SU532830A1 - Control device of integrated circuits - Google Patents

Control device of integrated circuits

Info

Publication number
SU532830A1
SU532830A1 SU2155913A SU2155913A SU532830A1 SU 532830 A1 SU532830 A1 SU 532830A1 SU 2155913 A SU2155913 A SU 2155913A SU 2155913 A SU2155913 A SU 2155913A SU 532830 A1 SU532830 A1 SU 532830A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
input
control
output
outputs
amplitude
Prior art date
Application number
SU2155913A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Дмитрий Ильич Ажоткин
Сергей Александрович Гаврилов
Original Assignee
Предприятие П/Я Х-5263
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Х-5263 filed Critical Предприятие П/Я Х-5263
Priority to SU2155913A priority Critical patent/SU532830A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU532830A1 publication Critical patent/SU532830A1/en

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к обпасти вычислительной техники и может быть использовано в автоматизированных системах конт- р071  интегральных схем (ИС) с динамической логикой.The invention relates to computing hardware and can be used in automated systems for controlling integrated circuits (ICs) with dynamic logic.

Извес1ны устрсйства контрол  логических ИС, содержащие генератор импульсов, счетчик дишифратор, блок элементов совпедени  l. Однако такие устройства не обеспечивают контрол  ИС с совмещенными выводами в динамическом режиме, которые в один из тактов питани   вл ютс  входаа в другой такт - выходами.The devices of the control ICs, containing a pulse generator, a cipher counter, a block of matching elements, are known. However, such devices do not provide control of ICs with combined outputs in dynamic mode, which in one of the power cycles are the input to the other cycle - outputs.

ми.mi

Известна также система автоматического контрол  больших интегральных схем, котора  содержит блок управлени , блок пам ти , амплитудный дискриминатор, соединенный с элементом ИЛИ 2j.A system of automatic control of large integrated circuits is also known, which contains a control unit, a memory unit, an amplitude discriminator connected to the OR element 2j.

Однако иввестнЬю устройства контрол  интегральных схем не обеспечивают быстрой перекоммутации совмещенных выводов ИС с низкоомных выходов блока пам ти на вьгоокоомные входы амплитудных дискриминаторов и не позвол ют производить конт- However, well-known devices for controlling integrated circuits do not provide fast re-switching of the combined IC outputs from the low-resistance outputs of the memory unit to the high-impedance inputs of the amplitude discriminators and do not allow

роль таких ИС с частотой, превышающей частоту обращени  к блоку пам ти.the role of such ICs with a frequency exceeding the frequency of accessing the memory unit.

Цель изобретени  - расширить функциональные возможности устройства.The purpose of the invention is to expand the functionality of the device.

Это достигаетс  тем, что в устройство контрол  интегральных схем, содержащее блок управлени , блок пам ти и амплитуд- ньгй дискриминатор, соединенный с элементом ИЛИ, введены две пары ключей входных цепей и ожидаемых выходных тестов, которые информационными входами подключены к выходам блока , а управл ющими входами - к выходам блока управлени , причем выходы ключей входных цепей подключены к аежимам объекта контрол  ( ИС и информационным входал амплитудного дискриминатора , вход сравнени  которого подключен к выходам ключей ожидаемых выходных тестов, а разрешающий вход амплитудного дискриминатора соединен с входом блока управлени .This is achieved by the fact that two pairs of keys of input circuits and expected output tests, which are connected by information inputs to the outputs of the block, are entered into the integrated circuit control device containing the control unit, the memory unit and the amplitude discriminator connected to the OR element, and inputs to the outputs of the control unit, and the outputs of the keys of the input circuits are connected to the control unit's modes (IC and information input the amplitude discriminator, the comparison input of which is connected to the outputs of the keys of the expected output tests, and the enable input of the amplitude discriminator is connected to the input of the control unit.

