SU1677734A1 - Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени - Google Patents
Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1677734A1 SU1677734A1 SU894659047A SU4659047A SU1677734A1 SU 1677734 A1 SU1677734 A1 SU 1677734A1 SU 894659047 A SU894659047 A SU 894659047A SU 4659047 A SU4659047 A SU 4659047A SU 1677734 A1 SU1677734 A1 SU 1677734A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- diaphragms
- deviation
- distance
- diaphragm
- shape
- Prior art date
Links
Landscapes
- Electron Beam Exposure (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к электронно- оптическим и ионно-оптическим устройствам с измен емой формой сечени пучка и может быть использовано в установках электронно- и ионно-лучевой литографии. Целью изобретени вл етс повышение производительности устройства и уменьшение искажений формы пучка. Устройство содержит две фигурные диафрагмы и много русную систему отклонени пучка. Система отклонени выполнена четырехъ русной . Между средними русами размещены фигурные диафрагмы, причем рассто ние между диафрагмами выбрано из услови , приведенного в описании. Изменение формы пучка осуществл етс за счет прохождени пучка через две диафрагмы под различными углами. Изменение угла прохождени пучка через диафрагмы обеспечиваетс четырехъ русной системой отклонени .
Description
Изобретение относитс к электронно- оптическим и ионно-оптическим устройствам с измен емой формой сечени пучка и может быть использовано, например, в установках электронно- и ионно-лучевой литографии .
Целью изобретени вл етс повышение производительности устройства и уменьшение искажений формы пучка.
Дл этого в устройстве дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой его сечени , содержащем осветитель , две фигурные диафрагмы, много русную систему отклонени пучка, состо щую из последовательно расположенных по ходу пучка русов, каждый из которых выполнен в виде двухкоординатного отклон ющего элемента, и уменьшающую систему, система отклонени выполнена четырехъ русной , при этом соседние русы системы отклонени включены противофазно, а между средними русами размещены фигурные диафрагмы, причем рассто ние между диафрагмами выбрано из услови I Р Ул:В
и --Т
Омакс
О)
О
s|
VI vj GO Јь
где I - рассто ние между диафрагмами, м;
Ьмакс - максимальный поперечный размер пучка после диафрагмы, м;
I - требуема плотность тока в пучке, А/м2;
В - электронна (или ионна ) ркость осветител А/ (м2. стер);
Р-относительна нерезкость кра , рав5 на Р -д ;
Омакс
S - допустима ширина зоны полутени, м.
В частности, при этом русы системы отклонени выполнены удовлетвор ющими услови м
( Ц - L2 ) 13 04 И. °2 L4-22(2)
( Ц - U3 j L2 СН 12 01 : U3 04
где Qt, 0.2, Оз, Q4 - соответственно чувствительность отклонени (по углу) первого, второго , третьего и четвертого русов системы отклонени ;
,L2,L3,U рассто ние от центра соответственно первого, второго, третьего и четвертого руса до ближайшей диафрагмы.
Математическое выражение (1) получено (с учетом инвариантности электронной ркости) из известных формул, одна из которых определ ет плотность тока в пучке через апертурный угол и электронную ркость , а втора - величину размыти кра теневого изображени в зависимости от апертурного угла и рассто ни до точки наблюдени .
Минимальное значение отношени
-j определ етс возможност ми изгоОмакс
товлени устройства, а также значени ми коэффициентов аберраций используемых отклон ющих систем и техническими требовани ми к устройству дл формировани пучка в части резкости кра пучка и допуска на отклонение формы пучка от заданной.
Выражение (2) получено из формул геометрической оптики, исход из требовани посто нства угла входа пучка в уменьшающую систему, при использовании одного ис- точника отклон ющего тока (или напр жени ) дл питани всех четырех русов системы отклонени .
На фиг,1 показана схема устройства; на фиг.2 - сечени пучка в разных плоскост х,
Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой его сечени содержит осветитель 1, создающий пучок зар женных частиц 2, четырехъ русную систему 3 отклонени пучка, две фигурные диафрагмы 4, 5 и уменьшающую систему 6. Система отклонени пучка состоит из последовательно расположенных по ходу пучка 2 русов 7-10, каждый из которых выполнен в виде двухкоординатного отклон ющего элемента. Соседние русы системы 3 отклонени включены противо- фазно. Между средними русами 8 и 9 системы 3 отклонени размещены фигурные диафрагмы 4 и 5.
