SU1283525A1 - Optoelectronic device for checking nonflatness - Google Patents
Optoelectronic device for checking nonflatness Download PDFInfo
- Publication number
- SU1283525A1 SU1283525A1 SU843673900A SU3673900A SU1283525A1 SU 1283525 A1 SU1283525 A1 SU 1283525A1 SU 843673900 A SU843673900 A SU 843673900A SU 3673900 A SU3673900 A SU 3673900A SU 1283525 A1 SU1283525 A1 SU 1283525A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- source
- coordinate
- platform
- collimated radiation
- reflectors
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительным устройствам, используемым дл контрол неплоскостности объектов. Целью изобретени вл етс повьшение точности контрол , котора достигаетс за счет использовани системы отражателей, установленных после источника коллими- рованного излучени . Устройство содержит источник 1 коллимированного излучени , корпус 2, систему 3 отражателей , координатно-чувствитель- ный фотоприемник 4, платформу 5,электронный блок 6 обработки сигнала, вход которого подключен к координат- но-чувствительному фотоприемнику 4, термоизолируюЕций слой 7, а система 3 отражателей состоит из двух зеркал , образующих двугранный угол, и светоделител , размещенного по отношению к зеркалам так, что его свето- делительна плоскость совпадает с биссектрисой двугранного угла.Платформа 5 устанавливаетс на контролируемый объект 10. 2 ил. (ЛBACKGROUND OF THE INVENTION The invention relates to monitoring devices used to control the flatness of objects. The aim of the invention is to increase the accuracy of control, which is achieved through the use of a system of reflectors installed after the source of collimated radiation. The device contains a source of collimated radiation 1, a housing 2, a system of 3 reflectors, a coordinate-sensitive photodetector 4, a platform 5, an electronic signal processing unit 6, whose input is connected to a coordinate-sensitive photodetector 4, a thermal insulation layer 7, and a system 3 reflectors consists of two mirrors that form a dihedral angle, and a beam splitter placed relative to the mirrors so that its beam-dividing plane coincides with the bisector of the dihedral angle. Platform 5 is mounted on a counter iruemy object 10. 2 yl. (L
Description
/////////////////////////////////////////7// //// / / /, ////////////////////// 7 7 // // // / / /,
,,
10ten
«./"./
Изобретение относитс к контрольно-измерительным устройствам, используемым дл контрол неплоскостности объектов.BACKGROUND OF THE INVENTION The invention relates to monitoring devices used to control the flatness of objects.
Цель изобретени - повышение точности .The purpose of the invention is to improve accuracy.
На фиг.1 изображена функциональна схема устройства , на фиг.2 - выполнение системы отражателей.Figure 1 shows the functional diagram of the device, figure 2 - the implementation of the system of reflectors.
Устройство (фиг.1) содержит источник 1 коллимированного излучени , корпус 2, систему 3 отражателей,ко- ординатно-чувствительный фотоприемник 4, платформу 5, электронный блок 6 обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствитель- ному фотоприемнику 4, термоизолирую- дий слой 7, а система 3 отражателей состоит из двух зеркал 8, образующих двугранный угол, и светоделител 9, размещенного по отношению k зеркалам ,так, что его светоделительна плоскость совпадает с биссектрисов двугранного угла. Платформа 5 устанавливаетс на контролируемый объект 10The device (FIG. 1) contains a source of collimated radiation 1, a housing 2, a system of 3 reflectors, a coordinate-sensitive photodetector 4, a platform 5, an electronic unit 6 for signal processing, the input of which is connected to a coordinate-sensitive photodetector 4, thermally insulated diy layer 7, and the system of 3 reflectors consists of two mirrors 8, forming a dihedral angle, and a beam splitter 9, placed relative to k mirrors, so that its beam-splitting plane coincides with the bisectors of the dihedral angle. Platform 5 is installed on the controlled object 10
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Пучок лучей из источника 1 коллимированного излучени делитс на два пучка лучей в системе 3 отражателей и попадает на две площадки ко- ординатно-чувствительного фотоприемника 4, размещенного на платформе 5. Последн перемещаетс по поверхности контролируемого объекта 10.The beam of rays from the source of collimated radiation is divided into two beams of radiation in the system of 3 reflectors and falls into two areas of the coordinate-sensitive photodetector 4 placed on the platform 5. The latter moves along the surface of the object under test 10.
Отклонение поверхности контролируемого объекта 10 от плоскости приводит к смещению платформы 5, а,следовательно , и координатно-чувстви- тельного фотоприемника 4 относительно двух пучков лучей на выходе системы 3 отражателей. Электронный блок 6 обработки сигнала, вход которого подключен к координатно-чувствитель- ному фотоприемнику 4, фиксирует разность фототоков с двух площадок фотоприемника 4, пропорциональную величине смещени платформы 5, т.е. величине неплоскостности поверхности контролируемого объекта 10.The deviation of the surface of the object under test 10 from the plane leads to the displacement of the platform 5, and, therefore, of the coordinate-sensitive photodetector 4 relative to two beams of rays at the output of the system 3 of reflectors. The signal processing electronics 6, the input of which is connected to the coordinate-sensitive photodetector 4, captures the difference of photocurrents from the two sites of the photoreceiver 4, proportional to the displacement of the platform 5, i.e. the flatness of the surface of the test object 10.
