SU524258A1 - Raster electron microscope - Google Patents

Raster electron microscope

Info

Publication number
SU524258A1
SU524258A1 SU2051389A SU2051389A SU524258A1 SU 524258 A1 SU524258 A1 SU 524258A1 SU 2051389 A SU2051389 A SU 2051389A SU 2051389 A SU2051389 A SU 2051389A SU 524258 A1 SU524258 A1 SU 524258A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electron
electron microscope
microscope
raster electron
raster
Prior art date
Application number
SU2051389A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Валентин Алексеевич Кобыляков
Вилен Николаевич Капличный
Виктор Лукьянович Бозаджиев
Эдуард Андреевич Шуляк
Георгий Дмитриевич Кисель
Виктор Семенович Гурин
Виталий Андреевич Безлюдный
Иван Семенович Лялько
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2613
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2613 filed Critical Предприятие П/Я В-2613
Priority to SU2051389A priority Critical patent/SU524258A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU524258A1 publication Critical patent/SU524258A1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к электронной микроскопии и может быть использовано при разработке растровых электронных микроскопов.The invention relates to electron microscopy and can be used in the development of scanning electron microscopes.

Известен электронный микроскоп просвечивающего типа, в котором дл  повьпиени  чувствительности и разрешени  в качестве преобразовател  электронно - оптического изображени  в электрические сигналы использован сцинтилл тор с ФЭУ, расположенный за неподвижной сканирующей диафрагмой по ходу электронного луча.A transmission-type electron microscope is known, in which a scintillator with a photomultiplier (PMT) located behind a fixed aperture along the electron beam is used as a transducer for electron-optical image into electrical signals.

Недостатком такого электронного микроскопа  вл етс  низка  разрешающа  способность.The disadvantage of such an electron microscope is its low resolution.

Ближайшим прототипом данного изобретени  . вл етс  растровый электронный микроскоп 2 который содержит электронную пушку, электронно-оптическую систему, столик дл  объектов, неподвижную диафрагму, датчик электронов и видеоконтрольное устройство, состо щее из видгоусилитед  , приемной электронно-лучевой трубки, генератора разверток приемной трубки и источников питани .The closest prototype of this invention. is a scanning electron microscope 2 which contains an electron gun, an electron-optical system, an object table, a fixed aperture, an electron sensor and a video monitor consisting of a video amplified, cathode-ray receiving tube, a receiving tube sweep generator and power supplies.

Однако и этот микроскоп имеет недостатки: низкое разрешение и слабую чувствительность при малой интенсивности электронов.However, this microscope also has disadvantages: low resolution and low sensitivity at low electron intensity.

Целью изобретени   вл етс  повышение разрешающей способности микроскопа. Достижение поставленной дели осуществлено тем, что микроскоп снабжен дополнительной электронно-оптической системой формировани  и увеличени  изображени  и отклон ющей системой, которые расположена; под объектом леред диафрагмой по ходу электронного луча, и дискретно-аналоговым устройством, вход которого соединен с датчиком электронов, а выход - со входом индикаторного блока видеоконтрольного устройства.The aim of the invention is to increase the resolution of the microscope. The achievement of the delivered task is carried out by the fact that the microscope is equipped with an additional electron-optical system of forming and magnifying an image and a deflecting system which is located; Under the object there is a diaphragm along the electron beam, and a discrete-analog device, the input of which is connected to the electron sensor, and the output - to the input of the indicator unit of the video monitor.

На чертеже изображена схема электронного микроскопа.The drawing shows a diagram of the electron microscope.

Claims (2)

1.Авт. св. СССР, кл. Н 01137/26 № 399937, 29.11.71, опубл. 14.02.74 г.1.Avt. St. USSR, cl. H 01137/26 No. 399937, 11.29.71, publ. 02/14/74 2.Техническое описание устройства электронного микроскопа Автоскоп фирмы ЕТЕС 19702. Technical description of the device of the electron microscope Autoscope company ETES 1970 (прототип).(prototype).
SU2051389A 1974-08-02 1974-08-02 Raster electron microscope SU524258A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2051389A SU524258A1 (en) 1974-08-02 1974-08-02 Raster electron microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2051389A SU524258A1 (en) 1974-08-02 1974-08-02 Raster electron microscope

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU524258A1 true SU524258A1 (en) 1976-08-05

Family

ID=20593407

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2051389A SU524258A1 (en) 1974-08-02 1974-08-02 Raster electron microscope

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU524258A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4211924A (en) Transmission-type scanning charged-particle beam microscope
DE69332802T2 (en) RECORDING SYSTEM
GB1284061A (en) Electron beam apparatus
US4399360A (en) Transmission electron microscope employing sequential pixel acquistion for display
SU524258A1 (en) Raster electron microscope
US3872305A (en) Convertible scanning electron microscope
US2354263A (en) Electron microscope
SU399937A1 (en) ELECTRONIC MICROSCOPE ANALYZER
GB1588234A (en) Transmission type beam nicroscopes utilising a scanning technique
US3309655A (en) Ultrasonic diagnostic vibration transducer
SU843025A1 (en) Electron microscope
RU2018164C1 (en) Method of image generation in scanning optical microscope
SU535626A1 (en) Raster electron microscope
JPS6047358A (en) Electron ray device
KR830002861Y1 (en) Scanning apparatus for scanning electron microscopes and similar devices
SU565337A1 (en) Device for visualizing object in electron microscope
GB1210720A (en) X-ray television microscopes
SU983822A1 (en) Pulze corpuscular microscore
SU368676A1 (en) ALL-UNION
JPH0236208Y2 (en)
SU517080A1 (en) Raster electron microscope
SU504261A1 (en) Electron microscope
JPS60138252U (en) Sample image display device in particle beam equipment
GB1248201A (en) Electron microscopes
SU801136A1 (en) Electronic scanning microscope