SU1681169A1 - Устройство дл контрол формы поверхности - Google Patents
Устройство дл контрол формы поверхности Download PDFInfo
- Publication number
- SU1681169A1 SU1681169A1 SU884487503A SU4487503A SU1681169A1 SU 1681169 A1 SU1681169 A1 SU 1681169A1 SU 884487503 A SU884487503 A SU 884487503A SU 4487503 A SU4487503 A SU 4487503A SU 1681169 A1 SU1681169 A1 SU 1681169A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- output
- modulator
- narrow
- phase detector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике. Цель изобретени - повышение точности за счет снижени погрешности сканировани .Устройство состоит из лазерного интерферометра с внутренней фазовой модул цией с модул тором 6, схемы сканировани , выполненной в виде двух зеркальных гальванометров 8 и 9, фотоприемника 12 и фазового детектора 14, выход которого электрически св зан с модул тором 6. В процессе измерени за счет обратной св зи поддерживаетс -посто нна разность оптических длин опорного и измерительного плеч интерферометра. 1 ил.
Description
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля параметров форм и поверхности.
Цель изобретения повышение точно- 5 сти путем снижения погрешности сканирования поверхности.
На чертеже представлена блок-схема устройства.
Устройство состоит из лазерного интер- 10 ферометра с внутренней фазовой модуляцией, выполненного в виде оптически связанных лазера 1, микрообъектива 2, светоделителя 3, объектива 4, зеркала 5 с модулятором 6 и объектива 7, предназначенного 15 для оптической связи с контролируемой по верхностью, оптически связанной с светоделителем 3 схемы сканирования, выполненной в виде двух оптически связанных зеркальных гальванометров 8 и 9 с ге- 20 нераторами 10 и 11, последовательно соединенных фотоприемника 12, оптически связанного со схемой сканирования, узко,полосного усилителя 13, фазового детектора 14 и усилителя 15 постоянного тока. 25 первый выход которого электрически связан с первым входом модулятором 6, генератора 16, выходы которого подключены к вторым входам модулятора 6 и детектора 14, и индикатора 17, электрически связан- 30 ного с вторым выходом усилителя 15.
Устройство работает следующим образом.
Излучение от лазера 1 через микрообъектив 2 и светоделитель 3 проходит в объек- 35 тив 7 и падает на контролируемую поверхность 18, полностью освещая ее и образуя измерительное плечо интерферометра.
Вторая часть лазерного излучения со 40 светоделителя 3 через объектив 4 поступает на зеркало 5 и образует опорное плечо интерферометра. Зеркало 5 с модулятором 6 осуществляет внутреннюю фазовую моду'пяцию лазерного излучения с частотой мо- 45 дуляции порядка нескольких десятков килогерц и малой амплитудой колебания.
Опорный и рабочий волновые фронты объединяются, проходя вобратном порядке через светоделитель 3, и интерферируют 50 между собой, неся информацию о всей контролируемой поверхности. На модулятор 6 подается гармоническое напряжение от генератора 16. Электрический сигнал на выходе фотоприемника 12 имеет вид 55 (1) и =.UoCOS ~ρΔΐ_ο + ^·Χ где Uo - амплитуда электрического сигнала с фотоприемника 12;
λ - длина световой волны;
ΔLo - разность оптической длины в плечах интерферометра ;
Λ - период интерференционной картины в плоскости фотоприемника;
X - модуляционное перемещение интерференционной картины.
При гармоническом напряжении, подаваемом на модулятор 6, модуляционное перемещение имеет вид
X = XO + X1 sin ωι, (2) где Хо - начальное смещение интерференционной картины;
Xi - амплитуда модуляционного смещения интерференционной картины;
(ί) - модуляционная частота;
t - время.
Узкополосный усилитель 13 выделяет сигнал первой гармоники частоты ω генератора 16.
Из выражений (1) и (2) следует, что сигнал первой гармоники на выходе узкополосного усилителя 13 имеет вид
U1 — U sin Δ Lo + “д- Хо I* * \ (3) * Jt ΡγΧι j ' sin α>ι t,
Л1(-д-Х1)- функция Бесселя 1-го порядДля получения максимального сигнала где ка.
первой гармоники подбирают Хст-^ , при этом величина J (-γΧι) достигает своего максимального значения.
Сигнал с выхода узкополосного усилителя ТЗ и сигнал с генератора 16 поступают на вход фазового детектора 14, где выделяется разность их фаз.
Сигнал с выхода детектора 14 подается на модулятор 6 через усилитель 15 постоянного тока и может быть представлен в вид
Δυ-ΚΔΙ, (4) где Δυ - напряжение, поступающее на модулятор 6:
К - коэффициент пропорциональности, постоянный для данного модулятора:
ΔI - изменение оптической длины опорного плеча.
В результате наличия обратной связи зеркало 5 смещается, при этом интерферен ционный минимум все время находится на фотоприемнике 12.
