SU1599825A1 - Просветл ющее покрытие - Google Patents

Просветл ющее покрытие Download PDF

Info

Publication number
SU1599825A1
SU1599825A1 SU884483734A SU4483734A SU1599825A1 SU 1599825 A1 SU1599825 A1 SU 1599825A1 SU 884483734 A SU884483734 A SU 884483734A SU 4483734 A SU4483734 A SU 4483734A SU 1599825 A1 SU1599825 A1 SU 1599825A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
substrate
layers
refractive index
optical
thickness
Prior art date
Application number
SU884483734A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Григорьевич Столов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1705
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1705 filed Critical Предприятие П/Я А-1705
Priority to SU884483734A priority Critical patent/SU1599825A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1599825A1 publication Critical patent/SU1599825A1/ru

Links

Landscapes

  • Surface Treatment Of Glass (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению, а именно к интерференционным оптическим покрыти м, и обеспечивает величину коэффициента отражени  R≤0,2% дл  рабочей длины волны λраб при относительном изменении толщин слоев на ±10%. Покрытие выполнено на прозрачной в рабочем диапазоне подложке и состоит из п ти чередующихс  слоев, первый, третий и п тый из которых имеют низкий показатель преломлени  Nн=1,41-1,46, второй и четвертый - высокий показатель преломлени  Nв=1,92-2,01. Оптические толщины слоев, счита  от подложки, относ тс  как 1,78:0,25:1,08:0,92, прилегающий к подложке слой имеет оптическую толщину 0,445 λраб.

Description

сл
с
Изобретение относитс  к оптическому приборостроению, а именно к интерференционным оптическим покрыти м.
Целью изобретени   вл етс  обеспечение величины коэффициента отражени  ,2 % дл  рабочей длины волны ХроБ при относительном значении толщин слоев на ± 10 %.
Покрытие наносили на установке ВА-3300 (фирма Больцере) с диаметром вакуумной камеры м, оснащенной боковым кварцевым датчиком и системой масок дл  обеспечени  равномерного конденсата на поверхности.
Каждый раз в камеру устанавливали по 10 контрольных образцов,расположенных на разном от центра рассто нии (от 65 до 1245 мм).
В качестве вещества с высоким показателем преломлени  использовали диоксиды гафни  и циркони .
Покрытие может быть изготовлено из чередующихс  слоев диоксидов гафни  и кремни .
Рабоча  длина волны 036 1060 им.
Покрытие наносили сразу после чистки установки.
Коэффициент отражени  на Oi ро(В различных контрольных образцах измен лс  в пределах 0,08-0,16 %,

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Просветл ющее покрытие, нанесенное на прозрачную в рабочем диапазоне длин волн подложку, состо щее из п ти чередующихс  слоев, первый, третий и п тый из которых выполнены с низким п.ц показателем преломлени , а второй и четвертый - с высоким пи показателем преломлени , отличающеес  тем, что.
    ел
    эо
    О
    сд
    3 15998254
    с целью обеспечени  величины коэффи-. слоев, счита  от подложки, относ тс  циента отражени  R 0,2% дл  рабо- как 1,78:0 25:СГ,23 1,08:0,92, приле- чей длины волны f, при относи- гакиций к подложке слой имеет опти- тельном изменении толщины отдельных ческую толщину 0,445 „ при этом , слоев на ±10%, оптические толщины п « 1,92-2,01 и п„ 1,41-1,46.
SU884483734A 1988-06-29 1988-06-29 Просветл ющее покрытие SU1599825A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884483734A SU1599825A1 (ru) 1988-06-29 1988-06-29 Просветл ющее покрытие

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884483734A SU1599825A1 (ru) 1988-06-29 1988-06-29 Просветл ющее покрытие

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1599825A1 true SU1599825A1 (ru) 1990-10-15

Family

ID=21399747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884483734A SU1599825A1 (ru) 1988-06-29 1988-06-29 Просветл ющее покрытие

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1599825A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Яковлев П.А., Мешков Б.Б.Проектирование интерференционных покрытий. М.: Машиностроение, 1987, с.130-131. Патент US № 3922068, кл. 350-164. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2156571A1 (en) Coated Substrate and Process for Its Formation
US6809859B2 (en) Optical filter and fluorescence spectroscopy system incorporating the same
WO2003021305A3 (en) Anti-reflection coatings and associated methods
ATE156788T1 (de) Verbesserte beschichtungen für substrate mit hoher durchlässigkeit und niedriger emission
JPS61235731A (ja) 感圧素子
DE69702011D1 (de) Mehrfach mit Dünnfilmen beschichtetes transparentes Substrat
SU1599825A1 (ru) Просветл ющее покрытие
AU2832689A (en) Coating reducing the reflection for an optical element made of organic material
JPS62108207A (ja) 着色鏡
SU1392530A1 (ru) Способ контрол толщины слоев при изготовлении интерференционных покрытий
SU1727095A1 (ru) Светоделитель с коэффициентом делени мощности 1:10
SU1176280A1 (ru) Просветл ющее покрытие
SU1509791A1 (ru) Ахроматическое просветл ющее покрытие
SU1280311A1 (ru) Способ измерени толщины тонких пленок,нанесенных на подложку
SU461398A1 (ru) Способ изготовлени оптического покрыти
SU1270734A1 (ru) Материал высокопреломл ющего сло интерференционного покрыти
SU810637A1 (ru) Способ изготовлени зеркал
JPH05249312A (ja) 光学多層膜の作製方法
SU934429A1 (ru) Широкополосное просветл ющее покрытие
SU1459426A1 (ru) Способ определени коэффициента оптического поглощени , полупроводников и диэлектриков
SU1682951A1 (ru) Оптический интерференционный отрезающий фильтр дл расширени зоны отражени узкополосного фильтра
JPS56162702A (en) Manufacture of reflecting mirror
JPS5666802A (en) Antireflection film of optical parts made of synthetic resin
SU1415057A1 (ru) Способ фотометрического контрол многослойных покрытий
SU1024703A1 (ru) Способ контрол толщины и показател преломлени диэлектрической пленки на диэлектрической подложке