SU1569533A1 - Apparatus for checking the quality of surface of flat parts - Google Patents
Apparatus for checking the quality of surface of flat parts Download PDFInfo
- Publication number
- SU1569533A1 SU1569533A1 SU884383817A SU4383817A SU1569533A1 SU 1569533 A1 SU1569533 A1 SU 1569533A1 SU 884383817 A SU884383817 A SU 884383817A SU 4383817 A SU4383817 A SU 4383817A SU 1569533 A1 SU1569533 A1 SU 1569533A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- unit
- output
- input
- linear photodiode
- receiving optical
- Prior art date
Links
Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, в частности к устройствам дл контрол качества обработки поверхности плоских деталей из древесины, древесных материалов и других материалов с легкодеформируемой поверхностью. Цель изобретени - повышение производительности контрол движущихс деталей. Устройство содержит корпус 1, осветитель 2, приемный оптический узел 3, линейный фотодиодный преобразователь 4 излучени , измерительную схему 5, блок 6 коммутации, запоминающий блок 7, вычислительный блок 8, блок 9 управлени и блок 10 отображени информации. Положение границы перехода света и тени направленного под углом 45° к контролируемой поверхности 11 светового потока проектируетс приемным оптическим узлом 3 на рабочую поверхность линейного фотодиодного преобразовател 4 излучени и в зависимости от высоты микронеровностей при перемещении устройства относительно контролируемой поверхности 11 смещаетс по рабочей поверхности линейного фотодиодного преобразовател 4. Пределы этого смещени , определ емые измерительной схемой 5 и после вычислени передаваемые на блок 10 отображени информации, характеризуют высоту микронеровностей контролируемой поверхности 11. 1 ил.The invention relates to a measurement technique, in particular, to devices for monitoring the quality of surface treatment of flat parts made of wood, wood materials and other materials with easily deformable surface. The purpose of the invention is to increase the productivity of controlling moving parts. The device comprises a housing 1, an illuminator 2, a receiving optical node 3, a linear photodiode converter 4 of radiation, a measuring circuit 5, a switching unit 6, a storage unit 7, a computing unit 8, a control unit 9 and an information display unit 10. The position of the light transition boundary and the shadow directed at an angle of 45 ° to the monitored surface 11 of the luminous flux is projected by the receiving optical unit 3 onto the working surface of the linear photodiode converter 4 radiation and, depending on the height of the micro-asperities, is displaced along the working surface of the linear photodiode converter 4. The limits of this displacement determined by the measuring circuit 5 and after calculating the data transmitted to the display unit 10 rmatsii characterize controlled surface microroughness height 11. 1 yl.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, в частности к устройствам дл контрол качества обработки поверхности плоских деталей, например древесины, древесных материалов , бумаги, картона и других материалов с легкодеформируемой поверхностью .The invention relates to a measurement technique, in particular, to devices for controlling the quality of surface treatment of flat parts, for example wood, wood materials, paper, cardboard and other materials with easily deformable surface.
Цель изобретени - повышение производительности контрол движущихс деталей.The purpose of the invention is to increase the productivity of controlling moving parts.
На чертеже изображена принципиальна схема устройства дл контрол качества поверхности плоских деталей.The drawing shows a schematic diagram of the device for monitoring the quality of the surface of flat parts.
Устройство содержит корпус 1, установленные в нем под пр мым углом цруг к другу осветитель 2 и приемный оптический узел 3, линейный фотодиодный преобразователь 4 излучени , на рабочую поверхность которого проектируетс граница перехода между освещенным и затененным участками пол зрени приемного оптического узла 3, измерительную схему 5, вход которой соединен с выходом линейного фотодиг одного преобразовател 4 излучени , блок 6 коммутации, вход которого соединен с выходом измерительной схемы 5, запоминающий блок 7, первый вход которого соединен с выходом блока 6 коммутации, вычислительный блок 8, первый вход которого соединен с выходом запоминающего блока 7, а первый выход - с вторым входом запоминающего блока 7, блок 9 управлени , выход которого соединен с- вторым входом вычислительного блока 8, и блок 10 отображени информации, вход которого соединен с вторым выходом вычислительного блока 8.The device comprises a housing 1, a circle to the friend illuminator 2 mounted at a right angle, and a receiving optical unit 3, a linear photodiode converter 4 of radiation, on the working surface of which a junction boundary between the illuminated and shaded sections of the visual field of the receiving optical unit 3 is projected, the measuring circuit 5, the input of which is connected to the output of the linear photodig of one converter 4 of radiation, the switching unit 6, the input of which is connected to the output of the measuring circuit 5, the storage unit 7, the first input of which Connected to the output of switching unit 6, the computing unit 8, the first input of which is connected to the output of the storage unit 7, and the first output - to the second input of the storage unit 7, control unit 9, the output of which is connected to the second input of the computing unit 8, and block 10 display information, the input of which is connected to the second output of the computing unit 8.
