SU482617A1 - Device for measuring surface irregularities - Google Patents

Device for measuring surface irregularities

Info

Publication number
SU482617A1
SU482617A1 SU1786482A SU1786482A SU482617A1 SU 482617 A1 SU482617 A1 SU 482617A1 SU 1786482 A SU1786482 A SU 1786482A SU 1786482 A SU1786482 A SU 1786482A SU 482617 A1 SU482617 A1 SU 482617A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
signal
carrier frequency
sensor
polarity
amplitudes
Prior art date
Application number
SU1786482A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Михаил Абрамович Бельфор
Юрий Петрович Кузьмин
Original Assignee
Ленинградский Институт Точной Механики И Оптики
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ленинградский Институт Точной Механики И Оптики filed Critical Ленинградский Институт Точной Механики И Оптики
Priority to SU1786482A priority Critical patent/SU482617A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU482617A1 publication Critical patent/SU482617A1/en

Links

Description

1one

Изобретение относитс  к области линейных измерений и может быть использовано дл  измерени  неровностей профил  поверхностей.The invention relates to the field of linear measurements and can be used to measure the irregularities of the surface profile.

Известно устройство дл  измерени  неровностей лрофил  поверхности, содержащее датчик , пр молинейно перемещающийс  относительно провер емой поверхности, генератор несущей частоты, питающий датчик, и последовательно соединенные усилитель несущей частоты измерительного сигнала, детектор и блок регистрации.A device for measuring irregularities of the surface of a surface, comprising a sensor that is linearly moving relative to the surface to be tested, a carrier frequency generator, a feed sensor, and a measuring carrier signal connected in series, a detector, and a recording unit are known.

Однако это устройство не обеспечивает достаточной точности измерени  неровностей профил  поверхностей при различных значени х отсечки шага.However, this device does not provide sufficient accuracy in measuring surface irregularities at different pitch cutoffs.

Целью изобретени   вл етс  увеличение точности измерени .The aim of the invention is to increase the measurement accuracy.

Это достигаетс  тем, что устройство дополнительно снабжено блоком ограничени  несущей частоты сигнала датчика базовым сигналом , выделенным из сигнала датчика.This is achieved in that the device is additionally equipped with a block for limiting the carrier frequency of the sensor signal with a basic signal separated from the sensor signal.

Блок ограничени  несущей частоты сигнала датчика содержит последовательно соединенные узел усилени  и приведени  амплитуд одной пол рности сигнала датчика к нулевому уровню, вспомогательный детектор, фильтры нижних частот и ограничитель несущей частоты сигнала, амплитуды одной пол рности которого .приведены к нулевому уровню, второй вход которого соединен с выходом узлаThe sensor signal carrier limiting unit contains, in series, a node for amplifying and amplifying one polarity of the sensor signal to zero, an auxiliary detector, low-pass filters and a carrier frequency limiter for the signal whose amplitudes of one polarity are zero, the second input of which is connected with the exit node

усилени  и приведени  амплитуд одной пол рности сигнала датчика к нулевому уровню, а выход - с входом усилител  несущей частоты измерительного сигнала.amplifying and bringing the amplitudes of one polarity of the sensor signal to zero, and the output - with the input of the amplifier of the carrier frequency of the measuring signal.

Изобретение по сн етс  схемой, включающей в себ  генератор 1 несущей частоты, питающий датчик 2, последовательно соединенные узел 3 усилени  и приведени  амплитудThe invention is illustrated by a circuit including a carrier frequency generator 1, a feed sensor 2, connected in series to an amplification and amplitude coupling unit 3.

