SU371423A1 - ЬИБЛИО^^_а - Google Patents

ЬИБЛИО^^_а

Info

Publication number
SU371423A1
SU371423A1 SU1674056A SU1674056A SU371423A1 SU 371423 A1 SU371423 A1 SU 371423A1 SU 1674056 A SU1674056 A SU 1674056A SU 1674056 A SU1674056 A SU 1674056A SU 371423 A1 SU371423 A1 SU 371423A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
micrometer
optical element
pyramid
scale
optical
Prior art date
Application number
SU1674056A
Other languages
English (en)
Inventor
изобретени Автор
Original Assignee
А. А. Данилов Северо западный заочный политехнический аОЮЗНДЯ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by А. А. Данилов Северо западный заочный политехнический аОЮЗНДЯ filed Critical А. А. Данилов Северо западный заочный политехнический аОЮЗНДЯ
Priority to SU1674056A priority Critical patent/SU371423A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU371423A1 publication Critical patent/SU371423A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к области измерительной техники и предназначено дл  применени  в оптических измерительных устройствах , геодезических приборах, измерительных микроскопах, в отсчетных системах станков. Кроме того, оно может быть использовано дл  контрол  перемещений, деформаций и т. д. с высокой точностью размеров.
Известен оптический микрометр, содержащий отсчетное устройство и оптический элемент в виде призмы или углового зеркала, обеспечивающих заданный масштаб работы микрометра. Оптический элемент перемещаетс  по пр молинейной направл ющей в сход щемс  ходе лучей, благодар  чему происходит смещение проход щих через него световых лучей. С помощью отсчетного устройства определ етс  величина этого смещени .
Недостатком известного микрометра  вл етс  то, что при перемещении оптического элемента но направл ющей, кроме смещени  лучей в измерительном направлении происход т другие нежелательные смещени  и отклонени  лучей, вли ющие на точность проводимых измерений. Эти смещени  обусловлены погрешност ми изготовлени  направл ющих, вызывающих повороты оптического элемента микрометра вокруг произвольных осей.
Цель изобретени  - повыщение точности работы микрометра за счет исключени  вли ни  поворотов его оптического элемента. Предлагаемый микрометр отличаетс  от известного тем, что в качестве оптического элемента использована разносторонн   усеченна  пирамида, боковые отражающие грани которой обращены внутрь пирамиды, а угол при верщине обеспечивает заданный масштаб работы микрометра.
Световые лучи, проход  внутри пирамиды,
отражаютс  последовательно от всех ее граней . Как известно из геометрической оптики, поворот такой пирамиды (триэдра) вокруг произвольной оси не вли ет на направление и положение отражающихс  от его граней лучей . Таким образом, исполнение оптического элемента микрометра в виде триэдра исключает вли ние технологических погрещностей направл ющих, по которым он перемещаетс . На фиг. 1 изображена конструкци  оптического элемента микрометра и ход лучей через него; на фиг. 2 - визуальный прибор, в котором примен етс  описанный микрометр. Оптический элемент / предлагаемого микрометра состоит из трех одинаковых зеркал
с наружным отражающим покрытием. При соединении этих зеркал друг с другом получаетс  равносторонн   усеченна  пирамида с углом при верщине, обеспечивающим заданный масштаб работы микрометра. Дл  упрощени  технологии изготовлени  оптического
элемента можно его выполнить в виде стекл нной равносторонней иирамиды с зеркальным покрытием на гран х.
Но в этом случае точность работы микрометра понизитс  за счет аберраций.
Визуальный прибор, в котором примен етс  описанный оптический микрометр, состоит из объектива 2, перед которым находитс  основна  отсчетна  шкала 3, оптического элемента / (усеченной равносторонней пирамиды ), смещающего лучи, сетки 4 и окул ра 5.
Световые лучи, проход щие сквозь оптический элемент, отражаютс  последовательно от всех его граней (см. фиг. 1), отклон  сь при этом от первоначального своего паправлени  на угол, равный удвоенному углу при вершине пирамиды.
При перемещении оптического элемента вдоль направлени  падающего луча АБ, идущего от основной щкалы 3, штрихи этой шкалы смещаютс  в плоскости сетки 4 на величину , обусловленную масщтабом работы микрометра . Это смещение наблюдаетс  и отсчитываетс  в окул р 5.
Погрешности изготовлени  направл ющей не сказываютс  на точность отсчета.
Предмет изобретени 
Оптический микрометр, содержащий смещающий луч оптический элемент, установленный на пр молинейной направл ющей в сход щемс  ходе лучей, и отсчетное устройство дл  измерени  величины его смещени , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности работы микрометра, в качестве оптического элемента использована равносторонн   усеченна  пирамида, боковые отражающие грани которой обращены внутрь пирамиды, а угол при вершине обеспечивает заданный масштаб работы микрометра.
.f
SU1674056A 1971-06-25 1971-06-25 ЬИБЛИО^^_а SU371423A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1674056A SU371423A1 (ru) 1971-06-25 1971-06-25 ЬИБЛИО^^_а

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1674056A SU371423A1 (ru) 1971-06-25 1971-06-25 ЬИБЛИО^^_а

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU371423A1 true SU371423A1 (ru) 1973-02-22

Family

ID=20480511

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1674056A SU371423A1 (ru) 1971-06-25 1971-06-25 ЬИБЛИО^^_а

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU371423A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS62197711A (ja) 光結像式非接触位置測定装置
US3602596A (en) Roughness testing meters
RU2697436C1 (ru) Способ измерений угловых параметров уголкового отражателя и устройство для его осуществления
US3554653A (en) Autocollimator
SU371423A1 (ru) ЬИБЛИО^^_а
US3263087A (en) Electro-optical distance gage
US4074937A (en) Optical measuring device
US3288021A (en) Microscope for measuring the size of an object
US1963252A (en) Optical torsion balance
US3832063A (en) Lens axis detection using an interferometer
US3628870A (en) Device for measuring amount of displacements with aid of gratings
JPH0789052B2 (ja) 放物面鏡形状検査測定用の位相共役干渉計
US3724950A (en) Optical instrument for determining the distance between two measuring points
US3820902A (en) Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error
JPS6242327Y2 (ru)
SU705259A1 (ru) Устройство дл определени отклонени светового луча от вертикали
SU1776989A1 (ru) Датчик угла скручивания
SU407186A1 (ru) Оптический микрометр
US2549669A (en) Optical instrument for testing plane surfaces and rectilinear lines
SU1008615A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта
US3172940A (en) Optical device for a correct adjustment and reading of the length of a slidable displacement of the carriage on a length measuring device
SU662795A1 (ru) Интерферометр дл контрол формы астрономических зеркал
US3374046A (en) Reading microscope with interpolation prism
SU512370A1 (ru) Высотомер двойного изображени
Kolosov et al. Optical system of a turning-angle sensor based on a BR-180° prism and a photoelectric autocollimator