SU409118A1 - Устройство для исследования прозрачных неоднородностей - Google Patents

Устройство для исследования прозрачных неоднородностей

Info

Publication number
SU409118A1
SU409118A1 SU1859012A SU1859012A SU409118A1 SU 409118 A1 SU409118 A1 SU 409118A1 SU 1859012 A SU1859012 A SU 1859012A SU 1859012 A SU1859012 A SU 1859012A SU 409118 A1 SU409118 A1 SU 409118A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
mirror
research
autocollimation
interchangeable
transparent
Prior art date
Application number
SU1859012A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1859012A priority Critical patent/SU409118A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU409118A1 publication Critical patent/SU409118A1/ru

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

Изобретеи1ис относитс  к оптическим теневым и интерференционным уст ро{тсгвам дл  исследовани  неоднородностен в прозрачных средах н может быть иримене110 вэкепериментальной газово динамике дл  определени  полс11 илотиост потоков, при изучении гидродиналпчческих процессов,  влений акустики и ультраакустики, горени  и взрыва, в диагностике плазмы, при контроле качества пзготовлепи  оптических детале, паир жеиий в твердых телах и т. д.
Извест11ые теневые и интерференционные системы |;онструктив1ю сложны и имеют ограиичениые возможности методов исследовани .
Цель изобре еии  - расширение экенеримеита;|1 иых возможностей устройства за счет иовьииеии  чувст:; ительиости и точности измеpeniui , выбо1)а оптимального метода иеследо11зани  и принципиально ; оптической схемы.
Цель достигаетс  тем, что в предлагаемом устройстве, содержащем узел конденеатора, вклк)чаюн.ий сменные источники света, сменные i взаимозамен емые освети1;ельные диаф шг .мы, светоделительиы кубик, диагональное , илоское и сферическое зеркала и способnbiii перемещатьс  вдоль оптической оон, зеркальиые обьективы, плоское зеркало дл  автоколлимации светового пучка, регистрирующую систему с визуализирующими диафрагмами и приставками, узел конденсора выполпен подвижгым и может перемещатьс  как вдоль, так и перпендикул рно к его оптической оси на рассто ни , обеспечивающие поочередное совмещение изображений источника света с центром кри:визны и с фокусом зеркального объектива.
На чертеже нредставлена )1риициниальна  оитичеека  схема предлагаемого ycTpoiicTBa.
Устройство содержит импульсные источники света, состо щие каждьи из ртутноГ ламны /
0 высокого давлени , лампы 2 накаливани  и лазера 3; конденсоры 4; сменные осветительные диафрагмы 5; диагональные зеркала 6, 7; зеркальные объективы 8, сменные визуализирующие диафрагмы 9 и приставки к регист5 рирующе системе; регистрирующую систему W; светоотделительны кубик 11; плоское зеркало }2, предназначенное дл  автоколлимации светового пучка; сферическое зеркало 13; исследуемую прозрачную неоднород0 ность 14.
При однократном просвечивании неоднородности паралельным пучком в устро11стве пспользуютс  элементы 1, 2, 3, 6, 7, 8, 9, 10. Мен   осветительные 5 и визуализирующие 9 диафрагмы, можно пастрапвать ycTpoiiCTBo дл  работы по одному из следующих теневых методов: щели и южа, щели и нити, цветных изображений, расфокусированных пприховыч дпафрагл, а также по методам дифракп.иопного , пол ризационного и зеркального интерферометров сдвига.
Дл  перенастройки предлагаемого устройства по а-втоколлимационной схеме с двухкратным просвечиванием неоднородности параллельным пучком необходимо ввести оветоделительный кубик // и плоское зеркало 12. В этом случае используютс  элементы /, 2, 3, 7, 8, 12, 9 10 (штрихами помечены позиции элементов в новом положении).
Дл  настройки устройства по автоколлимационной схеме с двухкратным просвечиванием неоднородности сход щимс  пучком света узел конденсора 4 (вместе с плоским диагональным зеркалом 7, светоделительньш кубнком //, сферическим зеркалом 13 и осветительными диафрагмами 5 перемещают перпендикул рНо и вдоль его оптической оси до совмещени  изображени  источника света {iB плоскости осветительных диафрагм) с центром кривизны зеркального объектива. В этой схеме |Используютс  элементы /, 2, 3, 4, 5, 1Г, 7, 8, 9, 10. С помощью сменных осветительных и визуализирующих диафрагм и приставок устройство можно настроить дл  работы по методам щели и ножа, щели и пит ,и, цветных изображений, методами дифракциопного , зеркалыного и пол ризационного интерферометров сдвига.
Использование в качестве источника света лазера п введение сферического зеркала 1-3 позвол ет реализовать а1втоколлимац1иоиные схемы лазерных неравноплечих интерферометров .
Использование устройства в автоколлимациаи-ном варианте позвол ет повысить чувствительность и увеличить точность измерени  пеоднородиостей исследуемого пространства.
Чувствительность устройства, настроенного дл  работы по второй и третьей схемам, соответственно в два и в четыре раза выше, чем при настройке его по первой схеме (при использовании одного и того же метода исследовани ). Путем выбора оптимального дл  решени  конкретной задачи метода исследовани  экспериментатор может повысить точность измерени  плотности среды изучаемой неоднородности.
Возможности предлагаемого устройства не исчерпываютс  описанными схемами и методами . Применение зеркальных объективов позволит реализовать на их основе как теиевые , так и интерференционные схемы, что значительно снижает стоимость эксперимента.
Предмет изобретени 
Устройство дл  исследовани  прозрачных неоднородностей, содержащее узел конденсора , включающий сменные источники света, сменные и взаимозамен емые осветительные диафрагмы, светодедительпый кубик, диагональное , плоское и сферическое зеркала и способный перемещатьс  вдоль опт15ческой оси, зеркальные объективы, плоское зеркало дл  автоколлимации светового пучка, регистрирующую системы с визуализирующими диафрагмами и приставка-ми, отличающеес  тем, что, с целью расширени  экопериментальных возможностей устройства, узел конденсора выполнен подвижным перпендикул рно к его оптической оси на рассто ни , обеспечивающие поочередное совмещение изобретений источника света с фокусом и с центром кривизны зеркального объекта.
SU1859012A 1972-12-15 1972-12-15 Устройство для исследования прозрачных неоднородностей SU409118A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1859012A SU409118A1 (ru) 1972-12-15 1972-12-15 Устройство для исследования прозрачных неоднородностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1859012A SU409118A1 (ru) 1972-12-15 1972-12-15 Устройство для исследования прозрачных неоднородностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU409118A1 true SU409118A1 (ru) 1973-11-30

