SU1649460A1 - Способ измерени электрических и неэлектрических параметров - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в системах контрол  параметров технологических процессов. Цель изобретени  - повышение точности измерени  в услови х вли ни  на результат измерени  неконтролируемого параметра, неоднородного с исследуемым . Способ основан на проведении измерений посредством двух измерительных преобразователей, статические характеристики которых представл ютс  в виде линейно-независимых функций. На каждом преобразователе провод т измерение исследуемого параметра с неконтролируемым параметром. Проведение градуировки коэффициентов статической характеристики преобразователей путем измерени  значений трех образцовых мер, однородных с ис- следуемым параметром, и значени  образцовой меры, однородной с неконтролируемым параметром, и последующее вычисление значени  исследуемого параметра обеспечивает независимость результатуиз- мёрени  от значений неконтролируемого параметра и упом нутых коэффициентов.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в системах контрол  параметров технологических процессов.

Цель изобретени  - повышение точности измерени  в услови х воздействи  неконтролируемого параметра, неоднородного с исследуемым .

Способ осуществл етс  следующим образом .

В первом такте с помощью первого и второго измерительных преобразователей измер ют исследуемый параметр в услови х вли ни  на результат неоднородного с ним неконтролируемого параметра. Статические характеристики измерительных преобразователей можно с требуемой точностью представить в виде линейных функций. Учитыва  это, а также, что статические характеристики преобразователей представи- мы линейно-независимыми функци ми, результаты измерени  NI и Zi посредством первого и второго преобразователей можно представить в виде

Ni-ao + aiX+a2Y(1)

Zt-bo + biX+b2Y.(2)

где Y - неизвестна  величина неконтролируемого параметра;

ао. at. 82 и bo, bi. 02 - неизвестные коэффициенты , представл ющие статическую характеристику соответственно первого и второго преобразователей.

О

ю о о

Второй, третий и четвертый измерительные такты  вл ютс  градуировочными и служат дл  определени  неизвестных коэффициентов ао, ai, 32 и bo, bi, b2.

Во втором такте с помощью первого и второго преобразователей измер ют значени  первой образцовой меры Mi, однородной с исследуемым параметром. Соответствующие результаты N2 и Zz второго такта можно представить в виде

+ aiMi,(3)

Z2 bo+biMi. (4)

В третьем такте с помощью первого и второго преобразователей измер ют значение второй образцовой меры М2, также однородной с исследуемым параметром, но не равной по значению Mi. Результаты Ыз и 2з третьего такта можно представить в виде Мз°ао+ aiM2,(5)

biMa.(6)

В четвертом такте с помощью первого и второго преобразователей измер ют значение третьей и четвертой образцовых мер, однородных соответственно с исследуемым параметром и с неконтролируемым параметром . Результаты и 2д четвертого такта можно представить в виде

N4° ао + aiMa+ ааМ4.(7)

+ biMa+ b2M4.(8)

Реша  совместно уравнени  (3), (5) и (7) можно найти значени  коэффициентов ао, 81. 32, а реша  совместно уравнени  (4), (6) и (В), можно найти значени  коэффициентов bo, bi, ba.Далее, зна  значени  коэффициентов ao.ai, аа и bo, bi, b2, можно совместно решить уравнени  (1) и (2) относительно X и получить соотношение, определ ющее искомую величину исследуемого параметрэ a2(Zi-b0)-fb2(a0-Ni)

aib2-32bi Таким образом результат измерени  исследуемого параметра определ етс  результатами четырех измерительных тактов, полученными на двух измерительных преX

0

5

0

5

0

5

0

Claims (1)

1. образовател х, и значени ми образцовых мер, и не зависит от значений коэффициентов , определ ющих статическую характеристику неконтролируемого параметра. Формула изобретени  Способ измерени  электрических и неэлектрических параметров, заключающийс  в Проведении парэллельных измерений посредством двух измерительных преобразователей , статические характеристики которых представл ютс  линейно-независимыми функци ми, в первом такте измер ют исследуемый параметр с неконтролируемым параметром , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени  в услови х воздействи  неконтролируемого параметра, неоднородного с исследуемым, во втором и третьем тактах измер ют значени  соответст- венно первой и второй образцовых мер Mi и М2. однородных с исследуемым параметром , в четвертом такте измер ют сумму третьей и четвертой образцовых мер Мз и Ми, однородных соответственно с исследуемым и с неконтролируемым параметрами, значение исследуемого параметра определ ют по формуле

   у 32 (Zl - Ьо) + Ь2 (Зр - Mi) 3lb2 - 32bl

   где Ni,Zi - результаты измерени  исследуемого параметра с неконтролируемым параметром соответственно посредством первого и второго измерительного преобразовател ,

   30. 91, 32

   и bo, bi, b2 коэффициенты статической характеристики первого и второго измерительного преобразовэтел , определ емые по результатам N2, Мз, N4 и Z2, Za, ТА измерений во втором, третьем и четвертом тактэх первом и втором измерительных преобразовател х из решени  систем уравнений вида

   N2 ao + aiMi N3 ao+aiM2 N4 - ао+31Мз+а2М4

   Zi bo+biMi Za bo+biM2

   Z3 bo+blM3+02M4