SU1635004A1 - Термоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах - Google Patents
Термоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах Download PDFInfo
- Publication number
- SU1635004A1 SU1635004A1 SU894647755A SU4647755A SU1635004A1 SU 1635004 A1 SU1635004 A1 SU 1635004A1 SU 894647755 A SU894647755 A SU 894647755A SU 4647755 A SU4647755 A SU 4647755A SU 1635004 A1 SU1635004 A1 SU 1635004A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- thermoelectric
- coating
- thickness
- measured
- thermopower
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к термоэлектрическому контролю промышленных изделий и может быть использовано дл контрол толщин провод щих покрытий на провод щей основе. Целью изобретени вл етс упрощение градуировки и повышение точности контрол Дл каждого материала основы предварительно изготавливают образцы с одинаковой толщиной покрыти На контролируемом покрытии размещают два гор чих и один холодный электроды изготовленные из материала покрыти так что отношение площадей контактов гор чих электродов с покрытием не равно единице Образуют две термоэлектрические пары, измер ют их гермоЭДС и термоЭДС на предварительно изготовленных образцах упом нутым методом Толщину контролируемого покрыти определ ют с учетом отношени разности предварительно измеренной термоЭДС дл покрыти на данной основе и измеренного значени термоЭДС в одной термоэлектрической паре к разности той же предварительно измеренной термоЭДС и измеренного значени термоЭДС в другой термоэлектрической паре 3 ил 2 табл w fe
Description
Изобретение относитс к способам термоэлектрического контрол промышленных изделий и может быть использовано дл контрол толщин провод щих покрытий на провод щей основе
Цель изобретени - упрощение градуировки и повышение точности контрол
На фиг.1 изображена зависимость отношени Ei/E2 от толщины гальванического никел , нанесенного на ст 20 (крива 1) и на латунь Л63 (крива 2), на фиг 2 - зависимость отношени ЕэгтгЕт/Еэт-Ег от толщины гальванического никел , нанесенного на ст.20 ( ) и на латунь Л63 (х), при этом эталонные значени термоЭДС замерены на образцах с одинаковой толщиной никел (( мкм) и составл ют дл никел на
стали 258 мкВ дл никел на латуни 60 мкВ на фиг 3 зависимость отношени ЕЭт-Е2/Еэгп-Е1 от толщины гальванического никел , нанесенного на ст 20 () и на латунь Л63 (х), при этом эталонные значени замерены при о 0, т е на основах без покрыти и составл ют дл никел на стали 308 мкВ, дл никел на латуни 76 мкВ
Термоэлектрические измерени проводились на гальванических никелевых покрыти х нанесенных на образцы из ст 20 и латуни Л63 Образцы имеют вид шайб с толщиной 5 мм и диаметром 55 мм Толщину образца измер ют до и после нанесени покрытий и по разности определ ют толщины покрытий Термоэлектоические цепи с разными гор чими электродами подключают к прибору поочередно с помощью переключател . Все три электрода выполн ют из никел и имеют одинаковый диаметр (6 мм). Рабочее окончание одного из гор чих электродов сферически закруглен с радиусом закруглени 3 мм. при этом диаметр контакта электрода с изделием 0.1 мм, рабочее окончание другого гор чего электрода выполн ют в виде усеченного конуса, диаметр контакта электрода с изделием 2 мм.
Результаты измерений приведены в табл. 1 и 2.
Способ осуществл етс следующим образом .
Пусть один гор чий электрод (электрод 1) имеет радиус контактной площадки м другой (электрод 2) - Г2. Так как в данном случае электроды выполнены из материала покрыти , то значени термоЭДС дл пар с электродом 1 и с электродом 2 соответствуют
EI Оно t (п. а);(1)
Е2 «по t (f2, (7),(2)
где а по - коэффициент термоЭДС пары материал покрыти - материал основы; .
t(n, a) - температура на стыке покрытие - основа под электродом 1;
t (r2, ст) - температура под электродом 2.
Отношение этих ЭДС
Ё2 ahot frz.g)
Ei Onot(n,ff)
Температуру на стыке покрытие - основа можно представить в виде
t(ri,a) to(n)-At(n, а), где to(n) - температура под электродом 1 при-толщине покрыти а-0, т.е. при постановке электрода 1 на основу.
Так же можно представить и температуРУ
t (r2. сг) to(n)- Дт.(г2, а). Тогда выражение (3) имеет вид
Е2 Опо t0 ( П ) - A t (Г2.Р )
Ei (n )-At(ri.a)
Ер Гг 1 ) - ДопД t ( П.О )
Ео(п )-abnAt(ri,a) где Ео(п) - термоЭДС, возникающа при постановке электрода 1 на материал основы .
Эталонное значение термоЭДС Еэт дл данного материала основы также можно представить в виде такого рода разности. Если качестве Еэт прин ть значение термоЭДС в цепи гор чего электрода 1, тогда Еэт (П ) Ео ( П ) «onA t ( П Д,т ) .
