SU531070A1 - Рефрактометр - Google Patents

Рефрактометр

Info

Publication number
SU531070A1
SU531070A1 SU2053795A SU2053795A SU531070A1 SU 531070 A1 SU531070 A1 SU 531070A1 SU 2053795 A SU2053795 A SU 2053795A SU 2053795 A SU2053795 A SU 2053795A SU 531070 A1 SU531070 A1 SU 531070A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
refractometer
optical
wavelengths
radiation
plates
Prior art date
Application number
SU2053795A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Степанович Михайлов
Аркадий Сергеевич Сушков
Original Assignee
Центральный Научно-Исследовательский Институт Геодезии,Аэросъемки И Картографии
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Центральный Научно-Исследовательский Институт Геодезии,Аэросъемки И Картографии filed Critical Центральный Научно-Исследовательский Институт Геодезии,Аэросъемки И Картографии
Priority to SU2053795A priority Critical patent/SU531070A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU531070A1 publication Critical patent/SU531070A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к устройствам дл  определени  вли ни  рефракпии при вы сокоточных угловых измерени х, в частнос ти геодезических. Известны рефрактометры, осуществл ющие измерение спектральной дисперсии пут сравнени  смещений полученных изображений или интенсивности световых потоков различных длин волн, прошедших вдоль исследуемой линии. Один из известных рефрактометров соде жит два излучател , направл ющих вдоль исследуемой линии два световых потока с длинами волн Л ) и Д-,, приемное устройств и модул тор 11. Наиболее близким техническим решением к предложенному  вл етс  рефрактометр , которьш содержит два излучател , направл ющих вдоль исследуемой линии два световых потока с длинами волн .и приемное устройство, включающее оптическую телескопическую систему и фотометр, причем перед фотометром помещен пол рои анализатор . Недостатком этого рефрактометра  вл етс  наличие в приемном устройстве двух каналов дл  световых потоков с длинами волн соответственно Л j и - , что не позвол ет достичь точности угловых измерений пор дка 0,5 угл.сек. Цель изобретени  - повышение точности измерени  и улучщени  эксплуатационных характеристик рефрактометра. Указанна  цель достигаетс  тем, что в рефрактометре, содержащем два излучател , направл ющих вдоль исследуемой линии два световых потока с длинами волн Л( и Л 2 и приемное устройство, включающее оптическую телескопическую систему и фотометр, за оптической телескопической системой последовательно установлены четыре плоскопараллельные кристаллические пластины: перва  пластина, обладающа  двойным лучепреломлением дл  излучени  с длиной волны Л ( и не расщепл юща  лучи с длиной волны 2) втора  , толщина которой обеспечивает повороты направлений плоскостей пол5физации проход щих световых потоков с длинами волн Л и треть , обладаюша  авойиы лучепреломлением дл  потоков обеих длин волн, и четверта  - компенсаторна  пластина. Перед фотометром помещен пол51ркза1.шонный модул тор - ана лизатор, а между оптической телескопичес кой системой и первой пластиной установлен оптический элемент, поворачивающий световой пучок вокруг оси иа 90 . На чертеже представлена принципиальна  оптическа  схема предложенного рефрактометра . Рефрактометр содержит иатучатели 1 и 2, направл ющие вдоль исследуемой линии два световых потока с длинами волн с ответственно /IjH Л 2, переклЮчатель потоков 3, колш-1М1фующие оптические системы 4 и 5 и приемное устройство, включающее оптическую телескопическую систему 6, оп тический элемент 7, поворачивающий свето вой пучок вокруг оси на 90 , плоскопараллельные кристаллические пластины 8-11, пол ризащюнньэ модул тор-анализатор 12 и фотометр, включающий фотодетектор 13, усилитель 14 и индикатор 15. Плоскопараллельные кристаллические пластины вьшолнены следующим образом. Пластины 8,10 и 11 вырезаны под углом 45 , а пластина 9 - под углом 90 к оптической оси кристалла. Пластины 8,10 и 11 ориентрфованы так. что ось кристалл находитс  под 45 к оси светового пучка и под углом 45 к линии горизонта, а оптическа  ось пластины 9 параллельна оси прибора. Толщины пластин 8 и, 10 в зависимост от предъ вл емых к прибору требований могут быть различные. Например, если необходимо получить угловую щирину полосы 20 тл.сек, приведенной к входу прибора , снабженного двенадцатикратной телескопической системой, толщины пластин 8 и 10 составл ют 19 мм и 40 мм соответ ственно дл  излучений с длинами волн 0,6328 мкм и 0,4415 мкм. Рефрактометр работает следующим обра зом. Световые пучки с длинами волн Л j и Л2 выход 1дие из излучателей 1 и 2 соответственно , пропускают через коллимируюшие оптические системы 4 и 5, после чего световые пучки, пройд  исследуемую среду, например атмосферу, попадают в оптическую телескопическую систему 6, проход т через последовательно расположенные пластины 8 - 11, пол ризационный модул тор-анализатор, попадают на чувствительную поверхность фотодетектора 13, сигнал с которого усиливаетс  уси
