SU410483A1
(https= )
1974-01-05
GB963214A
(en )
1964-07-08
Improved apparatus for and method of determining the values of electrical parameters of a semi-conductor crystal
Haether
1956
The electron avalanche and its development
Magee et al.
1973
Spark gap effects on sensitivity in spark source mass spectrometry
JP3597054B2
(ja )
2004-12-02
飛行時間型質量分析計
US2406492A
(en )
1946-08-27
Device for measuring low direct voltages
US3812354A
(en )
1974-05-21
Thermoluminescent detector for mass spectrometer
Smith
1967
Channel multiplier life tests in ultra-high vacuum
SU368670A1
(ru )
1973-01-26
Способ оценки эмиссионной активности катода в прямонакальных электронных лампах
SU680453A1
(ru )
1981-12-23
Способ измерени ионизационных потерь энергии зар женных частиц в искровой камере
SU106625A1
(ru )
1956-11-30
Способ измерени крутизны анодно-сеточной характеристики электронной лампы
JP3040242B2
(ja )
2000-05-15
電子増倍管の感度校正曲線の作成方法
SU656133A1
(ru )
1979-04-05
Способ определени электрических параметров полупроводников
SU24034A1
(ru )
1931-11-30
Устройство дл измерени высоких напр жений
JPS61170652A
(ja )
1986-08-01
質量分析法
SU1005213A1
(ru )
1983-03-15
Способ контрол термоэмиссионного состо ни поверхности твердого тела
SU577848A1
(ru )
1984-01-15
Способ определени параметров пучка зар женных частиц
RU2136012C1
(ru )
1999-08-27
Способ определения сопротивления люминофора вакуумного индикатора
SU125311A1
(ru )
1959-11-30
Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп
SU1177779A1
(ru )
1985-09-07
Способ определени качества неэлектропроводных покрытий на электропроводной основе
Thanh
1979
Characteristics of a corona system under negative direct and pulsed voltage
SU1660068A1
(ru )
1991-06-30
Способ неразрушающего контроля качества электродов дуговых газоразрядных ламп
SU535527A1
(ru )
1976-11-15
Способ градуировки измерительной схемы
SU800916A1
(ru )
1981-01-30
Устройство дл измерени напр женностиМАгНиТНОгО пОл
SU1348757A1
(ru )
1987-10-30
Способ контрол распределени тока в параллельно включенных искровых разр дниках