00
5five
00
5five
00
5five
00
5five
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Устройство устанавливают основанием корпуса 1 на контролируемую поверхность 11 так, чтобы плоскость измерени , проход ща через оси осветител 2 приемного оптического узла 3, была ориентирована в направлении расположени преобладающих неровностей поверхности 11. При этом расположенный под углом 45е осветитель 2 проектирует на контролируемую поверхность 11 параллельный пучок света, ограниченный с одной стороны четкой линейной границей, ориентированной перпендикул рно плоскости измерени так, что граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности находитс в центре пол зрени приемного оптического узла 3, расположенного в корпусе 1 с противоположной осветителю 2 стороны в плоскости измерени под углом 90° к нему. Наход ща с в поле зрени приемного оптического узла 3 граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности проектируетс им на рабочую поверхность укрепленного на нем линейного фотодиодного преобразовател 4 излучени , что вызывает засветку и срабатывание части его фотодиодных чеек. Подключенна к выходу линейного фотодиодного преобразовател 4 излучени измерительна схема 5 обеспечивает определение пор дкового номера первой из засвеченных фотодиодных чеек и передает полученную информацию на вход блока 6 коммутации, который трансггирует ее на вход одной из чеек запоминающего The device is installed with the base of the housing 1 on the monitored surface 11 so that the measurement plane passing through the axes of the illuminator 2 of the receiving optical unit 3 is oriented in the direction of the prevailing surface irregularities 11. At the same time, the illuminator 2 at an angle of 45e projects parallel to the monitored surface 11 a beam of light, bounded on one side by a clear linear boundary, oriented perpendicular to the measurement plane, so that the transition boundary between the illuminated and The enveloped surface areas are located in the center of the field of view of the receiving optical unit 3 located in the housing 1 opposite the illuminator 2 sides in the measurement plane at an angle of 90 ° to it. The boundary of the transition between the illuminated and shaded areas of the surface located in the field of view of the receiving optical unit 3 is projected by him onto the working surface of the linear photodiode converter 4 mounted on it, which causes illumination and operation of a part of its photodiode cells. A measuring circuit 5 connected to the output of the linear photodiode converter 4 of radiation provides the determination of the sequence number of the first of the exposed photodiode cells and transmits the received information to the input of the switching unit 6, which transforms it to the input of one of the memory cells.
блока 7, после чего переключаетс на вход следующей чейки запоминающего блока 7.unit 7, after which it switches to the input of the next cell of the storage unit 7.
При перемещении корпуса 1 в направлении , перпендикул рном плоскости измерени , или перемещени контролируемой поверхности 11 относительно корпуса 1 граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности смещаетс в плоскости измерени в зависимости от высоты неровностей и глубины впадин на контролируемой поверхности 11. Это смещение границы освещенности в увеличенных приемным оптическим узлом 3 пределах приводит к смещению участка засветки фотодиодных чеек линейного фотодиодного преобразовател 4 излучени . При этом измерительна схема 5, работающа с заданной частотой считывани , все врем определ ет первую из засвеченных фотодиодных чеек линейного фотодиодного преобразовател 4 излучени и каждый раз выдает на вход блока 6 коммутации пор дковый номер первой из засвеченных фотодиодных чеек, который после считывани каждого из значений транслирует его на вход одной из чеек запоминающего блока 7, переключаетс на вход следующей чейки запоминающего блока 7 и так до отработки полного цикла коммутации , после чего блок 7 коммутации останавливаетс в исходном положении. После поступлени сигнала с блока 9 управлени на второй вход вычислительного блока 8 он вырабатывает на первом выходе сигнал запроса и -транслирует его на второй вход запоминающего блока 7, после чего информаци 5When the housing 1 moves in the direction perpendicular to the measurement plane, or the test surface 11 moves relative to the housing 1, the transition boundary between the illuminated and shaded surface areas shifts in the measurement plane depending on the height of the irregularities and the depth of the depressions on the surface 11. the limits increased by the receiving optical node 3 lead to a displacement of the illumination area of the photodiode cells of the linear photodiode converter 4 of the