Изобретение относитс к интроскопии, а именпо к использованию радиоактивных излучений дл определени качества материалов и изделий, например дл определени глубины залегани дефекта или неоднородности в материале , изделии. Известен способ определени глубины залегани дефекта при помощи двухкапальпого иопизационного дефектоскопа. Однако известный способ не позвол ет автоматизировать процесс определени . Целью изобретени вл етс автоматизаци процесса определени глубины залегани дефекта . Дл этого в двухканальном ионизационном дефектоскопе оси коллиматоров детекторов располагают под острым углом, в вершине которого помещают источник излучени , и при перемещении издели в направлении, перпендикул рном биссектрисе острого угла, измер ют врем между моментами регистрации дефекта первым и вторым детекторами излучени , по величине которого суд т о глубине залегани дефекта. На чертеже приведена схема устройства, 1ФИ помощи которого можно реализовать предложенный способ. В расход щемс пучке излучепи источника 1. устанавливают два коллимированных детектора 2, 3, оси коллиматоров которых Пересекаютс в точке расположени источника излучени 1 и составл ют угол а. Контролируемое изделие 4 перемещают со скоростью V между источником излучени I и детекторами 2, 3 в направлении, перпендикул рном биссектрисе угла ос. Коллиматоры детекторов вырезают из потока излучени узкие пучки, и детекторы 2, 3 регистрируют прохождение (пересечение) дефектом 5 пучков излучени . Сигналы с детекторов 2, 3 подают на блок измерени 6. При различной глубине а залегани дефекта 5 при посто нной скорости V перемещени издели 4 за врем i между моментами регистрации дефекта 5 первым 2 и вторым 3 детекторами излучени изделие пройдет различные пути Ь. Глубина залегани дефекта b , а a c.ie -с. где а - глубина залегани дефекта, I) .„.. путь, пройденный изделием за врем между моментами регистрации дефекта и детекторами 2 и 3, а - угол между ос ми коллиматоров, с - рассто ние от источника излучени до издели .The invention relates to introscopy, and specifically to the use of radioactive radiation to determine the quality of materials and products, for example, to determine the depth of a defect or non-uniformity in a material, product. A known method for determining the depth of a defect using a two-capal inspection instrument. However, the known method does not allow to automate the determination process. The aim of the invention is to automate the process of determining the depth of a defect. To do this, in a two-channel ionization flaw detector, the axes of the collimators of the detectors are placed at an acute angle at the top of which the radiation source is placed, and when the product is moved in the direction perpendicular to the acute angle bisector, the time between the moments of detection of the defect by the first and second radiation detectors, the magnitude of which judge about the depth of the defect. The drawing shows a diagram of the device, 1FI help of which you can implement the proposed method. Two collimated detectors 2, 3 are installed in the divergent beam of the radiation source 1. The collimators have axes that intersect at the location of the radiation source 1 and form the angle a. The controlled article 4 is moved at a speed V between the radiation source I and the detectors 2, 3 in the direction perpendicular to the bisector of the angle o. The collimators of the detectors cut out narrow beams from the radiation flux, and the detectors 2, 3 record the passage (intersection) of radiation beams 5 by a defect. Signals from detectors 2, 3 are fed to measurement unit 6. At various depths of the defect 5 at a constant speed V of movement of the product 4 during the time i between the moments of detection of the defect 5, the first 2 and second 3 radiation detectors of the product pass through various paths b. The depth of the defect b, and a c.ie-c. where a is the depth of the defect, I). "... path traveled by the product in the time between the moments of registration of the defect and detectors 2 and 3, a is the angle between the axes of the collimators, and c is the distance from the radiation source to the product.