SU1654734A1 - Method of measuring the temperature - Google Patents
Method of measuring the temperature Download PDFInfo
- Publication number
- SU1654734A1 SU1654734A1 SU894694094A SU4694094A SU1654734A1 SU 1654734 A1 SU1654734 A1 SU 1654734A1 SU 894694094 A SU894694094 A SU 894694094A SU 4694094 A SU4694094 A SU 4694094A SU 1654734 A1 SU1654734 A1 SU 1654734A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- temperature
- reference emitter
- measuring
- cavity
- heat fluxes
- Prior art date
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области тепло- физических измерений, в частности к способу измерени температуры объекта, и может быть использовано в электронной, электротехнической и других отрасл х промышленности при проведении тепловых исследований соответствующих объектов С целью повышени точности измерени возможностей способа за счет измерени температуры обьекта на уровне температуры окружающей среды, объект и эталонный излучатель устанавливает в замкнутую полость, оптически св занную с приемной камерой, причем внутренн поверхность полости имеет известную излучательную способность и диффузный характер отражени в спектральном диапазоне работы приемной камеры регистрирующей системы, регулируют температуру эталонного излучател до достижени равенства плотностей полного теплового потока объекта и эталонного излучател , затем измер ют температуру полости и соответствующие тепловые потоки эталонного излучател и объекта, а также разность между отраженными от объекта и эталонного излучател собственных тепловых потоков полости, а из равенства между соответствующими потоками определ ют температуру обьекта. ЁThe invention relates to the field of thermophysical measurements, in particular, to a method for measuring the temperature of an object, and can be used in electronic, electrical and other industries in conducting thermal studies of relevant objects. In order to improve the accuracy of measuring the capabilities of the method by measuring the temperature of an object ambient temperature, the object and the reference emitter sets in a closed cavity, optically connected to the receiving chamber, and The cavity surface has a known emissivity and diffuse character of reflections in the spectral range of the receiving chamber of the recording system, regulates the temperature of the reference radiator until the densities of the total heat flux of the object and the reference radiator are equal, then measure the temperature of the cavity and the corresponding heat fluxes of the reference radiator and the object, and also the difference between the cavity’s own heat fluxes reflected from the object and the reference radiator, and of the equalities between the respective flow temperature determined by the object. Yo
Description
Изобретение относитс к теплофизиче- ским измерени м, в частности к способу измерени температуры объекта с известной излучательной способностью, и может быть использовано в электронной,электротехнической и других промышленност х при проведении тепловых исследований соответствующих объектов.The invention relates to thermophysical measurements, in particular, to a method for measuring the temperature of an object with known emissivity, and can be used in electronic, electrical and other industries when conducting thermal studies of relevant objects.
Цель изобретени - повышение точности измерени температуры объекта.The purpose of the invention is to improve the accuracy of measuring the temperature of an object.
Устройство дл реализации предлагаемого способа содержит, например, цилиндрическую камеру, у одного из торцев которой планарно установлены транзистор и абсолютно черное тело (АЧТ), а в другойA device for implementing the proposed method contains, for example, a cylindrical chamber, at one of the ends of which a transistor and an absolutely black body are installed planarly, and in the other
торец введена приемна камера регистрирующей системы. Внутренн поверхность камеры выполнена из дюрал (с целью уменьшени собственного излучени фона) и подвергнута пескоструйной обработке с размером частиц 1-5 мкм (соизмеримых со спектральным диапазоном работы приемной камеры регистрирующей системы).the end is introduced receiving camera recording system. The inner surface of the chamber is made of duralumin (in order to reduce its own background radiation) and sandblasted with a particle size of 1-5 microns (commensurate with the spectral range of the receiving chamber of the recording system).
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Измен ют температуру АЧТ до тех пор, пока полные тепловые потоки как объекта, так и АЧТ станут равными. После этого, измерив температуру Т0 АЧТ и температуру Тф камеры, численно решают соответствующееChange the temperature of the BHT until the total heat fluxes of both the object and the BFR become equal. After that, by measuring the temperature T0 of the blackbody and the temperature Tf of the chamber, the corresponding
ОABOUT
ел VIate VI
CJCJ
ь.s
интегральное уравнение с привлечением измеренной информации об оптических свойствах всей системы.integral equation involving measured information about the optical properties of the entire system.
Использование предлагаемого способа измерени температуры объекта, например транзистора, вл ющегос регулирующим элементом электропреобразовательных устройств , при использовании приемной камеры , работающей в спектральном диапазоне 2-5 мкм, погрешность измерени тем- пературы на уровне 333 К объекта с излуча- тельной способностью 0,55 и излучательной способностью фона 0,03 и 0,9 (при Тф 303 К) составл ет 0,51 и 0.36%.Using the proposed method of measuring the temperature of an object, for example, a transistor, which is a regulating element of electrical transducers, using a receiving chamber operating in the spectral range of 2-5 µm, the measurement error of temperature at 333 K of an object with an emissivity of 0.55 and the emissivity of the background is 0.03 and 0.9 (at Tf 303 K) is 0.51 and 0.36%.