одной пол рности сигнала датчика к пулевому уровню, вспомогательный детектор 4, фильтры 5 нижних частот, ограничитель 6 несущей частоты сигнала, второй вход которого соединен с выходом узла 3 усилени  и ириведени  амплитуд одной пол рности к нулевому уровню, усилитель 7 несущей частоты измерительного сигнала, детектор 8 и блок 9 реглстрации . Переменное напр жение с выхода геператора 1 подаетс  на датчик 2, пр люлипейно перемещающийс  относительно провер емой поверхности , и преобразовываетс  в амплитудно-модулированный сигнал. Выходной сигнал датчика 2 усиливаетс  в предварительиом уз,ле 3, где его амплитуды одной пол рности привод тс  к нулевому уровню. Выходной сигнал узла усилени  подаетс  через вспомогательный детектор 4 и фильтры 5 нижних частот непосредственно па входы ограничител one polarity of the sensor signal to a bullet level, an auxiliary detector 4, low-pass filters 5, a carrier frequency limiter 6, the second input of which is connected to the output of the node 3 amplifying and amplifying one polarity to zero, the amplifier 7 of the measuring signal carrier detector 8 and block 9 reglstratsii. The alternating voltage from the output of the heater 1 is applied to the sensor 2, which is moving along the lilipeane relative to the surface being tested, and is converted into an amplitude-modulated signal. The output signal of the sensor 2 is amplified in a preliminary knot, le 3, where its amplitudes of one polarity are reduced to zero. The output of the gain node is fed through an auxiliary detector 4 and low-pass filters 5 directly on the inputs of the limiter.

6 его несущей частоты.6 of its carrier frequency.

Во вспомогательном детекторе 4 из выходного снгнала узла усилени  выдел етс  сигнал , соответствующий его огибающей. В фильтрах нижних частот подавл ютс  верхние частоты fToro сигнала, превышающие частоты дл  заданной базовой длины измер емой поверхности.In the auxiliary detector 4, a signal corresponding to its envelope is extracted from the output node of the gain node. In low-pass filters, the high frequencies of the fToro signal are suppressed in excess of the frequencies for a given base length of the measured surface.

Выходным базовым сигналом с выхода фильтров нижних частот, соответствующим огибающей неровностей профил  измер емой поверхности, ограничиваетс  по амплитуде входной сигнал узла 3 усилени  и .приведени  амплитуд одной пол рности к нулевому уровню в ограничителе 6 его несущей частоты. При этом уровень ограничени  не пересекает сигналы, соответствующие неровност м профил  измер емой поверхности.The output base signal from the output of the low-pass filters corresponding to the envelope of the irregularities of the profile of the surface being measured is limited in amplitude by the input signal of the node 3 of the amplification and bringing the amplitudes of one polarity to zero level in the limiter 6 of its carrier frequency. At the same time, the level of restriction does not intersect the signals corresponding to the unevenness of the profile of the measured surface.

В результате получают при любом значении отсечки шага только полезный сигнал, модулирующий ограниченные импульсы несущей частоты.As a result, at any step cutoff value, only the useful signal modulating the limited carrier frequency pulses is obtained.

Выходной сигнал ограничител  6 несущей частоты усиливаетс  в усилителе 7 и детектируетс  в детекторе 8.The output of carrier limiter 6 is amplified in amplifier 7 and detected in detector 8.

Выходной сигнал детектора 8, соответствующий неровност м профил  измер емой поверхности , регистрируетс  в блоке 9 регистрации .The output signal of the detector 8, corresponding to the irregularities of the profile of the measured surface, is recorded in block 9 of the registration.

Предмет изобретени Subject invention

Claims (2)

