Изобретение относитс к области мергзрушающих ИСиытакий материалов :-i издел;гГ| с помощью проникающего излучени , в частности с помощью потока электронов. Известен сиособ контрол толщины TOHKJLX изделий и покрытий по отражению излучеилл с применением .моиоэнергет.ччесхого пучка электронов, когда с .целью увеличени вительности контрол путем выделе ;иу гетичеокой области, в которой отраженное излучение максимально зависит от толщм/ы пздели (покрыти ), производ т рег;1стр,цию отрал енного излучени в энергетическом интервале , соответствующем энергетическому спектру вторичного, например, |флуоресцентного излучени , выход которого сильно зависит от толщины издел (покрыти ). При это.м область необходимой дискриминации отраженного излучени по энергии обычно хорошо выражена на спектре отраженного 1:злучени благодар дискретно.му характеру спектра вторичного излучени . Недостаток известного способа контрол заключаетс в том, что он не дает возмож;гости увеличить чувствительность контрол путем выделени оптимального энергетического интервала регистрации отраженного излучени в том случае, когда толщина издели (покрыти ) слищком велика, чтобы можно было использовать дл контрол вторичное излучг;; с дискретным спектром и когда необходимо иснользсзать отражеи)1ые электроны , энергетгческий спектр которых вл етс непрерывным. По нредлагаемому способу с целью увеличени чувствительности известюго метода контрол отраженные электроны регистрируют в энергетическом интерзале, расположенном в области энергии спектра отраженных электронов, меньщих наиболее веро тнсй энергии спектра, при контроле од1;осоднь х 1;зделий и покрыт:- с отноше1 ием эффект 1вного атомного номера материала покрыт к эффективному aтo iнoмy номеру подложки больше , и в энергетическом интервале , расположен ом в области энергий, больших наиболее веро тно ; энерги спектра, нр контроле покрытий с отношением эффект}1вного номера покрыти к эффективному атомному номеру подложки .меньше ед ницы . При расположен энергетических И 7ервалоБ ре истрации отраженных электронов а указан 1ых участках спектра изме 1ение толщины издели (нокрыт 1 ) обеспеч вает на большее отношение относител ;Ного зменен1 потока регистр: руемых отраженных электронов к относительному 1 з е тению толшзшы покрыти .This invention relates to the field of IP resistant materials: i-product; gG | with the help of penetrating radiation, in particular with the help of a stream of electrons. The known method of controlling the thickness of TOHKJLX products and coatings on the reflection of radiation with the use of myoenergetic electron beam, when, in order to increase the control intensity by isolating, a heterogeneous region in which the reflected radiation is most dependent on the thickness / s of the bunches (coatings) is produced t reg; 1 str, detached radiation in the energy range corresponding to the energy spectrum of the secondary, for example, | fluorescent radiation, the output of which strongly depends on the thickness of the product (coating). At this point, the region of necessary discrimination of reflected radiation by energy is usually well expressed on the spectrum of reflected 1: radiation due to the discrete nature of the spectrum of the secondary radiation. A disadvantage of the known control method is that it does not make it possible; guests can increase the sensitivity of the control by highlighting the optimal energy interval for recording the reflected radiation in the case when the thickness of the product (coating) is too large to be used for controlling the secondary beam ;; with a discrete spectrum and when it is necessary to use reflections) first electrons whose energy spectrum is continuous. In the proposed method, in order to increase the sensitivity of the lime control method, the reflected electrons are recorded in the energy range located in the spectral energy region of the reflected electrons, which are smaller than the most likely energy of the spectrum, when monitored by one, ground x 1, and covered by: - the atomic number of the material is covered to the effective atomic number of the substrate is greater, and in the energy range, it is located in the region of energies greater than most likely; energy spectrum, np control of coatings with the ratio of the effect of the first number of the coating to the effective atomic number of the substrate. less units. When energy and energy of the reflected electrons are located, the first sections of the spectrum, measuring the thickness of the product (uncovered 1), is indicated for a greater relative bearing ratio; there is a change in the flux register: the number of reflected electrons to the relative size of the coating.