Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by В.М. ЗуевfiledCriticalВ.М. Зуев
Priority to SU4383547/25ApriorityCriticalpatent/SU1526381A1/ru
Application grantedgrantedCritical
Publication of SU1526381A1publicationCriticalpatent/SU1526381A1/ru
Analysing Materials By The Use Of Radiation
(AREA)
Abstract
Изобретение относится к области дефектоскопии. Изобретение позволяет расширить на величину порядка слоя половинного ослабления диапазон радиографируемых за одну экспозицию толщин металла. В способе используется одновременное экспонирование нескольких радиографических пленок, между которыми устанавливаются промежуточные экраны с суммарной толщиной, соответствующей по ослаблению излучения перепаду просвечиваемых толщин. При этом на каждой пленке выявляются дефекты, залегающие в определенном диапазоне глубин. Оценка лучевых размеров дефектов производится с помощью эталона типа пластины с канавками на скошенном торце. 3 ил., 1 табл.
SU4383547/25A1988-02-261988-02-26Способ радиографического контроля сварных соединений переменного сечения
SU1526381A1
(ru)