SU1608514A1 - Устройство дл регистрации люминесцентного излучени - Google Patents
Устройство дл регистрации люминесцентного излучени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1608514A1 SU1608514A1 SU884650452A SU4650452A SU1608514A1 SU 1608514 A1 SU1608514 A1 SU 1608514A1 SU 884650452 A SU884650452 A SU 884650452A SU 4650452 A SU4650452 A SU 4650452A SU 1608514 A1 SU1608514 A1 SU 1608514A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- mirror
- diameter
- radiation
- focus
- sample
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к оптическим средствам измерени . Цель изобретени - повышение чувствительности. Устройство содержит зеркало в виде эллипсоида вращени , ограниченное плоскостью, проход щей через ближний по отношению к вогнутой поверхности зеркала фокус перпендикул рно оптической оси. Образец расположен в ближнем к источнику излучени фокусе. 2 ил.
Description
быть
Изобретение относитс к оптическим средствам измерени и может
использовано при люминесцентных
исследовани х плоских образцов, например полупроводниковых, в произ- водстзе активных элементов микроэлектроники .
Цепь изобретени - повьшение чув- гльности устройства дл регистствит рации
плоек х.образцов.
люминесцентного излучени
фиг. 1 изображена оптическа устройства дл регистрации люНа
схема
минее leHTHOго излучени плоских об- разцо:з; на фиг. 2 - результаты измерений
Ус
гройство содержит источник 1
излуч1ши , эллиптическое зеркало 2, отверстие 3 в зеркале, держатель 4, образ1Щ 5, регистрирующий прибор 6, оптическую ось 7, ближний фокус 8 зеркала, базовую плоскость 9 держател , дальний фокус 10, ограничивающую плоскость 11. На фиг. 2 изображены кривые распределени фотолюминесценции арсенида галли , полученные на предлагаемом устройстве - крива 12, и на известном устройстве - крива 13.
Использованием свойств эллиптического зеркала достигаетс увеличение чувствительности устройства. .Кроме того, размеры эллиптического зеркала ограничены плоскостью, проход щей через ближний к выгнутой поверхности зеркала фокус, перпендику- л рно оптической оси.
Таким образом, в устройстве эл- ;Липтическим зеркалом собираетс все ,люминесцентное излучение (за исключением излучени , экранируемого держателем образца), испускаемое воз- бужденной областью поверхности об- . разца, и направл етс на входную щель регистрирующего прибора, что приводит к повышению чувствительности по.сравнению с известным устройством .
3
О5
эо
ел
Диаметр отверсти в эллиптическо зеркале выбирают больше или равным диаметру пучка возбуждающего излучени , так как в пртивном случае не все возбуждающее излучение принимае участие 6 возбуждении люминесценции что приводит к ухудщению чувствительности устройства. Кроме того, диаметр отверсти не должен превышать величину fj d,/fa-f j;, так как противном случае часть люминесцентного , излучени уходит сквозь отверстие в эллиптическом зеркале, не попада на регистрирующий прибор.
В качестве источника излучени ,бьш использован гелийнеоновый лазер типа ЛГ-75/1. Возбуждающее когерентное монохроматическое излучение направл ли через отверстие 3 диаметром 5 мм в эллиптическом зеркале 2 перпендикул рно исследуемому образцу 5, Образец 5 был изготовлен из монокристалла арсенида галли размером 12x2x0,3 мм. Образец 5 располагали на держателе 4 в ближнем от вогнутой поверхности эллиптического зеркала 2 .фокусе 8. Эллиптическое зеркало 2 ограничено.плоскостью 11, проход щей через этот же фокус 8 перпендикул рно оптической оси В. Отраженное от поверхности образца 5 излучение уходит через отверстие 3 в эллиптическом зеркале 2 в окружающее пространство . Люминесцентное излучение, которое испускалось поверхностью образца 5 j все полностью, за исключением излучени , экранируемого держа- телем 4 образца 5, фокусировалось на регистрирующем приборе 6 типа поверхности эллиптического зеркала фокусе 10.
Регистрируемь ш сигнал, полученный на предлагаемом устройстве, в 12 раз превьшает сигнал, полученный на известном устройстве.
