SU1725156A1 - Способ измерени проводимости тонких пленок - Google Patents

Способ измерени проводимости тонких пленок Download PDF

Info

Publication number
SU1725156A1
SU1725156A1 SU894683355A SU4683355A SU1725156A1 SU 1725156 A1 SU1725156 A1 SU 1725156A1 SU 894683355 A SU894683355 A SU 894683355A SU 4683355 A SU4683355 A SU 4683355A SU 1725156 A1 SU1725156 A1 SU 1725156A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
conductivity
film
electric current
sensor
excited
Prior art date
Application number
SU894683355A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Михайлович Гришин
Юрий Макарович Николаенко
Николай Николаевич Усов
Original Assignee
Донецкий физико-технический институт АН УССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Донецкий физико-технический институт АН УССР filed Critical Донецкий физико-технический институт АН УССР
Priority to SU894683355A priority Critical patent/SU1725156A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1725156A1 publication Critical patent/SU1725156A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при определении проводимости а провод щих слоев с большим удельным сопротивлением в гибридных структурах, примен емых в микроэлектронике. Цель изобретени  - расширение диапазона измерени  удельных проводимостей. Способ состоит в подключении участка провод щего сло  пленки к измерительной цепи с помощью металлических контактов, отделенных тонким диэлек- трическим слоем, и определении проводимости пленки при возбуждении в ней электрического тока, дл  чего измер ют рабочую (С) и паразитную (Сп) емкости металлических контактов, а возбуждение электрического тока в пленке осуществл ют переменным напр жением низкой звуковой частоты ш, котора  выбираетс  из услови  о/С а) а/Сп . 2 ил. сл С

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при определении проводимости провод щих слоев с большим удельным сопротивлением в гибридных структурах, примен емых в микроэлектронике.
Цель изобретени  - расширение диапазона измерени  удельных проводимостей .
На фиг. 1 приведена блок-схема устройства дл  реализации способа; на фиг. 2 - эквивалентна  схема измерительной цепи.
Устройство дл  осуществлени  предлагаемого способа содержит датчик, представл ющий собой две металлические площадки 1, напыленные на диэлектрическую подложку 2 и покрытые с внешней стороны тонким диэлектрическим слоем 3. Дат- чик прикладываетс  к поверхности провод щего сло  4 гибридной структуры, состо щей из провод щего сло  4 и диэлектрической подложки 5. Металлические площадки датчика /через резистор 6 электрически соедин ютс  с выходом генератора 7 напр жени  низких частот (ГНЧ). Общий контакт резистора 6 и генератора 7 заземл етс . Параллельно резистору 6 подключаетс  вход предварительного усилител  8 блока 9 измерени  и регистрации низкочастотных сигналов (УИРС), представл ющего собой последовательно включенные предварительный усилитель 8, компенсирующий мост 10, синхронный
vi ю сл
сл с
интегратор 11, широкополосный усилитель 12, синхронный детектор 13, аналого-цифровой преобразователь 14, ЭВМ 15 и два фазовращател  16 и 17.
При оптимальной настройке фазовращателем 17 фазы опорного сигнала, подаваемого на опорные входы синхронного интегратора 11 и синхронного детектора 13, балансируетс  компенсирующий мост 10 путем подбора оптимальной фазы с помощью фазовращател  16 и амплитуды до получени  на выходе детектора 13 нулевых показаний. Датчик металлическими площадками 1 через тонкое диэлектрическое покрытие 3 прикладываетс  к провод щему слою 4 гибридной структуры 4, 5. Удельна  проводимость сло  в локальной области приложени  датчика определ етс  расчетным путем на ЭВМ 15 по усиленному падению напр жени  на резисторе 6, возникающему при приложении датчика к провод щему слою и подаваемому на ЭВМ с выхода детектора 13 через аналого-цифровой преобразователь 14.
Эквивалентна  схема измерительной цепи устройства (фиг. 2) состоит из последовательно соединенных ГНЧ 7, резистора 6, двух эквивалентных конденсаторов Ci и Са, электрически св зывающих измерительную цепь с локальным участком провод щего с эквивалентным активным сопротивлением RX, и паразитной емкости датчика Сп.
При выполнении услови  выбора частоты переменного напр жени 
а
Сп
Л -«.. °УД R U0
где а - нормировочна  константа, завис ща  от конструктивных размеров датчика и определ ема  экспериментально;
и0- напр жение на выходе генерато
ра;
R.
Ux падение напр жени  на резисторе
Способ обеспечивает неразрушающий локальный контроль материала, возможность телеграфировани  поверхности пленки и широкий диапазон измерени  проводимости провод щих слоев, что позвол ет его использовать в автоматизированных системах.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ измерени  проводимости тонких пленок, заключающийс  в подключении участка провод щего сло  пленки к измерительной цепи с помощью металлических контактов, отделенных тонким диэлектрическим слоем, и определении проводимости пленки при возбуждении в ней электрического тока, отличающийс  тем, что, с целью расширени  диапазона в сторону уменьшени  измер емых удельных прово- димостей, измер ют рабочую и паразитную емкости металлических контактов, а возбуждение электрического тока в пленке осуществл ют переменным напр жением низкой звуковой частоты, котора  выбираетс  в соответствии с условием
    а
    Сп
    где о - удельна  проводимость участка пленки;40
    со- частота переменного напр жени .
    Удельна  проводимость пленки определ етс  из соотношени 
    где а-удельна  проводимость пленки; С - рабоча  емкость датчика; Сп - паразитна  емкость датчика; со-частота переменного напр жени .
    г }7
    Редактор И.ШмаковаТехред М.МоргенталКорректор Э.Лончакова
    Заказ 1174ТиражПодписное
    ВНИИПИ Государственного комитета по изобретени м и открыти м при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., 4/5
    Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
    V
    -НЬФиг . 2
SU894683355A 1989-04-25 1989-04-25 Способ измерени проводимости тонких пленок SU1725156A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894683355A SU1725156A1 (ru) 1989-04-25 1989-04-25 Способ измерени проводимости тонких пленок

