SU1532858A1 - Тепловой дефектоскоп - Google Patents
Тепловой дефектоскоп Download PDFInfo
- Publication number
- SU1532858A1 SU1532858A1 SU864131611A SU4131611A SU1532858A1 SU 1532858 A1 SU1532858 A1 SU 1532858A1 SU 864131611 A SU864131611 A SU 864131611A SU 4131611 A SU4131611 A SU 4131611A SU 1532858 A1 SU1532858 A1 SU 1532858A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- circuit
- signal
- input
- threshold
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл контрол изделий из листовых материалов. Цель изобретени - повышение производительности и достоверности дефектоскопии. Дефектоскоп содержит блоки перемещени и сканировани , фотоприемник, детектор, дифференцирующий блок, пороговые устройства, триггер, логические схемы И и ИЛИ, индикатор и регистратор. Цель изобретени достигаетс за счет одновременной оценки свойств объекта как по уровню теплового сигнала, так и по скорости его изменени . 1 ил.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл неразрушающего контрол изделий из листовых материалов.
Целью изобретени вл етс повышение производительности дефектоскопии.
На чертеже представлена структурна схема устройства.
Устройство содержит сканирующий блок 1, оптический блок 2, модул тор 3, фотоприемник 4, усилитель 5, детектор 6, пороговые устройства 7 и 8, инвертор 9, схему ИЛИ 10, индикатор 11, блок 12 дифференцировани , пороговое устройство 13, усилитель 14, пороговое устройство 15, схему ИЛИ 16, триггер 17, схему И 18, усилитель 19, регистратор 20, блок 21 перемещени , контролируемое изделие 22.
Устройство работает следующим образом .
Перед началом дефектоскопии зона контрол сканирующего блока 1 выводитс на качественный участок контролируемого издели 22 путем перемещени последнего с помощью блока 21 перемещени до тех пор пока индикатор 11 не отметит выход на качественный участок контролируемого издели 22 зоны контрол . После этого триггер 17 приводитс в исходное состо ние (на его выходе логический О), и включаетс регистратор 20. Блок 21 перемещени осуществл ет перемещение контролируемого издели 22 относительно сканирующего блока 1. Сканирующий блок 1 обеспечивает построчное сканирование поверхности контролируемого издели 22, при этом поток инфракрасного излучени различной интенсивности, несущий информацию о контролируемом изделии 22, с выхода сканирующего блока 1 поступает на вход оптического блока 2. Оптический блок 2 состоит из входного объектива с плоским наклоненным на 45 к оптисд
00
ьэ
00 СП
00
ческой оси зеркалом, сферических зеркал , фокусирующих излучение в точку модул ции, и выходного двузеркально- го сферического объектива, обеспечи- вающего попадание инфракрасного излучени на вход фотоприемника 4. Модул ци инфракрасного излучени осуществл етс механическим модул тором 3, подключенным к второму входу on- тического блока 2. Промодулированный поток инфракрасного излучени с выхода оптического блока 2 поступает на вход фотоприемника 4, где преобразуетс в электрический сигнал соответ- ствуклдей величины. Интенсивность потока инфракрасного излучени , поступающего на вход фотоприемника 4, зависит как от наличи дефектов в контролируемом изделии 22, так и от других факторов: состава материала контролируемого издели , условий нагрева поверхности контролируемого издели , толщины издели ,коэффициента излучательной способности поверхнос- ти контролируемого .издели и т.