SU1666985A1 - Device for testing electric strength of isolation - Google Patents
Device for testing electric strength of isolation Download PDFInfo
- Publication number
- SU1666985A1 SU1666985A1 SU884492861A SU4492861A SU1666985A1 SU 1666985 A1 SU1666985 A1 SU 1666985A1 SU 884492861 A SU884492861 A SU 884492861A SU 4492861 A SU4492861 A SU 4492861A SU 1666985 A1 SU1666985 A1 SU 1666985A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- control
- voltage
- zener diodes
- voltage source
- objects
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл испытани электрической прочности изол ции электротехнических и электронных изделий. Цель изобретени - повышение достоверности контрол за счет увеличени мощности, прикладываемой к объекту контрол . Устройство содержит высоковольтный источник 1 посто нного напр жени , по числу объектов контрол столбы стабилитронов 2.1,..., 2.N, сигнальные лампы 4.1,...,4.N, ключ 5 с управл ющим входом 6, источник 7 посто нного напр жени , стабилитроны 8.1, ..., 8.N, первые 9.1, ..., 9.N и вторые 10.1, ..., 10.N светодиоды, фототиристоры 11.1, ..., 11.N, фототранзисторы 12.1, ..., 12.N, резисторы 13.1, ..., 13.N, первые клеммы 14.1, ..., 14.N и вторые клеммы 15.1, ..., 15.N дл подключени объектов контрол 3.1, ..., 3.N. За счет введени фототранзисторов 12.1, ..., 2.N повышена достоверность контрол электрической прочности изол ции. 1 ил.The invention relates to instrumentation engineering and can be used to test the electrical strength of the insulation of electrical and electronic products. The purpose of the invention is to increase the reliability of the control by increasing the power applied to the control object. The device contains a high-voltage source 1 of constant voltage, according to the number of objects of control, columns of Zener diodes 2.1, ..., 2.N, signal lamps 4.1, ..., 4.N, key 5 with control input 6, source 7 constant voltages, zener diodes 8.1, ..., 8.N, first 9.1, ..., 9.N and second 10.1, ..., 10.N LEDs, photo thyristors 11.1, ..., 11.N, phototransistors 12.1 , ..., 12.N, resistors 13.1, ..., 13.N, first terminals 14.1, ..., 14.N and second terminals 15.1, ..., 15.N for connecting control objects 3.1,. .., 3.N. Due to the introduction of phototransistors 12.1, ..., 2.N, the reliability of the control of the electric strength of the insulation is increased. 1 il.
Description
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для испытания электрической прочности изоляции электротехнических и электронных изделий.The invention relates to measuring technique and can be used to test the electrical strength of the insulation of electrical and electronic products.
Цель изобретения - повышение достоверности контроля испытания электрической изоляции за счет увеличения мощности, прикладываемой к объекту контроля в начальный момент пробоя.The purpose of the invention is to increase the reliability of the control test of electrical insulation by increasing the power applied to the object of control at the initial moment of breakdown.
На чертеже представлена электрическая схема устройства.The drawing shows an electrical diagram of the device.
Устройство для контроля электрической прочности изоляции содержит высоковольтный источник 1 постоянного напряжения, столбы стабилитронов 2.1.....2.η по числу контролируемых объектов 3.1.....З.п, сигнальные лампы 4.1.....4.П, ключ 5, управляющий вход которого соединен с входной клеммой 6 устройства, а вход - с первым выходом источника 7 постоянного напряжения, стабилитроны 8.1.....8.п, первыеA device for monitoring the electric strength of insulation contains a high-voltage source 1 of constant voltage, poles of zener diodes 2.1 ..... 2.η by the number of monitored objects 3.1 ..... Z.p, signal lamps 4.1 ..... 4.P, key 5, the control input of which is connected to the input terminal 6 of the device, and the input to the first output of the constant voltage source 7, zener diodes 8.1 ..... 8.p, the first
9.1 9.η и вторые 10.1 10.η светодиоды, фототиристоры 11.1.....11.п, фототранзисторы 12.1.....12.п, резисторы 13.1.....13.п, первые клеммы 14.1.....14.η и вторые клеммы 15.1.....15.η для подключения объектов.9.1 9.η and second 10.1 10.η LEDs, photo-thyristors 11.1 ..... 11.p, phototransistors 12.1 ..... 12.p, resistors 13.1 ..... 13.p, first terminals 14.1 .. ... 14.η and the second terminals 15.1 ..... 15.η for connecting objects.
