SU1677680A1 - Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок - Google Patents

Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок Download PDF

Info

Publication number
SU1677680A1
SU1677680A1 SU884436253A SU4436253A SU1677680A1 SU 1677680 A1 SU1677680 A1 SU 1677680A1 SU 884436253 A SU884436253 A SU 884436253A SU 4436253 A SU4436253 A SU 4436253A SU 1677680 A1 SU1677680 A1 SU 1677680A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnetic field
film
pulses
amplitude
plane
Prior art date
Application number
SU884436253A
Other languages
English (en)
Inventor
Игорь Васильевич Шелухин
Original Assignee
Предприятие П/Я Х-5734
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Х-5734 filed Critical Предприятие П/Я Х-5734
Priority to SU884436253A priority Critical patent/SU1677680A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1677680A1 publication Critical patent/SU1677680A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах. Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей за счет одновременного измерени  пол  одноосной анизотропии - достигаетс  тем, что одновременно воздействуют импульсами магнитного пол , направленными параллельно плоскости 5 -V пленки, циклически создают и разрушают ими решетку цилиндрических магнитных доменов до регистрации минимальной амплитуды магнитного пол , достаточной дл  создани  упом нутой решетки, определ ют минимальную амплитуду магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, достаточную дл  разрушени  цилиндрических магнитных доменов, начальные амплитуды обоих воздействующих на пленку полей задают равными половине максимально возможных значений измер емых полей, измен ют амплитуды воздействующих полей по закону последовательного приближени . Амплитуду импульсов магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, воздействующих синхронно с импульсами магнитного пол , направл емого параллельно плоскости пленки выбирают равной 0,5-0,7 минимально возможного значени  пол  коллапса, а С XI VI О со о

Description

длительность импульсов в 1,2-1,5 раза превышает длительность импульсов магнитного пол , направленного параллельно плоскости пленки, Устройство, реализующее способ содержит источник 1 света, оптическую систему 2 в виде пол ризационного
микроскопа, магнитную систему 3 в виде катушек Гельмгольца 4 и катушек Гельм- гольца 5, доменосодержащую пленку 6, телевизионную передающую камеру 7, блок 8 анализа и импульсный источник 9 тока.2 ил.
Изобретение относитс  к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении запоминающих устройств на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД),
Цель способа - расширение функциональных возможностей за счет одновременного измерени  пол  одноосной анизотропии.
Поставленна  цель достигаетс  тем, что в известном способе измерени , заключающемс  в воздействии на доменосодержащую пленку импульсами магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, и анализе в паузах между ними состо ни  доменной структуры, анализируют состо ние доменной структуры, в случае лабиринтной доменной структуры в доменосодержащей пленке создают решетку ЦМД, дл  чего на нее воздействуют импульсами магнитного пол , направленного параллельно плоскости пленки, амплитуду которых Нп измен ют по закону последовательного приближени , причем увеличивают ее, если после воздейст- ви  импульса сохран етс  лабиринтна  доменна  структура и уменьшают, если образуетс  решетка ЦМД, а амплитуда первого импульса равна половине максимально
возможного значени  Hi
- 1 н Пп
- п макс. иДнооременно с этими импульсами на домено- содержащую пленку воздействуют синхронными с ними, но превышающими по длительности в 1,2-1,5 раза, импульсами маг- нитного пол  посто нной амплитуды равной 0,5-0,7 от минимально возможного значени  пол  коллапса, направленного перпендикул рно плоскости пленки. После образовани  решетки ЦМД разрушают ее, дл  чего на доменосодержащую пленку воздействуют импульсами магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, амплитуду которых Н макс измен ют по закону последовательного приближе- ни , причем увеличивают ее, если после воздействи  импульса сохран етс  решетка ЦМД, и уменьшают, если она разрушаетс . Амплитуда первого импульса равна половине максимально возможного значени  Hi1 2 Н макс. В случае, если первоначально
доменна  структура представл ла собой решетку 1ДМД, то процесс измерени  начнетс  с разрушени  решетки ЦМД импульсами магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки. Циклически повтор ют процесс образовани  и разрушени  решетки ЦМД до тех пор, пока с необходимой точностью не определ т минимальную амплитуду магнитного пол , на- правленного параллельно плоскости пленки, достаточную дл  образовани  решетки ЦМД, по которой суд т о напр женности пол  одноосной анизотропии и минимальную амплитуду магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, достаточную дл  разрушени  решетки ЦМД, по которой суд т о напр женности пол  коллапса.
На фиг, 1 представлены временные диаграммы изменени  пол , направленного параллельно плоскости пленки Н1 и направленного перпендикул рно плоскости пленки Н1; на фиг. 2 - схема устройства дл  измерени  напр женностей пол  коллапса и пол  одноосной анизотропии.
В процессе измерени  амплитуду магнитного пол , воздействующую на пленку, направленного параллельно ее плоскости и направленного перпендикул рно плоскости пленки измен ют соответственно, как:
н 2П
НИ - U ч Ч- u 1if
п - пп-1 - г п макс И
Hm - Hm-1 - 7Jf7 макс,
где п, т 1, 2,... - количество импульсов магнитного пол , воздействовавших на пленку параллельно и перпендикул рно плоскости пленки соответственно.
Устройство, реализующее предлагаемый способ содержит источник 1 .света, оптическую систему 2 в виде пол ризационного микроскопа, магнитную систему 3 в виде катушек Гельмгольца 4, дл  создани  магнитного пол , направленного параллельно плоскости пленки, и катушек Гельмгольца 5, дл  создани  магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, доменосодержащую пленку 6. телевизионную передающую камеру 7, блок 8 анализа и импульсный источник 9 тока.
Работа устройства, реализующего за вл емый способ, сводитс  к следующему.
Увеличенное изображение доменной структуры пленки 6, сформированное с помощью источника 1 света и оптической системы 2, поступает на вход телевизионной передающей камеры 7, где световой сигнал преобразуетс  в видеоимпульсы, которые поступают в блок 8 анализа, на котором происходит анализ доменной структуры на наличие или отсутствие ЦМД, определение амплитуды и направлени  воздействующего на пленку магнитного пол , создаваемого с помощью источника 9 тока в катушках Гельмголыда 4 и 5 магнитной системы 3, и фиксаци  полей коллапса и анизотропии.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ измерени  магнитных характеристик доменосодержащих пленок, основанный на воздействии на пленку импульсами магнитного пол , направленными перпендикул рно плоскости пленки, и фиксации состо ни  доменной структуры в паузах между импульсами, отличающийс 
    тем, что, с целью расширени  функциональных возможностей за счет определени  пол  магнитной одноосной анизотропии, одновременно воздействуют импульсами магнитного пол , направленными параллельно плоскости пленки, циклически создают и разрушают ими решетку цилиндрических магнитных доменов до регистрации минимальной амплитуды магнитного пол , достаточной дл  создани  упом нутой решетки, определ ют минимальную амплитуду магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, достаточную дл  разрушени  решетки цилиндрических магнитных доменов, начальные величины
    амплитуды обоих воздействующих на пленку полей задают равными половине максимально возможных значений измер емых полей, измен ют амплитуды воздействующих полей по закону последовательного приближени , при этом амплитуда импульсов магнитного пол , направленного перпендикул рно плоскости пленки, воздействующих синхронно с импульсами магнитного пол , направленного
    параллельно плоскости пленки, выбрано равной 0,5-0,7 минимально возможного значени  пол  коллапса, а длительность импульсов в 1,2-1,5 раза превышает длительность импульсов магнитного пол , направленного параллельно тоскости пленки,
    //
    НтУК
    У/
    Hr -b-fff a)(.
    -5$«
    Н f I, ffmQX
    .±л
    #
    Я5- -ДТУ/иэс
    L ft
    .гн
    Ню
    Hi
    пил
    о
    фиг Л
SU884436253A 1988-03-25 1988-03-25 Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок SU1677680A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884436253A SU1677680A1 (ru) 1988-03-25 1988-03-25 Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884436253A SU1677680A1 (ru) 1988-03-25 1988-03-25 Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1677680A1 true SU1677680A1 (ru) 1991-09-15

