SU1747879A1 - Device to take measurements of material deformations - Google Patents

Device to take measurements of material deformations Download PDF

Info

Publication number
SU1747879A1
SU1747879A1 SU904835992A SU4835992A SU1747879A1 SU 1747879 A1 SU1747879 A1 SU 1747879A1 SU 904835992 A SU904835992 A SU 904835992A SU 4835992 A SU4835992 A SU 4835992A SU 1747879 A1 SU1747879 A1 SU 1747879A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
receiving
sensitive element
substrate
material deformations
base
Prior art date
Application number
SU904835992A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Ирина Дмитриевна Ковалева
Олег Владимирович Семенов
Original Assignee
Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им.Д.В.Ефремова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им.Д.В.Ефремова filed Critical Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им.Д.В.Ефремова
Priority to SU904835992A priority Critical patent/SU1747879A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1747879A1 publication Critical patent/SU1747879A1/en

Links

Description

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  устройство дл  измерени  деформаций, содержащее источник света, приемный и передающий световоды, соединенные чувствительным элементом, выполненным в виде стыковочного узла, приемник излучени  и регистратор .The closest in technical essence to the present invention is a device for measuring deformations, comprising a light source, receiving and transmitting optical fibers connected by a sensitive element made in the form of a connecting node, a radiation receiver and a recorder.

Недостатком известного устройства  вл етс  больша  погрешность измерений, вызванна  большой толщиной чувствительного элемента и отсутствием фиксированной базы измерений.A disadvantage of the known device is the large measurement error caused by the large thickness of the sensing element and the absence of a fixed measurement base.

Цель изобретени  - повышение точности измерени  деформаций материалов и за счет этого -точности определени  параметров напр женно-деформированного состо ни  конструкцийThe purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the deformation of materials and due to this, the accuracy of determining the parameters of the stress-strain state of structures.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что в устройстве дл  измерени  деформаций материалов, содержащем источник света, приемный и передающий световоды, соединенные чувствительным элементом, выполненным в виде стыковочного узла, приемник излучени  и регистратор, чувствительный элемент выполнен в виде подложки толщиной 5-20 мкм, на которой с помощью ниэкомодульного компаунда зафиксированы торцы приемного и передающего световодов, образующие базу измерейий, а на участке базы измерений на подложку и торцы световодов нанесен анти- адгезив.The goal is achieved by the fact that in a device for measuring deformations of materials containing a light source, receiving and transmitting light guides connected by a sensitive element made in the form of a connecting node, a radiation receiver and a recorder, the sensitive element is made with the help of a non-modular compound, the ends of the receiving and transmitting fibers, which form the base of the measurements, are fixed, and an anti-adhesive is applied to the substrate and the ends of the optical fibers in the area of the measurement base.

На фиг. 1 представлена блок-схема устройства дл  измерени  деформаций материалов; на фиг. 2 - чувствительный элемент устройства, разрез по оптической оси.FIG. 1 is a block diagram of a device for measuring material deformations; in fig. 2 - sensitive element of the device, a section along the optical axis.

Устройство дл  измерени  деформаций материалов содержит источник 1 света, приемный световод 2, чувствительный эемент 3, передающий световод 4, приемник 5 излучени  и регистратор 6 (фиг. 1).A device for measuring material deformations comprises a light source 1, a receiving light guide 2, a sensitive element 3, a transmitting light guide 4, a radiation receiver 5 and a recorder 6 (Fig. 1).

Чувствительный элемент 3 (фиг. 2) выполнен в виде подложки 7 толщиной 5-20The sensing element 3 (Fig. 2) is made in the form of a substrate 7 with a thickness of 5-20

мкм, на которой с помощью низкомодульного компаунда 8 (например, эпоксидной смолы ) зафиксированы торцы оптических волокон 9 приемного и передающего световддов 2 и 4, образующие базу измерений На участке базы измерений на подложку 7 и торцы волокон 9 нанесен антиадгезив 10 (например, каучук СКТ)μm, on which, using a low-modulus compound 8 (for example, epoxy resin), the ends of the optical fibers 9 of the receiving and transmitting lights 2 and 4 are fixed, forming the base of the measurements. )

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Свет от источника 1 с помощью приемного световода 2 подаетс  на чувствительный элемент 3. наклеенный на исследуемый объект 11 (фиг. 2) При деформировании объекта 11 измен етс  рассто ние между торцами волокон 9, что приводит к изменению интенсивности светового потока, передаваемого по передающему световоду 4 на приемник 5 излучени .Light from source 1 is transmitted to sensing element 3 using receiving light guide 2 glued to object 11 under investigation (Fig. 2). If object 11 is deformed, the distance between the ends of the fibers 9 changes, resulting in a change in the intensity of the light flux transmitted through the transmitting light 4 to radiation receiver 5.

