SU1624067A1 - Способ выращивани пленок теллурида цинка - Google Patents

Способ выращивани пленок теллурида цинка Download PDF

Info

Publication number
SU1624067A1
SU1624067A1 SU894669025A SU4669025A SU1624067A1 SU 1624067 A1 SU1624067 A1 SU 1624067A1 SU 894669025 A SU894669025 A SU 894669025A SU 4669025 A SU4669025 A SU 4669025A SU 1624067 A1 SU1624067 A1 SU 1624067A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
melt
solution
zinc telluride
temperature
reduce
Prior art date
Application number
SU894669025A
Other languages
English (en)
Inventor
Валентина Михайловна Скобеева
Людмила Николаевна Семенюк
Original Assignee
Одесский Государственный Университет Им.М.И.Мечникова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Одесский Государственный Университет Им.М.И.Мечникова filed Critical Одесский Государственный Университет Им.М.И.Мечникова
Priority to SU894669025A priority Critical patent/SU1624067A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1624067A1 publication Critical patent/SU1624067A1/ru

Links

Landscapes

  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к технологии материалов твердотельной электроники и может быть использовано при изготовлении оптоэлектронных устройств. Цель изобретени  - снижение температуры процесса и сокращение его длительности. Пленки выращивают методом жидкостной эпитаксии из раствора-расплава с растворителем, в качестве которого берут сплав висмут-олово эвтектического состава, при температуре 500 - 650°С. Длительность процесса сокращена в несколько раз. 1 ил.

Description

Изобретение относится к технологии материалов твердотельной электроники, а конкретно к технологии получения тонких пленок теллурида цинка методом жидкофазной эпитаксии из раствора - расплава металла, и может быть использовано при изготовлении оптоэлектронных устройств (фотоприемники, светодиоды, видиконы).
Цель изобретения - снижение температуры процесса и сокращение его длительности.
На чертеже приведены зависимости растворимости ZnTe в BI (кривая 1) и сплаве Bi-Sn (кривая 2) от температуры Т.
Как видно из чертежа при 650°С растворимость ZnTe в BI составляет 0,5 мол.%, а в сплаве Bi-Sn - 1,3 мол.%. Таким образом применение сплава Bl-Sn значительно повышает растворимость теллурида цинка по сравнению с висмутом.
П р и м е р 1. Для эпитаксиального наращивания используют графитовую кассету пенального типа, состоящую из неподвижной части с ячейкой для раствора расплава и подвижной части с ячейкой для подложки. В качестве раствора - расплава применяют металлы Bi и Sn, взятые в эвтектическом соотношении: BI 58 вес.%; Sn 42 вес.%; в количестве BI 5,8 · 10’1 г; Sn
4,2 10 т г, а теллурид цинка берут в виде мелких кристалликов в количестве 2 · 10 z г. Вес ZnTe рассчитывают в соответствии со значением растворимостиZnTe всплаве BiSn при 650°С. Эту смесь загружают в ячейку кассеты, в другую помещают подложку из ZnSe. Кассету устанавливают в кварцевый реактор, нагревают до 650°С при непрерывном пропускании водорода и выдерживают при этой температуре в течении времени, достаточного для насыщения раствора-расплава (20 мин). Контакт раствора-расплава с подложкой осуществляют поворотом кассеты на 180° вокруг своей оси, при этом раствор-расплав располагают над подложкой. Для осаждения пленки проводят охлаждение системы до 450°С. При этой температуре проводят отделение раствора-расплава с поверхности выращенной пленки путем возвращения кассеты в исходное положение. После охлаждения печи до температуры эвтектики подложку с осажденной пленкой извлекают из ростового реактора. В слу чае неполного удаления раствора-расплава остатки его отделяют механически.
П р и м е р 2. Вес ZnTe, рассчитанный в соответствии со значением его раствори5 мости в сплаве Bi-Sn при 500°С, составляет 2 · 10 3 г Bi и Sn берут в количестве
5,8 10'1 г и 4,2 · 10'1 г соответственно. Систему нагревают до 500°С и выдерживают в течении 30 мин при этой темпера10 туре. Рост пленок осуществляют при охлаждении системы до 450°С. Отделение раствора-расплава с поверхности пленки осуществляют таким же образом, как и в примере 1.
В обоих примерах получены гладкие пленки теллурида цинка без остатков раствора-расплава. По данным фотолюминесцентного, рентгенофазового и рентгено20 структурного анализов пленки являются монокристаллическими. Удельное сопротивле ние пленок равно 8 ·102 Ом см,концентрация носителей равна 2,6 · 1015 см'3.
Предлагаемый способ обладает следую-, шими преимуществами,
Температура начала проведения эпитаксиального процессса вследствие увеличения растворимости ZnTe в эвтектическом сплаве Bi-Sn уменьшается до 650 - 500°С. Время насыщения раствора-расплава тел30 луридом цинка также уменьшается и составляет при 650°С 20 мин, а при 500°С 30 мин. Это сокращает длительность технологического процесса. Более низкая температура эвтектики сплава Bl-Sn (139°С) по сравне35 нию с температурой плавления В! (271°С) позволяет проводить отделение остатков раствора-расплава механически после вынесения образца из ростового реактора, что значительно упрощает способ. При этой температуре не происходит изменение физических свойств материала подложки и пленки,

