SU1677734A1 - Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени - Google Patents

Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени Download PDF

Info

Publication number
SU1677734A1
SU1677734A1 SU894659047A SU4659047A SU1677734A1 SU 1677734 A1 SU1677734 A1 SU 1677734A1 SU 894659047 A SU894659047 A SU 894659047A SU 4659047 A SU4659047 A SU 4659047A SU 1677734 A1 SU1677734 A1 SU 1677734A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diaphragms
deviation
distance
diaphragm
shape
Prior art date
Application number
SU894659047A
Other languages
English (en)
Inventor
Борис Никитович Васичев
Леонид Борисович Розенфельд
Евгений Петрович Михальцов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3726
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3726 filed Critical Предприятие П/Я А-3726
Priority to SU894659047A priority Critical patent/SU1677734A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1677734A1 publication Critical patent/SU1677734A1/ru

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к электронно- оптическим и ионно-оптическим устройствам с измен емой формой сечени  пучка и может быть использовано в установках электронно- и ионно-лучевой литографии. Целью изобретени   вл етс  повышение производительности устройства и уменьшение искажений формы пучка. Устройство содержит две фигурные диафрагмы и много русную систему отклонени  пучка. Система отклонени  выполнена четырехъ русной . Между средними  русами размещены фигурные диафрагмы, причем рассто ние между диафрагмами выбрано из услови , приведенного в описании. Изменение формы пучка осуществл етс  за счет прохождени  пучка через две диафрагмы под различными углами. Изменение угла прохождени  пучка через диафрагмы обеспечиваетс  четырехъ русной системой отклонени .

