SU518808A1 - Device for testing the quality of non-wire resistors - Google Patents

Device for testing the quality of non-wire resistors

Info

Publication number
SU518808A1
SU518808A1 SU2085092A SU2085092A SU518808A1 SU 518808 A1 SU518808 A1 SU 518808A1 SU 2085092 A SU2085092 A SU 2085092A SU 2085092 A SU2085092 A SU 2085092A SU 518808 A1 SU518808 A1 SU 518808A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
amplifier
quality
input
output
testing
Prior art date
Application number
SU2085092A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Олег Тимофеевич Кильдеев
Василий Сергеевич Кондеев
Владимир Александрович Пономарев
Августа Николаевна Колесникова
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3219
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3219 filed Critical Предприятие П/Я А-3219
Priority to SU2085092A priority Critical patent/SU518808A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU518808A1 publication Critical patent/SU518808A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

На чертеже приведена струйурна  | лектрическа  схема .устройства. „The drawing shows jet | Electrical device diagram. „

Устройство дл  проверки качества непрово очных резисторов содержит источник 1 испытательного напр жени , мост 2,; измерительный усилитель 3,- регистри руюшее устройство -1, генератор 5 опорного напр жени  ррле времени 6, элемент задержки 7, запоминающее устройство S, ключи 9 и 10.,A device for checking the quality of non-conductive resistors contains a source of test voltage 1, bridge 2 ,; measuring amplifier 3, registering a ruler device -1, generator 5 of the reference voltage, time 6, delay element 7, memory S, keys 9 and 10.,

Устройство работает следующим обраао .д.The device works as follows.

Перед началом испытаний на мост 2, в одно из плеч которого оключен испы . туемый резистор, поддаетс  напр жение от . генератора 5 опорного напр жени  и мост 2 балансируетс  . Затем на испытуемый резистор на период времени i определ емый реле времени 6, подаетс  высокое валр шеннё 1от источника 1 испытательlaoro вапр жени , в результате чего токопровод шнй слой резистора быстро нагреваетс  Л в нем происход т процессы, 1фнвод ш1Ге к динамическим изменени м сопротивлени , которые, будучи преобразованными мостом 2 в электрнческкй сигнал, усиливаютс  измерительным усилвтелем 3 и 4)нксируютс  регьстрнруюшвм устройством 4. Before starting the tests on bridge 2, in one of the arms of which test is switched off. This resistor is energized from. generator 5 of the reference voltage and bridge 2 is balanced. Then, for the period of time i, the test resistor, defined by time relay 6, is supplied with a high vrrrneno 1 from the source 1 of the testor for wiring, as a result of which the current lead of the resistor layer quickly heats up, processes occur in it, and the dynamic changes of resistance being transformed by an bridge 2 into an electrical signal, they are amplified by the measuring amplifier 3 and 4) are knocked out by a recording device 4.

Гфн пуске устройства реле времени в одвовременно с подачей высокого напр жени  на испытуемый резистор от источника 1 испытательного напр жени  включает .элемент 7 задержки, который посредством ключа 10 подключает вкод за помвнаюшего устройства 8 к линейному выходу предварительно1Х каскада измерительного усилител  3   сигнал разба лавса моста 2, по вл юшийс   э-за коаффиииевгга напр жени  испытуемого резистора , запоминаетс .Gfn start-up of the time relay device, simultaneously with the application of high voltage to the test resistor from the test voltage source 1, includes a delay element 7, which, using the key 10, connects the code for the device 8 to the linear output of the 1X1 stage of the measuring amplifier 3 which appeared to be due to the co-voltage of the test resistor is memorized.

По истечении времени задержки вход запоминающэго устройства 3 отключаетс  от шлейного выхода цредварительного каскада усилител  3, а выход запоминающего устройства через ключ 9 под- ключаетс  к второму входу измерительного усилител  3.After the delay time has elapsed, the input of the storage device 3 is disconnected from the loop-out output of the preliminary stage of the amplifier 3, and the output of the storage device is connected via a switch 9 to the second input of the measuring amplifier 3.