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ выращивания пленок теллурида 45 цинка путем жидкостной эпитаксии из раствора-расплава с растворителем, содержащим висмут, на нагретую подложку в потоке водорода, отличающийся тем, что, с целью снижения температуры процесса и 50 сокращения его длительности, в качестве растворителя берут сплав висмут-олово эвтектического состава и выращивание ведут при 500 - 650°С.
SU894669025A 1989-02-09 1989-02-09 Способ выращивани пленок теллурида цинка SU1624067A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894669025A SU1624067A1 (ru) 1989-02-09 1989-02-09 Способ выращивани пленок теллурида цинка

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894669025A SU1624067A1 (ru) 1989-02-09 1989-02-09 Способ выращивани пленок теллурида цинка

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1624067A1 true SU1624067A1 (ru) 1991-01-30

Family

ID=21437230

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894669025A SU1624067A1 (ru) 1989-02-09 1989-02-09 Способ выращивани пленок теллурида цинка

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1624067A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Jap. J. Appl. Phys.. 1973. V.12. № 12. . p. 1841 - 1849. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Schmit Growth, properties and applications of HgCdTe
US4315796A (en) Crystal growth of compound semiconductor mixed crystals under controlled vapor pressure
EP0244987B1 (en) A process for growing a multi-component crystal
US4594264A (en) Method for forming gallium arsenide from thin solid films of gallium-arsenic complexes
SU1624067A1 (ru) Способ выращивани пленок теллурида цинка
US3494730A (en) Process for producing cadmium telluride crystal
US4906325A (en) Method of making single-crystal mercury cadmium telluride layers
US4487640A (en) Method for the preparation of epitaxial films of mercury cadmium telluride
US3811963A (en) Method of epitaxially depositing gallium nitride from the liquid phase
EP0104741A1 (en) Process for growing crystalline material
EP0179851B1 (en) A method of synthesizing thin, single crystal layers of silver thiogallate (aggas2)
EP0355833B1 (en) Method of producing compound semiconductor single crystal
JP2555847B2 (ja) 低抵抗半導体結晶基板及びその製造方法
US4872943A (en) Process for making monocrystalline HGCDTE layers
US4244753A (en) Method for purification of II-VI crystals
EP0179907B1 (en) Silver thiogallate single crystal layers epitaxially grown from potassium chloride-silver thiogallate solution
Schmit Development of HgCdTe for LWIR imagers
JPH05310494A (ja) 単結晶の育成方法
JP3021935B2 (ja) カドミウムマンガンテルル単結晶の製造方法
JPH10152393A (ja) バルク結晶の成長方法及びバルク結晶成長用種結晶
Chan Vacuum epitaxial growth of Pb1− xSnxTe films on cleaved BaF2 substrates
JPH085760B2 (ja) Hgl―xo Cdxo Te結晶インゴットの製造方法
Wan et al. Supercooling studies and LPE growth of Hg 1− x Cd x Te from Te-Rich solutions
RU2035799C1 (ru) Гетероструктура на основе арсенида - антимонида - висмутида индия и способ ее получения
SU625509A1 (ru) Способ осаждени слоев теллурида цинка