Устройство работает следующим образом ,
Осветитель 1 создает пучок зар женных частиц 2 круглого сечени 11. При отсутствии возбуждени в системе отклонени ось
этого пучка проходит через центры фигурных (например, квадратных) диафрагм 4 и 5 и совпадает с осью уменьшающей системы 6.
Освещающий диафрагму 4 пучок зар женных частиц 2 формируетс таким, чтобы его диаметр существенно превышал поперечный размер диафрагмы 4, что обеспечивает посто нство плотности тока в пределах
0 формируемого пучка, Вследствие ограничени пучка диафрагмой 4 пучок, имевший перед диафрагмой круглое сечение 11, после нее приобретает фигурную (например, квадратную ) форму 12. При отсутствии наклона
5 освещающего пучка зар женных частиц расположенна за диафрагмой 4 фигурна диафрагма 5 не ограничивает сформированный диафрагмой 4 пучок и он свободно проходит в уменьшающую систему 6,
0 формирующую на обрабатываемом изделии уменьшенное изображение фигурной диафрагмы 4 (например, квадратное п тно). Дл изменени формы пучка возбуждаетс четырехъ русна отклон юща система 3.
5 Например, возбуждены элементы, обеспечивающие отклонение по одной координате . Тогда рус 7 отклон ет пучок 2 от оптической оси системы, и рус 8 возвращает его к оси таким образом, чтобы ось осве0 щающего пучка 2 пересекла оптическую ось системы вблизи от плоскости диафрагмы 4, что обеспечивает посто нство плотности тока в формируемом пучке при любом изменении его формы.
5При наклоне пучка 2, выход щего из диафрагмы 4, пучок смещаетс относительно диафрагмы 5, вследствие чего диафрагма 5 обрезает часть пучка, прошедшего через диафрагму 4. При этом сечение пучка приобре0 тает форму 13. Величина обрезаемой части пучка растет с ростом наклона пучка, что позвол ет измен ть ширину пучка от максимальной величины практически до нул (до заданной малой величины S).
5 Ярус 9 наклон ет сформированный пучок к оси так, что ось пучка пересекаетс с осью системы вблизи от центра руса 10, а рус 10 выводит ось пучка на оптическую ось уменьшающей системы 6, формирующей на
0 обрабатываемом изделии пр моугольное п тно 14.
Аналогичным образом производитс изменение формы пучка по второй координате путем отклонени пучка в перпендику5 л рной плоскости, В результате того, что в предлагаемом устройстве (в отличие от прототипа ) все русы отклон ющей системы размещаютс вне зазора между фигурными диафрагмами, рассто ние между указанными диафрагмами может быть сделано достаточно малым (например, 1 мм), так как оно не определ етс (как в прототипе) продольной прот женностью размещаемой между диафрагмами отклон ющей системы. Выбор рассто ни между диафрагмами в соот- ветствии с вход щим в формулу математическим выражением (1) позвол ет при сохранении той же резкости кра изображени , что и в известных устройствах , повысить плотность тока в пучке, а следовательно, и производительность примерно на два пор дка за счет увеличени апертуры освещающего пучка на пор док ,
Другим преимуществом предлагаемого устройства вл етс то, что в нем практически отсутствуют ограничени н осевую прот женность отклон ющих элементов, используемых во всех русах отклон ющей системы. Это позвол ет использовать в уст- ройстве малоаберрационные элементы, имеющие большую осевую прот женность, и снизить, в результате этого искажение формы пучка (по сравнению с прототипом) при изменении формы пучка до пренебре- жимо малого уровн .
При использовании дл питани системы отклонени восьми независимо управл емых источников питани (например, управл емых от ЭФМ цифроаналоговых преобразователей) требуемый режим работы устройства может быть реализован при произвольных рассто ни х русов системы отклонени от фигурных диафрагм и произвольных значени х чувствительности откло- нени каждого руса. Однако, если на размещение русов отклонени и их чувствительность наложено условие (2), то дл обеспечени работы устройства достаточно двух источников питани (по од- ному на каждую координату). При этом при использовании магнитного отклонени все русы, работающие по одной координате , должны быть включены (с учетом приведенной в формуле изобре- тени фазировки) последовательно с источником питани , а при использовании электростатического отклонени - параллельно .