Таким образом происходит компенсаци  входного сигнала, обусловленного коэффициентом напр жши  испытуемого резистора . В результате измерительный ; усилитель 3 привод с  в линейный редким работы.Thus, the input signal is compensated due to the voltage coefficient of the test resistor. As a result, the measuring; 3 drive amplifier with linear rare work.

Автоматическа  компенсаци  обеспе чивает работу изм ительного усилител  3Automatic compensation ensures the operation of the measuring amplifier 3.

IB линейном режиме в течение всего цикла испытаний, что позвол ет проводить опер ативный анализ качества непроволочны ,ч| резисторов в полном объеме и повышает достоверность прогнозировани IB linear mode during the whole test cycle, which allows performing an operative analysis of the quality of nonwired, h | resistors in full and increases the reliability of the prediction

их надежности.their reliability.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Устройство дл  проверки качества непроволочных рэзисторов, содержащее источник напр жени , соединенный с ним измерительный мост, усилитель, генератор опорного напр жени , подключенный к измерительному мосту, реле времзн  иA device for checking the quality of non-wire resistors, containing a voltage source, a measuring bridge connected to it, an amplifier, a reference voltage generator connected to the measuring bridge, a time relay and регистратор, отличающеес  recorder, different тем, что, с целью обеспечени  возможнее сти непрерывного контрол  и регк рацик всех изменений провер емого резистора в течение всего цикла испытаний онсthe fact that, in order to ensure the possibility of continuous control and regak of all changes of the tested resistor during the whole test cycle, снабжено включенным между входом и вы ходом усилител  через &иочл запоминаю щим блоком и элементом задержки вклю ченным между реле времени и ключами, соединенными с входом и вь1ходом усил тел .it is supplied with an amplifier between the input and output of an amplifier via a & a memory unit and a delay element included between the time relay and the keys connected to the input and output of the amplifier amplification.
SU2085092A 1974-12-18 1974-12-18 Device for testing the quality of non-wire resistors SU518808A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2085092A SU518808A1 (en) 1974-12-18 1974-12-18 Device for testing the quality of non-wire resistors

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2085092A SU518808A1 (en) 1974-12-18 1974-12-18 Device for testing the quality of non-wire resistors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU518808A1 true SU518808A1 (en) 1976-06-25

Family

ID=20603825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2085092A SU518808A1 (en) 1974-12-18 1974-12-18 Device for testing the quality of non-wire resistors

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU518808A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW382657B (en) Memory tester
US3659199A (en) Rectifier test method
SU518808A1 (en) Device for testing the quality of non-wire resistors
US5502390A (en) Adiabatic conductor analyzer method and system
JP2865559B2 (en) Inspection method of transistor
JPH10509818A (en) Thermal control device and method
SU1004000A1 (en) Measuring device
US2953748A (en) Transistor testing
GB1121324A (en) An improved method of testing dynamic response
KR880013020A (en) Measurement inspection device and method of washing machine
US4617604A (en) Method for driving a relay
JPH05188123A (en) Battery measuring apparatus
KR950007504Y1 (en) Apparutus for testing the pin of a pcb
SU932464A1 (en) Device for monitoring time parameters of relay
JP2983109B2 (en) Resistance inspection device
JPH05149996A (en) Measuring method for thermal resistance of semiconductor device
SU543993A1 (en) Device for monitoring the reliability of wire resistors
KR940006602B1 (en) Hybrid ic tester of cell nearing fuse
KR960032001A (en) Coil resistance measuring circuit using resistance method
US3380071A (en) Intermittently actuated magnetic recording apparatus
JPS6035314Y2 (en) Horizontal output circuit hold-down voltage measuring device
SU1413557A1 (en) Device for inspecting the quality of metal-coating of holes of printed-circuit boards
KR960009938B1 (en) Electric property measurement apparatus of vacuum fluorescent display panel
SU532047A1 (en) Ultrasonic device for detecting defects in the thickened and threaded part of the drill pipe
SU1056086A1 (en) Device for checking electrical machine insulation resistance