п., следовательно, и сигнал на выходе фотоприемника 4 зависит от всех указанных факторов. Этот сигнал усиливаетс первым усилителем 5, детектиру- етс детектором 6 и поступает на вход блока 12 дифференцировани и входы пороговых устройств 7 и 8. При этом на выходе блока 12 дифференцировани формируетс сигнал, амплиту- да которого соответствует скорости изменени амплитуды сигнала, поступающего на его вход. С выхода блока 12 дифференцировани сигнал поступает на вход третьего порогового устрой- ства 13 и через второй усилитель 14 на вход второго порогового устройства 15. Второй усилитель 14 выполнен в виде инвертирующего усилител с единичным коэффициентом усилени по напр жению. Пороговые устройства 13 и 15 при повышении амплитудой сигнала на их входе некоторого порогового значени формируют на своем выход сигнал логической 1. Если ампли- туда сигнала на входе, порогового устройства 13 или 15 не превышает Un , то на выходе порогового устройства 13 или 15 формируетс сигнал логического О. С выходов второго 15 и третьего 13 пороговых устройств сигналы поступают соответственно на первый и второй входы первой схемы ИЛИ 16. С выхода первой схемы ИЛИ 16 сигнал
поступает на вход триггера 1 7.Триггер 17 при изменении сигнала логического О на его входе на логическую 1 измен ет свое состо ние на противоположное . С выхода триггера 17 сигнал поступает на первый вход схемы И 18. Первое 7 и четвертое 8 пороговые устройства , входы которых подключены одновременно к выходу детектора 6, при превышении амплитудой сигналов на их входах соответственно некоторого порогового значени U и Un (где Un f Un ) формирует на своем выходе сигнал логической 1. Если амплитуда сигнала на входе первого порогового устройства 7 не превышает Un , то на выходе первого порогового устройства 7 формируетс сигнал логического О. Если амплитуда сигнала на входе четвертого порогового устройства 8 не превышает Un , то на выходе четвертого порогового устройства формируетс сигнал логического О. Сигнал с выхода первого порогового устройства 7 поступает на второй вход второй схемы ИЛИ 10, сигнал с выхода четвертого порогового устройства 8 через инвертор 9 поступает на первый вход второй схемы ИЛИ 10. Таким образом, на выходе второй схемы ИЛИ 10 формируетс сигнал логического О, если величина сигнала U(t) на выходе детектора 6 удовлетвор ет следующему условию Un 7/U(t)/ . Если U(t) Un или U(t) п , на выходе второй схемы ИЛИ 10 Нормируетс сигнал логической 1. Сигнал с выхода второй схемы ИЛИ 10 поступает на вход индикатора 11 и второй вход схемы И 18. При перемещении зоны контрол на дефектный участок контролируемого издели 22 измен етс амплитуда сигнала U(t) на выходе детектора 6, при этом на выходе второй схемы ИЛИ формируетс сигнал логической 1. На начале дефектного участка скорость изменени амплитуды сигнала на выходе детектора 6 существенно увеличиваетс по сравнению со скоростью изменени этого сигнала на качественном участке контролируемого издели 22 или на установившемс дефектном участке . При этом на выходе одного из пороговых устройств 13, 15 формируетс сигнал логической 1, который через первую схему ИЛИ 16 поступает на вход триггера 17. Триггер 17
измен ет свое состо ние, и на его выходе устанавливаетс сигнал логической 1. с выхода схемы И 18 сигнал логической 1 через третий усилитель 19 поступает на регистратор 20, который обеспечивает регистрацию дефектных участков контролируемого издели 22. При прохождении дефектного участка через зону контрол скорость изменени амплитуды сигнала на выходе детектора 6 уменьшаетс и на выходах пороговых устройств 13 и 15 устанавливаетс сигнал логического О. По окончании дефектного участка на выходе второй схемы ИЛИ 10 устанавливаетс сигнал логического О. При этом на конце дефектного участка скорость изменени амплитуды сигнала на выходе детектора 6 увеличиваетс , на выходе одного из пороговых устройств 13, 15 формируетс сигнал логической 1, который через первую схему ИЛИ 16 поступает на вход триггера 17. Триггер 17 измен ет свое состо ние на противоположное и на его выходе устанавливаетс сигнал логического О, который через схему И 18 и третий усилитель 19 по- ступает на вход регистратора 20. При этом прекращаетс регистраци дефектного участка регистратором 20.