Первые выводы резисторов 13.1.....13.η соединены с анодами соответствующих фототиристоров 11.1.....11.П, которые оптически связаны с соответствующими им первыми светодиодами 9.1.....9.л, аноды фототиристоров 11.1 11. η через соответствующие им сигнальные лампы 14.1 14.η соединены с выходом ключа 5, второй выход источника 7 соединен с катодами фототиристоров 11.1.....11.η и катодами светодиодовThe first conclusions of the resistors 13.1 ..... 13.η are connected to the anodes of the corresponding photo-thyristors 11.1 ..... 11.P, which are optically connected to the corresponding first LEDs 9.1 ..... 9.l, the anodes of the photo-thyristors 11.1 11. η through the corresponding signal lamps 14.1 14.η are connected to the output of the key 5, the second output of the source 7 is connected to the cathodes of the photo thyristors 11.1 ..... 11.η and the cathodes of the LEDs
10.1 10.п, анод светодиода 10.1 Ю.п соединен с вторым выводом соответствующего ему резистора 13.1 ,...,13.п,первые выводы объектов контроля 3.1.....13.η через соответствующие первые клеммы10.1 10.p, the anode of the LED 10.1 Yu.p is connected to the second output of the corresponding resistor 13.1, ..., 13.p, the first conclusions of the objects of control 3.1 ..... 13.η through the corresponding first terminals
14.1 14.η соединены с положительным полюсом высоковольтного источника 1, катод столба стабилитронов 2.1.....2.η через соответствующие вторые клеммы14.1 14.η are connected to the positive pole of the high-voltage source 1, the cathode of the zener diode column 2.1 ..... 2.η through the corresponding second terminals
15.1 .....15.η соединен со вторым выводом соответствующего ему объекта контроля15.1 ..... 15.η is connected to the second output of the control object corresponding to it
3.1 .....3.п, а анод столба соединен с анодом соответствующего ему светодиода 9.1.....9.η и катодом соответствующего ему стабилитрона 8.1.....8.П. аноды которых соединены с эмиттерами фоторезисторов 12.1.....12.η и отрицательным полюсом источника 1, катод светодиода 9.1.....9.η соединен с коллектором соответствующего ему фототранзистора 12.1 12.п, который оптически связан с соответствующим ему светодиодом3.1 ..... 3.p, and the column anode is connected to the anode of the corresponding LED 9.1 ..... 9.η and the cathode of the corresponding zener diode 8.1 ..... 8.P. the anodes of which are connected to the emitters of the photoresistors 12.1 ..... 12.η and the negative pole of the source 1, the cathode of the LED 9.1 ..... 9.η is connected to the collector of the corresponding phototransistor 12.1 12.p, which is optically connected to the corresponding LED
10.1 .....Ю.п.10.1 ..... Yu.p.
Испытания электрической прочности изоляции производят следующим образом.Testing the electrical strength of the insulation is as follows.
Выбирают стабилитрон 8 на напряжение стабилизации не большее, чем величина прямого предельно допустимого напряжения для фототранзистора 12, а суммарное напряжение стабилизации столба стабилитронов 2 выбирают так, чтобы сумма напряжений стабилизации стабилитрона 8 и столба 2 была больше, чем величина испытательного напряжения, а величина напряжения стабилизации только столба стабилитронов 2 была меньше, чем величина испытательного напряжения. Установку требуемой величины испытательного напряжения производят высоковольтным источником 1 постоянного напряжения ступенчато с величиной дискретности определяемой напряжениями стабилизации отдельных стабилитронов столба 2. Установку суммарного напряжения стабилизации столба стабилитронов 2 производят предварительной сборкой столба 2 на нужное напряжение или закорачиванием ненужных стабилитронов переключателем или перемычками в предварительно собранном универсальном столбе.Choose a zener diode 8 for a stabilization voltage not greater than the direct maximum allowable voltage for the phototransistor 12, and the total stabilization voltage of the zener diode column 2 is chosen so that the sum of the stabilization voltages of the zener diode 8 and column 2 is greater than the value of the test voltage, and the value of the stabilization voltage only the Zener diode 2 column was less than the magnitude of the test voltage. The required value of the test voltage is set by a high-voltage source 1 of a constant voltage stepwise with the discreteness determined by the stabilization voltages of the individual zener diodes 2. The total stabilization voltage of the zener diodes 2 is pre-assembled by pre-assembling the 2 poles to the desired voltage or by shorting the unnecessary zener diodes with a switch or jumpers in a pre-assembled universal post .
