SU253931A1 - SEMICONDUCTOR DEVICES - Google Patents
SEMICONDUCTOR DEVICESInfo
- Publication number
- SU253931A1 SU253931A1 SU1233890A SU1233890A SU253931A1 SU 253931 A1 SU253931 A1 SU 253931A1 SU 1233890 A SU1233890 A SU 1233890A SU 1233890 A SU1233890 A SU 1233890A SU 253931 A1 SU253931 A1 SU 253931A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- solder
- semiconductor devices
- seam
- thermal
- periphery
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title description 4
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 2
- 229910004682 ON-OFF Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000005712 crystallization Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Description
Изобретение относитс к изготовлению силовых полупроводниковых приборов, а именно к способу нрисоединени термокомпенсатора к основанию прибора.The invention relates to the manufacture of power semiconductor devices, and specifically to a method of connecting a thermal compensator to the base of the device.
В силовых полупроводникО|ВЫХ приборах нижиий вольфрамовый термокомпенсатор соедин етс с медным основанием плоским швом из м гкого припо . Однако в материале припо обнаруживаютс многочисленные несплошности усадочного и газового происхождени . Отношение площади, зан той пустотами, к обш ,ей плош,ади контакта обычно составл ет 30-70%. При значительном количестве пор тепловое сопротивление пр.ибора оказываетс завышенным, температура внутри прибора также повышаетс , что создает более жесткие услови дл его работы. При таком па ном соединении невозможно избежать усадочных раковин ,-поскольку при пайке кристаллизаци припо идет от периферии к центру шва. При этом затрудн етс и выход газов наружу.In power semiconductors | OUT devices, the lower tungsten thermal compensator is connected to the copper base with a flat seam of soft solder. However, numerous discontinuities of shrinkage and gas origin are found in the solder material. The ratio of the area occupied by voids to sheath, she plush, contact usually is 30-70%. With a significant number of pores, the thermal resistance of the circuit is overestimated, the temperature inside the device also rises, which creates more stringent conditions for its operation. With such a joint, it is impossible to avoid shrink holes because, when soldering, solder crystallization proceeds from the periphery to the center of the seam. It also makes it difficult for gases to escape to the outside.
При циклической работе прибора в режиме включено-выключено в материале шва накапливаютс структурные изменени , обусловленные переменными напр жени ми, что приводит к усталостному разрушению па ного соединени после определенного числа циклов.When the device is cycled in the on-off mode, structural changes due to alternating stresses accumulate in the weld material, which leads to fatigue failure of the solder joint after a certain number of cycles.
тактов свидетельствуют о том, что разрушение припо начинаетс на периферии шва и развиваетс к его центру, постепенно сокраща площадь, через которую отводитс тепло. Контакт полностью нарушаетс при оплавлении участка в середине шва, когда температура внутри прибора резко возрастает, Развитие процесса термической усталости можно затормозить , снизив напр жени среза на периферии па ного соединени , что возможно, если увеличить здесь толщ11ну припо .The cycles indicate that the destruction of the solder begins at the periphery of the seam and develops toward its center, gradually reducing the area through which heat is removed. The contact is completely broken when the section is melted in the middle of the seam, when the temperature inside the device rises sharply. The development of the process of thermal fatigue can be slowed down by lowering the shear stress on the periphery of the solder joint, which is possible if you increase the thickness of the solder here.
С целью снижени теплового сопротивлени прибора, улучшени качества пайки и повыщеии цнклоустойчивости прибора предлагаетс крпсталлодержатель выполи ть в месте устаповки термокомпен:сирующего диска в виде усеченного конуса, а по оси снабдить каналом дл подвода охлаждающей жидкости.In order to reduce the thermal resistance of the device, improve the quality of soldering and increase the durability of the device, it is proposed that the mounting holder be made at the place of installation of the thermocompensating disk in the form of a truncated cone, and along the axis should be provided with a channel for supplying coolant.
На чертелче дано одно из конкретных выполнений крнсталлодержател , где /-кристаллодержатель , 2-термокомпепсируюший диск, 3-канал. Такое выполнение создает услови дл направленной кристаллизации припо отOn chertelch one of the specific executions of the holder is given, where the / -crystal holder, 2-thermally compressed disk, 3-channel. This embodiment creates conditions for the directional solidification of solder from
середины шва к его периферии, что приводит к сосредоточению нустот в массе припо вне площади контакта. Увеличение толщины шва на его периферии приводит к увеличению срока службы прибора при токовых циклическихmiddle of the seam to its periphery, which leads to the concentration of nustot in the mass of solder outside the contact area. Increasing the thickness of the seam at its periphery leads to an increase in the service life of the device with cyclic current
Предмет изобретени Subject invention
Корпус силового полупроводникового прибора , содержащий кристаллодержатель и установленный на нем термокомпенсирующий диск, отличающийс тем, что, с целью снижени теплового сопротивлени прибора и повышени его циклоустойчивости, в месте установки термокомпенсирующего диска кристаллодержатель выполнен в виде усеченного конуса и снабжен по оси каналом дл подвода охлаждающей жидкости.The case of a power semiconductor device containing a crystal holder and a thermal compensating disk mounted on it, characterized in that, in order to reduce the thermal resistance of the device and increase its cyclic resistance, at the installation site of the thermal compensating disk the crystal holder is made in the form of a truncated cone and provided along the axis with a channel for supplying coolant .
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU253931A1 true SU253931A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2494857C2 (en) * | 2008-03-12 | 2013-10-10 | Макита Корпорейшн | Electric power drives |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2494857C2 (en) * | 2008-03-12 | 2013-10-10 | Макита Корпорейшн | Electric power drives |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5489802A (en) | Pressure contact type semiconductor device and heat compensator | |
JP6580259B2 (en) | Power semiconductor device | |
SU253931A1 (en) | SEMICONDUCTOR DEVICES | |
JPH0714948A (en) | Power semiconductor module | |
JP5916651B2 (en) | Method for manufacturing power semiconductor device | |
GB2151529A (en) | Method for making electrical contact to semiconductor devices | |
JP3882734B2 (en) | Wire bonding method for power semiconductor device | |
WO2018123729A1 (en) | Sample holder | |
JP2011086743A (en) | Power semiconductor device and method for manufacturing the power semiconductor device | |
JP2008306052A (en) | Circuit board, and electronic equipment | |
JP2008002869A (en) | Method for estimating life of solder | |
JP2988432B2 (en) | Temperature control type semiconductor module | |
KR20030081540A (en) | susceptor for supporting glass of CVD equipment | |
JP7230419B2 (en) | Semiconductor device, method for manufacturing semiconductor device | |
JP2009164673A (en) | Metal base for crystal resonator and crystal resonator using the same | |
US11804414B2 (en) | Semiconductor device comprising a lead electrode including a through hole | |
JP6242328B2 (en) | Semiconductor device | |
JP7464026B2 (en) | Bolt fastening structure and silicon single crystal pulling device using the same | |
KR100801668B1 (en) | Fluorescent lamp | |
JP4555187B2 (en) | Power module and manufacturing method thereof | |
JP2009283861A (en) | Semiconductor device | |
JP4851287B2 (en) | Airtight terminals for semiconductor devices | |
CN116000437A (en) | Furnace temperature plate and preparation method thereof | |
JPS62198140A (en) | Semiconductor device | |
JP2007258628A (en) | Power semiconductor device |