SU374499A1

SU374499A1 - MEASUREMENT MECHANISM

Info

Publication number: SU374499A1
Application number: SU1396199A
Authority: SU
Inventors: Н. И. Тришин М. М. Чернин Д. И. Стефанеев
Priority date: 1970-01-06
Filing date: 1970-01-06
Publication date: 1973-03-20

Description

1one

Изобретение относитс к области измерительной техники и может быть применено дл автоматического регулировани , контрол и управлени производственными процессами.The invention relates to the field of measurement technology and can be applied for automatic control, monitoring and control of production processes.

Известны измерительные механизмы, выполненные на основе оптикатора или в виде фотоэлектрического датчика, в которых регистрируетс величина отклонени светового луча. Однако эти устройства имеют большие габариты, определ емые диаметром цилиндрического зеркала и суммарной высотой подвижной части и фотоэлемента, оси которых совпадают. Обработка выходного сигнала фотоэлемента ведетс с использованием быстродействующих пересчетных схем, что существенно усложн ет и удорожает электронную часть прибора.Measuring mechanisms are known, made on the basis of an opticator or in the form of a photoelectric sensor, in which the deviation of the light beam is recorded. However, these devices have large dimensions, determined by the diameter of the cylindrical mirror and the total height of the movable part and the photocell, whose axes coincide. Processing of the photocell output signal is carried out using high-speed counting circuits, which significantly complicates and increases the cost of the electronic part of the device.

В предлагаемом устройстве многощелева диафрагма выполнена в виде кодирующей маски, различным разр дам которой соответствуют различные фотоэлементы, объединенные в набор, а оптическа ось цилиндрического зеркала смещена относительно оси вращени поворотного зеркала так, что геометрическа ось набора фотоэлементов и поворотное зеркало размещены симметрично относительно центра кривизны цилиндрического зеркала на равном рассто нии от него. Кроме того, с целью уменьшени габаритов набор фотоэлементов разделен на два р да, размещенныхIn the proposed device, the multislit diaphragm is made in the form of a coding mask, various photo cells corresponding to different bits are combined into a set, and the optical axis of the cylindrical mirror is offset relative to the axis of rotation of the rotary mirror so that the geometric axis of the set of photo cells and the rotary mirror are symmetrically located relative to the center of curvature of the cylindrical mirrors at equal distance from him. In addition, in order to reduce the size, the set of photocells is divided into two rows placed

симметричную поворотному зеркалу, а под утлом относительно первого цилиндрического зеркала установлено аналогичным образом второе цилиндрическое зеркало. symmetrical rotary mirror, and under the fragile relative to the first cylindrical mirror is installed in a similar way the second cylindrical mirror.

На чертеже изображена схема измерительного механизма. Он содержит многощелевую диафрагму / выполненную в виде кодирующей маски в двоично-дес тичном циклическомThe drawing shows a diagram of the measuring mechanism. It contains a multi-slit diaphragm / made as a coding mask in a binary-tenth cyclic

коде или коде Гре . На рамке магнитоэлектрического измерительного механизма укреплено подвижное зеркало 2. Под некоторым углом к нему укреплено неподвижное зеркало 3. Луч света, сформированный конденсором 4,Gre code or code. A movable mirror 2 is fixed on the frame of the magnetoelectric measuring mechanism. A fixed mirror 3 is fixed to it at a certain angle. A beam of light formed by a condenser 4,

диафрагмой 5 и объективом 6, претерпевает от подвижного зеркала двукратное отражение, благодар чему при повороте зеркала на угол а луч поворачиваетс на угол 4а, что существенно повышает чувствительность всего устройства .diaphragm 5 and lens 6, undergoes a double reflection from the movable mirror, so that when the mirror rotates at an angle a, the beam rotates at an angle of 4a, which significantly increases the sensitivity of the entire device.

При отклонении подвижной системы одна часть луча света, перемеща сь вдоль цилиндрических зеркал, претерпевает отражание отWhen a moving system deviates, one part of the light beam, moving along cylindrical mirrors, undergoes reflection from

участков, расположенных против вырезов многощелевой диафрагмы и направл етс к фотоэлементам 7, укрепленным в специальных держател х , а друга часть, отража сь от неподвижного зеркала 8, проектируетс на полупрозрачную шкалу 9.plots located against the cut-outs of the multislit diaphragm and directed toward the photocells 7 fixed in special holders, and the other part, reflecting from the fixed mirror 8, is projected onto a semi-transparent scale 9.