radiation. In this case, the measuring circuit 5, operating with a given readout frequency, all the time determines the first of the exposed photodiode cells of the linear photodiode emission converter 4 and each time sends to the input of the switching unit 6 the sequence number of the first of the exposed photodiode cells, which, after reading each of the values transmits it to the input of one of the cells of the storage unit 7, switches to the input of the next cell of the storage unit 7 and so on until the completion of the full switching cycle, after which the switching unit 7 remains livaets in the rest position. After the signal from the control unit 9 arrives at the second input of the computing unit 8, it generates a request signal at the first output and transmits it to the second input of the storage unit 7, after which the information 5
00
с его выхода поступает на, первый вход вычислительного блока 8, который осуществл ет обработку поступившей информации , и результаты вычислени в значени х параметров шероховатости контролируемой поверхности 11 через второй выход передаютс на блок 10 отображени информации. После этого Q цикл контрол качества поверхности может быть повторен необходимое количество раз или прекращен до возникновени потребности.from its output enters the first input of the computing unit 8, which processes the received information, and the results of the calculation in terms of the roughness parameters of the test surface 11 are transmitted to the information display unit 10 via the second output. After that, the Q quality control cycle can be repeated as many times as necessary or terminated before the need arises.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884383817A SU1569533A1 (en) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | Apparatus for checking the quality of surface of flat parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884383817A SU1569533A1 (en) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | Apparatus for checking the quality of surface of flat parts |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1569533A1 true SU1569533A1 (en) | 1990-06-07 |
Family
ID=21357823
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU884383817A SU1569533A1 (en) | 1988-02-23 | 1988-02-23 | Apparatus for checking the quality of surface of flat parts |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1569533A1 (en) |
-
1988
- 1988-02-23 SU SU884383817A patent/SU1569533A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Кучин А.А., Обрадович К.А. Оптические приборы дл измерени шероховатости поверхности. -,Л.: Машиностроение, Ленинградское отделение, 1981, с. 57. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4573193A (en) | Individual identification apparatus | |
| CA2115859A1 (en) | Method and apparatus for optimizing sub-pixel resolution in a triangulation based distance measuring device | |
| ES2034453T3 (en) | MEASUREMENT OF THE CURVATURE OF TRANSPARENT OR TRANSLUCENT MATERIAL. | |
| ATE81907T1 (en) | OPTICAL MEASUREMENT DEVICES. | |
| SU1569533A1 (en) | Apparatus for checking the quality of surface of flat parts | |
| NO167334C (en) | PROCEDURE AND APPARATUS FOR DIMENSION MEASUREMENT. | |
| DE3761174D1 (en) | LIGHT ELECTRIC LENGTH OR ANGLE MEASURING DEVICE. | |
| US5017864A (en) | Apparatus for the inspection of printed circuit boards on which components have been mounted | |
| KR100195136B1 (en) | Device for measuring height of object | |
| KR20040076251A (en) | Method and device for detecting the shape of a three-dimensional object | |
| SU1562704A1 (en) | Apparatus for measuring displacements of diffusely reflecting surface of object | |
| RU2092787C1 (en) | Method determining short distances to diffusion-reflecting objects and gear for its realization | |
| SU1283525A1 (en) | Optoelectronic device for checking nonflatness | |
| JPS6230905A (en) | Measuring device for between-gauge-mark distance deviation of test piece | |
| SU1155847A1 (en) | Photoelectric device for checking rectilinear deviations of object surface | |
| SU1675659A1 (en) | Laser two-coordinate measurement system for measurement of linear translations | |
| SU1384948A1 (en) | Displacement-measuring device | |
| SU1755045A1 (en) | Angular position guide sensor | |
| SU1703965A2 (en) | Two coordinates photoelectric displacement measuring device | |
| JP3180532B2 (en) | Distance measuring device | |
| SU1499115A2 (en) | Optronic device for checking non-parallelism | |
| SU1597545A2 (en) | Device for checking rectilinearity | |
| SU1054680A1 (en) | Method of gauging linear dimensions of opaque objects | |
| SU1670382A1 (en) | Device for dimension control of parts | |
| SU824055A1 (en) | Device for touch-free measuring of object displacement rate |