SU518808A1 - Device for testing the quality of non-wire resistors - Google Patents
Device for testing the quality of non-wire resistorsInfo
- Publication number
- SU518808A1 SU518808A1 SU2085092A SU2085092A SU518808A1 SU 518808 A1 SU518808 A1 SU 518808A1 SU 2085092 A SU2085092 A SU 2085092A SU 2085092 A SU2085092 A SU 2085092A SU 518808 A1 SU518808 A1 SU 518808A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- amplifier
- quality
- input
- output
- testing
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
На чертеже приведена струйурна | лектрическа схема .устройства. „The drawing shows jet | Electrical device diagram. „
Устройство дл проверки качества непрово очных резисторов содержит источник 1 испытательного напр жени , мост 2,; измерительный усилитель 3,- регистри руюшее устройство -1, генератор 5 опорного напр жени ррле времени 6, элемент задержки 7, запоминающее устройство S, ключи 9 и 10.,A device for checking the quality of non-conductive resistors contains a source of test voltage 1, bridge 2 ,; measuring amplifier 3, registering a ruler device -1, generator 5 of the reference voltage, time 6, delay element 7, memory S, keys 9 and 10.,
Устройство работает следующим обраао .д.The device works as follows.
Перед началом испытаний на мост 2, в одно из плеч которого оключен испы . туемый резистор, поддаетс напр жение от . генератора 5 опорного напр жени и мост 2 балансируетс . Затем на испытуемый резистор на период времени i определ емый реле времени 6, подаетс высокое валр шеннё 1от источника 1 испытательlaoro вапр жени , в результате чего токопровод шнй слой резистора быстро нагреваетс Л в нем происход т процессы, 1фнвод ш1Ге к динамическим изменени м сопротивлени , которые, будучи преобразованными мостом 2 в электрнческкй сигнал, усиливаютс измерительным усилвтелем 3 и 4)нксируютс регьстрнруюшвм устройством 4. Before starting the tests on bridge 2, in one of the arms of which test is switched off. This resistor is energized from. generator 5 of the reference voltage and bridge 2 is balanced. Then, for the period of time i, the test resistor, defined by time relay 6, is supplied with a high vrrrneno 1 from the source 1 of the testor for wiring, as a result of which the current lead of the resistor layer quickly heats up, processes occur in it, and the dynamic changes of resistance being transformed by an bridge 2 into an electrical signal, they are amplified by the measuring amplifier 3 and 4) are knocked out by a recording device 4.
Гфн пуске устройства реле времени в одвовременно с подачей высокого напр жени на испытуемый резистор от источника 1 испытательного напр жени включает .элемент 7 задержки, который посредством ключа 10 подключает вкод за помвнаюшего устройства 8 к линейному выходу предварительно1Х каскада измерительного усилител 3 сигнал разба лавса моста 2, по вл юшийс э-за коаффиииевгга напр жени испытуемого резистора , запоминаетс .Gfn start-up of the time relay device, simultaneously with the application of high voltage to the test resistor from the test voltage source 1, includes a delay element 7, which, using the key 10, connects the code for the device 8 to the linear output of the 1X1 stage of the measuring amplifier 3 which appeared to be due to the co-voltage of the test resistor is memorized.
По истечении времени задержки вход запоминающэго устройства 3 отключаетс от шлейного выхода цредварительного каскада усилител 3, а выход запоминающего устройства через ключ 9 под- ключаетс к второму входу измерительного усилител 3.After the delay time has elapsed, the input of the storage device 3 is disconnected from the loop-out output of the preliminary stage of the amplifier 3, and the output of the storage device is connected via a switch 9 to the second input of the measuring amplifier 3.
Таким образом происходит компенсаци входного сигнала, обусловленного коэффициентом напр жши испытуемого резистора . В результате измерительный ; усилитель 3 привод с в линейный редким работы.Thus, the input signal is compensated due to the voltage coefficient of the test resistor. As a result, the measuring; 3 drive amplifier with linear rare work.
Автоматическа компенсаци обеспе чивает работу изм ительного усилител 3Automatic compensation ensures the operation of the measuring amplifier 3.
IB линейном режиме в течение всего цикла испытаний, что позвол ет проводить опер ативный анализ качества непроволочны ,ч| резисторов в полном объеме и повышает достоверность прогнозировани IB linear mode during the whole test cycle, which allows performing an operative analysis of the quality of nonwired, h | resistors in full and increases the reliability of the prediction
их надежности.their reliability.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2085092A SU518808A1 (en) | 1974-12-18 | 1974-12-18 | Device for testing the quality of non-wire resistors |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2085092A SU518808A1 (en) | 1974-12-18 | 1974-12-18 | Device for testing the quality of non-wire resistors |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU518808A1 true SU518808A1 (en) | 1976-06-25 |
Family
ID=20603825
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2085092A SU518808A1 (en) | 1974-12-18 | 1974-12-18 | Device for testing the quality of non-wire resistors |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU518808A1 (en) |
-
1974
- 1974-12-18 SU SU2085092A patent/SU518808A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TW382657B (en) | Memory tester | |
US3659199A (en) | Rectifier test method | |
SU518808A1 (en) | Device for testing the quality of non-wire resistors | |
US5502390A (en) | Adiabatic conductor analyzer method and system | |
JP2865559B2 (en) | Inspection method of transistor | |
JPH10509818A (en) | Thermal control device and method | |
SU1004000A1 (en) | Measuring device | |
US2953748A (en) | Transistor testing | |
GB1121324A (en) | An improved method of testing dynamic response | |
KR880013020A (en) | Measurement inspection device and method of washing machine | |
US4617604A (en) | Method for driving a relay | |
JPH05188123A (en) | Battery measuring apparatus | |
KR950007504Y1 (en) | Apparutus for testing the pin of a pcb | |
SU932464A1 (en) | Device for monitoring time parameters of relay | |
JP2983109B2 (en) | Resistance inspection device | |
JPH05149996A (en) | Measuring method for thermal resistance of semiconductor device | |
SU543993A1 (en) | Device for monitoring the reliability of wire resistors | |
KR940006602B1 (en) | Hybrid ic tester of cell nearing fuse | |
KR960032001A (en) | Coil resistance measuring circuit using resistance method | |
US3380071A (en) | Intermittently actuated magnetic recording apparatus | |
JPS6035314Y2 (en) | Horizontal output circuit hold-down voltage measuring device | |
SU1413557A1 (en) | Device for inspecting the quality of metal-coating of holes of printed-circuit boards | |
KR960009938B1 (en) | Electric property measurement apparatus of vacuum fluorescent display panel | |
SU532047A1 (en) | Ultrasonic device for detecting defects in the thickened and threaded part of the drill pipe | |
SU1056086A1 (en) | Device for checking electrical machine insulation resistance |