SU1681169A1 - Устройство дл контрол формы поверхности - Google Patents

Устройство дл контрол формы поверхности Download PDF

Info

Publication number
SU1681169A1
SU1681169A1 SU884487503A SU4487503A SU1681169A1 SU 1681169 A1 SU1681169 A1 SU 1681169A1 SU 884487503 A SU884487503 A SU 884487503A SU 4487503 A SU4487503 A SU 4487503A SU 1681169 A1 SU1681169 A1 SU 1681169A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
output
modulator
narrow
phase detector
Prior art date
Application number
SU884487503A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Викторович Нестеров
Яков Васильевич Водолагин
Александр Юрьевич Хазан
Original Assignee
Симферопольский государственный университет им.М.Ф.Фрунзе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Симферопольский государственный университет им.М.Ф.Фрунзе filed Critical Симферопольский государственный университет им.М.Ф.Фрунзе
Priority to SU884487503A priority Critical patent/SU1681169A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1681169A1 publication Critical patent/SU1681169A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно- измерительной технике. Цель изобретени  - повышение точности за счет снижени  погрешности сканировани .Устройство состоит из лазерного интерферометра с внутренней фазовой модул цией с модул тором 6, схемы сканировани , выполненной в виде двух зеркальных гальванометров 8 и 9, фотоприемника 12 и фазового детектора 14, выход которого электрически св зан с модул тором 6. В процессе измерени  за счет обратной св зи поддерживаетс -посто нна  разность оптических длин опорного и измерительного плеч интерферометра. 1 ил.

Description

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля параметров форм и поверхности.
Цель изобретения повышение точно- 5 сти путем снижения погрешности сканирования поверхности.
На чертеже представлена блок-схема устройства.
Устройство состоит из лазерного интер- 10 ферометра с внутренней фазовой модуляцией, выполненного в виде оптически связанных лазера 1, микрообъектива 2, светоделителя 3, объектива 4, зеркала 5 с модулятором 6 и объектива 7, предназначенного 15 для оптической связи с контролируемой по верхностью, оптически связанной с светоделителем 3 схемы сканирования, выполненной в виде двух оптически связанных зеркальных гальванометров 8 и 9 с ге- 20 нераторами 10 и 11, последовательно соединенных фотоприемника 12, оптически связанного со схемой сканирования, узко,полосного усилителя 13, фазового детектора 14 и усилителя 15 постоянного тока. 25 первый выход которого электрически связан с первым входом модулятором 6, генератора 16, выходы которого подключены к вторым входам модулятора 6 и детектора 14, и индикатора 17, электрически связан- 30 ного с вторым выходом усилителя 15.
Устройство работает следующим образом.
Излучение от лазера 1 через микрообъектив 2 и светоделитель 3 проходит в объек- 35 тив 7 и падает на контролируемую поверхность 18, полностью освещая ее и образуя измерительное плечо интерферометра.
Вторая часть лазерного излучения со 40 светоделителя 3 через объектив 4 поступает на зеркало 5 и образует опорное плечо интерферометра. Зеркало 5 с модулятором 6 осуществляет внутреннюю фазовую моду'пяцию лазерного излучения с частотой мо- 45 дуляции порядка нескольких десятков килогерц и малой амплитудой колебания.
Опорный и рабочий волновые фронты объединяются, проходя вобратном порядке через светоделитель 3, и интерферируют 50 между собой, неся информацию о всей контролируемой поверхности. На модулятор 6 подается гармоническое напряжение от генератора 16. Электрический сигнал на выходе фотоприемника 12 имеет вид 55 (1) и =.UoCOS ~ρΔΐ_ο + ^·Χ где Uo - амплитуда электрического сигнала с фотоприемника 12;
λ - длина световой волны;
ΔLo - разность оптической длины в плечах интерферометра ;
Λ - период интерференционной картины в плоскости фотоприемника;
X - модуляционное перемещение интерференционной картины.
При гармоническом напряжении, подаваемом на модулятор 6, модуляционное перемещение имеет вид
X = XO + X1 sin ωι, (2) где Хо - начальное смещение интерференционной картины;
Xi - амплитуда модуляционного смещения интерференционной картины;
(ί) - модуляционная частота;
t - время.
Узкополосный усилитель 13 выделяет сигнал первой гармоники частоты ω генератора 16.
Из выражений (1) и (2) следует, что сигнал первой гармоники на выходе узкополосного усилителя 13 имеет вид
U1 — U sin Δ Lo + “д- Хо I* * \ (3) * Jt ΡγΧι j ' sin α>ι t,
Л1(-д-Х1)- функция Бесселя 1-го порядДля получения максимального сигнала где ка.
первой гармоники подбирают Хст-^ , при этом величина J (-γΧι) достигает своего максимального значения.
Сигнал с выхода узкополосного усилителя ТЗ и сигнал с генератора 16 поступают на вход фазового детектора 14, где выделяется разность их фаз.
Сигнал с выхода детектора 14 подается на модулятор 6 через усилитель 15 постоянного тока и может быть представлен в вид
Δυ-ΚΔΙ, (4) где Δυ - напряжение, поступающее на модулятор 6:
К - коэффициент пропорциональности, постоянный для данного модулятора:
ΔI - изменение оптической длины опорного плеча.
В результате наличия обратной связи зеркало 5 смещается, при этом интерферен ционный минимум все время находится на фотоприемнике 12.
При этом разность оптической длины в плечах интерферометра Δ L остается величиной постоянной:5
ALO = L + Δ I - const.(5) где ΔΙ_- разность оптической длины в плечах интерферометра без введения обратной связи.10
В свою очередь, AL может быть представлена в виде ' AL = AU ± 0L(6) где ό L-изменение оптической длины измерительного плеча, которое зависит от формы контролируемой поверхности, высоты неровностей поверхности.
Из выражений (5) и (6) следует 20
0L-AL (7)
Индикатор 17 показывает величину раз- 25 кости оптической длины ΔΓ в плечах интерферометра, а следовательно, и величину изменения оптической длины измерительного плеча д L в соответствии с формулой (4), значение которого соответствует высоте · профиля контролируемой поверхности. Сканирование интерференционной картины осуществляется с помощью гальванометров 8 и 9 с генераторами 10 и 11.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство для контроля формы поверхности, содержащее лазерный интерферометр с внутренней фазовой модуляцией, опорный генератор, выход которого подключен к входу модулятора интерферометра, последовательно соединенные фотоприемнйк, оптически связанный с интерферометром, и узкополосный усилитель и индикатор, отличающееся тем, что. с целью повышения точности, оно снабжено · схемой сканирования, выполненной в виде двух оптически связанных зеркальных гальванометров с генераторами и установленной между интерферометром и фотоприемником, и фазовым детектором, входы которого подключены к выходам узкополосного усилителя и опорного генератора соответственно, выход электрически связан с модулятором интерферометра, а вход индикатора электрически связан с выходом фазового детектора.
    Редактор А. Огар Составитель М. Кузнецов Техред М.Моргентал Корректор С.Шевкун
    Заказ 3306 Тираж Подписное
    ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
    Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
SU884487503A 1988-09-28 1988-09-28 Устройство дл контрол формы поверхности SU1681169A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884487503A SU1681169A1 (ru) 1988-09-28 1988-09-28 Устройство дл контрол формы поверхности

