SU1725156A1 - Способ измерени проводимости тонких пленок - Google Patents
Способ измерени проводимости тонких пленок Download PDFInfo
- Publication number
- SU1725156A1 SU1725156A1 SU894683355A SU4683355A SU1725156A1 SU 1725156 A1 SU1725156 A1 SU 1725156A1 SU 894683355 A SU894683355 A SU 894683355A SU 4683355 A SU4683355 A SU 4683355A SU 1725156 A1 SU1725156 A1 SU 1725156A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- conductivity
- film
- electric current
- sensor
- excited
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при определении проводимости а провод щих слоев с большим удельным сопротивлением в гибридных структурах, примен емых в микроэлектронике. Цель изобретени - расширение диапазона измерени удельных проводимостей. Способ состоит в подключении участка провод щего сло пленки к измерительной цепи с помощью металлических контактов, отделенных тонким диэлек- трическим слоем, и определении проводимости пленки при возбуждении в ней электрического тока, дл чего измер ют рабочую (С) и паразитную (Сп) емкости металлических контактов, а возбуждение электрического тока в пленке осуществл ют переменным напр жением низкой звуковой частоты ш, котора выбираетс из услови о/С а) а/Сп . 2 ил. сл С
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при определении проводимости провод щих слоев с большим удельным сопротивлением в гибридных структурах, примен емых в микроэлектронике.
Цель изобретени - расширение диапазона измерени удельных проводимостей .
На фиг. 1 приведена блок-схема устройства дл реализации способа; на фиг. 2 - эквивалентна схема измерительной цепи.
Устройство дл осуществлени предлагаемого способа содержит датчик, представл ющий собой две металлические площадки 1, напыленные на диэлектрическую подложку 2 и покрытые с внешней стороны тонким диэлектрическим слоем 3. Дат- чик прикладываетс к поверхности провод щего сло 4 гибридной структуры, состо щей из провод щего сло 4 и диэлектрической подложки 5. Металлические площадки датчика /через резистор 6 электрически соедин ютс с выходом генератора 7 напр жени низких частот (ГНЧ). Общий контакт резистора 6 и генератора 7 заземл етс . Параллельно резистору 6 подключаетс вход предварительного усилител 8 блока 9 измерени и регистрации низкочастотных сигналов (УИРС), представл ющего собой последовательно включенные предварительный усилитель 8, компенсирующий мост 10, синхронный
vi ю сл
сл с
интегратор 11, широкополосный усилитель 12, синхронный детектор 13, аналого-цифровой преобразователь 14, ЭВМ 15 и два фазовращател 16 и 17.
При оптимальной настройке фазовращателем 17 фазы опорного сигнала, подаваемого на опорные входы синхронного интегратора 11 и синхронного детектора 13, балансируетс компенсирующий мост 10 путем подбора оптимальной фазы с помощью фазовращател 16 и амплитуды до получени на выходе детектора 13 нулевых показаний. Датчик металлическими площадками 1 через тонкое диэлектрическое покрытие 3 прикладываетс к провод щему слою 4 гибридной структуры 4, 5. Удельна проводимость сло в локальной области приложени датчика определ етс расчетным путем на ЭВМ 15 по усиленному падению напр жени на резисторе 6, возникающему при приложении датчика к провод щему слою и подаваемому на ЭВМ с выхода детектора 13 через аналого-цифровой преобразователь 14.
Эквивалентна схема измерительной цепи устройства (фиг. 2) состоит из последовательно соединенных ГНЧ 7, резистора 6, двух эквивалентных конденсаторов Ci и Са, электрически св зывающих измерительную цепь с локальным участком провод щего с эквивалентным активным сопротивлением RX, и паразитной емкости датчика Сп.
При выполнении услови выбора частоты переменного напр жени
а
Сп
Л -«.. °УД R U0
где а - нормировочна константа, завис ща от конструктивных размеров датчика и определ ема экспериментально;
и0- напр жение на выходе генерато
ра;
R.
