SU396614A1 - USSR Academy of Sciences - Google Patents

USSR Academy of Sciences

Info

Publication number
SU396614A1
SU396614A1 SU1668720A SU1668720A SU396614A1 SU 396614 A1 SU396614 A1 SU 396614A1 SU 1668720 A SU1668720 A SU 1668720A SU 1668720 A SU1668720 A SU 1668720A SU 396614 A1 SU396614 A1 SU 396614A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sciences
ions
ussr academy
slit
mass spectrometer
Prior art date
Application number
SU1668720A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
Авторы изобретени А. Ф. Кузьмин, В. А. Павленко , А. Э. Рафальсон
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Авторы изобретени А. Ф. Кузьмин, В. А. Павленко , А. Э. Рафальсон filed Critical Авторы изобретени А. Ф. Кузьмин, В. А. Павленко , А. Э. Рафальсон
Priority to SU1668720A priority Critical patent/SU396614A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU396614A1 publication Critical patent/SU396614A1/en

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к области масс-спектрометрии .This invention relates to the field of mass spectrometry.

В р де случаев фокусирующие свойства известного циклоидального масс-спектрометра нарушаютс  три работе с интенсивными ионными пучками или пучками низких энергий, когда становитс  значительным эффект объемного расталкивани  ионов, при работе в услови х недостаточно глубокого вакуума в камере анализатора вследствие рассе ни  ионов на молекулах, при анализе метастабильных ионов, загр знени х поверхностей ионно-оптической системы и т. д.In a number of cases, the focusing properties of a known cycloidal mass spectrometer are disturbed by three work with intense ion beams or low energy beams, when the effect of volume repulsion of ions becomes significant when operating under conditions of insufficient vacuum in the analyzer chamber due to scattering of ions on molecules, analysis of metastable ions, contamination of surfaces of the ion-optical system, etc.

Ухудшение фокусирующих свойств присуще всем известным циклоидальным масс-спектрометрам независимо от того, имеет ли их рабоча  траектори  форму одной или нескольких петель трохоиды.The deterioration of the focusing properties is inherent in all known cycloidal mass spectrometers, regardless of whether their working paths have the form of one or several loops of trochoids.

В предлагаемом циклоидальном масс-спектрометре , в котором рабоча  траектори  имеет форму нескольких петель трохоиды, с целью увеличени  отношени  сигнал/фон при анализе микропримесей, близких по молекул рным весам к основным лини м масс-спектра, в фокальной плоскости анализатора в точках, дел щих фокусное рассто ние на равные отрезки , установлены дополнительные коллимирующие щели.In the proposed cycloidal mass spectrometer, in which the working path is in the form of several trochoid loops, in order to increase the signal-to-background ratio when analyzing trace contaminants that are close in molecular weights to the main lines of the mass spectrum, in the focal plane of the analyzer focal distance to equal segments, additional collimating slits are established.

На фиг. 1 схематически изображен предлагаемый циклоидальный масс-спектрометр сFIG. 1 schematically shows the proposed cycloidal mass spectrometer with

двум  коллимирующими щел ми; на фиг. 2 показана траектори  ионов; на фиг. 3 - фокальна  плоскость масс-спектрометра; на фиг. 4 - масс-спектр носледовательно зарегистрированных линий микропримеси и основной компоненты.two collimating crevices; in fig. 2 shows the trajectory of ions; in fig. 3 - focal plane of the mass spectrometer; in fig. 4 shows the mass spectrum of the successively registered trace lines and the main component.

Предлагаемый масс-спектрометр содержит источник / ионов с выходной щелью 2, анализатор 3 с фокусным рассто нием FO, приемннкThe proposed mass spectrometer contains a source / ions with an output slit 2, an analyzer 3 with a focal distance FO, a receiver

4 ионов с разрешающей щелью 5, кол имирующие щели 6, 7.4 ions with a resolution slit 5, counting the gaps 6, 7.

Электрод, расположенный в фокальной плоскости анализатора, имеет не одно общее отверстие дл  прохождени  нижней полупетлиThe electrode located in the focal plane of the analyzer has not one common opening for the passage of the lower half loop.

трохоиды, а две: первое из них  вл етс  входным дл  верхней полунетли трохоиды, второе выходным дл  нижней полупетли. Выходное отверстие дл  нижней полупетли выполн ет роль дополнительной коллимирующей щели.trochoids, and two: the first of them is the input for the upper half of the trochoids, the second for the lower half of the loop. The outlet for the lower half loop performs the role of an additional collimating slit.