1. Устройство дл  измерени  неровностей профил  поверхностей, содержащее датчик, пр молинейно перемещающийс  относительно провер емой поверхности, генератор несущей частоты, питающий датчик, и последовательно соединенные усилитель несущей частоты измерительного сигнала, детектор и блок регистрации , отличающеес  тем, что, с целью увеличени  точности измерени , оно снабжено блоком ограничени  несущей частоты сигнала датчика базовым сигналом, выделенным из сигнала датчика.1. A device for measuring irregularities of a surface profile containing a sensor linearly moving relative to the surface to be tested, a carrier frequency generator, a feed sensor, and a measuring carrier signal connected in series, a detector and a recording unit, characterized in that, in order to increase the accuracy measurement, it is provided with a block for limiting the carrier frequency of the sensor signal with a base signal extracted from the sensor signal. 2. Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что блок ограничени  несущей частоты сигнала датчика базовым сигналом содержит последовательно соединенные узел усилени  и приведени  амплитуд одной пол рности сигнала датчика к нулевому уровню, вспомогательный детектор, фильтры нижних частот и ограничитель несущей частоты сигнала, амплитуды одной пол рности которого приведены к нулевому уровню, второй вход которого2. The device according to claim 1, characterized in that the block for limiting the carrier frequency of the sensor signal to the base signal comprises a series-connected amplification node and bringing the amplitudes of one polarity of the sensor signal to zero, an auxiliary detector, low-pass filters and a signal carrier frequency limiter, amplitudes one polarity of which is reduced to zero level, the second input of which соединен с выходом узла усилени  и приведени  амплитуд одной пол рности сигнала датчика к нулевому уровню, а выход - с входом усилител  несущей частоты измеритр --ого сигнала.connected to the output of the gain node and bringing the amplitudes of one polarity of the sensor signal to zero, and the output to the input of the amplifier of the carrier frequency of the measuring signal.
SU1786482A 1972-05-19 1972-05-19 Device for measuring surface irregularities SU482617A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1786482A SU482617A1 (en) 1972-05-19 1972-05-19 Device for measuring surface irregularities

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1786482A SU482617A1 (en) 1972-05-19 1972-05-19 Device for measuring surface irregularities

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU482617A1 true SU482617A1 (en) 1975-08-30

Family

ID=20514753

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1786482A SU482617A1 (en) 1972-05-19 1972-05-19 Device for measuring surface irregularities

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU482617A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU657769A3 (en) Device for determining coefficient of wave mean length
SU482617A1 (en) Device for measuring surface irregularities
US3316404A (en) Infrared detecting system having a memory circuit utilizing a differential amplifier
SU456976A1 (en) Method for measuring surface profile irregularities
US2942188A (en) Discriminator circuit
SU464854A1 (en) Device for measuring the gain and frequency response of operational amplifiers
SU456235A1 (en) Device for measuring the amplitude modulation factor
SU1422165A1 (en) Apparatus for measuring the spread of variation of oscillation amplitude
SU246081A1 (en)
SU362263A1 (en) ALL-UNION '
SU552569A1 (en) Phase fluctuation measuring device
SU423173A1 (en) DEVICE FOR MEASURING THE FUNCTION OF THE DISTRIBUTION OF THE DENSITY OF PROBABILITY OF PARASITIC AMPLITUDE MODULATION FUND
SU432595A1 (en) DEVICE FOR MEASURING NONLINEAR DISTORTIONS IN THE MAGNETIC RECORDING EQUIPMENT_V P T B •); 1J..x. ^, 5 "--- .. ii4 uJ.". ILl iui
SU416572A1 (en)
SU1425431A1 (en) Eddy-current thickness gauge
SU363931A1 (en) PANORAMIC MEASURING GROUP TIME LATE
SU436986A1 (en) Device for automatically measuring the intensity of the light field
SU461386A1 (en) Method for measuring small changes in phase shift
SU136828A1 (en) The method of measuring the difference in fluxes of ionizing radiation
SU1490614A1 (en) Probe-type magnetic field flaw detector
SU124554A1 (en) Method for stabilizing the sensitivity of a photocell amplifier scintillation counter system
SU479068A1 (en) Device for measuring the amplitude of pulsed oscillations of the surface of electroacoustic emitters
SU1221501A1 (en) Arrangement for determining ultrasound velocity
SU505951A1 (en) Method for automatic measurement of fluid parameters
SU487020A1 (en) Ultrasonic pulse echo thickness gauge