При этом разность оптической длины в плечах интерферометра Δ L остается величиной постоянной:5
ALO = L + Δ I - const.(5) где ΔΙ_- разность оптической длины в плечах интерферометра без введения обратной связи.10
В свою очередь, AL может быть представлена в виде ' AL = AU ± 0L(6) где ό L-изменение оптической длины измерительного плеча, которое зависит от формы контролируемой поверхности, высоты неровностей поверхности.
Из выражений (5) и (6) следует 20
0L-AL (7)
Индикатор 17 показывает величину раз- 25 кости оптической длины ΔΓ в плечах интерферометра, а следовательно, и величину изменения оптической длины измерительного плеча д L в соответствии с формулой (4), значение которого соответствует высоте · профиля контролируемой поверхности. Сканирование интерференционной картины осуществляется с помощью гальванометров 8 и 9 с генераторами 10 и 11.
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для контроля формы поверхности, содержащее лазерный интерферометр с внутренней фазовой модуляцией, опорный генератор, выход которого подключен к входу модулятора интерферометра, последовательно соединенные фотоприемнйк, оптически связанный с интерферометром, и узкополосный усилитель и индикатор, отличающееся тем, что. с целью повышения точности, оно снабжено · схемой сканирования, выполненной в виде двух оптически связанных зеркальных гальванометров с генераторами и установленной между интерферометром и фотоприемником, и фазовым детектором, входы которого подключены к выходам узкополосного усилителя и опорного генератора соответственно, выход электрически связан с модулятором интерферометра, а вход индикатора электрически связан с выходом фазового детектора.
Редактор А. Огар Составитель М. Кузнецов Техред М.Моргентал Корректор С.Шевкун Заказ 3306 Тираж ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884487503A SU1681169A1 (ru) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | Устройство дл контрол формы поверхности |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884487503A SU1681169A1 (ru) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | Устройство дл контрол формы поверхности |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1681169A1 true SU1681169A1 (ru) | 1991-09-30 |
Family
ID=21401354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884487503A SU1681169A1 (ru) | 1988-09-28 | 1988-09-28 | Устройство дл контрол формы поверхности |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1681169A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994028373A1 (fr) * | 1993-05-28 | 1994-12-08 | Vladimir Pavlovich Tychinsky | Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode |
-
1988
- 1988-09-28 SU SU884487503A patent/SU1681169A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
ПТЭ. 1980, №2, с.173. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1994028373A1 (fr) * | 1993-05-28 | 1994-12-08 | Vladimir Pavlovich Tychinsky | Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2808136B2 (ja) | 測長方法及び装置 | |
US4759628A (en) | Wavelength scanning interferometry and interferometer employing laser diode | |
US6891149B1 (en) | Optical phase detector | |
Norgia et al. | Exploiting the FM-signal in a laser-diode SMI by means of a Mach–Zehnder filter | |
CN111693255B (zh) | 一种激光光源频率漂移的测量装置及方法 | |
US6496261B1 (en) | Double-pulsed optical interferometer for waveform probing of integrated circuits | |
Suzuki et al. | Real-time vibration measurement using a feedback type of laser diode interferometer with an optical fiber | |
SU1681169A1 (ru) | Устройство дл контрол формы поверхности | |
JPH08504034A (ja) | 干渉測定法およびこの方法を実行するのに適したレーザー干渉装置 | |
JPH01205486A (ja) | 半導体レ−ザの波長安定化装置 | |
US6538746B1 (en) | Method and device for measuring absolute interferometric length | |
SU1026010A1 (ru) | Устройство дл измерени малых медленных изменений оптической длины измерительного плеча интерферометра | |
JPS60203801A (ja) | 能動型干渉計 | |
Minoni et al. | High-performance front-end electronics for frequency-modulated continuous-wave interferometers | |
Onodera et al. | Two-wavelength laser-diode interferometry with electronic calibration techniques | |
RU2085841C1 (ru) | Двухчастотная интерферометрическая система для измерения линейных перемещений | |
SU1458707A1 (ru) | Уctpoйctbo для изmepehия amплиtуд maлыx пepиoдичeckиx лиheйhыx пepemeщehий | |
Lu et al. | Analysis of the stability of the LD feedback interferometer and the measurement of the stabilization factor | |
SU1580156A1 (ru) | Способ определени дробной части пор дка интерференции | |
SU696794A1 (ru) | Способ измерени рассто ни | |
KR940010168B1 (ko) | 2부분 광다이오드의 간섭무늬 이동검지에 의한 펄스형 레이저의 주파수 안정화 방법과 장치 | |
SU1310634A1 (ru) | Способ измерени амплитуды колебаний | |
SU1259111A1 (ru) | Устройство дл измерени длин | |
SU1236313A1 (ru) | Интерференционный способ регистрации нулевого положени сканирующего зеркала и устройство дл его осуществлени | |
Kazuo et al. | STABILIZED FIBER INTERFEROMETRIC MEASUREMENT SYSTEM OF VIBRATION AMPLITUDE USING THREEHOLD FREQUENCY SWITCHING OF LASER DIODE |