Description

Изобретение относитс  к электронно- оптическим и ионно-оптическим устройствам с измен емой формой сечени  пучка и может быть использовано, например, в установках электронно- и ионно-лучевой литографии .
Целью изобретени   вл етс  повышение производительности устройства и уменьшение искажений формы пучка.
Дл  этого в устройстве дл  создани  пучка зар женных частиц с измен емой формой его сечени , содержащем осветитель , две фигурные диафрагмы, много русную систему отклонени  пучка, состо щую из последовательно расположенных по ходу пучка  русов, каждый из которых выполнен в виде двухкоординатного отклон ющего элемента, и уменьшающую систему, система отклонени  выполнена четырехъ русной , при этом соседние  русы системы отклонени  включены противофазно, а между средними  русами размещены фигурные диафрагмы, причем рассто ние между диафрагмами выбрано из услови  I Р Ул:В
и --Т
Омакс
О)
О
s|
VI vj GO Јь
где I - рассто ние между диафрагмами, м;
Ьмакс - максимальный поперечный размер пучка после диафрагмы, м;
I - требуема  плотность тока в пучке, А/м2;
В - электронна  (или ионна )  ркость осветител  А/ (м2. стер);
Р-относительна  нерезкость кра , рав5 на  Р -д ;
Омакс
S - допустима  ширина зоны полутени, м.
В частности, при этом  русы системы отклонени  выполнены удовлетвор ющими услови м
( Ц - L2 ) 13 04 И. °2 L4-22(2)
( Ц - U3 j L2 СН 12 01 : U3 04
где Qt, 0.2, Оз, Q4 - соответственно чувствительность отклонени  (по углу) первого, второго , третьего и четвертого  русов системы отклонени ;
,L2,L3,U рассто ние от центра соответственно первого, второго, третьего и четвертого  руса до ближайшей диафрагмы.
Математическое выражение (1) получено (с учетом инвариантности электронной  ркости) из известных формул, одна из которых определ ет плотность тока в пучке через апертурный угол и электронную  ркость , а втора  - величину размыти  кра  теневого изображени  в зависимости от апертурного угла и рассто ни  до точки наблюдени .
Минимальное значение отношени 
-j определ етс  возможност ми изгоОмакс
товлени  устройства, а также значени ми коэффициентов аберраций используемых отклон ющих систем и техническими требовани ми к устройству дл  формировани  пучка в части резкости кра  пучка и допуска на отклонение формы пучка от заданной.
Выражение (2) получено из формул геометрической оптики, исход  из требовани  посто нства угла входа пучка в уменьшающую систему, при использовании одного ис- точника отклон ющего тока (или напр жени ) дл  питани  всех четырех  русов системы отклонени .
На фиг,1 показана схема устройства; на фиг.2 - сечени  пучка в разных плоскост х,
Устройство дл  создани  пучка зар женных частиц с измен емой формой его сечени  содержит осветитель 1, создающий пучок зар женных частиц 2, четырехъ русную систему 3 отклонени  пучка, две фигурные диафрагмы 4, 5 и уменьшающую систему 6. Система отклонени  пучка состоит из последовательно расположенных по ходу пучка 2  русов 7-10, каждый из которых выполнен в виде двухкоординатного отклон ющего элемента. Соседние  русы системы 3 отклонени  включены противо- фазно. Между средними  русами 8 и 9 системы 3 отклонени  размещены фигурные диафрагмы 4 и 5.
Устройство работает следующим образом ,
Осветитель 1 создает пучок зар женных частиц 2 круглого сечени  11. При отсутствии возбуждени  в системе отклонени  ось
этого пучка проходит через центры фигурных (например, квадратных) диафрагм 4 и 5 и совпадает с осью уменьшающей системы 6.
Освещающий диафрагму 4 пучок зар женных частиц 2 формируетс  таким, чтобы его диаметр существенно превышал поперечный размер диафрагмы 4, что обеспечивает посто нство плотности тока в пределах
0 формируемого пучка, Вследствие ограничени  пучка диафрагмой 4 пучок, имевший перед диафрагмой круглое сечение 11, после нее приобретает фигурную (например, квадратную ) форму 12. При отсутствии наклона
5 освещающего пучка зар женных частиц расположенна  за диафрагмой 4 фигурна  диафрагма 5 не ограничивает сформированный диафрагмой 4 пучок и он свободно проходит в уменьшающую систему 6,
0 формирующую на обрабатываемом изделии уменьшенное изображение фигурной диафрагмы 4 (например, квадратное п тно). Дл  изменени  формы пучка возбуждаетс  четырехъ русна  отклон юща  система 3.
5 Например, возбуждены элементы, обеспечивающие отклонение по одной координате . Тогда  рус 7 отклон ет пучок 2 от оптической оси системы, и  рус 8 возвращает его к оси таким образом, чтобы ось осве0 щающего пучка 2 пересекла оптическую ось системы вблизи от плоскости диафрагмы 4, что обеспечивает посто нство плотности тока в формируемом пучке при любом изменении его формы.
5При наклоне пучка 2, выход щего из диафрагмы 4, пучок смещаетс  относительно диафрагмы 5, вследствие чего диафрагма 5 обрезает часть пучка, прошедшего через диафрагму 4. При этом сечение пучка приобре0 тает форму 13. Величина обрезаемой части пучка растет с ростом наклона пучка, что позвол ет измен ть ширину пучка от максимальной величины практически до нул  (до заданной малой величины S).
5 Ярус 9 наклон ет сформированный пучок к оси так, что ось пучка пересекаетс  с осью системы вблизи от центра  руса 10, а  рус 10 выводит ось пучка на оптическую ось уменьшающей системы 6, формирующей на
0 обрабатываемом изделии пр моугольное п тно 14.
Аналогичным образом производитс  изменение формы пучка по второй координате путем отклонени  пучка в перпендику5 л рной плоскости, В результате того, что в предлагаемом устройстве (в отличие от прототипа ) все  русы отклон ющей системы размещаютс  вне зазора между фигурными диафрагмами, рассто ние между указанными диафрагмами может быть сделано достаточно малым (например, 1 мм), так как оно не определ етс  (как в прототипе) продольной прот женностью размещаемой между диафрагмами отклон ющей системы. Выбор рассто ни  между диафрагмами в соот- ветствии с вход щим в формулу математическим выражением (1) позвол ет при сохранении той же резкости кра  изображени , что и в известных устройствах , повысить плотность тока в пучке, а следовательно, и производительность примерно на два пор дка за счет увеличени  апертуры освещающего пучка на пор док ,
Другим преимуществом предлагаемого устройства  вл етс  то, что в нем практически отсутствуют ограничени  н  осевую прот женность отклон ющих элементов, используемых во всех  русах отклон ющей системы. Это позвол ет использовать в уст- ройстве малоаберрационные элементы, имеющие большую осевую прот женность, и снизить, в результате этого искажение формы пучка (по сравнению с прототипом) при изменении формы пучка до пренебре- жимо малого уровн .
При использовании дл  питани  системы отклонени  восьми независимо управл емых источников питани  (например, управл емых от ЭФМ цифроаналоговых преобразователей) требуемый режим работы устройства может быть реализован при произвольных рассто ни х  русов системы отклонени  от фигурных диафрагм и произвольных значени х чувствительности откло- нени  каждого  руса. Однако, если на размещение  русов отклонени  и их чувствительность наложено условие (2), то дл  обеспечени  работы устройства достаточно двух источников питани (по од- ному на каждую координату). При этом при использовании магнитного отклонени  все  русы, работающие по одной координате , должны быть включены (с учетом приведенной в формуле изобре- тени  фазировки) последовательно с источником питани , а при использовании электростатического отклонени  - параллельно .