Подключают объекты контроляConnect control objects
3.1 .....3.п к соответствующим первым клеммам 14.1.....14.η и вторым клеммам3.1 ..... 3.p to the corresponding first terminals 14.1 ..... 14.η and the second terminals
15.1 .....15.п. включают источник 7 питания, устанавливают в исходное состояние устройство. затем на объекты контроля15.1 ..... 15.p. include a power source 7, reset the device. then to the objects of control
3.1 .....3.п подают испытательное напряже- ние.3.1 ..... 3.p apply test voltage.
Устройство для контроля электрической прочности изоляции работает следующим образом.A device for monitoring the dielectric strength of insulation works as follows.
Установка в исходное состояние устройства производится закрыванием ключа 5 соответствующим сигналом с входной клеммы 6, при этом на фототиристоры 11.1.....11.η ток не поступает и все фототиристоры переходят в непроводящее состояние.Installation in the initial state of the device is done by closing the key 5 with the corresponding signal from the input terminal 6, while the current does not flow to the photo thyristors 11.1 ..... 11.η and all the photo thyristors go into a non-conductive state.
На клемму 6 подают сигнал, обеспечивающий открывание ключа 5. через элементы 4.1.....4.п. 13.1.....Ю.п. 10.1.....Ю.п проходит ток, являющийся недостаточным для видимого свечения ламп 4.1.....4,п. накаливания в то же время величины этого тока достаточно для того, чтобы световой поток светодиодов Ю. 1.....Ю.п открыл фототранзисторы 12.1.....Ю.п.A signal is provided to terminal 6 to ensure that key 5 is opened. Through elements 4.1 ..... 4.p. 13.1 ..... Yu.p. 10.1 ..... Yu.p passes a current that is insufficient for the visible glow of lamps 4.1 ..... 4, p. Incandescent at the same time, the magnitude of this current is sufficient to ensure that the luminous flux of LEDs Yu. 1 ..... Yu.p opens phototransistors 12.1 ..... Yu.p.
При подаче испытательного напряжения источником 1 в цепи, состоящей из клемм 14.1 14.п, 3.1 З.п, 15.1 15.п.When a test voltage is applied by source 1 in a circuit consisting of terminals 14.1 14.p, 3.1 Zp, 15.1 15.p
2.1 .....2.п, 9.1.....9.η и 12.1.....12.0 возникает ток утечки, определяемый свойствами изоляции контролируемого объекта 3.1.....З.п.2.1 ..... 2.p, 9.1 ..... 9.η and 12.1 ..... 12.0 a leakage current occurs, determined by the insulation properties of the controlled object 3.1 ..... Z.p.
Если качество изоляции объекта находится в пределах заданного уровня, то вызываемое током утечки излучение светодиодовIf the insulation quality of the object is within a predetermined level, then the LED radiation caused by the leakage current
9.1 .....9.п является недостаточным для срабатывания фототиристоров 11.1.....11.η и схема находится в исходном состоянии. Ток утечки не проходит через стабилитроны 8.1....8.П, так как они шунтируются открытыми фототранзисторами 12.1.....12.п. Для потенциала источника 1 столб стабилитронов9.1 ..... 9.n is insufficient for the operation of the photo thyristors 11.1 ..... 11.η and the circuit is in the initial state. The leakage current does not pass through the zener diodes 8.1 .... 8.P, since they are shunted by open phototransistors 12.1 ..... 12.p. For the source potential, 1 zener diode
2.1 .....2.η открыт, ток утечки объектов2.1 ..... 2.η open, leakage current of objects
3.1 .....3.п контроля намного меньше мини- мального тока стабилизации стабилитронов столбов 2.1.....2.п, поэтому все напряжение источника 1 прикладывается к объектам3.1 ..... 3.p control is much less than the minimum stabilization current of the zener diodes of columns 2.1 ..... 2.p, therefore, all the voltage of source 1 is applied to the objects
3.1.....З.п.3.1 ..... Z.p.
