SU1624067A1 - Способ выращивани пленок теллурида цинка - Google Patents
Способ выращивани пленок теллурида цинка Download PDFInfo
- Publication number
- SU1624067A1 SU1624067A1 SU894669025A SU4669025A SU1624067A1 SU 1624067 A1 SU1624067 A1 SU 1624067A1 SU 894669025 A SU894669025 A SU 894669025A SU 4669025 A SU4669025 A SU 4669025A SU 1624067 A1 SU1624067 A1 SU 1624067A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- melt
- solution
- zinc telluride
- temperature
- reduce
- Prior art date
Links
Landscapes
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к технологии материалов твердотельной электроники и может быть использовано при изготовлении оптоэлектронных устройств. Цель изобретени - снижение температуры процесса и сокращение его длительности. Пленки выращивают методом жидкостной эпитаксии из раствора-расплава с растворителем, в качестве которого берут сплав висмут-олово эвтектического состава, при температуре 500 - 650°С. Длительность процесса сокращена в несколько раз. 1 ил.
Description
Изобретение относится к технологии материалов твердотельной электроники, а конкретно к технологии получения тонких пленок теллурида цинка методом жидкофазной эпитаксии из раствора - расплава металла, и может быть использовано при изготовлении оптоэлектронных устройств (фотоприемники, светодиоды, видиконы).
Цель изобретения - снижение температуры процесса и сокращение его длительности.
На чертеже приведены зависимости растворимости ZnTe в BI (кривая 1) и сплаве Bi-Sn (кривая 2) от температуры Т.
Как видно из чертежа при 650°С растворимость ZnTe в BI составляет 0,5 мол.%, а в сплаве Bi-Sn - 1,3 мол.%. Таким образом применение сплава Bl-Sn значительно повышает растворимость теллурида цинка по сравнению с висмутом.
П р и м е р 1. Для эпитаксиального наращивания используют графитовую кассету пенального типа, состоящую из неподвижной части с ячейкой для раствора расплава и подвижной части с ячейкой для подложки. В качестве раствора - расплава применяют металлы Bi и Sn, взятые в эвтектическом соотношении: BI 58 вес.%; Sn 42 вес.%; в количестве BI 5,8 · 10’1 г; Sn
4,2 10 т г, а теллурид цинка берут в виде мелких кристалликов в количестве 2 · 10 z г. Вес ZnTe рассчитывают в соответствии со значением растворимостиZnTe всплаве BiSn при 650°С. Эту смесь загружают в ячейку кассеты, в другую помещают подложку из ZnSe. Кассету устанавливают в кварцевый реактор, нагревают до 650°С при непрерывном пропускании водорода и выдерживают при этой температуре в течении времени, достаточного для насыщения раствора-расплава (20 мин). Контакт раствора-расплава с подложкой осуществляют поворотом кассеты на 180° вокруг своей оси, при этом раствор-расплав располагают над подложкой. Для осаждения пленки проводят охлаждение системы до 450°С. При этой температуре проводят отделение раствора-расплава с поверхности выращенной пленки путем возвращения кассеты в исходное положение. После охлаждения печи до температуры эвтектики подложку с осажденной пленкой извлекают из ростового реактора. В слу чае неполного удаления раствора-расплава остатки его отделяют механически.
П р и м е р 2. Вес ZnTe, рассчитанный в соответствии со значением его раствори5 мости в сплаве Bi-Sn при 500°С, составляет 2 · 10 3 г Bi и Sn берут в количестве
5,8 10'1 г и 4,2 · 10'1 г соответственно. Систему нагревают до 500°С и выдерживают в течении 30 мин при этой темпера10 туре. Рост пленок осуществляют при охлаждении системы до 450°С. Отделение раствора-расплава с поверхности пленки осуществляют таким же образом, как и в примере 1.
В обоих примерах получены гладкие пленки теллурида цинка без остатков раствора-расплава. По данным фотолюминесцентного, рентгенофазового и рентгено20 структурного анализов пленки являются монокристаллическими. Удельное сопротивле ние пленок равно 8 ·102 Ом см,концентрация носителей равна 2,6 · 1015 см'3.