Если из Еэт вычесть значени термоЭДС Е2 и Et, полученные при измерении толщины покрыти в цеп х с гор чими элек (3)
(4)
тродами 2 и 1 соответственно, а полученные разности разделить друг на друга, то
Е,„ - EZ
E,(ri)-flbnAt(ri№,)-Eo(;n)- -aBnAt (ag) 60M-a«AtUv(H-Mri) + Wmr e )
0
5
0
At( ЯП
ГНУ riffn
)
„ ) -At()
(5)
Как частный случай в качестве эталонных значений могут быть прин ты значени термоЭДС, полученные при установке электродов на материалы основ, где толщину покрытий также можно считать одинаковой и равной нулю. В этом случае ЕЭт(п) Е0(п) и выражение (5) принимает вид
Earn - Eg
Ер f гИ - Ер ГгИ + QbnA t ( Г2.а ) Ео(п )-Eo(n )+aor,At(ri,a)
25
30
35
40
45
50
55
At (r2.ff)
(6)
At(n,7;
Из сравнени выражений (5) и (6) с выражением (4) видно, что вычитание измер емых значений из эталонных значений термоЭДС приводит к исчезновению в (5) и (6) слагаемых, не несущих в себе информации о толщине покрыти и завис щих только от свойств основы, вследствие чего точность контрол толщин покрытий возрастает, т.е. предлагаемый способ позвол ет отстроитьс от свойств материапа основы. Это существенно упрощает операции по градуировке .
Claims (1)
- Формула изобретениТермоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах, заключающийс в том, что на контролируемом покрытии размещают два гор чих и один холодный электроды, изготовленные из материала покрыти так, что отношение площадей контактов гор чих электродов с покрытием не равно единице, образуют две термоэлектрические пары, измер ют термоЭДС, отличающийс тем, что, с целью упрощени градуировки и повышени точности контрол , предварительно изготавливают дл каждого материала основы образцы с одинаковой толщиной покрыти , измер ют на них значени термоЭДС упом нутым методом в цепи одной из пар электродов, а толщину контролируемого покрыти определ ют с учетом отношени разности предварительно измеренной термоЭДС дл покрыти на данной основе и измеренного значени термоЭДС в однойтермоэлектрической паре к разности той же предварительно измеренной термоЭДС иизмеренного значени термоЭДС в другой термоэлектрической паре.Никель на ст. 20Примечание : Е1 -значение термоЭДС в цепи с гор чим электродом, имеющим диаметр контактной площадки 0,1 мм: Е2 - значение термо ЭДС в цепи с гор чим электродом с диаметром контактной площадки 2.0 мм.Каждое полученное значение термо ЭДС - это среднее дес ти измерений , округленное до целых микровольт.Никель на латуни ЛбЗ1216фuг.Таблица 1Таблица 220&24, ЫЮ4ПЮ 20 24f и«чfr,-6Јm-ЈiЯ1811111 10В6 Itг о8 12 16 Фиг.ЗWZtt 6,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894647755A SU1635004A1 (ru) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | Термоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894647755A SU1635004A1 (ru) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | Термоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1635004A1 true SU1635004A1 (ru) | 1991-03-15 |
Family
ID=21427490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894647755A SU1635004A1 (ru) | 1989-02-10 | 1989-02-10 | Термоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1635004A1 (ru) |
-
1989
- 1989-02-10 SU SU894647755A patent/SU1635004A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР N: 1226238,кл G 01 N 25/32, 1986 * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0468429B1 (en) | SiC thin-film thermistor and method of producing it. | |
US4719441A (en) | Sensor for measuring electrical conductivity | |
EP0865083A3 (en) | Electrode for semiconductor device and method of manufacturing it | |
JPH0365643A (ja) | 静電容量型湿度センサー | |
EP0544934A1 (de) | Verfahren zum Stabilisieren der Oberflächeneigenschaften von in Vakuum temperaturzubehandelnden Gegenständen | |
EP1616172B1 (en) | A thin semiconductor film gas sensor device | |
SU1635004A1 (ru) | Термоэлектрический способ контрол толщин одинаковых покрытий на различных основах | |
US3177341A (en) | Resistance coating for articles of glassware and the like | |
EP0186039B1 (en) | Process for producing a temperature and moisture sensitive element | |
EP0395937A1 (de) | Kapazitiver Feuchtesensor | |
Charlson et al. | Temperature selective deposition of Parylene-C | |
SU1456765A1 (ru) | Емкостный датчик-свидетель дл контрол толщины напыл емой диэлектрической пленки | |
Ernsberger et al. | Contact resistance behavior of titanium nitride | |
SU911281A1 (ru) | Термоэлектрическое устройство дл определени химического состава и структуры металлов и сплавов | |
JP3487675B2 (ja) | 力学量センサの製造方法 | |
GB737058A (en) | Method of manufacturing heating conductors for electric heating apparatus | |
FR2389216A1 (fr) | Procede de fabrication d'un contact pontant | |
SU783283A1 (ru) | Способ полировки керамических изделий | |
FR2643088B1 (fr) | Procede de revetement a base d'un element de type metallique d'un substrat en oxyde ceramique et oxydes ceramiques ainsi revetus | |
JPS56104241A (en) | Gas sensing element | |
JPH07307210A (ja) | 金属抵抗体の製造方法および力学量センサ | |
Filippini et al. | Thick film microchannels: design and fabrication | |
JPS6355404A (ja) | 歪計用抵抗体 | |
SU1747959A1 (ru) | Датчик силы | |
SU1366872A1 (ru) | Емкостный датчик дл измерени толщины напыл емой пленки |