Family

ID=20535597

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1859012A SU409118A1 (ru) 1972-12-15 1972-12-15 Устройство для исследования прозрачных неоднородностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU409118A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004106849A1 (fr) * 2003-05-27 2004-12-09 Imalux Corporation Dispositif optique pour examiner un objet

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004106849A1 (fr) * 2003-05-27 2004-12-09 Imalux Corporation Dispositif optique pour examiner un objet

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6078393A (en) Phase shift mask inspection apparatus
SU409118A1 (ru) Устройство для исследования прозрачных неоднородностей
KR100840395B1 (ko) 매크로렌즈를 이용한 대면적 삼차원 형상측정을 위한 백색광주사간섭계 및 형상측정방법
US3794426A (en) Holographic spectrometer
US3652165A (en) Relative back focus monitoring method and apparatus
SE448030B (sv) Sett och anordning for detektering av ytdefekter
US3580682A (en) Method and stereoscopic optical apparatus for determining the roughness of the surfaces of machined parts
US3424512A (en) Optical spatial filtering with enlarged frequency spectrum plane
RU2263279C2 (ru) Способ интерферометрического измерения отклонения формы оптических поверхностей и система для его осуществления
SU873000A1 (ru) Устройство дл исследовани прозрачных неоднородностей
SU1312511A1 (ru) Датчик Гартмана
SU600388A1 (ru) Имитатор плоскости дл аттестации плоскомеров
SU550527A1 (ru) Проектор дл измерени параметров сечени кристаллов
SU1545197A1 (ru) Способ интерференционной резольвометрии
SU505943A1 (ru) Интерференционно-теневой прибор
SU823852A1 (ru) Устройство дл измерени размеровэлЕМЕНТОВ HA плОСКиХ Об'ЕКТАХ
SU529362A1 (ru) Интеферометр дл исследовани качества поверхностей и аберраций крупногабаритных оптических элементов и прозрачных неоднород ностей
SU966491A1 (ru) Устройство дл измерени линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами
SU1409861A1 (ru) Устройство дл измерени контура поперечного сечени объекта
SU522482A1 (ru) Устройство дл визулизации оптических неоднородностей
SU881571A1 (ru) Устройство дл измерени градиента коэффициента преломлени прозрачных сред
SU494722A1 (ru) Способ количественной оценки неоднородностей в прозрачных средах
SU380946A1 (ru) Интерферометр для контроля качества плоской оптической поверхности детали
RU2078305C1 (ru) Интерференционный способ контроля геометрического расположения линз и интерференционное устройство для его осуществления
Capstaff et al. A motion picture densitometer