JPS60194304A - 多層積層材の厚み測定方法 - Google Patents

多層積層材の厚み測定方法

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Publication number
JPS60194304A
JPS60194304A JP5071984A JP5071984A JPS60194304A JP S60194304 A JPS60194304 A JP S60194304A JP 5071984 A JP5071984 A JP 5071984A JP 5071984 A JP5071984 A JP 5071984A JP S60194304 A JPS60194304 A JP S60194304A
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JP
Japan
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radiation
layer
thickness
layer laminate
laminate material
Prior art date
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Pending
Application number
JP5071984A
Other languages
English (en)
Inventor
Utaro Taira
卯太郎 平
Kiyohiko Kawaguchi
川口 清彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
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Publication of JPS60194304A publication Critical patent/JPS60194304A/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、多層鋼板等の材質の異なる多層積層材の各層
の厚みを放射線透過法を基礎として測定する方法に関す
る。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
近年、異なる材質層から成汐−鋼板が普及するに従い、
全層合計の厚みのみならず、各層毎の厚みをそ7’Lぞ
れ測定したいとの要請が強まっている。
そこで従来、この種の各層ごとの厚み測定に当っては破
壊的方法として、多層鋼板を切断し、その断面に薬品処
理を施し、各層ごとのコントラストを明確にしたうえで
、断面を顕微鏡等で観察し、視覚的な方法で各層厚をめ
ていた。
この方法は破壊的方法であるので、製品全てへの適用は
無理であり、時間と手間のかかるものであった。
また、非破壊的方法として、多層鋼板の表面から超音波
を入射し、各層の接合面での超音波の反射波を検出し、
入射から反射波が検知さnるまでの時間と、予め試験片
を用いて測定しておいた各鋼板層内での音速とから各層
厚をめていた。しかし超音波による方法では、各層の境
界面のみならず他の位置でも反射波が発生するので、種
々の反射波の中から境界面の反射波を抽出弁別すること
が難しく、高度の熟練を要した。またこの超音波方式は
、接触式の測定力対象物には、適用できなかった。
同様に、非破壊的方法として、本出願人は先に、特願昭
58−116700号としてn層の多層材に対してn種
のエネルギーレベルのγ線を照射しその透過量を測定し
て、n層そ扛ぞれの厚みを演算によってめる方法を提案
しているが、n層の材料に対してはn種類のエネルギー
のγ線を使用し、n回の測定をして算出するもので簡便
性の点で難を有していた。
〔発明の目的〕
本発明の目的とするところは、測定者の高度の熟練を必
要とせず、非接触式、非破壊式測定方法で多層積層材の
各層の厚みを、より簡便に測定できる放射線透過法を利
用した多層積層材の厚み測定方法を提供することにある
〔発明の概要〕
この目的を達成するための本発明の要旨は、隣り合う層
相瓦間において3層以上のn層よりなる多層積層材の各
層の厚みtJ−tl、t2.・・・・、tnを放射線透
過法を利用して測定するものであって二前記n層の多層
の多層積層材に(n−1)種のエネルギーレベルの放射
線を透過させ、その透過減衰の程度を測定して得られる
(1)式であられさnるl=1.2.・・・、(n−1
)の合計(n−1)本の放射線特性式と; ただ踵 μmij : j番目のエネルギーレベルの放射線に関
する多層積層材のj番目の層の材質 の質量吸収係数。
tj ;多層積層材のj番目の層の密度OtJ:多層積
層材のj番目の層の厚さOIo+;j番目のエネルギー
レベルの放射線の透過前の放射線量O Iti;j番目のエネルギーレベルの放射線透過量。
放射線透過法以外の方法によって、多層積層材の全厚み
toを測定して得ら几る(2)式とから;Σtj=to
 ・・(2) 合計n本の連立方程式を得、その解として各層の厚みt
jを算出することを特徴とする多層積層材の厚み測定方
法である。
(発明の具体例) 以下、本発明を図面を参照しながら詳述する01は多層
積層材、たとえば異なる材質からなるn層の多層鋼板で
、その一方に(n 1 ) 種のエネルギーレベルの放
射線を発生する放射線源2が、他方に放射線検出器3が
配設さCる0放射線源2から放射m Ioiを多層積層
材1に透過させ、放射線透過量It+を放射線検出器3
により検出すると、Itiは次式で表わさ牡る〇上式を
