SU656133A1 - Способ определени электрических параметров полупроводников - Google Patents

Способ определени электрических параметров полупроводников

Info

Publication number
SU656133A1
SU656133A1 SU772525250A SU2525250A SU656133A1 SU 656133 A1 SU656133 A1 SU 656133A1 SU 772525250 A SU772525250 A SU 772525250A SU 2525250 A SU2525250 A SU 2525250A SU 656133 A1 SU656133 A1 SU 656133A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
determining method
parameter determining
electric parameter
magnetic field
semiconductor
Prior art date
Application number
SU772525250A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Германович Морозов
Андрей Николаевич Раев
Original Assignee
Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им.А.Ф.Иоффе Ан Ссср
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им.А.Ф.Иоффе Ан Ссср filed Critical Ордена Ленина Физико-Технический Институт Им.А.Ф.Иоффе Ан Ссср
Priority to SU772525250A priority Critical patent/SU656133A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU656133A1 publication Critical patent/SU656133A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

Изобретение относитс  к способам определени  магнитосопротивлени , концентра-, ции и подвижности носителей зар да в полупроводниках , основанным на использовании гальваномагнитных эффектов.
Известен способ определени  концентрации и подвижности носителей зар да (способ Ван-дер-По) заключающийс  в том, что полупроводник произвольной формы, имеющий четыре контакта, помещают в магнитное поле и пропускают через него электрический ток таким образом, что два контакта  вл ютс  токоведущими, а два оставшихс  - потенциальными 1.
При этом измер етс  разность потенциалов потенциальных контактов при пр мом и обратном направлени х тока через полупроводник . Далее в качестве токоведущих выбираютс  все возможные пары контактов (всего 6 пар,,), и каждый раз измер етс  разность потенциалов двух оставшихс  потенциальных контактов при пр мом и обратном направлени х тока через полупроводник . Затем устанавливают магнитное поле , противоположно направленное и равное по величине исходному, и серию измерений
повтор ют. Затем выключают магнитное поле и снова провод т измерени .
Недостатками этого способа  вл ютс  низка  точность определени  концентрации и подвижности носителей зар да и необходимость затрачивать значительное врем  на выключение и изменение направлени  магнитного пол .
Известен также способ определени  электрических параметров полупроводников, включающий пропускание тока через образец и измерение потенциала в выбранных точках без магнитного пол  и с магнитным полем путем изменени  взаимоориентации полупроводника и магнитного пол , а также магнитного пол  и тока через полупроводник 2.
Сущность. способа заключаетс  в следующем . Полупроводник, имеющий форму пр моугольного параллелепипеда с щестью контактами, через два из которых пропускают ток, а остальные используют дл  измерени  потенциалов в различных точках полупроводников , помещают в стационарное магнитное поле. Измер ют разности потенциалов
SU772525250A 1977-09-19 1977-09-19 Способ определени электрических параметров полупроводников SU656133A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772525250A SU656133A1 (ru) 1977-09-19 1977-09-19 Способ определени электрических параметров полупроводников

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU772525250A SU656133A1 (ru) 1977-09-19 1977-09-19 Способ определени электрических параметров полупроводников

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU656133A1 true SU656133A1 (ru) 1979-04-05

Family

ID=20725242

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU772525250A SU656133A1 (ru) 1977-09-19 1977-09-19 Способ определени электрических параметров полупроводников

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU656133A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5126569A (en) * 1989-03-10 1992-06-30 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus for measuring optical properties of materials

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5126569A (en) * 1989-03-10 1992-06-30 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus for measuring optical properties of materials

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2002084311A8 (fr) Procede de mesure de l'intensite d'un champ electromagnetique et dispositif afferent, procede de mesure de la repartition d'intensite d'un champ electromagnetique et dispositif afferent, procede de mesure de la repartition de courant/tension et dispositif afferent
SU656133A1 (ru) Способ определени электрических параметров полупроводников
US3328685A (en) Ohmmeter utilizing field-effect transistor as a constant current source
JPS564066A (en) Water-tree detection method of rubber/plastic insulated power cable
SU583496A1 (ru) Устройство дл сн ти вольтамперной характеристики источника посто нного тока
SU373670A1 (ru) ; ВСШОЮЗМАГ! Ь;Д1и|гШ"ТШШ1йШ
SU1377751A1 (ru) Способ измерени активного сопротивлени с помощью неуравновешенного моста
SU857889A1 (ru) Способ измерени времени релаксации энергии носителей зар да в полупроводниках
SU469104A1 (ru) Устройство дл испытани трансформаторов тока
SU457948A1 (ru) Способ разбраковки ферритов
SU741209A1 (ru) Устройство дл измерени магнитных полей
SU941915A1 (ru) Устройство дл измерени энергии потерь в сверхпровод щих магнитах
SU930175A1 (ru) Датчик магнитного пол
SU120265A1 (ru) Устройство дл измерени магнитных свойств горных пород
SU922666A1 (ru) Датчик Холла
SU394736A1 (ru) Способ измерения параметров идентичных устройств, обладающих свойством обр'атимости
SU494707A1 (ru) Способ измерени коэффициента нелинейности электропроводности полупроводника
SU1190275A1 (ru) Способ измерени плотности тока в токопроводе и устройство дл его осуществлени
SU123251A1 (ru) Устройство дл измерени магнитных полей
SU121190A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности магнитного пол
SU779954A1 (ru) Устройство дл измерени градиента индукции магнитного пол
SU1644041A1 (ru) Способ определени неравномерности распределени токов в группе параллельных вентильных ветвей
SU637688A1 (ru) Устройство дл измерени магнитного пол
SU747818A1 (ru) Устройство дл измерени сопротивлени изол ции сети посто нного тока
SU1062632A1 (ru) Способ геоэлектроразведки