Дл уменьшени вли ни нагрева источника 1 коллимированного излучени на систему 3 отражателей между источником 1 коллимированного излучени и корпусом 2 установлен тор- моизолирующий слой 7. Нагрев источника 1 коллимированного излучени может привести к паTo reduce the effect of heating the source of collimated radiation on the system of 3 reflectors between the source of collimated radiation and the casing 2, a de-insulation layer 7 is installed. Heating the source of collimated radiation 1 can lead to
раллельному смещению светового пучка на выходе на величину К и наклону на угол .the parallel displacement of the light beam at the output by the value of K and the angle of inclination.
Так как светоделительна плоскость светоделител 9 совпадает с биссектрисой двугранного угла, образованного зеркалами 8, и направлением измерени , то два пучка лучей 1 и l (фиг.2) на выходе системы 3Since the beam-splitting plane of the beam splitter 9 coincides with the bisector of the dihedral angle formed by mirrors 8 and the direction of measurement, two beams of rays 1 and l (Fig. 2) at the output of system 3
отражателей будут симметричны относительно направлени измерени при любых смещени х и наклонах пучка лучей I источника 1 коллимированного излучени , а следовательно, ра зностьthe reflectors will be symmetrical with respect to the direction of measurement at any displacements and inclinations of the beam of rays I of the source 1 of the collimated radiation, and hence the difference
фототоков с двух площадок координат- но-чувствительного фотоприемника 4 будет неизменной.photocurrents from two sites of the coordinate-sensitive photodetector 4 will be unchanged.
На фиг.2 показано, что если пучок лучей из источника 1 коллимированного излучени перейдет в положение II (наклон на угол . и линейное смещение на величину к ), то на выходе системы 3 отражателей два пучка лучей II и II будут также симметричны относительно направлени измерени .Figure 2 shows that if the beam of rays from the source of collimated radiation moves to position II (angle of inclination and linear displacement by the value of k), then at the output of the system 3 of reflectors two beams of rays II and II will also be symmetrical with respect to the direction of measurement .
Таким образом, изменение направлени пучка лучей источника 1 коллимированного излучени не вли ет наThus, changing the direction of the beam of the source of collimated radiation 1 does not affect
результаты измерени , что приводит к повышению точности контрол .measurement results, which leads to an increase in the accuracy of control.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843673900A SU1283525A1 (en) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | Optoelectronic device for checking nonflatness |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843673900A SU1283525A1 (en) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | Optoelectronic device for checking nonflatness |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1283525A1 true SU1283525A1 (en) | 1987-01-15 |
Family
ID=21093360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843673900A SU1283525A1 (en) | 1984-12-12 | 1984-12-12 | Optoelectronic device for checking nonflatness |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1283525A1 (en) |
-
1984
- 1984-12-12 SU SU843673900A patent/SU1283525A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Ельников И.Т., Дитев А,Ф., Юрусов И.К. Сборка и юстировка оптико-механических приборов. М.: Машиностроение, 1974, с. 66-67, рис. 28, Авторское свидетельство СССР № 438867, KJi. G 01 В 11/30, 26.04.72. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4484069A (en) | Apparatus and method for sensing distance | |
SU1283525A1 (en) | Optoelectronic device for checking nonflatness | |
DE3761174D1 (en) | LIGHT ELECTRIC LENGTH OR ANGLE MEASURING DEVICE. | |
SU1499115A2 (en) | Optronic device for checking non-parallelism | |
SU1226051A1 (en) | Photoelectric device for testing linearity deviation of object surface | |
SU1580162A1 (en) | Apparatus for determining deviation from rectilinearity | |
SU1566870A1 (en) | Method of determining mutual displacement object point | |
SU1265467A1 (en) | Device for mesuring object attitude | |
SU495526A1 (en) | Mirror Brand | |
SU1675659A1 (en) | Laser two-coordinate measurement system for measurement of linear translations | |
SU1043486A1 (en) | Device for measuring angular displacement of object | |
GB1065226A (en) | Length measuring instrument | |
SU1101672A1 (en) | Device for touch=free measuring of deformations | |
SU1196686A1 (en) | System for object angular displacement compensation of double-reflecting interferometric displacement meters | |
SU570320A1 (en) | Position-sensitive pyroelectric device | |
SU1241062A1 (en) | Laser meter of linear shifts of surface | |
SU1019233A1 (en) | Two-coordinate interferometer for measuring linear displacements | |
SU1631275A1 (en) | Device for determining azimuth | |
SU1186942A1 (en) | Arrangement for contactless measurement of polished surface profile | |
SU1055963A1 (en) | Protractor reflector | |
SU1054677A1 (en) | Interference device for gauging displacement | |
SU1408225A1 (en) | Device for determining displacements | |
SU371429A1 (en) | AUTO-COLLIMATION PHOTOELECTRIC SENSOR OF THE AGREEMENT CORNER | |
SU911142A1 (en) | Interferential device for measuring displacements | |
SU1730532A1 (en) | Device for measuring angular position of an object |