лителем 14 и фиксируетс  индикатором 15. вО излучени . В зависимости от того, какой угол имеетс  между плоскост кги пол ризации иэлучений с длинами волн Л и .у выход щих из излучателей 1 и 2, выбираетс  толщина пластины 9, котора  должна обеспечивать поворот плоскости пол ризации проход щего излучени на такой же . В случае когда Л Aj) угловой анализ вьшолн етс  дл  излучени  с длиной волны Л пластинами 10 и 11. При этом через пластину 8 излучение с длиной волны Л-2. проходит без изменений. Выход щее из пластины 11 излучение направл етс  на пол ризационный модул тор-анализатор 12, который состоит из двзтс пол роидов-анализаторов , поочередно вводимых в световой пучок. Плоскости пол ризации анализаторов перпендикул рны между собой и составл ют углы 45 с горизонтом. Отсчет угла поворота компенсаторной пластины 11 определ ет направление плоскости пол ризации излучени  с длиной вол ны Л 2прошедщего через исследуемую ере Затем переключатель 3 переводитс  в другое положение, при котором проходит излучение с длиной волны А . При этом угловой анализ дл  излучени  с длиной волны Л , выполн етс  одновременно пластинами 8 и 10, а также компенсаторной пластиной 11, после чего излучение проходит через пол ризационный модул - тор-анализатор 12. Разница двух отсчетов, полученных в результате поворотов компенсаторной пластины 11 при гфохождении излучений с длинами волн Л) и AjjHeceT информацию о величине угловой рефракции исследуемой среды. Дл  исключени  из результата измерени  ошибки, обусловленной конструктивнььми параметрами прибора, контрольные измерени  выполн ютс  при оптическом коротком замыкании передающей и приемной систем. Приведенное описание работы схемы дано дл  измерени  горизонтальной составл кшей угловой рефракции, Дл  измерени  вертикальной составл ющей угловой рефракции в оптическую схему приемной части рефрактометра вводитс  оптический элемент 7, например трехзеркальный, поворачивающий световой пучок вокруг оси на 90 . Этот элемент вьшолн ет функцию призмы Дове, но меньЪе искажает пол ризационные характеристики излучени  и дает возможность работать с различными длинами волн Применение предложенного рефрактометр позволит: - определ ть величину угловой рефракции в диапазоне 10 .мин. с точностью 0,5 угл.сек; повысить качество наблюдений, а также сократить количество повторных наблюдений азимута по Пол рной звезде; дл  получени  высотных отметок триангул ционных пунктов 1,2,3 и 4 кл. исполь зовать вместо геометрического никелиро вани  3-4 кл. тригонометрическое; решить р д научно- исследователь-зких проблем, в частности таких, как создание эталонных геодезических полигонов; усовершенствовать методику и технику вьлолнени  геодезических работ, уменьшит врем  простоев в полевой период. Экономическа  эффективность от исполь зовани  данного рефрактометра при астроопределени х и определени х высотных отметок триангул ционных пунктов на годово объем работ ГУГК при СМ CCCF составит около 100 тыс.руб. о р м у л а и 3 о б р е т Рефрактометр, преимущественно дл  геодезических измерений, содержащий два из лучател , направл ющих вдоль исследуемой линии два световых потока с длинами волн Л / 1; ;|о,и приемное устройство, включаюшое опглчсскую телескопическую систему и фотометр. о т л i: ч а ю щ и ii с   , что, с целью повышени  точности аз- мереьи  i; улучшени  эксплуатационных характерчсг рефрактометра, за оптической телескопической системой последовательно установлены четыре плоскопараллельные кристаллические пластины: перва  пластина, обладаЮ1га  двойньг г лучепреломлением дл  излучен11Я с длиной волны Д(: не расщепл ющак лучи с длиной волны Д-; втора , толщина которой обеспечивает повороть: направлений плоскостей пол ризаШП1 проход щих световых потоков с длиной ьолны л. Ji Л.;;треть , обладающа  двойным лучепрело:-лепиех; дл  обеих длпк волк, л четверта  - ко  1енса горна  пластина, перед ±ого летрз. ло%;о1иек пэл ризашюпньп мс дул тор-акализлтор , а ежду оптической телескопической системой и первой пластикой 5станоБ::еп оптический элемент, поворач;шаюш1п1 светоЕой пучок вокруг оси Источглгки льформагцнг, прпн тые во VHTIмание при экспертизе; 1. Патент CCCF X: 340211, выдан--,, шведской фирме АГА кл. G 01 П 21,.- 1909. 2. Авторское свидетельство СССР № 340948, кл. G 01 П 21/46, 1970 {прототип).
( W fi 12
ш}
t
15
SU2053795A 1974-08-15 1974-08-15 Рефрактометр SU531070A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2053795A SU531070A1 (ru) 1974-08-15 1974-08-15 Рефрактометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2053795A SU531070A1 (ru) 1974-08-15 1974-08-15 Рефрактометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU531070A1 true SU531070A1 (ru) 1976-10-05