В фокальной плоскости расположены две дополнительные коллимирующие щели б, 7 в точках, дел щих фокусное рассто ние FO на три равных отрезка. В этом случае при прохождении ионов микропримесн через калчдуюIn the focal plane, there are two additional collimating slits b, 7 at points that divide the focal distance FO into three equal segments. In this case, with the passage of ions of micro-mixture through the chamber

из коллимирующнх щелей и разрешающую щель величина нх тока остаетс  неизменной, в то врем  как величина тока интенсивной компоненты после прохождени  первой коллимирующей щели ослабл етс  в I/a раз, а носле прохождени  второй щели в 1/а раз. ВFrom the collimating slots and the resolving gap, the current magnitude nx remains unchanged, while the magnitude of the current of the intense component after passing through the first collimating gap is weakened by I / a times, and at the same time passing through the second slot by 1 / a. AT

итоге, в фокальной плоскости вблизи разрешающей щели изображение интенсивной компоненты оказываетс  ослабленным в /а раз, а его фон1 в разрешающую щель составл ет /Ф (т. е. 10 -IQ- /o), где /ф - ионный ток, соответствующий фону; /о - ионный ток интенсивной компоненты.As a result, in the focal plane near the resolving slit, the image of the intensive component appears to be weakened a / a times, and its background 1 to the resolving slit is / F (i.e., 10 -IQ- / o), where / f is the ion current corresponding to the background ; / o is the ion current of the intense component.

При одинаковых интенсивност х линий микропримеси и интенсивной компоненты и одинаковой номинальной разрешающей способности , лини  микропримеси четко регистрируетс .With the same intensities of the micronutrient lines and the intensive component and the same nominal resolution, the trace line is clearly recorded.

Предмет изобретени Subject invention

Циклоидальный масс-спектрометр, содержащий источник ионов, анализатор и приемник ионов с разрешающей щелью, отличающийс  тем, что, с целью увеличени  отнощени  сигнал/фон при анализе микропримесей, близких по молекул рным весам к основным лини м масс-спектра, он снабжен дополнительными коллимирующими щел ми, расположенными в точках, дел щих фокусное рассто ние на равные отрезки.A cycloidal mass spectrometer containing an ion source, an analyzer and an ion receiver with a resolution slit, characterized in that, in order to increase the signal / background ratio when analyzing trace contaminants that are close in molecular weights to the main lines of the mass spectrum, it is equipped with additional collimating slits located in points dividing the focal distance into equal segments.

//

J(t, c(. 3f)J (t, c (. 3f)

ФF

± ±

Jф GJ G

..

3 3

Фиг.FIG.

SU1668720A 1971-06-07 1971-06-07 USSR Academy of Sciences SU396614A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1668720A SU396614A1 (en) 1971-06-07 1971-06-07 USSR Academy of Sciences

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1668720A SU396614A1 (en) 1971-06-07 1971-06-07 USSR Academy of Sciences

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU396614A1 true SU396614A1 (en) 1973-08-29

Family

ID=20478899

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1668720A SU396614A1 (en) 1971-06-07 1971-06-07 USSR Academy of Sciences

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU396614A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6624410B1 (en) * 2002-02-25 2003-09-23 Monitor Instruments Company, Llc Cycloidal mass spectrometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6624410B1 (en) * 2002-02-25 2003-09-23 Monitor Instruments Company, Llc Cycloidal mass spectrometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4072862A (en) Time-of-flight mass spectrometer
Boesl et al. Multiphoton mass spectrometry of metastables: direct observation of decay in a high-resolution time-of-flight instrument
Danby et al. Photoelectron-photoion coincidence spectroscopy: II. Design and performance of a practical instrument
US2957985A (en) Mass spectrometers
GB1473054A (en) Detection of ions by mass spectrometry
GB1302193A (en)
SU396614A1 (en) USSR Academy of Sciences
US2769093A (en) Radio frequency mass spectrometer
US3787681A (en) A method for analysis by producing a mass spectrum by mass separation in a magnetic sector field of a mass spectrometer utilizing ionization of a sample substance by electron bombardment
Daly et al. Detector for the metastable ions observed in the mass spectra of organic compounds
Stafford Limitations in applying mass spectrometry to high-temperature equilibrium studies
Tsurubuchi et al. Simultaneous ionization and excitation of CO2 by electron-impact
US2667582A (en) Mass separator
US3573453A (en) Plural beam mass spectrometer for conducting high and low resolution studies
US3392280A (en) Mass spectrometer utilizing an ion beam for ionizing the gas to be analyzed
GB1318400A (en) Mass spectrometry
Wachs et al. Metastable ion Characteristics. XXXXIII—separation and comparison of collisional activation spectra and metastable ion spectra
Siuzdak et al. Laser multiphoton dissociation/ionization of butylamines: competitive processes in radical cations
US2413668A (en) Mass spectrometry
Kühlewind et al. Multiphoton Mass Spectrometry: Metastables
SU139031A1 (en) Dual Magnetic Mass Spectrometer
US3136888A (en) Selecting mass spectrometer having substantially doubled resolving power
US3660654A (en) Mass spectrometer having means compensating electron transit time across the cathode of the electron multiplier
SU516306A1 (en) Time-of-flight mass spectrometer
SU550877A1 (en) Magnetic multibeam two-stage mass spectrometer