, 10
15
20
25
30
35
6
Claims (1)
- Формула изобретениТепловой дефектоскоп, содержащий блок перемещени контролируемого издели , сканирующее устройство, регистратор , последовательно соединенные оптический блок, фотоприемник, первый усилитель, детектор, первое пороговое устройство, причем модул тор соединен с оптическим устройством , св занным оптически через сканирующее устройство с объектом, о т- личающийс тем, что, с целью повышени производительности и достоверности дефектоскопии, он дополнительно содержит последовательно соединенные блок дифференцировани , второй усилитель, второе пороговое устройство, первую схему ИЛИ, триггер , схему И, третий усилитель, а также третье пороговое устройство и последовательно соединенные инвертор, вторую схему ИЛИ, индикатор, причем вход блока дифференцировани соединен с выходом детектора, выход третьего усилител - с регистратором, вход четвертого порогового устройства соединен с выходом детектора, а выход второй схемы ИЛИ соединен с входом схемы И, третье пороговое устройство соединено с выходом блока дифференцировани и входом первой схемы ИЛИ, а выход первого порогового устройства - с вторым входом первой схемы ИЛИ.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864131611A SU1532858A1 (ru) | 1986-10-08 | 1986-10-08 | Тепловой дефектоскоп |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864131611A SU1532858A1 (ru) | 1986-10-08 | 1986-10-08 | Тепловой дефектоскоп |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1532858A1 true SU1532858A1 (ru) | 1989-12-30 |
Family
ID=21261811
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864131611A SU1532858A1 (ru) | 1986-10-08 | 1986-10-08 | Тепловой дефектоскоп |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1532858A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4203272A1 (de) * | 1992-02-05 | 1993-08-12 | Busse Gerd Prof Dr Rer Nat | Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung |
-
1986
- 1986-10-08 SU SU864131611A patent/SU1532858A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1075131, кл. G 01 N 25/72, 1982. Рапопорт Д.А., Щипцов B.C. и др. Теплотелевичионна система дл неразрушающего контрол качества изделий. Дефектоскопи , 1973, К 2, с. 67-71. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4203272A1 (de) * | 1992-02-05 | 1993-08-12 | Busse Gerd Prof Dr Rer Nat | Verfahren zur phasenempfindlichen effektmodulierten rasterabbildung |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4129384A (en) | Optical extensometer | |
GB1003014A (en) | A photo-electric surface scanning device | |
JPS6435246A (en) | Apparatus and method for measuring nature of surface | |
US2429331A (en) | Photoelectric apparatus for inspection of paper strips | |
JPS5757246A (en) | Detecting and measuring apparatus for flaw | |
ES8500445A1 (es) | Procedimiento y aparato para la deteccion optica de defectos radiales reflectantes en recipientes traslucidos | |
JPS6465460A (en) | Space filter type speed measuring instrument | |
GB1430547A (en) | Inspection of containers | |
SE8800686D0 (sv) | Forfarande och anordning for bestemning av koncentrationen av ett emne som er bundet till partiklar i ett strommande medium | |
SU1532858A1 (ru) | Тепловой дефектоскоп | |
US3754146A (en) | Apparatus and method for detecting streaks in coated layers on a web | |
IE53174B1 (en) | Method of and apparatus for determining the state ageing of plastics products | |
US3756726A (en) | Spectral analysis utilizing a beam-switching optical system | |
SU1520424A1 (ru) | Тепловой дефектоскоп | |
ES8305929A1 (es) | "procedimiento para examinar bandas de material transparentes, en particular vidrio plano en cuanto a defectos incluidos en la banda". | |
US4077723A (en) | Method of measuring thickness | |
SU1573409A1 (ru) | Устройство дл дефектоскопии изделий из ферромагнитных материалов | |
JPS5922170B2 (ja) | プラスチツク等の劣化測定装置 | |
US4512663A (en) | Optical inspection of machined surfaces | |
SU828040A1 (ru) | Радиометрический дефектоскоп дл КОНТРОл издЕлий C пЕРЕМЕННОйТОлщиНОй | |
US4043177A (en) | Method to observe damage induced in optical elements by intense thermal radiation | |
RU2035721C1 (ru) | Способ контроля прозрачности плоских светопропускающих материалов | |
RU2059228C1 (ru) | Устройство дефектоскопического контроля оптически прозрачных кристаллов | |
KR950019660A (ko) | 비접촉식 내부결함 탐상방법 및 장치 | |
SU1495691A1 (ru) | Нефелометрический анализатор |