Ф о р м у л а и зо б р е т е н и FORUMAWOLA AND OTHERBULTIES
Способ измерени температуры объекта , включающий измерение температуры планарно расположенного с объектом в поле зрени приемной камеры регистрирующей системы эталонного излучател , плот- ность собственного теплового потока которого равна плотности собственного теплового потока объекта, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , объект и эталонный излучатель устанавливают в замкнутую плоскость, оптически св занную с приемной камерой, регулируют температуру эталонного излучател до достижени равенства плотностей полного теплового потока объекта и эталонного излучател , затем измер ют температуру полости, и собственные тепловые потоки эталонного излучател и объекта, а также разность между отраженными от объекта и эталонного излучател собственных тепловых потоков полости, а из равенства между разностью собственных тепловых потоков эталонного излучател и объекта и разностью между отраженными от объекта и эталонного излучател собственными тепловыми потоками полости определ ют температуру объекта.A method for measuring the temperature of an object, including measuring the temperature of a recording chamber of a reference radiator that is planar with an object in the field of view of the reference radiator, whose density of the heat flux is equal to the density of the object's own heat flux, characterized in that, to improve the measurement accuracy, the object and the reference The emitter is installed in a closed plane, optically connected with the receiving chamber, the temperature of the reference emitter is adjusted until equality is achieved. the full heat flux of the object and the reference radiator, then the temperature of the cavity, and the own heat fluxes of the reference radiator and the object, as well as the difference between the cavity’s own heat fluxes reflected from the object and the reference radiator, and from the equality between the difference of the own heat fluxes of the reference radiator and the object temperature and the difference between the intrinsic heat flows of the cavity reflected from the object and the reference emitter determine the temperature of the object.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894694094A SU1654734A1 (en) | 1989-04-03 | 1989-04-03 | Method of measuring the temperature |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU894694094A SU1654734A1 (en) | 1989-04-03 | 1989-04-03 | Method of measuring the temperature |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1654734A1 true SU1654734A1 (en) | 1991-06-07 |
Family
ID=21448892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU894694094A SU1654734A1 (en) | 1989-04-03 | 1989-04-03 | Method of measuring the temperature |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1654734A1 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108490022A (en) * | 2018-02-27 | 2018-09-04 | 航天材料及工艺研究所 | A kind of variable partial pressure of oxygen high ambient temperature heat-radiating properties test device and method |
| RU2803624C1 (en) * | 2023-02-21 | 2023-09-18 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "МИРЭА-Российский технологический университет" | Device for non-contact measurement of the temperature field on the object surface |
-
1989
- 1989-04-03 SU SU894694094A patent/SU1654734A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Тепловидение. Применение и особенности построени тепловизионных систем./Под общ.ред. Н.Д.Куртева. - М.. МИРЭА. 1986, с. 100-103 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108490022A (en) * | 2018-02-27 | 2018-09-04 | 航天材料及工艺研究所 | A kind of variable partial pressure of oxygen high ambient temperature heat-radiating properties test device and method |
| CN108490022B (en) * | 2018-02-27 | 2020-06-09 | 航天材料及工艺研究所 | Device and method for testing high-temperature thermal radiation performance in variable oxygen partial pressure environment |
| RU2803624C1 (en) * | 2023-02-21 | 2023-09-18 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "МИРЭА-Российский технологический университет" | Device for non-contact measurement of the temperature field on the object surface |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Lu et al. | Concurrent measurement of temperature and soot concentration of pulverized coal flames | |
| US3680357A (en) | Dilatometer | |
| Klein | Application of liquid crystals to boundary-layer visualization | |
| SU1654734A1 (en) | Method of measuring the temperature | |
| CN111207840B (en) | Surface emissivity on-line testing device and method thereof | |
| US3464267A (en) | Laser powermeter | |
| CN106525249A (en) | Infrared temperature measurement device and temperature measurement method for mirror surfaces | |
| JPH0353149A (en) | Method and instrument for measuring heat conductivity | |
| JPH0876857A (en) | Temperature control method for thermostatic chamber of ic handler | |
| CN206114120U (en) | Infrared temperature measuring device of mirror surface | |
| Tabor et al. | An instrument for measuring absorptivities for solar radiation | |
| SU819594A1 (en) | Thermoradiometer for measuring degree of material blackness | |
| Goldratt et al. | New method for measuring the thermal conductivity | |
| SU1659815A1 (en) | Method of determining thermal conductivity of a material | |
| Smith et al. | A microwave thermistor calorimeter | |
| RU2049316C1 (en) | Method for determining gas pressure within fuel elements of nuclear reactors | |
| JPH05223632A (en) | Calibrating system for light power meter | |
| SU877365A1 (en) | Device for measuring radiant thermal flows | |
| JPS5526464A (en) | Calibration method of radiation thermometer | |
| Li et al. | Investigation on calibration system for conductive heat flux gages | |
| SU1179186A1 (en) | Method of determining material heat conductivity | |
| KR910008480B1 (en) | Method for measuring radiation index in solid material | |
| SU1732181A1 (en) | Solid opaque materials radiation level meter | |
| Goloborod'ko et al. | Radiometric method of constructing a thermodynamic temperature scale | |
| SU1728763A1 (en) | Method for testing balance of thermoresistive analyzer |