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884487503A SU1681169A1 (ru) 1988-09-28 1988-09-28 Устройство дл контрол формы поверхности

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1681169A1 true SU1681169A1 (ru) 1991-09-30

Family

ID=21401354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884487503A SU1681169A1 (ru) 1988-09-28 1988-09-28 Устройство дл контрол формы поверхности

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1681169A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994028373A1 (fr) * 1993-05-28 1994-12-08 Vladimir Pavlovich Tychinsky Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ПТЭ. 1980, №2, с.173. *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1994028373A1 (fr) * 1993-05-28 1994-12-08 Vladimir Pavlovich Tychinsky Methode de mesure d'objets microscopiques et appareil mettant en ×uvre cette methode

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2808136B2 (ja) 測長方法及び装置
US4759628A (en) Wavelength scanning interferometry and interferometer employing laser diode
US6891149B1 (en) Optical phase detector
Norgia et al. Exploiting the FM-signal in a laser-diode SMI by means of a Mach–Zehnder filter
CN111693255B (zh) 一种激光光源频率漂移的测量装置及方法
US6496261B1 (en) Double-pulsed optical interferometer for waveform probing of integrated circuits
Suzuki et al. Real-time vibration measurement using a feedback type of laser diode interferometer with an optical fiber
SU1681169A1 (ru) Устройство дл контрол формы поверхности
JPH08504034A (ja) 干渉測定法およびこの方法を実行するのに適したレーザー干渉装置
JPH01205486A (ja) 半導体レ−ザの波長安定化装置
US6538746B1 (en) Method and device for measuring absolute interferometric length
SU1026010A1 (ru) Устройство дл измерени малых медленных изменений оптической длины измерительного плеча интерферометра
JPS60203801A (ja) 能動型干渉計
Minoni et al. High-performance front-end electronics for frequency-modulated continuous-wave interferometers
Onodera et al. Two-wavelength laser-diode interferometry with electronic calibration techniques
RU2085841C1 (ru) Двухчастотная интерферометрическая система для измерения линейных перемещений
SU1458707A1 (ru) Уctpoйctbo для изmepehия amплиtуд maлыx пepиoдичeckиx лиheйhыx пepemeщehий
Lu et al. Analysis of the stability of the LD feedback interferometer and the measurement of the stabilization factor
SU1580156A1 (ru) Способ определени дробной части пор дка интерференции
SU696794A1 (ru) Способ измерени рассто ни
KR940010168B1 (ko) 2부분 광다이오드의 간섭무늬 이동검지에 의한 펄스형 레이저의 주파수 안정화 방법과 장치
SU1310634A1 (ru) Способ измерени амплитуды колебаний
SU1259111A1 (ru) Устройство дл измерени длин
SU1236313A1 (ru) Интерференционный способ регистрации нулевого положени сканирующего зеркала и устройство дл его осуществлени
Kazuo et al. STABILIZED FIBER INTERFEROMETRIC MEASUREMENT SYSTEM OF VIBRATION AMPLITUDE USING THREEHOLD FREQUENCY SWITCHING OF LASER DIODE