SU492797A1 - Electromagnetic flaw detector - Google Patents
Electromagnetic flaw detectorInfo
- Publication number
- SU492797A1 SU492797A1 SU2037786A SU2037786A SU492797A1 SU 492797 A1 SU492797 A1 SU 492797A1 SU 2037786 A SU2037786 A SU 2037786A SU 2037786 A SU2037786 A SU 2037786A SU 492797 A1 SU492797 A1 SU 492797A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- amplitude
- input
- flaw detector
- duration
- outputs
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
(54) Э/ШКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП(54) E / SHKTROMAGNITNY DEFEKTOSKOP
I Изобретение относитс к средствам элек тромагнитной структуроскопии изделий и может -быть использовано дл контрол и сортировки прот женных электропровод щих материалов. Известен электромагнитный дефектоскоп содержащий токовихревой преобразователь и св занный с ним входом анализатор сигналов по длительности и амплитуде. Однако производительность контрольносортировочных операций при применении известного дефектоскопа недостаточна . Се лектор сигналов по длительности и амплитуде в известном дефектоскопе выполнен в виде последовательно св занных триггеров и генератора счетных импульсов. Целью изобретени вл етс повышение производительности контрольно-сортировоч ных операций при дефектоскопии движущих с изделий. Дл этого анализаторсигналов по длительности и амплитуде выполнен в виде ре щающего блока, св занных с ним выхода- I ми амплитудного дискриминатора и блока сравнени , один вход которого соединен с входом амплитудного дискриминатора, нодключенных к другому входу задатчика временных интервалов и преобразовател скорости движени издели в электрический сигнал и счетчиков дефектов, соединенных с выходами решающего блока. На чертеже приведена структурна электрическа схема дефектоскопа. Электромагнитный дефектоскоп содержит генератор 1, соединенный с ним токовихревой преобразователь 2, с которым св зан через детектор 3 анализатор сигналов по длительности и амплитуде, состо щий из амплитудного дискриминатора 4, св занного входом с одним из входов блока сравнени 5, с вторым входом которого соединен задатчик 6 временных интервалов, рещающего блока 7, св занного входами с амплитудным дискриминатором 4 и блоком сравнени 5, а выходами - со счетчиками 8, 9, 10 дефектов, преобразовател 11 скорости движени издели в электрический сигнал, соединенного выходом с задатчиком 6 временных интервалов. j Дефектоскоп работает следующим обра-1I The invention relates to the means of electro-magnetic structuroscopy of products and can be used to control and sort out conductive materials. A known electromagnetic flaw detector containing a vortex-current converter and a signal analyzer for its duration and amplitude associated with it is an input. However, the performance of control sorting operations when applying a known flaw detector is insufficient. The selector of signals, in terms of duration and amplitude, in a known flaw detector is made in the form of successively connected triggers and a generator of counting pulses. The aim of the invention is to improve the performance of control and sorting operations during the inspection of moving products. For this, the analyzers in duration and amplitude are made in the form of a trailing unit, connected to it by the I amplitude discriminator and the comparator unit, one input of which is connected to the amplitude discriminator input, connected to another time master input and electrical signal and defect counters connected to the outputs of the decision block. The drawing shows a structural electrical diagram of the flaw detector. The electromagnetic flaw detector contains a generator 1, connected to it by an eddy current converter 2, which is connected via detector 3 to a signal analyzer in duration and amplitude, consisting of amplitude discriminator 4 connected to one of the inputs of the comparison unit 5, which is connected to the second input setting unit 6 time intervals, decisive unit 7, connected by inputs with amplitude discriminator 4 and comparison unit 5, and outputs with counters 8, 9, 10 defects, converter 11 for moving the product into electric the signal connected to the output of the unit timers 6 time intervals. j The flaw detector works as follows: ob-1
I Генератор 1 возбуждает преобразоватепь 2, выходной сигнал последнего nocTjпает на детектор 3, На-выходе детектора 3 выдел етс огибаю1да и подаетс на дискриминатор 4 и блок 5 сравнени . На другой вход блока S подаютс импульсы от задатчика 6 временных И11тервалов. В зависимости от длительности сигнала, поступающего с детектора 3, по вл етс сигнал на одном из выходов блока 5. На входы решающего блока 7 поступают сигналы с дискриминатора 4 и блока 5. Блок 7 посылает импульсы тока в один из счет чиков 8, 9, 1О в зависимости от глубиныI The generator 1 excites the converter 2, the output signal of the latter nocTj is passed to the detector 3, On the output of the detector 3 it is selected around the detector and fed to the discriminator 4 and the comparison unit 5. To the other input of the block S, pulses are sent from the setter of 6 time and 11 intervals. Depending on the duration of the signal coming from detector 3, a signal appears at one of the outputs of block 5. Signals from discriminator 4 and block 5 are sent to the inputs of decision block 7. Block 7 sends current pulses to one of counters 8, 9, 1O depending on the depth
дефекта.defect.