Claims (2)

Такое устройство обеспечивает возможность контрол  интегральных схем с совмещенными выходами с частотой, превы щающей частоту обращени  к блоку пам та в результате быстрой перекоммутации выводов объекта с низкоомных выходов блока пам ти на высокоомные входы амплитудных дискриминаторов. На чертеже представлена структурна  электрическа  схема устройства контрол  ИС дл  одного вывода объекта контрол . Зажимы объекта контрол  1 подключены к высолоомному входу амплитудного дискриминатора 2 и через транзисторные ключи 3 и 4 входных цепей - к выходам разных разр дов блока пам ти 5 хранени  тестовых комбинаций. Управл ющие входы тран зисторных ключей 3 и 4 подключены к соответствующим выходам блока управлени .6, соответствующие выходы которого подключены к управл ющим входам транзисторных ключей 7 и 8 ожидаемых выходных тестов к к разрещающему входу амплитудного диск риминатора 2. Ключи 7 и 8 включены между соответствующими выходами блока пам ти и входом сравнени  амплитудного дискриминатора . Выход амплитудного дискриминатора 2 соединен с входом элемента ИЛИ 9 Входные воздействи , выдел емые блоком пам ти 5, поступают на кпеммы объекта контрол  1 только в моменты времени, определ емые импульсами, поступающими на управл ющие входы транзисторных ключей 3 и 4 с выхода блока управлени  6, вырабатывающего стробирующкэ импульсы. Причем частота смены входной информации, поступающей на соответствующую клемму объекта контрол , может превыщать максимальную частоту выдачи информации блоком пам ти 5. За один цикл выдачи информации блоком пам ти 5 на клемме объекта контрол  происходит двойна  смена входной информации. Входна  информаци , поступающа  на клемму объекта контрол  1, одновременно поступает и на вход амплитудного дискриминатора 2. Однако срабатывани  амплитудного дискриминатора не происходит так как блок управлени  6 при этом не выдает на амплитудный дискриминатор 2 разрещающего импульса (стробирование по выходу). Стробирующий импульс на амплитудный дис криминатор 2 подаетс  в такт, при кото- ром на клемме объекта контрол  1 по вл етс  выходной сигнал. Транзисторные ключи 3 и 4 при этом закрыты, и выходной сигнал не щунтируетс  низкоомными выходами блока пам ти 5. Выходной сигнал с клеммы объекта контрол  1 поступает на вход дискриминатора 2 одновременно с разрешающим импульсом блока управлени  6, подающего и fflyльc на амплитудный дискриминатор Such a device makes it possible to control integrated circuits with combined outputs with a frequency exceeding the frequency of accessing the memory block as a result of fast re-switching of the object's leads from the low-resistance outputs of the memory block to the high-resistance inputs of amplitude discriminators. The drawing shows a structural electrical circuit of an IC control device for one output of a control object. The terminals of the control object 1 are connected to the dielectric input of the amplitude discriminator 2 and through transistor switches 3 and 4 of the input circuits to the outputs of different bits of the storage unit 5 for storing test combinations. The control inputs of the transistor switches 3 and 4 are connected to the corresponding outputs of the control unit. 6, the corresponding outputs of which are connected to the control inputs of the transistor switches 7 and 8 of the expected output tests to the enable input of the amplitude drive of the riminator 2. The keys 7 and 8 are connected between the corresponding the outputs of the memory block and the input of the amplitude discriminator. The output of the amplitude discriminator 2 is connected to the input of the element OR 9 The input influences allocated by memory 5 are fed to the pegs of the control object 1 only at the times determined by pulses arriving at the control inputs of transistor switches 3 and 4 from the output of control unit 6 generating strobe pulses. Moreover, the frequency of changing the input information arriving at the corresponding terminal of the control object may exceed the maximum frequency of information output by the memory unit 5. During one cycle of information output by the memory block 5, the input information is double-changed at the control object terminal. The input information supplied to the terminal of the control object 1 simultaneously arrives at the input of the amplitude discriminator 2. However, the amplitude discriminator does not trigger because the control unit 6 does not issue a permit pulse (output gating) to the amplitude discriminator 2. A strobe pulse to the amplitude discriminator 2 is applied in time, when the output signal appears on the terminal of the control object 1. The transistor switches 3 and 4 are closed at the same time, and the output signal is not shunted by the low-resistance outputs of memory unit 5. The output signal from the control object terminal 1 is fed to the input of the discriminator 2 simultaneously with the enabling pulse of the control unit 6, the input and fflylc to the amplitude discriminator 2. В тот же момент времени блок управлени  6 открывает один из транзисторных кггючей 7, 8 ожидаемых въгходных тестов, разрещающих прохождение информации с выхода блока пам ти, котора  должна соответствовать выходным сигналам объекта контрол  в данный момент времени при правильно работающем объекте контрол  1 (ожидаемые тестовые комбинации). Ампли- тудный дискриминатор 2 фиксирует амплитуду выходного сигнала объекта контрол , сравнивает ее с ожидаемой информацией, выдаваемой блоком пам ти 5 через ключи 7, 8, и при несовпадении сигналов выдает сигнал ощибки на вход элемента ИЛИ, на выходе которого при этом по вл етс  сигнал о наличии брака. Формула изобретени  Устройство контрол  интегральШ)1Х схем, содержащее блок управлени , блок пам ти и амплитудный дискриминатор, соединенный с элементом ИЛИ, отл и чающее с  тем, что, с цепью расщирени  функциональных возможностей, в него введены две пары ключей входных цепей и ожидаемых выходных гестов, которые информационными входами подключены к выходам блока пам ти , а управл ющими входами - к выходам блока управлени , причем выходы ключей входных цепей подключенъ к зажимам объекта контрол  и информационным входам амплитудного дискриминатора, вход сравнени  которого подключен к выходам ключей ожидаемых выхощвых тестов, а разрещающий вход амплитудного дискриминатора сое- динен с выходом блока управлени .2. At the same time, the control unit 6 opens one of the transistor kg-capacitors 7, 8 of the expected input tests, which allow the passage of information from the output of the memory unit, which must correspond to the output signals of the control object at a given time with a properly working control object 1 (the expected test combinations). The amplitude discriminator 2 captures the amplitude of the output signal of the control object, compares it with the expected information provided by memory 5 through the keys 7, 8, and if the signals do not match, it generates an error signal at the input of the OR element, the output of which about the presence of marriage. Claims of the Invention Control Unit integrated circuit 1X circuits comprising a control unit, a memory unit and an amplitude discriminator connected to the OR element, with the fact that, with the functionality extension chain, two pairs of input circuit keys and expected output keys are entered into it gestas, which are connected by information inputs to the outputs of the memory unit, and the control inputs are connected to the outputs of the control unit, and the outputs of the keys of the input circuits are connected to the terminals of the control object and the information inputs of the amplitude dis riminatora, comparing the input of which is connected to the outputs of the key expected vyhoschvyh tests, and the resolving input amplitude discriminator soe- of the connections with the output control block. А ЛA l 7 II7 II J 8J 8 ЧH ч h ч чh h
SU2155913A 1975-07-11 1975-07-11 Control device of integrated circuits SU532830A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2155913A SU532830A1 (en) 1975-07-11 1975-07-11 Control device of integrated circuits