Использование эллиптического зеркала выгодно отличает предлагаемое устройство регистрации люминесцентного излучени плоских образцов от известного, так как в этом случае значительно повышаетс чувствитель- : ность устройства, особенно при регистрации сдабосвет щихс образцов.
Диаметр держател выбирают в 1,5 раза больше диаметра отверсти в эллиптическом зеркале, так как при 016 грж неточность юстировки может привести к попаданию возбуждающего излучени на входную щель регистрирующего прибора, что приве- . дет к сильному возрастанию фона, а J следовательно, к снижению чувствительности устройства. По этой же причине невозможно использование ва- рианта . В случае если d,,«:d,, будет экранироватьс значительна 0 часть люминесцентного излучени , отраженного от поверхности зеркала, что также приведет к снижению чувствительности устройства.
Выполнение устройства дл регист- 5 рации люминесцентного излучени плоских образцов может быть различным.
П р и м е р 1. Диаметр пучка возбуждающего излучени d равен 4 мм, диаметр отверсти в зеркале d ра- 0 вен 4 мм, диаметр держател образца d, равен 6 мм.
Рассто ние от поверхности .зеркала до дальнего фокуса fд равно 80 мм, рассто ние от поверхности зер- 5 кала до ближнего фокуса ft равно 40 мм.
80-6
30-40
4
Сигнал на регистрирующем приборе равен 30 мВ.
П р и м е р 2. Диаметр пучка возбуждающего излучени d равен 4 мм, диаметр отверсти в зеркале d равен 9 мм, диаметр держател образца d- равен 6 мм.
Рассто ние от поверхности зеркала до дальнего фокуса fa равно 80 мм, рассто ние от поверхности зеркала до ближнего фокуса fjf равно 40 мм. .
4 9 мм.
Сигнал на регистрирующем приборе равен 30 мВ.
П р и м е р 3. Дмаметр пучка воз- буждающего излучени d равен 4 мм, диаметр отверсти в зеркале d , равен 3 мм, диаметр держател образца d.; равен 6 мм.
Рассто ние от поверхности зеркала о дальнего фокуса равно 80 мм, рассто ние от поверхности зеркала до ближнего фокуса равно 40 мм.
d,di;
3 мм.
Сигнал на регистрирующем приборе равен 17 мВ.
П р и м е р 4. Диаметр пучка возбуждающего излучени dj равен 4 мм
ве
диаметр отверсти в зеркале d. ра- ве 1 14 мм, диаметр держател образцов dj равен 6 мм.
Рассто ние от поверхности зеркала
до дальнего фокуса f- равно 80 мм , рассто ние от поверхности зеркала до ближнего фокуса fg- равно 40 мм.
16b
разен
чу ве
СО1СОЙ
Сигнал на регистрирующем приборе
28 мВ.
Устройство обладает повышенной зствительностью по сравнению с из- ;тным устройством в 10-15 раз.- Таким образом, за счет более вы- чувствительности устройства по достоверность результатов
плоских образцов даже в T01J1 случае, если они вл ютс слабо- св4т щимис , что необходимо при тех- огическом контроле полупроводнико : материалов (возможность отбра- ки полупроводниковых структур, не тветствующих требуемым парамет- на стадии входного контрол при активных элементов мик- лектроники.
вьпшетс измерени
производстве
роз Ф о
d,
Г-
80-40
мм.
)
рмула изобретени
ни ;
Устройство дл регистрации люмиизлучени , включающее св занные источник излученесцентного оптически
образец и приемник излучени ,
примем на оптической оси источника
,
-
-
6b85l46
размещено зеркало, выполненное
в виде эллипсоида вращени с отверстием;;- и в одном из фокусов эллипсоида установлен образец, отличающеес тем, что, с целью повышени чувствительности, источник излучени размещен вне зеркала и св зан с образцом через отверстие в зеркале, 10 Р этом образец установлен на непрозрачном дл излучени держателе,. расположенном перпендикул рно оптической оси, а зеркало ограничено плоскостью , проход щей перпендикул рно ,5 оптической оси через фокус, в котором установлен образец, в другом фокусе зеркала расположен приемник излучени , при этом диаметр держател образца не менее чем в 1,5 раза 20 больше диаметра пучка источника излучени , а величина диаметра отверсти в зеркале удовлетвор ет соотношению
5
где
0
d
d,
dz f
d,e
fj-d3
Vfp
$
диаметр пучка источника излучени j
диаметр отверсти в зеркале; рассто ние по оптической оси от вогнутой поверхнос- ти зеркала до дальнего фо- куса;
d - диаметр держател образцов;
ff - рассто ние по оптической
оси от вогнутой поверхности зеркала до ближнего фокуса.