Предположим произошел пробой изоляции, например, в объекте 3.1. В момент пробоя клеммы 14.1 и 15.1 закорочены, к столбу стабилитрона 2.1 прикладывается все напряжение источника 1, большее, чем его напряжение стабилизации, под действием этого напряжения столб 2.1 полностью открыт и имеет минимальное сопротивление. т.е. в момент пробоя последовательно с внутренним сопротивлением источника 1 включается минимальное сопротивление, при этом мощность напряжения пробоя почти равна мощности 1 источника, чем достигается увеличение достоверности контроля по сравнению с прототипом.Suppose an insulation breakdown occurred, for example, in object 3.1. At the time of breakdown, terminals 14.1 and 15.1 are shorted, the entire voltage of source 1 is applied to the zener diode 2.1 column, greater than its stabilization voltage, under the action of this voltage, column 2.1 is fully open and has a minimum resistance. those. at the time of breakdown, the minimum resistance is switched on in series with the internal resistance of source 1, while the power of the breakdown voltage is almost equal to the power of 1 source, thereby achieving an increase in the reliability of control compared to the prototype.
В момент пробоя начинается формирование фронта импульса тока пробоя, проходящего через столб 2.1, светодиод 9.1 и открытый фототранзистор 12.1, по мере увеличения этого тока увеличивается мощность излучения светодиода 9.1 и при некотором ее значении открывается фототиристорAt the moment of breakdown, the formation of the front of the pulse of the breakdown current begins, passing through the column 2.1, the LED 9.1 and the open phototransistor 12.1, with an increase in this current, the radiation power of the LED 9.1 increases and at some value the phototyristor opens
11.1, а стабилитроны столба 2.1 переходят на режим стабилизации, в качестве балластного сопротивления столба 2.1 служат суммарное сопротивление диода 9.1,открытого фототранзистора 12.1 и внутреннее сопротивление стабилитронов столба 2.1, при достижении суммы падения напряжения на указанном балластном сопротивлении и напряжения стабилизации столба 2.1 напряжения источника 1 увеличение тока прекратится.11.1, and the Zener diodes of the column 2.1 go into stabilization mode, the total resistance of the diode 9.1, the open phototransistor 12.1 and the internal resistance of the Zener diodes of the column 2.1 are used as the ballast resistance of the column 2.1, when the sum of the voltage drop across the specified ballast and the stabilization voltage of the column 2.1 of the voltage of source 1 increase in current will stop.
Своим открытым состоянием фототиристор 11.1 шунтирует цепь из резистора 13.1 и светодиода 10.1, ток через светодиод 10.1 становится недостаточным для поддержания в открытом состоянии фототранзистораWith its open state, the photo-thyristor 11.1 shunts the circuit from the resistor 13.1 and the LED 10.1, the current through the LED 10.1 becomes insufficient to maintain the phototransistor in the open state
12.1, фототранзистор 12.1 закрывается, вто же время увеличивается ток через сигнальную лампу 4.1 и она индицирует наличие пробоя в объекте 3.1.12.1, the phototransistor 12.1 closes, at the same time, the current through the signal lamp 4.1 increases and it indicates the presence of a breakdown in the object 3.1.
