance is weakly dependent on the depth of the probe in the transmission line, therefore, the proposed probe allows measurements at any point of the cross section of the transmission line. The geometric dimensions of the jumper should be significantly smaller than the length of the working wave in the transmission line under study. An increase in resistance in the bridge is achieved either by lowering the carrier concentration or by reducing the cross section of the bridge. The length of the parallel branches 2 used as leads is chosen depending on the geometric dimensions of the transmission line. The proposed probe interacts only with the electric field, which provides a direct determination of its direction. Making a loop 1 from a semiconductor plate only slightly distorts the structure of the microwave field, which improves the measurement accuracy. Thus, the proposed probe provides direct determination of the direction of the electrical component of the microwave. DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A probe for examining a microwave structure made in the form of a symmetrical loop, characterized in that, in order to directly determine the direction of the electrical component of the microwave, the loop is made of a semiconductor plate of a P shaped shape formed by two parallel branches with one end of which is connected a jumper made of a material with increased resistance without changing the carrier mobility and one to two orders of length olsche its thickness, and on the other ends of the parallel branches are arranged electrical contacts. Sources of information taken into account in the examination: 1.Ginzton, E.L. Measurement on centimeter waves, M., “Foreign Literature, 1960, pp. 310-311 (analog).
2.Тищер Ф. Техника измерений на сверхвысоких частотах. Справочное руководство, М., Государственное издательство физико-математической литературы, 1963 г., стр. 336 (прототип ).2. Tischer F. Technique of measurements at ultra-high frequencies. Reference guide, M., State publishing house of physical and mathematical literature, 1963, p. 336 (prototype).