SU352479A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU352479A1
SU352479A1 SU1303779A SU1303779A SU352479A1 SU 352479 A1 SU352479 A1 SU 352479A1 SU 1303779 A SU1303779 A SU 1303779A SU 1303779 A SU1303779 A SU 1303779A SU 352479 A1 SU352479 A1 SU 352479A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interference
interferometer
plane
plate
mutually perpendicular
Prior art date
Application number
SU1303779A
Other languages
English (en)
Inventor
Джон Кент Боукер Иностранец
штаты Америки Соединенные
фирма Айтек Корпорейшн Иностранна
Publication of SU352479A1 publication Critical patent/SU352479A1/ru

Links

Description

ИНТЕРФ ЕРЕНЦИОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОСТУПАТЕЛЬНОГО ПЕРЕМЕЩЕНИЯ ТЕЛА
Изобретение относитс  к интерференционным устройств-ам дл  измерени  линейных смещений и предназначено дл  использовани  в качестве отсчетного узла измерени  перемещений объекта в прецизионных станках, дешифраторах аэрофотоснимков, установках контрол  печатных плат, системах управлени  и т. п.
Известные интерференционные устройства дл  измерени  линейных перемещений, облада  высокой чувствительностью, реагируют не только на смещени  отражательных поверхностей , но и на их развороты, что вносит погрешности в измерени  и повышает требовани  к конструкции механизмов перемещеПИЯ и устройства в целом.
Особенностью предложенного устройства  вл етс  использование расход щегос  светового потока и точечной диафрагмы, пропускающей в приемной части на счетчик интерференционных полос лишь лучи, отраженные строго нормально к отражающим поверхност м . Это обеспечивает зависимость показаний устройства только от перемещений объекта вдоль оси измерени  и полную их независимость от всех остальных его смещений и разворотов.
Свет от лазера / фокусируетс  линзой 2 на точечное отверстие А в диафрагме 3, пройд  через которое, сферическим расход щимс  пучком падает на полупрозрачную разделительную пластину 4 интерферометра. Часть светового пучка 5, отраженна  полупрозрачной пластиной 4, направл етс  системой зеркал 6, 7 на плоскую отражающую поверхность 8 перемещающегос  плато 9, к которому крепитс  исследуемый объект 10. Пропущенна  пластиной 4 часть светового пучка // системой зеркал 12, 13, 14 направл етс  на вторую плоскую отражающую поверхность 15 плато 9, параллельную поверхности 8. Отраженные поверхност ми 8 vi 15 световые пучки возвращаютс  каждый своим путем на пластину 4.
Прошедшие в направлении диафрагмы 16 части пучков интерферируют. Точечное отверстие В в диафрагме 16 пропускает на счетчик интерференционных полос 17 только те из лучей, отраженных от поверхностей 8 и 15, которые падают и, следовательно, отражаютс  под пр мым углом к этим поверхност м. Если поверхности 8 и 15 перпендикул рны оптической оси 18, то на счетчик полос. 17 попадут лучи, совпадающие с оптической осью. Если эти поверхности имеют с осью 18, например, угол а, то на счетчик попадут лучи 5а к На, составл ющие угол а с оптической
осью, но также перпендикул рные поверхност м 8 и 15. Повороты плато 9 не измен ют разности хода между соответствующими лучами , принадлежащими пучкам 5 и //. Таким образом, смещени  интерференционных полос вызываютс  лишь перемещени ми плато 9 вдоль оси 18.
Отражающие поверхности плато 9 могут быть как наружными (фиг. I), так и внутренними (фиг. 2).
На неподвижной части устройства имеетс  перекрестие 19 (фиг. 1), с которым поочередно совмещаютс , например, точки С и D объекта 10 дл  измерени  рассто ни  между ними в направлении оси 18 путем подсчета количества интерференционных полос, прощедших при этом через отверстие В диафрагмы 16.
Плоскость пол ризации лазерного излучени  развернута относительно плоскости оптических осей интерферометра. Зеркало 12 имеет металлическое покрытие, которое создает относительный сдвиг фаз пол ризационных составл ющих, параллельных и перпендикул рных плоскости оптических осей. В счетчике полос эти составл ющие раздел ютс  пол ризационной призмой и служат дл  определени  направлени  смещени  интерференционных полос.
В случае необходимости выполнени  измерений на объекте вдоль двух координатных осей, плато 9 может иметь две нары взаимно перпендикул рных отражающих плоскостей, смещени  которых измер ютс  с помощью двух интерференционных каналов, идентичных описанному. Оба интерференционных
канала могут освещатьс  одним лазерным источником света.
Предмет изобретени 

Claims (3)

1. Интерференционное устройство дл  измерени  поступательного перемещени  тела, содержащее интерферометр по схеме Майкельсона , концевыми зеркалами которого служат две противоположные стороны плоскопараллельной пластины, св занной с объектом измерени ; источник когерентного пол ризованного излучени  и средства дл  определени  величины и направлени  смещени  интерференционной картины, в том числе и средства сдвига фазы одной пол ризационной компоненты в одной ветви интерферометра относительно другой, отличающеес  тем, что, с целью устранени  вли ни  на смещение интерференционных полос наклонов
плоскопараллельной пластины, непосредственно перед полупрозрачной пластиной интерферометра установлен источник света в виде свет щейс  точки, а в приемной части установлена диафрагма с круглым отверстием , оптически сопр женным со свет щейс  точкой.
2. Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что, с целью определени  поступательных смещений тела в двух взаимно перпендикул рных плоскост х, две пары взаимно перпендикул рных поверхностей пластины, св занной с измер емым телом, выполнены плоскопараллельным , отражающими световые лучи в два интерференционных канала.
3. Устройство по п. 2, отличающеес  тем, что в нем установлен источник света, общий дл  обоих интерференционных каналов.
13
..
SU1303779A SU352479A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU352479A1 true SU352479A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4883357A (en) Dual high stability interferometer
EP0281385A2 (en) Plane mirror interferometer
JPH073344B2 (ja) エンコ−ダ−
EP0250306A2 (en) Angle measuring interferometer
JP2579226B2 (ja) 干渉測定装置用光学装置
TWI452262B (zh) 同時量測位移及傾角之干涉儀系統
EP0244275A2 (en) Angle measuring interferometer
JPH0465325B2 (ru)
US3090279A (en) Interferometer using a diffraction grating
US5000542A (en) Optical type encoder
US4334778A (en) Dual surface interferometer
JPS58191907A (ja) 移動量測定方法
US20080225262A1 (en) Displacement Measurement System
US3552857A (en) Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position
JP2023171867A (ja) 多軸レーザ干渉測長器
US4395123A (en) Interferometric angle monitor
US5142146A (en) High-accuracy position comparator using 2 dimensional grating
SU352479A1 (ru)
US5355209A (en) Device for measuring the diameter of an object that is largely cylindrical, for example an optical fiber, without contact
JP3439803B2 (ja) 対物レンズの焦点から物体のずれ又は位置変化を検出する方法及び装置
WO1991016602A1 (en) Improvements relating to optical measuring systems
EP0480027A1 (en) Method and device for determining the thickness of a glass tube
US3419331A (en) Single and double beam interferometer means
SU1364866A1 (ru) Интерференционное устройство дл измерени угловых перемещений
SU1730531A1 (ru) Двухкоординатный измеритель перемещений