При закрывании фототранзистора 12.1 прекращается ток через светодиод 9.1 и прекращается шунтирование открытым фо тотранзистором 12.1 стабилитрона 8.1, при этом общее напряжение стабилизации столба 2.1 и стабилитрона 8.1 увеличивается на величину напряжения стабилизации стабилитрона 8.1 и это напряжение становится больше, чем напряжение источника 1, стабилитроны закрываются, и ток стабилизации в цепи пробитого объекта контроля прекращается. Через стабилитроны проходит ток утечки, обусловленный их качеством, причем ток утечки не может создать падение напряжения на стабилитроне 8.1 большее, чем напряжение его стабилизации, которое меньше, чем допустимое прямое напряжение для фототранзистора 12.1.When the phototransistor 12.1 is closed, the current through the LED 9.1 stops and the open-phototransistor 12.1 bypasses the zener diode 8.1, while the total stabilization voltage of the column 2.1 and the zener diode 8.1 increases by the stabilization voltage of the zener diode 8.1 and this voltage becomes greater than the voltage of the source 1, the zener diodes are closed, and the stabilization current in the circuit of the punctured control object is terminated. A leakage current passes through the zener diodes, due to their quality, and the leakage current cannot create a voltage drop across the zener diode 8.1 greater than its stabilization voltage, which is less than the allowable forward voltage for the phototransistor 12.1.
Фототиристоры 11.1 11.η являются элементами памяти, которые удерживают соответствующие сигнальные лампыPhoto thyristors 11.1 11.η are memory elements that hold the corresponding signal lamps
4,1.....4.η в зажженном состоянии до тех пор, пока ключ 5 находится в открытом состоянии.4.1 ..... 4.η in the lit state as long as the key 5 is in the open state.
Таким образом, устройство позволяет повысить достоверность контроля испытания электрической изоляции за счет увеличения мощности пробивного напряжения.Thus, the device allows to increase the reliability of the control test of electrical insulation by increasing the power of the breakdown voltage.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884492861A SU1666985A1 (en) | 1988-10-10 | 1988-10-10 | Device for testing electric strength of isolation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884492861A SU1666985A1 (en) | 1988-10-10 | 1988-10-10 | Device for testing electric strength of isolation |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1666985A1 true SU1666985A1 (en) | 1991-07-30 |
Family
ID=21403633
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU884492861A SU1666985A1 (en) | 1988-10-10 | 1988-10-10 | Device for testing electric strength of isolation |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1666985A1 (en) |
-
1988
- 1988-10-10 SU SU884492861A patent/SU1666985A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Авторское свидетельство СССР № 1370628, кл. G 01 R 31/02, 1986. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN1287637C (en) | Circuit arrangement and signaling light provided with the circuit arrangement | |
| RU2704631C1 (en) | Pulsating current generation circuit | |
| JP2001501361A (en) | Circuit device and signal light provided with this circuit device | |
| GB2144593A (en) | A circuit for reducing surge current | |
| JPH089655A (en) | Switching control circuit for low-pressure fluorescent lamp and controller | |
| SU1666985A1 (en) | Device for testing electric strength of isolation | |
| EP0769855B1 (en) | Electrical keying circuit for fluorescent lamps | |
| US3925771A (en) | Voltage checking means for an electric circuit employing two power sources | |
| CN107172763B (en) | Switch toning control circuit, chip, method and switch toning LED drive system | |
| EP1937038A2 (en) | Power regulator | |
| ES2042959T3 (en) | DEVICE FOR MONITORING THE FUNCTIONALITY OF AN INCANDESCENT LAMP. | |
| CN113311357A (en) | Alternating-current charging stake short circuit detection circuitry | |
| CN207897194U (en) | The driving circuit of LED light | |
| CN216209760U (en) | Pulse xenon lamp test system | |
| CN110198582B (en) | Control circuit and control method of lighting circuit and lighting circuit | |
| SU599812A1 (en) | External cardiostimulator | |
| US3790790A (en) | Polarity sensitive electronic switch and polarity indicator | |
| SU1553926A1 (en) | Apparatus for checking break and short circuit in the circuit with electric magnetic load | |
| RU2022272C1 (en) | Universal tester | |
| SU1492316A1 (en) | Method for inspecting a condition of electric circuit | |
| SU922841A1 (en) | Multipoint indication device | |
| SU1370628A1 (en) | Device for checking insulation electric strength | |
| RU1824590C (en) | Device for indication of polarity and mode of current | |
| SU1764004A1 (en) | Coaxial cable testing device | |
| SU1352547A1 (en) | Switching device |