SU465676A1 - Способ измерени контраста и ширины линии,сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкой - Google Patents
Способ измерени контраста и ширины линии,сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкойInfo
- Publication number
- SU465676A1 SU465676A1 SU1763878A SU1763878A SU465676A1 SU 465676 A1 SU465676 A1 SU 465676A1 SU 1763878 A SU1763878 A SU 1763878A SU 1763878 A SU1763878 A SU 1763878A SU 465676 A1 SU465676 A1 SU 465676A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- line
- screen
- width
- ray tube
- cathode ray
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
ЭЛТ 3 с экраном из катодолюминофора с коротким послесвечением. Электронный луч на экране такой трубки также развертываетс в линию, интенсивность свечени которой распредел етс по закону Гаусса, причем линии разверток ЭЛТ, используемой дл зондировани , и испытуемой ЭЛТ с записью темной сТ|рокой должны быть взаимйо перпендикул рны . Катодолюминофор выбираетс из услови соответстви максимума его спектральной характеристики излучени максимуму спектральной характеристики поглощени закрашенного экрана ЭЛТ с записью темной строкой.
В качестве светособирающего устройства используетс шар Ульбрихта 4. Отраженный от экрана ЭЛТ с записью темной строкой световой поток после многократных отражений от внутренней поверхности и шара Ульбрихта попадает на поверхность фотокатода ФЭУ 5, который может располагатьс в любом удобном месте шара. Сигнал, снимаемый с выхода ФЭУ, подаетс на осциллограф.
Контраст сфокусировавной на экране ЭЛТ с записью темной строкой линии определ етс как отношение разности амплитуд электрического сигнала, полученного на экране осциллографа , от незакрашенного ,и закрашенного участков ЭЛТ с записью темной строкой к
амплитуде электрического сигнала, полученного от незакрашенного участка экрана. Ширина сфокусированной линии определ етс по ширине электрического импульса на эКране осциллографа на его полувысоте.
Данный способ измерени контраста и ширины сфокусированной линии на экране ЭЛТ с записью темной строкой может найти применение при производстве таких ЭЛТ и определении их параметров.
Предмет изобретени
Способ измерени контраста и ширины лиНИИ , сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкой и поперечным сканированием записанной строки, регистрацией сигнала с помошью фотоприемника и анализом выходного сигнала фотоприемника, отличающийс тем, что, с целью повышени точности и оперативности измерений, изображение строки сканируют пучком света, диаметр которого составл ет не более 1/3 от ширины зондируемой линии, при распределении интенсивности излучени в сечении светового пучка по закону Гаусса, и регистрируют полный световой поток , отраженный от экрана электроннолучевой трубки.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1763878A SU465676A1 (ru) | 1972-03-27 | 1972-03-27 | Способ измерени контраста и ширины линии,сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкой |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1763878A SU465676A1 (ru) | 1972-03-27 | 1972-03-27 | Способ измерени контраста и ширины линии,сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкой |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU465676A1 true SU465676A1 (ru) | 1975-03-30 |
Family
ID=20507915
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1763878A SU465676A1 (ru) | 1972-03-27 | 1972-03-27 | Способ измерени контраста и ширины линии,сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкой |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU465676A1 (ru) |
-
1972
- 1972-03-27 SU SU1763878A patent/SU465676A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5666393A (en) | Method and apparatus for reducing afterglow noise in an X-ray inspection system | |
Bachrach | A photon counting apparatus for kinetic and spectral measurements | |
US20180356502A1 (en) | Distance measuring device with spad array and range walk compensenation | |
US4704522A (en) | Two dimensional weak emitted light measuring device | |
US4355232A (en) | Apparatus for measuring specimen potential in electron microscope | |
GB1072551A (en) | Improvements in or relating to the manufacture of flat material | |
GB1145713A (en) | Method and apparatus for counting standardization in scintillation spectrometry | |
SU465676A1 (ru) | Способ измерени контраста и ширины линии,сфокусированной на экране электроннолучевой трубки с записью информации темной строкой | |
US3800143A (en) | Agc for radiation counter | |
JPH0670612B2 (ja) | ストリークカメラ装置 | |
Gruner et al. | Characterization of polycrystalline phosphors for area x-ray detectors | |
JPH04145391A (ja) | 距離測定装置 | |
Elorrieta et al. | Homogeneity of the photocathode in the Hamamatsu R15458-02 Photomultiplier Tube | |
GB1454013A (en) | Method and apparatus for testing luminescent materials | |
US4074135A (en) | Gamma camera in which only the three largest signals are used for position determination | |
US4464568A (en) | Apparatus for detection and analysis of uranium ores | |
JP2671952B2 (ja) | 放射線検出器の非一様性の検査方法 | |
GB2224832A (en) | Measuring light waveform eg fluorescence curve | |
Impiombato et al. | Use of the Peak-Detector mode for gain calibration of SiPM sensors with ASIC CITIROC read-out | |
JP2828256B2 (ja) | 過渡発光現象測定装置 | |
US4724536A (en) | Instrument to measure fluorescence which has occurred in a sample stimulated by X rays | |
US4077723A (en) | Method of measuring thickness | |
Concannon et al. | Characterization of signal-induced artifacts in photomultiplier tubes for underwater lidar applications | |
US2858452A (en) | Radiation wave detector | |
US3541327A (en) | Apparatus for measuring the intensity of visible lines representing the output data of an ion spectrometer |