Наличие чувствительного элемента 3, имеющего малую толщину (диаметр волокна 9 + толщина подложки 7) и практически любую базу измерений, позвол ет значительно увеличить точность определени The presence of a sensitive element 3, having a small thickness (fiber diameter 9 + thickness of the substrate 7) and virtually any measurement base, can significantly increase the accuracy of

деформации материала и за счет этого - точность определени  напр женно-деформированного состо ни  конструкцииdeformation of the material and due to this, the accuracy of determining the stress-strain state of the structure

30thirty

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Устройство дл  измерени  деформаций материалов, содержащее источник света, приемный и передающий световоды, соединенные чувствительным элементом, в видеAn apparatus for measuring material deformations, comprising a light source, receiving and transmitting light guides connected by a sensitive element, in the form стыковочного узла, приемник излучени  и регистратор, отличающеес  тем, что. с целью повышени  точности, чувствительный элемент выполнен в виде подложки толщиной 5-20 мкм, на которой с помощьюa docking station, a radiation receiver and a recorder, characterized in that. in order to increase accuracy, the sensitive element is designed as a substrate with a thickness of 5-20 μm, on which, using низкомодульного компаунда зафиксированы торцы приемного и передающего световодов , образующие базу измерений, а на участке базы измерений на подложку и торцы световодов нанесен антиадгезивthe low-modulus compound fixed the ends of the receiving and transmitting light guides, forming the measurement base, and an anti-adhesive was applied on the substrate and the ends of the optical fibers in the base measurement section фиг 1fig 1 фиг 2fig 2
SU904835992A 1990-06-07 1990-06-07 Device to take measurements of material deformations SU1747879A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904835992A SU1747879A1 (en) 1990-06-07 1990-06-07 Device to take measurements of material deformations

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU904835992A SU1747879A1 (en) 1990-06-07 1990-06-07 Device to take measurements of material deformations

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1747879A1 true SU1747879A1 (en) 1992-07-15

Family

ID=21519147

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU904835992A SU1747879A1 (en) 1990-06-07 1990-06-07 Device to take measurements of material deformations

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1747879A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5461927A (en) * 1994-06-30 1995-10-31 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Optical fiber strain sensor for measuring maximum strain

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5461927A (en) * 1994-06-30 1995-10-31 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Optical fiber strain sensor for measuring maximum strain

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3689640D1 (en) Fiber optic sensor.
US4380394A (en) Fiber optic interferometer
SE8406029D0 (en) SENSORS FOR SATURING THE EXTENSION AND / OR TURNING OF AN Oblong MACHINE ELEMENT
SU1747879A1 (en) Device to take measurements of material deformations
ATE88269T1 (en) FIBER OPTIC POLARIMETRIC SENSOR.
DE50001263D1 (en) Optical measuring arrangement for determining the transmission and scattered radiation
DE59308272D1 (en) Device for measurements on optical fibers and method for carrying out the measurement
DE3772545D1 (en) METHOD FOR MEASURING THE SPECIFIC CURVATION-DEPENDENT DAMPING INCREASE OF A FOC.
SU1223030A1 (en) Optical displacement transducer
FR2256394A1 (en) Method of measuring wire dia. without contact - uses oscillating sample and reference dia. detector
SU1539519A1 (en) Fibre-optic displacement transducer
SU1323852A1 (en) Tunnel oversize meter
SU1428912A1 (en) Fibre-optical transducer
SU1645840A1 (en) Optical level meters for liquids
SU1415054A1 (en) Device for measuring deformation of materials
SU922539A1 (en) Device for measuring temperature
SU1755123A1 (en) Fiber-optics refractometer
SU1254295A1 (en) Device for measuring linear shifts
RU1825977C (en) Optoelectronic transducer
SU1434335A1 (en) Refraction meter
SU1634995A1 (en) Optical sensor for device for measuring linear displacement and vibration
EP0079945A1 (en) Fiber optic interferometer
SU1539544A1 (en) Fibre-optic temperature sensor
SU1223031A1 (en) Fiber-optical sensor for measuring object displacement
SU1651094A1 (en) Device for measurement of large deformations