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2155913A SU532830A1 (en) 1975-07-11 1975-07-11 Control device of integrated circuits

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU532830A1 true SU532830A1 (en) 1976-10-25

Family

ID=20626506

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2155913A SU532830A1 (en) 1975-07-11 1975-07-11 Control device of integrated circuits

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU532830A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3614608A (en) Random number statistical logic test system
KR930022383A (en) Memory chip refresh address test circuit
KR950701736A (en) Semiconductor memory test device
US4001553A (en) Counter arrangement and associated test circuit for an electronic timing device
SU532830A1 (en) Control device of integrated circuits
KR890003010A (en) Method and circuit for testing integrated circuit chips with programmable outputs
SU481898A1 (en) Device for testing binary number comparison circuits
SU1385105A1 (en) Device for signature check of wire connections
SU809185A1 (en) Device for functional testing microelectronic assemblies
SU1193679A1 (en) Device for checking logic units
SU676953A1 (en) Arrangement for measuring electronic unit dynamic parameters
SU559415A2 (en) Impulse Protection Device
SU566337A1 (en) Pulse selection circuit
US3579118A (en) Multiple mode frequency divider circuit
SU1674019A1 (en) Device for inspecting digital integrated circuits
SU725048A1 (en) Arrangement for measuring dynamic parameters of microcircuits
JPS5745945A (en) Semiconductor integrated circuit device
SU1157544A1 (en) Device for functional-parametric checking of logic elements
JPH0639350Y2 (en) IC test equipment
SU1091311A1 (en) Amplitude differential discriminator
SU411484A1 (en)
SU1104464A1 (en) Control device
SU1403097A1 (en) Solid-state storage checking device
SU951203A1 (en) Electronic device dynamic parameter meter
SU1337838A1 (en) Device for function check of digital integrated circuits