SU532830A1 - Control device of integrated circuits - Google Patents
Control device of integrated circuitsInfo
- Publication number
- SU532830A1 SU532830A1 SU2155913A SU2155913A SU532830A1 SU 532830 A1 SU532830 A1 SU 532830A1 SU 2155913 A SU2155913 A SU 2155913A SU 2155913 A SU2155913 A SU 2155913A SU 532830 A1 SU532830 A1 SU 532830A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- control
- output
- outputs
- amplitude
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к обпасти вычислительной техники и может быть использовано в автоматизированных системах конт- р071 интегральных схем (ИС) с динамической логикой.The invention relates to computing hardware and can be used in automated systems for controlling integrated circuits (ICs) with dynamic logic.
Извес1ны устрсйства контрол логических ИС, содержащие генератор импульсов, счетчик дишифратор, блок элементов совпедени l. Однако такие устройства не обеспечивают контрол ИС с совмещенными выводами в динамическом режиме, которые в один из тактов питани вл ютс входаа в другой такт - выходами.The devices of the control ICs, containing a pulse generator, a cipher counter, a block of matching elements, are known. However, such devices do not provide control of ICs with combined outputs in dynamic mode, which in one of the power cycles are the input to the other cycle - outputs.
ми.mi
Известна также система автоматического контрол больших интегральных схем, котора содержит блок управлени , блок пам ти , амплитудный дискриминатор, соединенный с элементом ИЛИ 2j.A system of automatic control of large integrated circuits is also known, which contains a control unit, a memory unit, an amplitude discriminator connected to the OR element 2j.
Однако иввестнЬю устройства контрол интегральных схем не обеспечивают быстрой перекоммутации совмещенных выводов ИС с низкоомных выходов блока пам ти на вьгоокоомные входы амплитудных дискриминаторов и не позвол ют производить конт- However, well-known devices for controlling integrated circuits do not provide fast re-switching of the combined IC outputs from the low-resistance outputs of the memory unit to the high-impedance inputs of the amplitude discriminators and do not allow
роль таких ИС с частотой, превышающей частоту обращени к блоку пам ти.the role of such ICs with a frequency exceeding the frequency of accessing the memory unit.
Цель изобретени - расширить функциональные возможности устройства.The purpose of the invention is to expand the functionality of the device.
Это достигаетс тем, что в устройство контрол интегральных схем, содержащее блок управлени , блок пам ти и амплитуд- ньгй дискриминатор, соединенный с элементом ИЛИ, введены две пары ключей входных цепей и ожидаемых выходных тестов, которые информационными входами подключены к выходам блока , а управл ющими входами - к выходам блока управлени , причем выходы ключей входных цепей подключены к аежимам объекта контрол ( ИС и информационным входал амплитудного дискриминатора , вход сравнени которого подключен к выходам ключей ожидаемых выходных тестов, а разрешающий вход амплитудного дискриминатора соединен с входом блока управлени .This is achieved by the fact that two pairs of keys of input circuits and expected output tests, which are connected by information inputs to the outputs of the block, are entered into the integrated circuit control device containing the control unit, the memory unit and the amplitude discriminator connected to the OR element, and inputs to the outputs of the control unit, and the outputs of the keys of the input circuits are connected to the control unit's modes (IC and information input the amplitude discriminator, the comparison input of which is connected to the outputs of the keys of the expected output tests, and the enable input of the amplitude discriminator is connected to the input of the control unit.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2155913A SU532830A1 (en) | 1975-07-11 | 1975-07-11 | Control device of integrated circuits |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2155913A SU532830A1 (en) | 1975-07-11 | 1975-07-11 | Control device of integrated circuits |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU532830A1 true SU532830A1 (en) | 1976-10-25 |
Family
ID=20626506
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2155913A SU532830A1 (en) | 1975-07-11 | 1975-07-11 | Control device of integrated circuits |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU532830A1 (en) |
-
1975
- 1975-07-11 SU SU2155913A patent/SU532830A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3614608A (en) | Random number statistical logic test system | |
KR930022383A (en) | Memory chip refresh address test circuit | |
KR950701736A (en) | Semiconductor memory test device | |
US4001553A (en) | Counter arrangement and associated test circuit for an electronic timing device | |
SU532830A1 (en) | Control device of integrated circuits | |
KR890003010A (en) | Method and circuit for testing integrated circuit chips with programmable outputs | |
SU481898A1 (en) | Device for testing binary number comparison circuits | |
SU1385105A1 (en) | Device for signature check of wire connections | |
SU809185A1 (en) | Device for functional testing microelectronic assemblies | |
SU1193679A1 (en) | Device for checking logic units | |
SU676953A1 (en) | Arrangement for measuring electronic unit dynamic parameters | |
SU559415A2 (en) | Impulse Protection Device | |
SU566337A1 (en) | Pulse selection circuit | |
US3579118A (en) | Multiple mode frequency divider circuit | |
SU1674019A1 (en) | Device for inspecting digital integrated circuits | |
SU725048A1 (en) | Arrangement for measuring dynamic parameters of microcircuits | |
JPS5745945A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
SU1157544A1 (en) | Device for functional-parametric checking of logic elements | |
JPH0639350Y2 (en) | IC test equipment | |
SU1091311A1 (en) | Amplitude differential discriminator | |
SU411484A1 (en) | ||
SU1104464A1 (en) | Control device | |
SU1403097A1 (en) | Solid-state storage checking device | |
SU951203A1 (en) | Electronic device dynamic parameter meter | |
SU1337838A1 (en) | Device for function check of digital integrated circuits |