SU470736A1 - Способ устранени воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала - Google Patents
Способ устранени воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материалаInfo
- Publication number
- SU470736A1 SU470736A1 SU1929216A SU1929216A SU470736A1 SU 470736 A1 SU470736 A1 SU 470736A1 SU 1929216 A SU1929216 A SU 1929216A SU 1929216 A SU1929216 A SU 1929216A SU 470736 A1 SU470736 A1 SU 470736A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- irradiance
- extraneous
- eliminate
- effects
- lighting control
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
2. Выходной сигнал полосового фильтра 8 подают на вход измерительной схемы 9, котора содержит усилитель и узлы дл проведени математической обработки сигналов.
На поверхность измер емого материала 4 падает также излучение посторонних источников 10, которое имеет посто нную и переменную составл ющие амплитуды по времени.
Таким образом, суммарна облученность поверхности материала состоит на переменной составл ющей модулированного луча 3 посто пной и неремепной составл ющих посторопннх источников 10. При данной мощности источника 1 ia поверхности материала достигаетс наибольшее отношение амплитуд облученности от модулированного луча 3 и от посторонних источников 10, так как неселективный модул тор 2 только прерывает лучистый поток, не уменьшает его силы прн пропускании. Через селективный модул тор 6 проходит излучение отраженного луча 5 только с теми длинами волн, которые нронускаютс его селективными элементами. Таким образом, на приемник излучени 7 воздействует только та часть (или полоса) излучени носторонних источников 10, котора пропускаетс селективными элементами модул тора 6, чем достигаетс наименьшее воздействие ностороннего излучени . Это вл етс эффективным при высоком уровне облученности поверхности м.атериала посторонними источниками, так как мощность излучени увеличиваетс с расширением его спектра и может перевести (или переместить) рабочую точку приемника излучени на нелинейный участок ее энергетической характеристики.
Выходной сигнал приемника излучени 7 содержит переменную составл ющую модулированного луча 3 и посто нную и переменную составл ющие посторонних источников 10. Полосовой фильтр 8, настроенный на частоту первичного модул тора 2, пропускает только неременную составл ющую луча 3. Этнм устран етс воздействие на измерительную схему 9 тех сигналов от носторонних источникои. чл стота которых находитс вне нолосы нронуск ни фильтра 8. Воздействие щумового сигнала
самого приемника 7 ограничиваетс также полосой пропускани фильтра 8. Ширину полосы пропускани этого фильтра следует подобрать наиболее узкой, но это ограничивает частоту вторичной модул ции.
На поверхность измер емого материала подают неселективно модулированный луч 3 который обычно содержит также спектр видимого света, чем достигаетс обнаруживаемость измер емого участка материала невооруженным глазом. Это упрощает настройку н экснлуатанию прибора.
В качестве неселективного модул тора может быть использован вращающийс металлический диск с отверсти ми, с частотой модул ции , например, 300 Гц, а в качестве селективного модул тора - вращающийс металлический диск с интерференционными фильтрамн длины волн 1,7 и 1,9 мкм, полосой пропускани ±0,1 мкм и частотой модул ц)1н 20 Гц. Б качестве приемника излуче 1и может быть использован фоторезистор, напр жение с которого подаетс на вход полосового фильтра, усилител , настроенного на частоту 300 Гц с полосой пропускани ±40 Гц. Выходной сигнал фильтра разделить при данных параметрах селективного фильтра следует ключами на два канала соответственно длинами волн и выпр мить . Разделительными ключами можно управл ть при помощи синхросигнала с диска селективного модул тора.
Предмет изобретени
Способ устранени воздействий посторопней облученности при светотехническом контроле новерхности материала, заключающийс в облучении контролируемой поверхности модулированным измерительным лучом, отличающийс тем, что, с целью повышени точности и стабильности измерений, измерительный первично модулируют неселективно н подают на поверхность материала, а отраженный луч через селективный модул тор подают на нриемник излучени , выходной снгиал которого фильтруют нолосовым с л1льтрс)м, настроенным на частоту первичной неселе1ггнвлой модул ции.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1929216A SU470736A1 (ru) | 1973-06-12 | 1973-06-12 | Способ устранени воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1929216A SU470736A1 (ru) | 1973-06-12 | 1973-06-12 | Способ устранени воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU470736A1 true SU470736A1 (ru) | 1975-05-15 |
Family
ID=20555774
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1929216A SU470736A1 (ru) | 1973-06-12 | 1973-06-12 | Способ устранени воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU470736A1 (ru) |
-
1973
- 1973-06-12 SU SU1929216A patent/SU470736A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3687204D1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum feststellen einer verschiebung. | |
EP0263931A3 (en) | Method and device for measuring continuously the concentration of a gas component | |
SU470736A1 (ru) | Способ устранени воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала | |
GB1279762A (en) | Optical measuring instrument | |
US3641350A (en) | Infrared analyzer for indicating the scintillation spectrum, shimmer and modulation transfer function of the radiation path | |
SU1179174A1 (ru) | Измеритель параметров пламени | |
GB1516750A (en) | Systems for determining the image forming quality of optical devices | |
JPS5595384A (en) | Semiconductor laser device | |
JPS5811561B2 (ja) | イロシキベツソウチ | |
GB902732A (en) | Improvements in or relating to absorptiometers | |
RU2647U1 (ru) | Виброметр | |
JPH0664121B2 (ja) | 受光素子の特性測定装置 | |
SU560317A1 (ru) | Устройство дл автоматической регулировки мощности сигнала | |
RU2120617C1 (ru) | Оптический влагомер | |
SU696621A1 (ru) | Автокоррел ционный измеритель тактовой частоты псевдослучаных сигналов | |
SU798640A1 (ru) | Устройство дл измерени сигналаи шуМА фОТОпРиЕМНиКА | |
SU1179115A1 (ru) | Способ измерени отношени потоков электромагнитного излучени | |
SU400876A1 (ru) | В п т б | |
SU809952A1 (ru) | Способ измерени диэлектрических характеристик веществ и устройство дл его осуществлени | |
SU708523A1 (ru) | Устройство дл автоматического измерени относительного уровн мощности паразитного излучени радиопередатчика | |
SU723783A2 (ru) | Устройство дл измерени искажений типа "преобладание" синхронных телеграфных сигналов | |
SU1352387A1 (ru) | Способ определени мощности сигналов | |
SU447576A1 (ru) | Способ измерени светового потока | |
SU1026076A1 (ru) | Устройство дл определени коэффициентов гармоник огибающей амплитудно-модулированных сигналов,вносимых модул торами | |
SU976293A1 (ru) | Устройство дл контрол профил объекта |