Family

ID=21379537

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884436253A SU1677680A1 (ru) 1988-03-25 1988-03-25 Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1677680A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1244720, кл. G 01 с 11/14, 1984. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR840007519A (ko) 핵자기 공명에 의한 혈관투사 영상장치
US5438872A (en) Measuring method and apparatus using a lamb wave
JPH0565093B2 (ru)
KR900005417A (ko) 감소적인 ac 전류를 이용한 박막 자기 기록 변환기의 자기 소거 방법
KR880011597A (ko) 진폭 및 시간검정을 사용하는 펄스검출회로 및 방법
SU1677680A1 (ru) Способ измерени магнитных характеристик доменосодержащих пленок
US3212072A (en) Digital delay line
ATE291236T1 (de) Verfahren zur breitbandentkopplung in der kernspinresonanz mit frequenzmodulierten pulsen
SU1323942A1 (ru) Способ определени механических свойств изделий из ферромагнитных материалов
SU1392486A1 (ru) Устройство дл импульсного магнитного контрол физико-механических параметров ферромагнитных изделий
SU954866A1 (ru) Способ магнитошумового контрол
SU1635210A1 (ru) Способ аналоговой магнитной записи
SU708795A1 (ru) Способ определени механических свойств изделий из ферромагнитных материалов
SU1272354A1 (ru) Способ визуализации магнитной сигналограммы
Theile et al. Determination of twist and charge of Bloch lines by direct optical observation
SU1130899A1 (ru) Способ вы влени дефектов в интегральных магнитных схемах на цилиндрических магнитных доменах
SU1128155A1 (ru) Устройство дл импульсного магнитного контрол физико-механических параметров ферромагнитных изделий
SU905772A1 (ru) Способ контрол ферромагнитных изделий
SU408207A1 (ru) Способ ультразвуковой дефектоскопии
SU1444887A1 (ru) Способ определени коэрцитивной силы монокристаллических пленок феррит-гранатов
SU1206692A1 (ru) Электромагнитно-акустический преобразователь
SU1245987A1 (ru) Устройство дл комплексного неразрушающего контрол
JP2000101399A (ja) パルス信号発生方法および装置
SU1379716A1 (ru) Способ электромагнитного контрол физико-механических свойств ферромагнитных изделий и устройство дл его осуществлени
SU1161861A1 (ru) Способ феррозондовой дефектоскопии ферромагнитных материалов