SU399723A1 - Фотоэлектрический способ измерения толщины пластин из прозрачного л1атериала - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике, в частности к области бесконтактного измерени  толщины пластин из прозрачного материала, например толщины листового стекла.

Известен фотоэлектрический способ измерени  толщины пластин из прозрачного материала , например листового стекла, заключающийс  в том, что на пластину направл ют луч света наклонно к ее поверхности и определ ют временной интервал, пропорциональный смещению луча, вызванному его преломлением .

Луч моделируют поперечными смещени ми непрозрачного стержн , пространственный сдвиг теневых проекций которого с помощью фотоэлемента преобразуют в сдвинутые но времени сигналы, по разности которых н суд т о толщине пластины.

Известный способ, основанньи на иснользовании комплекса оптических  влений «отражение-преломление-отражение-преломление , практически не пригоден дл  технологического контрол  толщины пластины, так как непараллельность (клиновидность пластины ) приводит к снижению точности за счет нарушени  параллельности отрал енных от обенх поверхностей световых потоков.

Предлагаемый способ отличаетс  тем, что, с целью повышени  точности измерени , производ т непрерывное сканирование луча в одной плоскости. Толщину определ ют по скорости прохождени  луча между точками, расположенными в поле сканировани  прошедшего через пластину светового луча, котора  обратно пропорциональна величине временного интервала.

На чертеже изображена схема измерени  толщины листового стекла.

Она содержит источник 1 света, блок 2 сканировани , объектив 3, фотоприемники 4 и 5, цифровой блок 6, высокостабильный генератор 7, счетчик 8, цифровое таб.по 9, измер е ryю нластину 10.

Предлагаемый способ осун1ествл ют следующим образом.

Световой луч от источника 1 света попадает в блок 2 сканировани , который перемещает луч в фокальной плоскости объектива 3 так, что выход щи из объектива 3 луч непрерывно сканирует и, преломл  сь в стекле пластины 10, попадает поочередно на фотоприемники 4 и 5, установленные по разные стороны от онтической оси объектива на равном удалении от нее. Импульсы напр жени , возникающие при этом на фотоприемниках 4 и 5, поступают в цифровой блок 6 измерени  времени, который онредел ет интервал времени между импульсами.

Измерение временного интервала R блоке б осуществл ют путем счета импульсов высокостабильиого генератора 7, запуск которо -0 производ т импульсом напр жени  с фотоприемпика 5, а выключение - импульсом с фотоприемпика 4. Счетчик 8 считает количество импульсов и по окопчаиии счета выдает сигнал па цифровое табло 9, которое осуществл ет ипдикацию результата измерени  в едипицах толщины.

При изменении толщины стекла п. например при увеличении ее на величину Д/г, скорость прохождени  луча света между фотоприемниками уменьшаетс  и, следовательпо, увеличиваетс  временпой интервал между импульсами напр жени  с фотоприемпикоз. Этот вреыепной интервал, пропорциональпый новой толошне стекла, регистрируетс  цифровым блоком 6 измерени  времени.

П редмет изобретен п  

Фотоэлектрнческпй способ пз- среип  толщины пластин из прозрачного материала, например листового стекла, заключаюпшис  в том что па пластину направл ют луч света накло1ню к ее поверхности и измер ют времеппо интервал, пропорцпопальныи смещепию TV4a. вызванному его преломлепием, огшчающийс  тем, что, с целью повыплени  точиости измерени , производ т непрерывное скатшрование луча в одной плоскости, а onзеделение толщины производ т по скорости прохождени  луча между точками, расположенными в поле сканировани  пропшдшего иеоез пластину светового луча, котора  ооратнопропорциональна величине временного интервала .