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894683355A SU1725156A1 (ru) 1989-04-25 1989-04-25 Способ измерени проводимости тонких пленок

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1725156A1 true SU1725156A1 (ru) 1992-04-07

Family

ID=21443819

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894683355A SU1725156A1 (ru) 1989-04-25 1989-04-25 Способ измерени проводимости тонких пленок

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1725156A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Павлов Л.П. Методы измерени параметров полупроводниковых материалов. - М.: Высша школа, 1987, с, 44. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6069017A (en) Method for real-time in-line testing of semiconductor wafers
JP2934672B2 (ja) 静電容量型検出装置
US6724612B2 (en) Relative humidity sensor with integrated signal conditioning
US6867602B2 (en) Methods and systems for capacitive balancing of relative humidity sensors having integrated signal conditioning
EP0503032B1 (en) Capacitance sensing probe
US4423371A (en) Methods and apparatus for microdielectrometry
JPH04507145A (ja) コーティングされた金属表面を調査するための方法
US20060220740A1 (en) Apparatus for current measuring and a resistor
CN114910696A (zh) 一种电线直流电压的非接触测量装置及方法
SU1725156A1 (ru) Способ измерени проводимости тонких пленок
EP0980004A2 (en) Microscopic capacitance measurement system and probing system
JPH09211046A (ja) 非接触電位検出方法とその装置
Steiner et al. Polymer coated capacitive microintegrated gas sensor
JP2965176B2 (ja) 静電チャックの過渡特性評価方法
JPH0854403A (ja) 複合顕微鏡の導電性カンチレバ−構造
Rohlicek et al. Measurement of membrane capacitance and resistance of single cells using two frequencies
JP2772495B2 (ja) 容量測定装置
CN107907103A (zh) 一种声表面波双轴倾角感测结构
WO2003065062A1 (en) Method for high-accuracy non-contact capacitive displacement measurement of poorly connected targets
JP3196974B2 (ja) 検電器
EP1695073B1 (en) Methods for capacitive balancing of relative humidity sensors having integrated signal conditioning
SU1663405A1 (ru) Способ определени деформаций в изделии
JP3362639B2 (ja) 半導体装置の絶縁膜の電気的評価装置
JPH08153762A (ja) 2層膜接触電位差測定装置及び2層膜接触電位差の測定 方法
JPH095373A (ja) 薄膜の局所評価法およびその装置