SU444133A1

SU444133A1 - Device for measuring the quality factor of external resonators of electron-beam devices

Info

Publication number: SU444133A1
Application number: SU1828554A
Authority: SU
Inventors: Олег Иванович Карнаух; Яков Иосифович Местечкин; Дмитрий Михайлович Петров
Original assignee: Предприятие П/Я А-1067
Priority date: 1972-08-17
Filing date: 1972-08-17
Publication date: 1974-09-25

Description

Изобретение относитс к радио технике. Известно устройство дл измерени добротности нагруженных резонаторов электроннолучевых приборов , соото щее из электроннолучевог прибора, источника питани и идди катора . Однако известное устройство не обеспечивает измерение добротности резонаторов в присутствии электронного потока. Целью изобретени вл етс обеспечение измерени добротности нагруженных резонаторов в приоутст ршэлектронного потока. Дл этого вход ицдикатора электрически св зан с полостью резонатора электроннолучевого прибора . На чертеже приведена схема устройства, Устройство дл измерени i добротности нагруженных резонато . ров электроннолучевых приборов содержит электроннолучевой прибор I, источники питани 2, 3 и ивдикато р 4. Дробовые шумы электронного пучка 5 распределены равномерно во всем .диапазоне частот. Поэтому в резонаторе, пронизываемом электронным пучком, возбуждаютс наведенные токи на частотах, вход щих в полосу резонатора. Вблизи резонансной частоты на уровне половинной мощности (по отношению к максимальному сигналу в центре полосы частот резонатора) индикатором мощости фиксируетс , частот возбуждени резонатора дробовым током пучка. ПРЩЖГ ИЗОБРЕТЕНИЯ Устройство дл измерени добротности нагрже.нных резонаторов электроннолзгчевых приборов, состо щее из электроннолучевого Прибора,FIELD: radio engineering. A device is known for measuring the quality factor of loaded resonators of electron-beam devices, consisting of an electron-beam device, a power source, and an iddator. However, the known device does not measure the quality of the resonators in the presence of an electron beam. The aim of the invention is to provide a measurement of the quality factor of loaded resonators at the outgoing electron flow. For this, the input of the identifier is electrically connected to the cavity of the electron-beam device. The drawing shows a diagram of the device, a device for measuring i the Q-factor of a loaded resonato. The trench of the electron-beam devices contains the electron-beam device I, the power sources 2, 3, and idicato p 4. The fractional noise of the electron beam 5 is distributed evenly throughout the entire frequency range. Therefore, induced currents are excited in the resonator penetrated by the electron beam at frequencies entering the resonator band. Near the resonant frequency at the half power level (relative to the maximum signal in the center of the resonator frequency band) the power indicator is fixed, the excitation frequency of the resonator by shot beam current. PRINCIPLE OF THE INVENTION A device for measuring the quality factor of a heated resonator of an electron-beam device, consisting of an electron-beam device,

источника питани , идцикатора, отличающеес тела, что, с целью о 5еопечешш измеренил добротности нагруженных резонаторов в присутствииpower source, an idlicator, distinguished by the body, which, with the aim of a semi-compact, measured the quality factor of loaded resonators in the presence of

электронного потока, вход иддика- тора электрически св зан с полостью резонатора электроннолучевого прибора .the electron flux, the input of the identifier is electrically connected with the cavity of the electron-beam device.