Claims (2)
- Формула изобретени 1. Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени , содержащее осветитель, две фигурные диафрагмы, много русную систему отклонени пучка, состо щую из последовательно расположенных по ходу пучка русов, каждый из которых выполнен в виде двухкоор- динатного отклон ющего элемента, и уменьшающую систему, отличающеес тем, что, с целью повышени производительности устройства и уменьшени искажений формы пучка, система отклонени выполнена четырехъ русной, с противофазным включением соседних русов, фигурные диафрагмы размещены между средними русами, причем рассто ние между диафрагмами выбрано из услови2где I - рассто ние между диафрагмами, м;ймакс - максимальный поперечный размер пучка после диафрагмы, м;i - требуема плотность тока в пучке, А/м2;В - электронна (или ионна ) ркость осветител , А/(м2. стер);Р - относительна нерезкость кра , равна Р --:ОмаксS- допустима ширина зоны полутени, м.
- 2. Устройство поп.1,отличающее- с тем, что, с целью упрощени управлени системой отклонени за счет уменьшени количества источников питани , русы системы отклонени при малых углах отклонени выполнены удовлетвор ющими услови м( И - L2 ) L3 0Ј . И. 02 . Оз/ ч ( U - L3 ) L2 Q1 L2 Q1 Цз Q4где Qi, Q2, Оз, Q4 соответственно чувствительность отклонени (по углу) первого, второго , третьего и четвертого русов системы отклонени ;U, 1.2, La, U - рассто ние от центра соответственно первого, второго, третьего и четвертого руса до ближайшей диафрагмы.Г
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894659047A SU1677734A1 (ru) | 1989-03-02 | 1989-03-02 | Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894659047A SU1677734A1 (ru) | 1989-03-02 | 1989-03-02 | Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1677734A1 true SU1677734A1 (ru) | 1991-09-15 |
Family
ID=21432578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894659047A SU1677734A1 (ru) | 1989-03-02 | 1989-03-02 | Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1677734A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7358513B2 (en) | 2001-07-17 | 2008-04-15 | Optaglio Ltd. | Optical device and method of manufacture |
-
1989
- 1989-03-02 SU SU894659047A patent/SU1677734A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Патент JP № 53-37711, кл. Н01 L21/26. Патент DE № 3138896, кл. Н 01J 37/30, опублик. 14.04.83. * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7358513B2 (en) | 2001-07-17 | 2008-04-15 | Optaglio Ltd. | Optical device and method of manufacture |
US7435979B2 (en) | 2001-07-17 | 2008-10-14 | Optaglio Ltd. | Optical device and method of manufacture |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0470299B1 (en) | Energy filter for charged particle beam apparatus | |
US3930181A (en) | Lens and deflection unit arrangement for electron beam columns | |
US7075075B2 (en) | Charged particle deflecting system | |
EP0133016A2 (en) | Multi-gap magnetic image lens for charged particle beams | |
EP0179294A1 (en) | Ion microbeam apparatus | |
JP2001510624A (ja) | 粒子光学的装置の動作方法 | |
SU1677734A1 (ru) | Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени | |
US2580675A (en) | Correction device for microscopes of the reflection mirror type | |
EP0068896B1 (en) | Image distortion-free, image rotation-free electron microscope | |
SU1429949A3 (ru) | Цветна телевизионна трубка | |
JPS6362321A (ja) | 荷電粒子露光装置 | |
JPH01319236A (ja) | 電界放射電子銃 | |
EP0596529A1 (en) | Electron lens | |
TWI830283B (zh) | 離子注入系統 | |
US4097745A (en) | High resolution matrix lens electron optical system | |
JPS63121237A (ja) | ライトバルブ用の層流電子銃 | |
JP4018197B2 (ja) | 電子ビーム露光方法及び電子ビーム露光装置 | |
US3500042A (en) | Ionic microanalyzer which includes a convex mirror as an ion energy filter | |
JPH09260243A (ja) | 荷電粒子ビーム露光方法及び装置 | |
JPH11195590A (ja) | マルチ電子ビーム露光方法及び装置、ならびにデバイス製造方法 | |
JPH11195589A (ja) | マルチ電子ビーム露光方法及び装置、ならびにデバイス製造方法 | |
RU2144237C1 (ru) | Оптическая колонка для излучения частиц | |
NL8304437A (nl) | Versnellings- en aftastexpansie-elektronenlensstelsel. | |
US3585384A (en) | Ionic microanalyzers | |
JPH0590144A (ja) | 荷電ビーム露光方法及び露光装置 |