Блок 7 представл ет собой дешифратор, который выдает сигналы, эквивалентные зависимост м параметров сигнала преобразовател 2 от прот женности и глубины дефектов. Задатчик 6 временных интервалов управл етс преобразователем 11.Block 7 is a decoder that outputs signals equivalent to the dependencies of the signal parameters of converter 2 on the length and depth of defects. The setting device 6 time intervals is controlled by the Converter 11.
Таким образом распознавание дефектов по глубине ведетс с учетом их длины иThus, the recognition of defects in depth is based on their length and
{независимо от скорости перемещени издели .{regardless of the speed of movement of the product.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2037786A SU492797A1 (en) | 1974-06-14 | 1974-06-14 | Electromagnetic flaw detector |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2037786A SU492797A1 (en) | 1974-06-14 | 1974-06-14 | Electromagnetic flaw detector |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU492797A1 true SU492797A1 (en) | 1975-11-25 |
Family
ID=20588966
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2037786A SU492797A1 (en) | 1974-06-14 | 1974-06-14 | Electromagnetic flaw detector |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU492797A1 (en) |
-
1974
- 1974-06-14 SU SU2037786A patent/SU492797A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU492797A1 (en) | Electromagnetic flaw detector | |
US3774041A (en) | Automatic inspector of the surface of running object | |
SU953557A1 (en) | Ultrasonic flaw detector | |
US4210504A (en) | Method for measuring the electrophoretic mobility of particles | |
SU586379A1 (en) | Eddy-current flaw detector | |
US3256477A (en) | Devices for measuring weak magnetic fields, in particular the earth magnetic field, by nuclear induction | |
JPS55112544A (en) | Sample break detection unit in test machine | |
SU386331A1 (en) | ELECTROMAGNETIC DEFECTOSCOPE | |
SU614814A1 (en) | Lump material sorting apparatus | |
SU1193569A1 (en) | Multielement electromagnetic flaw detector for inspection of short articles | |
SU1499222A1 (en) | Ultrasonic flaw detector | |
SU1364969A1 (en) | Device for checking lengthy articles | |
SU637654A1 (en) | Electromagnetic flat detector | |
SU1138733A1 (en) | Acoustic-emission device for article and material quality control | |
SU1302180A1 (en) | Device for electromagnetic checking of moving ferromagnetic parts | |
SU1642364A1 (en) | Eddy current method for nondestructive testing products and device for realizing thereof | |
SU1368771A1 (en) | Device for ultrasonic checking of articles | |
SU1000895A1 (en) | Device for checking ferromagnetic article physical mechanical parameters | |
SU739397A1 (en) | Device for ultrasonic flaw detection of products | |
SU612191A1 (en) | Arrangement determining logic unit functioning | |
SU838554A1 (en) | Digital indicator unit to flaw detector | |
SU450338A1 (en) | Two-threshold frequency comparator | |
Decker et al. | Nondestructive testing using an electric-field probe | |
SU1464067A1 (en) | Eddy-current device for nondestructive inspection | |
SU1348729A1 (en) | Flaw detector terminal |