Claims (2)

  1. Формула изобретени  1. Устройство дл  создани  пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени , содержащее осветитель, две фигурные диафрагмы, много русную систему отклонени  пучка, состо щую из последовательно расположенных по ходу пучка  русов, каждый из которых выполнен в виде двухкоор- динатного отклон ющего элемента, и уменьшающую систему, отличающеес  тем, что, с целью повышени  производительности устройства и уменьшени  искажений формы пучка, система отклонени  выполнена четырехъ русной, с противофазным включением соседних  русов, фигурные диафрагмы размещены между средними  русами, причем рассто ние между диафрагмами выбрано из услови 
    2
    где I - рассто ние между диафрагмами, м;
    ймакс - максимальный поперечный размер пучка после диафрагмы, м;
    i - требуема  плотность тока в пучке, А/м2;
    В - электронна  (или ионна )  ркость осветител , А/(м2. стер);
    Р - относительна  нерезкость кра , равна  Р --:
    Омакс
    S- допустима  ширина зоны полутени, м.
  2. 2. Устройство поп.1,отличающее- с   тем, что, с целью упрощени  управлени  системой отклонени  за счет уменьшени  количества источников питани ,  русы системы отклонени  при малых углах отклонени  выполнены удовлетвор ющими услови м
    ( И - L2 ) L3 0Ј . И. 02 . Оз/ ч ( U - L3 ) L2 Q1 L2 Q1 Цз Q4
    где Qi, Q2, Оз, Q4 соответственно чувствительность отклонени  (по углу) первого, второго , третьего и четвертого  русов системы отклонени ;
    U, 1.2, La, U - рассто ние от центра соответственно первого, второго, третьего и четвертого  руса до ближайшей диафрагмы.
    Г
SU894659047A 1989-03-02 1989-03-02 Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени SU1677734A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894659047A SU1677734A1 (ru) 1989-03-02 1989-03-02 Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894659047A SU1677734A1 (ru) 1989-03-02 1989-03-02 Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1677734A1 true SU1677734A1 (ru) 1991-09-15

Family

ID=21432578

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894659047A SU1677734A1 (ru) 1989-03-02 1989-03-02 Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1677734A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7358513B2 (en) 2001-07-17 2008-04-15 Optaglio Ltd. Optical device and method of manufacture

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент JP № 53-37711, кл. Н01 L21/26. Патент DE № 3138896, кл. Н 01J 37/30, опублик. 14.04.83. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7358513B2 (en) 2001-07-17 2008-04-15 Optaglio Ltd. Optical device and method of manufacture
US7435979B2 (en) 2001-07-17 2008-10-14 Optaglio Ltd. Optical device and method of manufacture

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0470299B1 (en) Energy filter for charged particle beam apparatus
US3930181A (en) Lens and deflection unit arrangement for electron beam columns
US7075075B2 (en) Charged particle deflecting system
EP0133016A2 (en) Multi-gap magnetic image lens for charged particle beams
EP0179294A1 (en) Ion microbeam apparatus
JP2001510624A (ja) 粒子光学的装置の動作方法
SU1677734A1 (ru) Устройство дл создани пучка зар женных частиц с измен емой формой сечени
US2580675A (en) Correction device for microscopes of the reflection mirror type
EP0068896B1 (en) Image distortion-free, image rotation-free electron microscope
SU1429949A3 (ru) Цветна телевизионна трубка
JPS6362321A (ja) 荷電粒子露光装置
JPH01319236A (ja) 電界放射電子銃
EP0596529A1 (en) Electron lens
TWI830283B (zh) 離子注入系統
US4097745A (en) High resolution matrix lens electron optical system
JPS63121237A (ja) ライトバルブ用の層流電子銃
JP4018197B2 (ja) 電子ビーム露光方法及び電子ビーム露光装置
US3500042A (en) Ionic microanalyzer which includes a convex mirror as an ion energy filter
JPH09260243A (ja) 荷電粒子ビーム露光方法及び装置
JPH11195590A (ja) マルチ電子ビーム露光方法及び装置、ならびにデバイス製造方法
JPH11195589A (ja) マルチ電子ビーム露光方法及び装置、ならびにデバイス製造方法
RU2144237C1 (ru) Оптическая колонка для излучения частиц
NL8304437A (nl) Versnellings- en aftastexpansie-elektronenlensstelsel.
US3585384A (en) Ionic microanalyzers
JPH0590144A (ja) 荷電ビーム露光方法及び露光装置