/
Фиг.1
У,мкб 300
Фиг.2
1.5 .а
Claims (1)
- Формула изобретения fa'd3 d„ z d , έ ·=--·?-, ί ~ . ' f -fr где d4 - диаметр пучка источника излучения ;d2 - диаметр отверстия в зеркале; f - расстояние по оптической « оси от вогнутой поверхносУстройство для регистрации люминесцентного излучения, включающее оптически связанные источник излучения причем на оптической оси источника I , образец и приемник излучения, ти зеркала до дальнего фокуса;d^ - диаметр держателя образцов; fj - расстояние по оптической оси от вогнутой поверхности зеркала до ближнего фокуса.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884650452A SU1608514A1 (ru) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | Устройство дл регистрации люминесцентного излучени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884650452A SU1608514A1 (ru) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | Устройство дл регистрации люминесцентного излучени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1608514A1 true SU1608514A1 (ru) | 1990-11-23 |
Family
ID=21428731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884650452A SU1608514A1 (ru) | 1988-12-05 | 1988-12-05 | Устройство дл регистрации люминесцентного излучени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1608514A1 (ru) |
-
1988
- 1988-12-05 SU SU884650452A patent/SU1608514A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
4650452/24-25 05.12.88 23.11.90. Бюл. № 43 В.И.Бородын , И.С.Гавриленко, :алюжный и В.И.Осинский 542.43(088.8) Каралис В.Н., Корнеева Э.Я. Аппаратура дл флуоресцентного анализа. - М., 1970, с. 22, 99-101. Зайдель А.Н. Атомно-флуоресцент- ный анализ. - Л.: Хими , 1983, с. 85 * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0665417A2 (en) | Atomic force microscope combined with optical microscope | |
US6052431A (en) | X-ray converging mirror for an energy-dispersive fluorescent X-ray system | |
RU2223479C2 (ru) | Способ и устройство для анализа изотопсодержащих молекул по спектру поглощения | |
US7586606B2 (en) | Near-field polarized-light measurement apparatus | |
SU1608514A1 (ru) | Устройство дл регистрации люминесцентного излучени | |
EP0144869B1 (en) | Grazing incidence reflection spectrometer | |
JPH05113418A (ja) | 表面分析装置 | |
US7079227B2 (en) | Optical assembly to be mounted on a microscope for measuring periodic movements of a microstructure | |
JPS59155825A (ja) | 走査装置 | |
JP2007187477A (ja) | 蛍光検出装置 | |
JPH0372245A (ja) | 蛍光試薬で処理した試料を分析するための測定法および測光装置 | |
JP2005227021A (ja) | テラヘルツ光測定装置 | |
JPS62133339A (ja) | ルミネツセンス測定装置 | |
EP0510175B1 (en) | Fluorescence assay apparatus | |
JPH0752155B2 (ja) | 走査型表面皮膜解析方法 | |
JPH041942A (ja) | 反射光測定用素子 | |
TWI616653B (zh) | 光學檢測裝置及其檢測方法 | |
Shimomura et al. | Scanning X-Ray Analytical Microscope Using X-Ray Guide Tube | |
JP2001004544A (ja) | ラマン分光装置 | |
RU2072509C1 (ru) | Устройство для снятия спектра поверхностного плазменного резонанса | |
JP2002162333A (ja) | 近接場プローブ及びその製造方法、並びに、該近接場プロープを用いた近接場顕微鏡 | |
SU741122A1 (ru) | Способ рентгеновского спектрального анализа | |
JPS58216904A (ja) | 厚さ測定装置 | |
Martirosyan | An Optical Device for Determining the Local Characteristics of Crystals by Means of Counterpropagating Laser Beams | |
SU1749838A1 (ru) | Зондирующее устройство |