SU125311A1 - Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп - Google Patents

Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп

Info

Publication number
SU125311A1
SU125311A1 SU598684A SU598684A SU125311A1 SU 125311 A1 SU125311 A1 SU 125311A1 SU 598684 A SU598684 A SU 598684A SU 598684 A SU598684 A SU 598684A SU 125311 A1 SU125311 A1 SU 125311A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
current
control grid
analyzing
reverse current
grid
Prior art date
Application number
SU598684A
Other languages
English (en)
Inventor
В.С. Соллогуб
Original Assignee
В.С. Соллогуб
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.С. Соллогуб filed Critical В.С. Соллогуб
Priority to SU598684A priority Critical patent/SU125311A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU125311A1 publication Critical patent/SU125311A1/ru

Links

Landscapes

  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)

Description

Дл  изучени  и устранени  лричин возрастани  обратного тока управл ющей сетки электронной лампы недостаточно измерить его общую величину, необходимо знать составл ющие тока. Известные способы и приборы дл  исследовани  электрических характеристик электронных ламп позвол ют визуально наблюдать, измер ть и сравнивать семейство анодных характеристик ламп и характеристик экранных сеток, но не составл ющих тока управл ющей сетки, о которых суд т обычно приближенно путем трудоемких измерений по точкам зависимости обратного тока сетки от напр жений, подаваемых на электроды лампы. Осциллографирование обратного тока сетки требует меньше времени, дает общее представление о характере сеточного тока по виду кривой и не мол-сет претендовать на точность измерений.
Описываемый способ позвол ет раздельно измер ть вакуумфактор (отнощение ионного тока к электронному), токи утечек управл ющей сетки по отнощению к другим электродам, термоток и амплитуду пиков тока вторичной эмиссии электронной лампы с больщей точностью измерений и малой затратой времени. Измерение и анализ обратного тока управл ющей сетки электронной лампы производ т с помощью электронно-лучевой трубки, на горизонтально отклон ющие пластины которой подают пилообразное напр жение. Это напр жение подаетс  также на электроды испытуемой лампы и на генератор. На анод, экранную сетку и катод испытуемой лампы подают напр ж;ени , которые могут быть как посто нные, так и пилообразные; при этом должны быть прин ты меры к исключению возможности перегрузки электродов лампы. На вход омических аттенюаторов электронно-лучевой трубки подают: нанр жение, пропорциональное электронному току через лампу, напр жение, снимае№ 125311- 2 -
мое с -соответствующих электродов, и регулируемое напр жение посто нного тока, -измер емое стрелочным прибором. Совмещают путем подбора положеда ..ручек аттенюаторов кривую исследуемого сеточного токй с кривыми, токов, снимаемых с калиброванных аттенюаторов, моделирующих исследуемые токи, и по шкале аттенюаторов определ ют величины измер емых токов.
Таким образом, на одну пару отклон ющих пластин подают напр жение , совпадающее но форме и частоте с напр жением, подаваемым на электроды испытуемой лампы, а на другую пару пластин - усиленное напр жение от исследуемого сеточного тока. На экране трубки нар ду с изображением кривой сеточного тока получаетс  в результате переключени  электронного луча также изображение другой вспомогательной кривой; при этом совмещение обеих кривых при отсчете величин тока достигаетс  регулировкой измерительных аттенюаторов, моделирующих отдельные составл ющие сеточного тока.
Предмет изобретени 
Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп с использованием электронно-лучевой трубки, отличающийс  тем, что, с целью повыщени  точности измерени  и обеспечени  возможности раздельного измерени : вакуумфактора, токов утечки от управл ющей сетки на другие электроды ламп, термотока и амплитуды пиков тока, вызванного вторичной эмиссией, на вход омических аттенюаторов соответственно подают: напр жение, пропорциональное электронному току через лампу, напр жение, снимаемое с соответствующих электродов , и регулируемое напр жение посто нного тока, измер емое стрелочным прибором, совмещают путем подбора положени  ручек аттенюаторов кривую исследуемого сеточного тока с кривыми токов, снимаемых с калиброванных аттенюаторов, моделирующих исследуемые токи, и по щкале аттенюаторов определ ют величины измер емых токов.
SU598684A 1958-05-04 1958-05-04 Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп SU125311A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU598684A SU125311A1 (ru) 1958-05-04 1958-05-04 Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU598684A SU125311A1 (ru) 1958-05-04 1958-05-04 Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU125311A1 true SU125311A1 (ru) 1959-11-30

Family

ID=48396674

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU598684A SU125311A1 (ru) 1958-05-04 1958-05-04 Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU125311A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2591738A (en) Cathode-ray tube voltage measuring device
US3293429A (en) Apparatus for detection and intensity measurement of high energy charged particle beams
US2647214A (en) Inspecting apparatus
SU125311A1 (ru) Способ анализа обратного тока управл ющей сетки электронных ламп
US4038616A (en) Vacuum tube gas test apparatus
Dietz et al. Improved zero-time detector for heavy ion time-of-flight spectroscopy
US2925557A (en) Peak indicating voltmeter
SU106625A1 (ru) Способ измерени крутизны анодно-сеточной характеристики электронной лампы
Thern space-charge distortion in the Brookhaven ionization profile monitor
SU464074A1 (ru) Осциллографический способ измерени напр жени произвольной формы
SU679886A1 (ru) Устройство дл измерени амплитудных параметров сигналов
SU93314A1 (ru) Импульсный амплитудный ламповый вольтметр
SU106869A1 (ru) Устройство дл измерени угла коммутации в ионных преобразовател х
SU141518A1 (ru) Устройство дл автоматического определени зависимости частоты СВЧ генератора с электронной настройкой от величины управл ющего напр жени
SU120549A1 (ru) Способ измерени нелинейности развертки приемной телевизионной трубки
SU752552A1 (ru) Способ определени электродинамических параметров замедл ющих систем
Simpson et al. Cathode-ray Oscilloscope and its Applications
SU789794A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды исследуемых сигналов
SU1095104A1 (ru) Способ измерени апертурной характеристики электронно-лучевых приборов
SU911343A1 (ru) Электронно-лучевой осциллограф
Cernigoi et al. Behaviour of photomultipliers against high-frequency modulated light
Dallos Pulse spectrograph
SU864141A1 (ru) Электронно-лучевой осциллограф
SU79605A1 (ru) Электронный флюксметр
SU457909A1 (ru) Ионный денситометр дл измерени плотности газа