変形すると となる。
ここで、 μm目:多層鋼板のj番目の層の材質の、1番目のエネ
ルギーレベルの放射線に関す る質量吸収係数0 ρj;多層鋼板の3番目の層の密度O tに多層鋼板のj番目の層の厚さ0 1ot;j番目のエネルギーレベルの放射線の透過前の
放射線量O It+;j番目のエネルギーレベルの放射線透過量。
である0 さらに(1)式は、具体的には、n −1本の各エネル
ギーレベルの放射線iに対して(2)のように書き表わ
さnる0 また、多層鋼板の全厚さをtoとするとすなわち b 
+t2 + ・・・+tn = to ・・(4)とな
る。この全厚みtoの測定は放射線Io、 Itの測定
と並行して、所定の位置に設けたレーザ距離計4.4′
を用いて、そこから多層鋼板表面までの距離を測定し、
これに基いて、厚みtoを測定しても良いし、他に超音
波、マイクロ波等を使う方法などにより測定してもよい
0また、鋼板が静止状態である場合であればマイクロメ
ーター等を使用して機械的に測定できる0さらに、前記
(2)式で示した放射線透過法によるn −1本の式と
、(4)式の他の測定方法による1本の式との合計n本
の連立方程式を解くOA lj 但し、Aij;係数マ) IJクスAの(i、j)項の
全因数0IAI係数マトリクスAの行列式。
ここで解としてまったtjすなわちjl + t2 +
・・・jnが、各層の厚さである。
以上のように本発明方法は、n層の多層積層材に対して
(n−1)本のエネルギーレベルの放射線を透過させ、
(n−1)本の放射線特性式と他の方法で測定したtl
+t2+・・・+ tn−’t。
との合計n本の連立方程式としてtjを算出測定するの
で、1本の放射線を透過させて得られる1本の放射線特
性式で算出測定する方法に比べ、照射する放射線のレベ
ル数が1つ少いだけ、測定が容易になる。
〔実施例〕
アルミ、鋼、銅からなる三層鋼板を例にとって本発明の
実施例を示す。この三層鋼板に100kvと130kv
のX線を照射し、三層鋼板を透過する前の放射線強度I
oi、透過後の放射線強度Itiは、 100 kvの場合 Iol = 103898 cp
sItr −36653cps 801(vの場合 IO2= 124453 cpsI
Lz=23450 cps であり、アルミ、鋼、銅の質量吸収係数および密度は第
1表に示すとおりでちる。
第 1 表 また、三層合計の厚みはマイクロメーターで測定したと
ころ4.0mmC0,40cm)であった。そして前記
(2)および(3)式に零値全代入し、次式を得たO 上記連立方程式L+ + tz + tsについて解く
と、となシ、アルミ層の厚さは1羽、鋼層の厚さは2順
調層の厚さは1朋と測定さnた〇 ちなみに上記三層鋼板の切断面を直接観察測定した結果
、各層の厚みはそれぞれ上記測定結果とほぼ一致した。
〔発明の効果〕
以上のように本発明方法によ扛ば、多層積層材について
、容易に各層の厚みを測定でき、測定者の高度の熟練を
要せず、高温あるいは高速度移動状態であっても、非接
触的かつ非破壊的に測定できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の概略説明図でちる。 1・・多層積層材 2・・放射線源 3・・放射線検出器 4.4′・・レーザー距離計特許
出願人 住友金属工業株式会社 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 ・・、’tnを放射線透過法を利用して測定するもので
    あって:前記n層の多層積層材に(n−1)種のエネル
    ギーレベルの放射線を透過させ、その透過減衰の程度を
    測定して得らnる(1)式であられさ几る1 ”” 1
     + 2 +・・・・+n−1の合計(n−1)木の放
    射線特性式と;ただし、 μmij ; i番目のエネルギーレベルの放射線に関
    する多層積層材のj番目の 層の材質の質量吸収係数0 tj ;多層積層材の3番目の層の密度Otj;多層積
    層材のj番目の層の厚さOJo、i p ’番目のエネ
    ルギーレベルの放射線の透過前の放射線量O It+;i番目のエネルギーレベルの放射線透過量。 放射線透過法以外の方法によって、多層積層材の全厚み
    1.を測定して得ら扛る(2)式とから; Σ tj − t 0 ・ ・ (2)J=1 合計n本の連立方程式を得、その解として各層の厚みt
    jを算出することを特徴とする多層積層材の厚み測定方
    法。
JP5071984A 1984-03-15 1984-03-15 多層積層材の厚み測定方法 Pending JPS60194304A (ja)

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ID=12866684

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9863897B2 (en) 2013-03-04 2018-01-09 Tokyo Electron Limited X-ray nondestructive testing device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9863897B2 (en) 2013-03-04 2018-01-09 Tokyo Electron Limited X-ray nondestructive testing device

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