SU387265A1 - Способ определения размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхностями - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к способам определени  размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхност ми.

Известен фотоэлектрический способ, заключаюп1ийс  в том, что часть светового потока , преобразованного частицей, попадает в ФЭУ, вызыва  в нем фототок, по величине которого суд т о размерах частицы.

Цель изобретени  - повышение точности измерений.

Это достигаетс  тем, что частицу облучают двум  световыми потоками, направленными под острым углом друг к другу, и .носителем информации  вл ютс  лучи, зеркально отраженные поверхностью частицы.

На чертеже представлена схема, иллюстрирующа  предлагаемый способ.

Свет от системы источников 1 попадает на частицу 2. Часть светового потока, падающего на частицу, зеркально отража сь от ее поверхности , попадает в объектив микроскопа 3. Таким образом, частица видна в микроскоп в виде двух точек,  вл ющихс  изображени ми площадок D на частице. Из чертежа видно, что рассто ние между площадками d меньше диаметра частицы d. Простые геометрические построени  позвол ют получить простую формулу , св зывающую d и d:

2

d

(1)

a+/

cos

5 Обычно углом / пренебрегают по сравнению с углом а, и формула принимает более простой вид:

d

(2)

cos а/2

10

Помеща  частицу перед объективом на врем , требуемое дл  ее фотографировани , делают ее микрофотоснимок. Определ ют рассто ние d (с учетом коэффициента преобразовани  фотоаппаратуры) и по формуле (2) рассчитывают d.

Предмет изобретени 

20

Способ определени  размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхност ми , отличающийс  тем, что, с целью повыщеии  точности измерений, частицы облучают световыми потоками от двух источников, направленными под острым углом один к другому , и размеры частиц определ ют по рассто нию между двум  свет щимис  точками,

фиксируемыми, например, на фотоснимке.