Предлагаемый способ обладает следую-, шими преимуществами,
Температура начала проведения эпитаксиального процессса вследствие увеличения растворимости ZnTe в эвтектическом сплаве Bi-Sn уменьшается до 650 - 500°С. Время насыщения раствора-расплава тел30 луридом цинка также уменьшается и составляет при 650°С 20 мин, а при 500°С 30 мин. Это сокращает длительность технологического процесса. Более низкая температура эвтектики сплава Bl-Sn (139°С) по сравне35 нию с температурой плавления В! (271°С) позволяет проводить отделение остатков раствора-расплава механически после вынесения образца из ростового реактора, что значительно упрощает способ. При этой температуре не происходит изменение физических свойств материала подложки и пленки,
Claims (1)
- Формула изобретенияСпособ выращивания пленок теллурида 45 цинка путем жидкостной эпитаксии из раствора-расплава с растворителем, содержащим висмут, на нагретую подложку в потоке водорода, отличающийся тем, что, с целью снижения температуры процесса и 50 сокращения его длительности, в качестве растворителя берут сплав висмут-олово эвтектического состава и выращивание ведут при 500 - 650°С.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894669025A SU1624067A1 (ru) | 1989-02-09 | 1989-02-09 | Способ выращивани пленок теллурида цинка |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894669025A SU1624067A1 (ru) | 1989-02-09 | 1989-02-09 | Способ выращивани пленок теллурида цинка |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1624067A1 true SU1624067A1 (ru) | 1991-01-30 |
Family
ID=21437230
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894669025A SU1624067A1 (ru) | 1989-02-09 | 1989-02-09 | Способ выращивани пленок теллурида цинка |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1624067A1 (ru) |
-
1989
- 1989-02-09 SU SU894669025A patent/SU1624067A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Jap. J. Appl. Phys.. 1973. V.12. № 12. . p. 1841 - 1849. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Schmit | Growth, properties and applications of HgCdTe | |
US4315796A (en) | Crystal growth of compound semiconductor mixed crystals under controlled vapor pressure | |
EP0244987B1 (en) | A process for growing a multi-component crystal | |
US4594264A (en) | Method for forming gallium arsenide from thin solid films of gallium-arsenic complexes | |
SU1624067A1 (ru) | Способ выращивани пленок теллурида цинка | |
US3494730A (en) | Process for producing cadmium telluride crystal | |
US4906325A (en) | Method of making single-crystal mercury cadmium telluride layers | |
US4487640A (en) | Method for the preparation of epitaxial films of mercury cadmium telluride | |
US3811963A (en) | Method of epitaxially depositing gallium nitride from the liquid phase | |
EP0104741A1 (en) | Process for growing crystalline material | |
EP0179851B1 (en) | A method of synthesizing thin, single crystal layers of silver thiogallate (aggas2) | |
EP0355833B1 (en) | Method of producing compound semiconductor single crystal | |
JP2555847B2 (ja) | 低抵抗半導体結晶基板及びその製造方法 | |
US4872943A (en) | Process for making monocrystalline HGCDTE layers | |
US4244753A (en) | Method for purification of II-VI crystals | |
EP0179907B1 (en) | Silver thiogallate single crystal layers epitaxially grown from potassium chloride-silver thiogallate solution | |
Schmit | Development of HgCdTe for LWIR imagers | |
JPH05310494A (ja) | 単結晶の育成方法 | |
JP3021935B2 (ja) | カドミウムマンガンテルル単結晶の製造方法 | |
JPH10152393A (ja) | バルク結晶の成長方法及びバルク結晶成長用種結晶 | |
Chan | Vacuum epitaxial growth of Pb1− xSnxTe films on cleaved BaF2 substrates | |
JPH085760B2 (ja) | Hgl―xo Cdxo Te結晶インゴットの製造方法 | |
Wan et al. | Supercooling studies and LPE growth of Hg 1− x Cd x Te from Te-Rich solutions | |
RU2035799C1 (ru) | Гетероструктура на основе арсенида - антимонида - висмутида индия и способ ее получения | |
SU625509A1 (ru) | Способ осаждени слоев теллурида цинка |