Ux падение напр жени на резисторе
Способ обеспечивает неразрушающий локальный контроль материала, возможность телеграфировани поверхности пленки и широкий диапазон измерени проводимости провод щих слоев, что позвол ет его использовать в автоматизированных системах.
Claims (1)
- Формула изобретени Способ измерени проводимости тонких пленок, заключающийс в подключении участка провод щего сло пленки к измерительной цепи с помощью металлических контактов, отделенных тонким диэлектрическим слоем, и определении проводимости пленки при возбуждении в ней электрического тока, отличающийс тем, что, с целью расширени диапазона в сторону уменьшени измер емых удельных прово- димостей, измер ют рабочую и паразитную емкости металлических контактов, а возбуждение электрического тока в пленке осуществл ют переменным напр жением низкой звуковой частоты, котора выбираетс в соответствии с условиемаСпгде о - удельна проводимость участка пленки;40со- частота переменного напр жени .Удельна проводимость пленки определ етс из соотношенигде а-удельна проводимость пленки; С - рабоча емкость датчика; Сп - паразитна емкость датчика; со-частота переменного напр жени .г }7Редактор И.ШмаковаТехред М.МоргенталКорректор Э.ЛончаковаЗаказ 1174ТиражПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретени м и открыти м при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101V-НЬФиг . 2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894683355A SU1725156A1 (ru) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | Способ измерени проводимости тонких пленок |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894683355A SU1725156A1 (ru) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | Способ измерени проводимости тонких пленок |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1725156A1 true SU1725156A1 (ru) | 1992-04-07 |
Family
ID=21443819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894683355A SU1725156A1 (ru) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | Способ измерени проводимости тонких пленок |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1725156A1 (ru) |
-
1989
- 1989-04-25 SU SU894683355A patent/SU1725156A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Павлов Л.П. Методы измерени параметров полупроводниковых материалов. - М.: Высша школа, 1987, с, 44. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6069017A (en) | Method for real-time in-line testing of semiconductor wafers | |
JP2934672B2 (ja) | 静電容量型検出装置 | |
US6724612B2 (en) | Relative humidity sensor with integrated signal conditioning | |
US6867602B2 (en) | Methods and systems for capacitive balancing of relative humidity sensors having integrated signal conditioning | |
EP0503032B1 (en) | Capacitance sensing probe | |
US4423371A (en) | Methods and apparatus for microdielectrometry | |
JPH04507145A (ja) | コーティングされた金属表面を調査するための方法 | |
US20060220740A1 (en) | Apparatus for current measuring and a resistor | |
CN114910696A (zh) | 一种电线直流电压的非接触测量装置及方法 | |
SU1725156A1 (ru) | Способ измерени проводимости тонких пленок | |
EP0980004A2 (en) | Microscopic capacitance measurement system and probing system | |
JPH09211046A (ja) | 非接触電位検出方法とその装置 | |
Steiner et al. | Polymer coated capacitive microintegrated gas sensor | |
JP2965176B2 (ja) | 静電チャックの過渡特性評価方法 | |
JPH0854403A (ja) | 複合顕微鏡の導電性カンチレバ−構造 | |
Rohlicek et al. | Measurement of membrane capacitance and resistance of single cells using two frequencies | |
JP2772495B2 (ja) | 容量測定装置 | |
CN107907103A (zh) | 一种声表面波双轴倾角感测结构 | |
WO2003065062A1 (en) | Method for high-accuracy non-contact capacitive displacement measurement of poorly connected targets | |
JP3196974B2 (ja) | 検電器 | |
EP1695073B1 (en) | Methods for capacitive balancing of relative humidity sensors having integrated signal conditioning | |
SU1663405A1 (ru) | Способ определени деформаций в изделии | |
JP3362639B2 (ja) | 半導体装置の絶縁膜の電気的評価装置 | |
JPH08153762A (ja) | 2層膜接触電位差測定装置及び2層膜接触電位差の測定 方法 | |
JPH095373A (ja) | 薄膜の局所評価法およびその装置 |