SU275512A1 - DEVICE FOR MEASURING THE PLASMA ABSORPTION COEFFICIENT - Google Patents
DEVICE FOR MEASURING THE PLASMA ABSORPTION COEFFICIENTInfo
- Publication number
- SU275512A1 SU275512A1 SU1332294A SU1332294A SU275512A1 SU 275512 A1 SU275512 A1 SU 275512A1 SU 1332294 A SU1332294 A SU 1332294A SU 1332294 A SU1332294 A SU 1332294A SU 275512 A1 SU275512 A1 SU 275512A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- absorption coefficient
- measuring
- plasma absorption
- plasma
- reflecting
- Prior art date
Links
- 210000002381 Plasma Anatomy 0.000 title description 8
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 title description 7
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminum Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052904 quartz Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Description
Изобретение относитс к устройствам дл анализа материалов оптическими методами путем исследовани поглощени световых лучей , в частности к устройствам дл измерени коэффициента поглощени илазмы, в которых иснользуетс собственное излучение мощного имлульсного разр да s газах.The invention relates to devices for analyzing materials by optical methods by examining the absorption of light rays, in particular to devices for measuring the absorption coefficient of plasma, which uses its own radiation of high-power impulse discharge s gases.
Известно устройство дл измерени коэффициента поглоидени плазмы, содержащее отражающий узел в виде сплошного зеркала и регистрирующий прибор, размещенные на одной оптической оси с 1противоноложных сторон исследуе.мого объекта. Устройство позвол ет определ ть усредненное значение коэффициента поглоп1.ени , причем используетс минимум две вспышки испытуемой импульсной лампы, одиа из которых осуществл етс без отражающего зеркала.A device for measuring the plasma absorption coefficient is known, which contains a reflecting unit in the form of a solid mirror and a recording device placed on the same optical axis from 1 opposite sides of the test object. The device makes it possible to determine the average value of the coefficient of failure. One should use at least two flashes of the test flash lamp, one of which is carried out without a reflecting mirror.
Известное устройство позвол ет получить лишь интегральное значение коэффициента поглощени плазмы импульсных ламп и не обеспечивает нахождени радиального распределени этого коэффициента, а также определени коэффициента поглощени плазмы за врем действи одного импульса. Это уменьщает точность измерений за счет погрещнэсти , вызываемой нестабильностью последовательных ИКГЛЛЬСОВ.The known device makes it possible to obtain only the integral value of the plasma absorption coefficient of the pulsed lamps and does not ensure that the radial distribution of this coefficient is found, as well as the determination of the plasma absorption coefficient during the duration of a single pulse. This reduces the measurement accuracy due to the cracks caused by the instability of successive ICGLDS.
ента поглощени плазмы за врем действи одного имп -льса.plasma absorption for the duration of one pulse.
Дл этого отражающий узел установки выполнен в виде примыкающей к исследуемому объекту рещетки из полированных с торцов пластин металла, пластмассы или другого материала , способного отражать световой поток необходимого диапазона длин волн. Отражающий узел может быть выполнен в впде отражающих штри.хов, нанесенных на подложку из стекла, иласт.массы, алюмини , серебра и т. п., пли непосредственно на поверхность исследуемого объекта, например импульсной кварцевой . Отражающа поверхностьFor this, the reflecting unit of the installation is made in the form of a lattice adjacent to the object under study made of metal, plastic or other material polished from the ends, capable of reflecting the light flux of the required wavelength range. The reflecting unit can be made in a reflecting glass hatch, coated on a substrate of glass, plastic, aluminum, silver, etc., or directly on the surface of the object under study, for example, a pulsed quartz crystal. Reflective surface
рещетки расположена нормально по отношению к оптической оси установки.The lattice is located normally with respect to the optical axis of the installation.
Дл удобства эксплуатации установка может быть снабжена устройством дл калибровки , например осветителем с коллиматором,For convenience of operation, the installation can be equipped with a calibration device, for example, an illuminator with a collimator,
раз.мещенным на ее оптической оси со стороны , .противоположной расположению регистрирующего прибора.located on its optical axis on the side opposite to the location of the recording instrument.
Предложенное устройство дл измерени пространственного распределени коэффициента логлощеии плазмы обеспечивает точный расчет светотехнических параметров осветительных устройств, а также позвол ет проводить исследовани низкотемпературной плазмы , наири.мер, в реактивных двигател х.The proposed device for measuring the spatial distribution of the plasma plasma absorption coefficient provides an accurate calculation of the lighting parameters of the lighting devices, and also allows for the study of low-temperature plasma, measured in jet engines.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU275512A1 true SU275512A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2615054C1 (en) * | 2015-12-25 | 2017-04-03 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) | Method of measuring absorbed power per unit volume of microwave discharge plasma in hydrogen-containing gas |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2615054C1 (en) * | 2015-12-25 | 2017-04-03 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Федеральный исследовательский центр Институт прикладной физики Российской академии наук" (ИПФ РАН) | Method of measuring absorbed power per unit volume of microwave discharge plasma in hydrogen-containing gas |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101658673B1 (en) | Apparatus and method for measuring total luminous flux | |
KR20020035159A (en) | Method and apparatus for in-situ monitoring of plasma etch and deposition processes using a pulsed broadband light source | |
US8610066B2 (en) | Device for radiation absorption measurements and method for calibration thereof | |
JPH0989657A (en) | Measuring sensor and measuring method for diffuse reflection sepctrum by using measuring sensor and emulsion preparation apparatus | |
GB2329707A (en) | Infra-red absorption measurement | |
SU275512A1 (en) | DEVICE FOR MEASURING THE PLASMA ABSORPTION COEFFICIENT | |
KR20150115036A (en) | NO/NO2 multi-gases analyzer using non-dispersive ultraviolet method and NO/NO2 multi-gases analyzing method | |
KR920704125A (en) | Device for qualitatively and / or quantitatively measuring the components of the sample to be analyzed | |
RU2478192C2 (en) | Method for optical remote detection of compounds in medium | |
JPH0835926A (en) | Sample cell | |
ATE288585T1 (en) | FREEZING POINT MEASUREMENT DEVICE AND METHOD FOR MEASURING THE FREEZING POINT | |
CN2738244Y (en) | Smoke and dust density measuring probe | |
CN213933570U (en) | Absorbance detection device | |
JP2008051662A (en) | Measuring method and measuring instrument for absolute reflection factor | |
Fornier et al. | Characterization of optical coatings: damage threshold/local absorption correlation | |
Morrow et al. | Design and evaluation of a cosine collector for a SeaWiFS-compatible marine reflectance radiometer | |
JP2004536305A5 (en) | ||
RU130697U1 (en) | CRIMINALISTIC PHOTOMETER | |
SU1187563A1 (en) | Method of determining dissipation factor of translucent solid mirror-reflection materials with small absorption factor | |
RU2278371C1 (en) | Optical gas analyzer | |
SU1511593A1 (en) | Device for checking surface roughness | |
Liu et al. | Spectrophotometer for measuring spectral transmittance and reflectance of large-aperture optical element | |
TW201809630A (en) | Gas detection device and method for detecting gas concentration | |
RU2091733C1 (en) | Surface electromagnetic wave spectrometer | |
Asatryan et al. | An Automatic Field Optical Meteorological Station Automatic |