Family

ID=20594157

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2053795A SU531070A1 (ru) 1974-08-15 1974-08-15 Рефрактометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU531070A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4589776A (en) Method and apparatus for measuring optical properties of materials
US3797940A (en) Refractometer with displacement measured polarimetrically
EP0168182B1 (en) Optical measurement apparatus
US3424531A (en) Distance measuring instrument using a pair of modulated light waves
US3390605A (en) Device for measuring simultaneously both rotatory polarization and light absorption
SU531070A1 (ru) Рефрактометр
JP3131242B2 (ja) 光ビーム入射角の測定方法、測定装置及び該装置を距離測定に使用する方法
US3016789A (en) Polarimetric apparatus
US3427108A (en) Electro-optical apparatus for monitoring rotational movement of a body
US3773421A (en) Monitoring relative displacement
US3113171A (en) Method for polarimetric analysis
US3544224A (en) Method for measuring the optical transmission characteristics of transparent and translucent media and optical diffractometer for carrying out this method
US3630621A (en) Measurement of visibility through a fluid using polarized light
RU2069839C1 (ru) Устройство для определения поперечных смещений
SU987381A1 (ru) Рефлектометр дл измерени параметров шероховатости сверхгладких поверхностей
SU1157416A1 (ru) Многолучевой интерференционный эллипсометр
SU569849A1 (ru) Устройство дл измерени углов скручивани
SU789686A1 (ru) Денситометр
RU2007694C1 (ru) Поляриметр
SU1100541A1 (ru) Рефрактометр дл анизотропных кристаллов
SU792102A1 (ru) Способ измерени угловой атмосферной рефракции
RU2019796C1 (ru) Устройство для измерения поляризационного состава излучения в реальном масштабе времени
SU416653A1 (ru)
SU1569618A1 (ru) Пол ризационно-оптический преобразователь давлени
SU922598A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента поглощени